CN101581755A - 可控硅测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种可控硅测试装置，包括接触器和变压器；其特征在于还包括：触发单元，电流测量单元，外部交流电源经过所述接触器和变压器后连接到待测可控硅组上，再经过导线返回到变压器中性点上构成回路，通过所述触发单元控制待测可控硅组中可控硅的导通角大小以达到控制流经可控硅的电流大小，再由电流测量单元测量并记录流经可控硅的电流大小。该测试装置同现有技术相比其优点是显而易见的，它不仅可实现对可控硅或已经安装好的可控硅进行测试，特别是3组6只可控硅的测试，测试方式简单可靠，十分准确。而且该装置体积小，重量轻，数字量控制，特别适合在可控硅测量领域广泛推广。

Description

可控硅测试装置

技术领域

本发明涉及可控硅测试技术领域，尤其涉及一种可测试可控硅的主要性能参数，特别是可控硅的额定电流的装置。

背景技术

可控硅在工业上的应用非常广泛，系统中可控硅的好坏直接决定系统的稳定性和可靠性，因此可控硅前期的测试尤为重要。

现有的可控硅测试方式主要是对单个的或一组可控硅进行检测(如图1和图2所示)，测试时将电器柜同单个或一组可控硅相连接，通过可控硅控制装置将其完全导通，然后控制电器柜输出的电流的大小以测量单个或一组可控硅的额定电流的大小，已达到测量可控硅的容量。为了在测量过程中对可控硅进行保护，在电器柜电流输出端和可控硅之间连有保护电阻以保护，这样势必造成电源能的浪费，而且电阻易发热会使整个测试过程处于一个恶劣的环境中进行，另外，整个测试过程需要将可控硅从装置上卸下来，逐个测试，过程繁琐易出错，并且效率低下。

发明内容

本发明针对以上问题的提出，而研制一种可对没有安装在设备上的可控硅或已经安装在设备上的可控硅进行多组同时测试的装置。具体技术手段如下：

一种可控硅测试装置，包括：

接触器，作为整个设备的电源开关；

变压器，将外部交流电源转变为待测可控硅组的额定电压；

其特征在于还包括：

触发单元，用于控制可控硅导通角大小；

电流测量单元，用于测量流经可控硅电流的大小；

外部交流电源经过所述接触器和变压器后连接到待测可控硅组上，再经过导线返回到变压器中性点上构成回路，通过所述触发单元控制待测可控硅组中可控硅的导通角大小以达到控制流经可控硅的电流大小，再由电流测量单元测量并记录流经可控硅的电流大小。

所述触发单元包括操作单元、相序采集芯片、微处理器和驱动单元；所述相序采集芯片采集外部交流电源相序，并将得到的相序送给微处理器，测试人员通过控制操作单元，给微处理器控制可控硅导通角打开或关闭以及导通角打开大小的控制信号，微处理器得到这些信号后通过控制驱动单元，驱动可控硅导通角打开并控制导通角的大小。

在所述待测可控硅组同变压器构成回路的各可控硅单元的支路上都连接有电流互感器，该电流互感器连接到电机保护器上，所述电机保护器的控制端连接在所述接触器上，在所述电机保护器上设置保护动作的电流设置值，当出现特殊情况电机保护器会控制接触器动作断开主回路。

在所述电流测量单元通过所述电流互感器获得流经可控硅电流的大小。

由于采用了上述技术方案，本发明提供的可控硅(额定电流)测试装置同现有技术相比其优点是显而易见的，它不仅可实现对可控硅或已经安装好的可控硅进行测试，特别是3组6只可控硅的测试，测试方式简单可靠，十分准确。而且该装置体积小，重量轻，数字量控制，并且可以检测4000A额定容量以内(含4000A)的可控硅。另外，还可配合使用数码管显示当前导通角的控制情况、通过微控制器实现可控硅导通的急停、导通以及导通角的大小。在可控硅测量领域具有广泛推广前景。

附图说明

图1为现有可控硅测量方式中对单个可控硅进行测量的电路结构示意图；

图2为现有可控硅测量方式中对一组可控硅进行测量的电路结构示意图；

图3为本发明的电路原理图；

图4为本发明的触发单元(即控制单元)的系统结构框图。

具体实施方式

如图3所示，该可控硅测试装置包括：作为整个设备的电源开关的接触器107，将外部交流电源转变为待测可控硅组的额定电压的变压器106，用于控制可控硅导通角大小的触发单元102和用于测量流经可控硅电流的大小的电流测量单元103；当外部交流电源经过所述接触器107和变压器106后连接到待测可控硅组101上，再经过导线返回到变压器106中性点上构成回路，通过所述触发单元102控制待测可控硅组101中可控硅的导通角大小以达到控制流经可控硅的电流大小，再由电流测量单元103测量并记录流经可控硅的电流大小以达到测量的目的。

