CN101498657B - 一种用于装载粉体样品的光谱仪样品支架 - Google Patents

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一种用于装载粉体样品的光谱仪样品支架，涉及各类锐角、直角、钝角角度采集信号的光学测试仪器系统的装载多个粉体样品的可系列比较测试的样品支架。将透光窗(3)覆盖于衬底的正面，用盖板(4)盖合，盖板(4)和衬底(2)将透光窗(3)契合夹紧，并将它们锁紧；在衬底底面的卡槽(5)里装上装样板(1)，装样板(1)上分布有与衬底上的装样孔相对应的小孔；装样时，移动装样板(1)，让装样板(1)上小孔与衬底(2)上的装样孔相连通，装入样品，然后移动装样板(1)，使装样板(1)上小孔与衬底(2)上的所有装样孔错开，装样板(1)密闭所有的装样孔，并将装样板(1)与衬底(2)固定。

Description

一种用于装载粉体样品的光谱仪样品支架
                            技术领域
本发明涉及一种光谱仪样品支架，特别涉及各类锐角、直角、钝角角度采集信号的光学测试仪器系统的装载多个粉体样品的可系列比较测试的样品支架。
                            背景技术
现有各类光谱仪器，如荧光，激光光谱仪，拉曼光谱仪，一般采用两片石英片夹持装载单个粉体样品，或用细玻璃管和石英管装载粉末样品。由于粉体样品易受气流和振动影响飘飞四处，很难实现在同一石英片夹持下实现多样品的装样；用细玻璃管和石英管装载粉末样品，散射比较严重，样品对光和信号采集不容易，实验效果不好。在4K-100K低温情况下，以上两种样品装载方法无法实现多样品的测试，极大的限制了低温环境的样品测试效率，无法实现在相同实验条件下系列样品的比较测试。
由于石英片的导热性差，样品温度和温度探测器上探测得到的温度差距很大，样品降升温过程缓慢，常出现降温不到位的问题，无法保证变温实验各系列温度的准确性。为确保样品实际问题和显示温度比较接近，等待时间漫长，大大延长降温装置的使用时间，加快了仪器的折旧损耗，并且严重制约了低温和变温实验效率。
                            发明内容
为了解决石英片夹持样品导热性差造成的样品降升温缓慢的问题，能实现多样品装样测试和系列样品比较测试，发明设计了一种可用于系列粉体样品比较测试的光谱仪样品支架。
本发明采用如下设计：将透光窗3覆盖于衬底的正面，用盖板4盖合，盖板4和衬底2将透光窗3契合夹紧，并将它们锁紧；在衬底底面的卡槽5里装上装样板1，装样板1上分布有与衬底上的装样孔相对应的小孔；装样时，移动装样板1，让装样板1上小孔与衬底2上的装样孔相连通，装入样品，然后移动装样板1，使装样板1上小孔与衬底2上的所有装样孔错开，装样板1密闭所有的装样孔，并将装样板1与衬底2固定。
将已装载上粉体样品的支架与定位装置以适当方法固定连接，调节定位装置，使目标样品孔位处于测试位置。
本发明专利根据光谱仪低温实验要求样品夹持部件导热性好的特点，采用了导热性好的金属材质作为样品夹持架的衬底、盖板和装样板，加快样品与衬底的热量传递，实现较快降升温，快速准确达到目标温度。为满足光谱仪的信号探测需要，与衬底相对的另一面样品夹持部件采用光学性能好的透光窗。
本发明专利所述的光谱仪样品支架主要应用于各类光谱仪的低温和变温实验，能实现在低温环境下多样品的测试，大大提高了实验效率，而且还可以实现准相同实验条件下系列样品的比较测试。
所述的装样板1与衬底2采用卡槽5相互固定，方便装样板的装卸和样品的装样。
本发明专利为实现多样品的测试，在所述的衬底2上分布有多个装样孔，装样板1上分布有相应数目的小孔。
                            附图说明
图1：样品支架剖面示意图；
图2：盖板示意图；
图3：带有卡槽的衬底示意图；
图4：装样板示意图。
                          具体实施方式
实例1：激光光谱仪，进行粉体样品发射谱实验，发射谱波段覆盖到紫外区域，某些样品需要进行4K-500K的低温和变温实验，要求能进行准同一实验条件下系列样品的比较测试。
