CN101490518A - 用于表征光源的设备和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了用于表征光源的光度学和/或色度学属性的设备和方法。该设备包括检测器系统，所述检测器系统产生表示用于光源所发出光的至少一部分的至少分光辐射度学数据的数据。该设备还包括操纵台，所述操纵台被配置成控制检测器系统和光源之间的相对位置。此外，该设备包括控制和处理系统，所述控制和处理系统被配置成控制检测器系统的操作、操纵台的操作，并且记录与其关联的检测器系统的数据和相对位置。该控制和处理系统还被配置成处理所收集的数据以便确定光源所发出光的光度学和/或色度学属性。
Description
技术领域
本发明涉及分光辐射度学，特别地涉及用于确定光源的空间分辨光度学和/或色度学属性的设备和方法。
背景技术
如果发光体的光学系统和光源的特性充分匹配的话，那么发光体会更加有效。充分的匹配需要光源的分光辐射度学属性以及更重要地所述分光辐射度学属性如何由观察者感知的知识。一般而言，发光体的发光特性的知识具有若干重要用途，这些用途可以包括质量控制。以下公开物描述了可以用于在工作条件下测量光源的辐射度量属性的系统和方法。
例如，美国专利No.3,931,515描述了一种用于产生独立于目标强度的目标角度位置信号的光学检测、跟踪和指示设备。它包括光导检测器元件，所述光导检测器元件具有以菱形(rhombic)模式设置的四个外部电极以及中心设置的内部电极。一对四相交流初级偏置信号耦合到相对设置的电极对。所述中心电极耦合通过负载阻抗以及不同于第一偏置信号频率的第二频率下的次级偏置信号源。在输出端出现包含初级偏置信号的相位和频率分量的复合信号。该复合信号随着目标位置和强度的变化而变化。在第二频率下的次级输出信号仅随强度的变化而变化。除法器电路将复合信号除以次级信号以便产生仅依照撞击到所述光导上的辐射能量的相对位置而变化的输出信号。
美国专利No.5,253,036描述了一种用于测量光源周围的光通量的三维近场分布的近场测角光度学(goniophotometric)设备和方法。该设备结合了安装在可旋转臂上的成像光度计。该光度计被设计成测量体光源周围的四维亮度场。控制机构被提供来定位所述臂并且相对于该臂旋转光源。该方法有助于根据亮度场测量结果预测平面上的点处的亮度或辐照度。
美国专利No.5,521,852描述了一种用于设计照明装置的方法和系统。该系统包括用于执行该方法的处理器，该方法包括基于选择的与照明区域关联的参数产生照明区域输入数据信号以及基于选择的与发光体关联的参数产生发光体输入数据信号。该方法还包括处理所述照明区域输入数据信号以便获得照明区域因子以及处理所述发光体输入数据信号以便获得光度学因子。该方法还包括处理所述照明区域因子和所述光度学因子以便确定照明区域中的光级别值并且基于所确定的光级别值产生光级别输出信号。该系统和方法还包括用于在视频监视器上的空间视图中三维地操作数据的系统和方法。
美国专利No.5,949,534描述了一种用于测量诸如激光二极管(LD)、发光二极管(LED)、光纤、平板显示器和发光体之类的辐射光源的近场和/或远场辐射模式的测角辐射度扫描设备和方法。该扫描设备结合了用于通过待测量的光源选择方位角的偏转器、在围绕光源扫描的同时收集光的旋转设备、光学换向器(commutator)以及检测器。所述旋转设备包括圆柱轴(hub)以及使用光纤或一列(train)反射器(例如反射镜或后反射器(retro-reflector))的集光器(opticalcollector)。该集光器提供用于收集光并且用于将从偏转器发出的光束导向与检测器相对的其处发生光通信的位置。所述反射器光学列使用时折叠光路并且增大测量的有效半径，使得在具有紧凑几何结构的仪器内可以获得大半径扫描。根据所述光源的几何结构以及所述有效光路，所述光收集(light collection)可以在光源辐射模式的近场或远场进行。对于远场辐射模式的情况而言，同样可能的是通过将所述光源成像到光收集表面上来测量近场辐射模式。