为使该装置能够安全工作，这里特别在待测可控硅组101同变压器106构成回路的各可控硅单元的支路上都连接有电流互感器105，并且该电流互感器105连接到电机保护器104上，该电机保护器104的控制端连接在所述接触器107上，电机保护器104上设置产生保护动作的电流额度由事先人为根据设备通过安全电流而设置，当出现特殊情况时，电机保护器104会控制接触器107动作断开主回路，使整个设备断电以起到保护的作用。为方便、安全测量，其中的电流测量单元103也可通过电流互感器105通过感应获得流经可控硅电流的大小。

其中触发单元为可控硅的控制单元，可采用一般设备上的控制单元也可为测试设备单独设置一个控制单元，本装置专门为待测可控硅组101配套了一个触发单元(即控制单元)包括操作单元203、相序采集芯片202、微处理器201和驱动单元204；所述相序采集芯片202采集外部交流电源相序，并将得到的相序送给微处理器201，测试人员通过控制操作单元203，给微处理器201控制可控硅导通角打开或关闭以及导通角打开大小的控制信号，微处理器201得到这些信号后通过控制驱动单元204，驱动可控硅导通角打开并控制导通角的大小。

为进一步说明该装置的工作过程下面以一次性测试3组6只可控硅为待测可控硅组101为例进行说明，这里采用低压大电流方式，实现对可控硅是否符合其标示的额定电流的测试。外部交流电源采用三相AC380V交流电，经接触器107接到变压器106的输入端。变压器106输出为3相AC10V交流电，经电流互感器105后接到3组6只可控硅上，3组6只可控硅出线接到变压器106的中性点上。因负载仅为导线电阻，当可控硅完全导通时，整个回路相当于变压器输出短路，即电流可以实现无限大状态，经实际检测发现，因导线有微小电阻，使得流过导线电流最大可达到4000A，即可控硅(额定电流)测试装置可以检测0到4000A的3组6只可控硅。可控硅(额定电流)测试装置通过相序采集芯片202采集3相交流电源相序，并将得到的相序送给微处理器201，测试人员通过控制操作单元203，给微处理器控制导通角打开或关闭以及导通角打开大小的控制信号，微处理器201得到这些信号后通过控制驱动单元204，驱动可控硅导通角打开并控制导通角的大小。测试人员通过观察电流测量单元103上的电流表上电流的指数，不断调节导通角大小，使流过可控硅的电流与可控硅的额定电流值相同。通过该技术方案实现3组6只可控硅的测试。其中控制操作单元203上可设置显示部分，通过该显示部分可以看到可控硅导通角打开的角度大小。电流互感器105接到电机保护器104上，在电机保护器上设置需要保护动作的电流设置值，当出现特殊情况，如电流失控时，电机保护器会控制接触器动作，断开主回路，从而起到安全保护的作用。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (4)

1、一种可控硅测试装置，包括：

接触器，作为整个设备的电源开关；

变压器，将外部交流电源转变为待测可控硅组的额定电压；

其特征在于还包括：

触发单元，用于控制可控硅导通角大小；

电流测量单元，用于测量流经可控硅电流的大小；

外部交流电源经过所述接触器和变压器后连接到待测可控硅组上，再经过导线返回到变压器中性点上构成回路，通过所述触发单元控制待测可控硅组中可控硅的导通角大小以达到控制流经可控硅的电流大小，再由电流测量单元测量并记录流经可控硅的电流大小。

2、根据权利要求1所述一种可控硅测试装置，其特征在于所述触发单元包括操作单元、相序采集芯片、微处理器和驱动单元；所述相序采集芯片采集外部交流电源相序，并将得到的相序送给微处理器，测试人员通过控制操作单元，给微处理器控制可控硅导通角打开或关闭以及导通角打开大小的控制信号，微处理器得到这些信号后通过控制驱动单元，驱动可控硅导通角打开并控制导通角的大小。

3、根据权利要求1所述一种可控硅测试装置，其特征在于在所述待测可控硅组同变压器构成回路的各可控硅单元的支路上都连接有电流互感器，该电流互感器连接到电机保护器上，所述电机保护器的控制端连接在所述接触器上，在所述电机保护器上设置保护动作的电流设置值，当出现特殊情况电机保护器会控制接触器动作断开主回路。

4、根据权利要求3所述一种可控硅测试装置，其特征在于在所述电流测量单元通过所述电流互感器获得流经可控硅电流的大小。

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