为满足以上实验要求，参照本发明专利中所述的样品支架模型，确定盖板、透光窗、带有装样孔的衬底、装样板、定位装置、螺丝等各配件的技术参数，需考虑各个配件的尺寸匹配和相互吻合，考虑透光窗采用石英片制作，盖板、衬底和装样板采用亮导热的紫铜制作，根据试验测试的实际需要，设计选择样品架和定位装置的适当连接方法，将样品支架各部件的设计图纸交由机械加工服务商加工制作成所要求的样品支架。
将洁净的石英片覆盖于衬底正面，用盖板盖合，盖板和衬底将石英片契合夹紧，用螺丝固定锁紧，在衬底背面装上装样板，让装样板上小孔与衬底上的装样孔相连通，装入样品，移动装样板，使装样板上小孔与衬底上的装样孔错开，密闭装样孔，此时装样板作为挡板使用，清除装样板上小孔残余样品。
将样品支架主体与定位装置连接，调节至适当角度后，固定。在其他条件不变的情况下，使用定位装置调整样品位置，可分别调换同一直线上的各个样品至测试位置，进行该样品的实验测试。
按以上方法操作，可以进行准相同实验条件下系列样品的比较测试。
实例2：荧光光谱仪，进行粉体样品发射谱实验，发射谱波段覆盖到紫外区域，某些样品需要进行10K-500K的低温和变温实验，要求能进行准同一实验条件下系列样品的比较测试。
为满足以上实验要求，参照本发明专利中所述的样品支架模型，确定盖板、透光窗、带有装样孔的衬底、装样板、定位装置、螺丝等各配件的技术参数，需考虑各个配件的尺寸匹配和相互吻合，考虑透光窗采用石英片制作，盖板、衬底和装样板采用亮导热的不锈钢制作，根据试验测试的实际需要，设计选择样品架和定位装置的适当连接方法，将样品支架各部件的设计图纸交由机械加工服务商加工制作成所要求的样品支架。
将洁净的石英片覆盖于衬底正面，用盖板盖合，盖板和衬底将石英片契合夹紧，用螺丝固定锁紧，在衬底背面装上装样板，让装样板上小孔与衬底上的装样孔相连通，装入样品，移动装样板，使装样板上小孔与衬底上的装样孔错开，密闭装样孔，清除装样板上小孔残余样品。
将样品支架主体与定位装置连接，调节至适当角度后，固定。在其他条件不变的情况下，使用定位装置调整样品位置，可分别调换同一直线上的各个样品至测试位置，进行该样品的实验测试。
按以上方法操作，可以进行准相同实验条件下系列样品的比较测试。
实例3：拉曼光谱仪，进行粉体样品拉曼光谱测试，某些样品需要进行4K-500K的低温和变温实验。
为满足以上实验要求，参照本发明专利中所述的样品支架模型，确定盖板、透光窗、带有装样孔的衬底、装样板、定位装置、螺丝等各配件的技术参数，需考虑各个配件的尺寸匹配和相互吻合，考虑透光窗采用石英片制作，盖板、衬底和装样板采用亮导热的不锈钢制作，设计选择样品架和定位装置的适当连接方法，将样品支架各部件的设计图纸交由机械加工服务商加工制作成所要求的样品支架。
将洁净的石英片覆盖于衬底正面，用盖板盖合，盖板和衬底将石英片契合夹紧，用螺丝固定锁紧，在衬底背面装上装样板，让装样板上小孔与衬底上的装样孔相连通，装入样品，移动装样板，使装样板上小孔与衬底上的装样孔错开，密闭装样孔，清除装样板上小孔残余样品。
将样品支架主体与定位装置连接，调节至适当角度后，固定。在其他条件不变的情况下，使用定位装置调整样品位置，可分别调换同一直线上的各个样品至测试位置，进行该样品的实验测试。

Claims (3)

1.一种光谱仪粉体样品支架，设计如下：将透光窗(3)覆盖于衬底(2)的正面，用盖板(4)盖合，盖板(4)和衬底(2)将透光窗(3)契合夹紧，并将盖板(4)和衬底(2)锁紧；在衬底底面的卡槽(5)里装上装样板(1)，装样板(1)上分布有与衬底上的装样孔相对应的小孔；装样时，移动装样板(1)，让装样板(1)上小孔与衬底(2)上的装样孔相连通，装入粉体样品，然后移动装样板(1)，使装样板(1)上各个小孔与衬底(2)上的所有装样孔错开，装样板(1)密闭所有的装样孔，并将装样板(1)与衬底(2)固定。
2.根据权利要求1所述的光谱仪粉体样品支架，其特征在于：所述的装样板(1)与衬底(2)采用卡槽(5)固定。
3.根据权利要求1所述的光谱仪粉体样品支架，其特征在于：所述的衬底上(2)分布有多个装样孔，装样板上分布有相应数目的小孔。
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