美国专利No.6,788,398描述了一种用于快速测量来自光源的具有大动态范围的远场辐射分布图(profile)的方法和设备。该设备可以包括：收集器，其耦合到旋转轴，使得收集器入口的旋转限定了平面；检测器，其被耦合以接收在收集器入口处捕获的光；以及检测器电子装置，其具有被耦合以接收来自检测器的信号的可编程增益。该设备可以包括可旋转的入口反射镜内，该反射镜用于将来自光源的光反射到收集器的入口的平面。所述光源可以相对于收集器的入口的平面是固定的。所述光源可以在由收集器的入口所限定的平面内是可旋转的。为了获得大的动态范围，采取在检测器电子装置若干增益设置下的来自光源的远场数据，并且构造编制的(complied)远场辐射分布图。用于光源的表征参数，例如用于光纤的光纤参数，可以基于编制的远场辐射分布图来计算。
美国专利6,983,547描述了一种测角仪，其包括：基座，由基座支撑的复合部件，可操作地安装在复合部件上、光学地连接到相干光源并且朝着光学滤波器设置的光引导元件，沿着第一轴设置并且可操作地耦合到基座以便沿着设置在第一平面内的第一弓形路径平移光引导元件的第一致动器；以及沿着第二轴设置并且可操作地耦合到复合部件以便沿着设置在第二平面内的第二弓形路径平移光引导元件的第二致动器，其中第一平面垂直于第二平面，并且其中第一和第二轴共面，以便以垂直于光学滤波器的角度引导相干光。
美国专利申请公开No.2005/0146713描述了一种用于测量有机发光器件(OLED)的光电属性的设备，其包括平台、测角仪、三轴移动装置以及计算机。所述测角仪设置在平台的一侧上，OLED设置在该测角仪上。所述三轴移动装置设置在平台的另一侧上。光电检测器设置在三轴移动设备上，其中光电检测器朝向测角仪上的OLED。所述测角仪、三轴移动装置以及光电检测器都连接到所述计算机。
此外，I.Ashdown在“Making Near-Field Photometry Practical”(IESNA Conference Paper：May，1997)中描述了光源的辐射度特性的测量。
存在对于一种用于确定光源的光度学和色度学属性的新设备的需要。
该背景信息被提供来揭示申请人相信可能与本发明相关的信息。这并不意味着承认并且也不应当认为上述任何信息构成对抗本发明的现有技术。
发明内容
本发明的目的是提供用于表征光源的设备和方法。依照本发明的一个方面，提供了用于确定光源所发出光的属性的设备，该设备包括：检测器系统，其用于产生表示用于光源所发出光的至少一部分的至少分光辐射度学(specroradiometric)数据的数据；操纵台，其被配置成控制检测器系统和光源之间的相对位置；以及控制和处理系统，其被配置成控制检测器系统的操作和操纵台的操作，所述控制和处理系统还被配置成记录与其关联的检测器系统和光源的数据和相对位置，该控制和处理系统被配置成处理所述数据以便确定光源所发出光的光度学或色度学属性。
依照本发明的另一个方面，提供了用于确定光源所发出光的属性的方法，该方法包括步骤：相对于坐标系统设置并且对准光源；将检测器系统放置在光源远侧的传感器位置处，从而限定检测器系统和光源之间的相对位置和取向，所述检测器系统产生光源所发出光的至少一部分的至少分光辐射度学数据；从检测器系统采集分光辐射度学数据；处理该分光辐射度学数据以便产生表示所采集的分光辐射度学数据的光度学或色度学数据。
附图说明
图1示意性地示出了依照本发明一个实施例的用于表征光源的设备。
图2示出了依照本发明一个实施例的用户界面的一部分。
图3为依照本发明一个实施例用于表征光源的设备的操纵台的图片。
图4为图3的操纵台的另一图片。
图5为用于依照本发明一个实施例用于表征光源的设备的探头支撑的图片。
图6为对应图5探头支撑的探头的前视图的图片。
图7为依照本发明一个实施例的操纵台和探头的原型装置的图片。
具体实施方式
定义
术语“光引导元件”用来限定当通过在其两端施加电位差或者使电流通过它时至少部分由于电致发光而发出电磁频谱的一定区域或者多个区域的组合内的辐射的器件，所述区域例如可见光区域、红外和/或紫外区域。发光元件可以具有单色、准单色、多色或宽带光谱发射特性。发光元件的实例包括半导体、有机或聚合体/聚合物发光二极管，涂敷了光泵磷光体的发光二极管，光泵纳米晶体发光二极管或者本领域技术人员将容易理解的其他类似器件。此外，术语“发光元件”用来限定发出辐射的特定器件，例如LED芯片(die)，并且同样可以用来限定发出辐射的特定器件连同所述特定器件置于其中的壳体或封装一起的组合。
术语“操纵台”用来指具有一个或多个机械自由度的设备。每个自由度可以例如是平移的或旋转的或者其他预定任意类型的运动。例如，操纵台可以是测角仪、欧拉型支架(Eulerian cradle)等等。操纵台可以例如是手工操作的或自动操作的或者两者兼而有之。
如在本文中所使用的，术语“左右”指的是相对于标称值(nominal)的+/-10％的变化。应当理解，无论是否特别指出，这种变化总包含在这里提供的任何给定值内。
除非另有限定，本文使用的所有技术和科学术语都具有与本发明所属领域中通常理解的意义相同的含义。
本发明提供了用于表征光源的光度学和/或色度学属性的设备和方法。该设备可以用于光源的光度学和/或色度学属性的空间或方向分辨的确定。光源的光度学和/或色度学属性可以包括例如积分的(integral)空间或方向分辨的相关色温(CCT)、颜色再现指数(CRI)、亮度(L)、色度(x，y)或(u，v)以及其他CIE度量。应当指出的是，若干可替换的颜色空间表示是已知的，并且同样可以由本发明用来表示光源的光度学和/或色度学属性。
该设备包括检测器系统，所述检测器系统产生表示用于光源所发出光的至少一部分的至少分光辐射度学(specroradiometric)数据的数据。该设备还包括操纵台，所述操纵台被配置成控制检测器系统和光源之间的相对位置。此外，该设备包括控制和处理系统，所述控制和处理系统被配置成控制检测器系统的操作和操纵台的操作，并且记录与其关联的检测器系统的数据和相对位置。所述控制和处理系统还被配置成处理所收集的数据以便确定光源所发出光的光度学或色度学属性。
依照本发明的设备可以用于操纵光源和检测器系统之间的相对位置，从而使得能够对光源的至少分光辐射度学属性进行空间和方向分辨的采样以便获得光源所发出光的光度学和/或色度学属性。在一个实施例中，该设备可以使得能够确定希望的立体角上的各光度学和/或色度学属性的平均值或积分值。
在本发明的一个实施例中，光源附加(affix)到操纵台上，并且操纵台可以置于离开检测器系统的希望的距离处以及按照希望相对于检测器系统对准。操纵光源相对于检测器系统的取向可以通过充分地控制操纵状态来实现，所述操纵状态可以手动地控制、经由致动器控制、或其组合来控制。操纵台和致动器可以通过控制和处理系统来控制。在一个实施例中，检测器系统附加到操纵台上。
控制和处理系统控制检测器系统的操作，并且任选地可以被配置成在希望的工作条件下激励并且维持光源。检测器系统的控制可以包括诸如(去)激励、检测器系统校准、灵敏度选择、光学对准、光学聚焦、光学准直之类的动作。
检测器系统、操纵台、控制和处理系统以及光源可以通过使用用于控制和提供功率的若干有线或无线互连系统来充分地互连。所述互连系统可以用来传输模拟或数字信号，其中各布线或电缆可以被屏蔽，以特别地提供用于其模拟或数字信号传输的足够的信噪比。
图1示意性地示出了依照本发明一个实施例的设备100。该设备包括：操纵台110，其具有两个用于操纵光源190的取向的旋转自由度；检测器系统150，其被配置成收集光源的至少分光辐射度学数据。该设备还包括控制系统140，所述控制系统140包括电机控制器142和处理系统144。电机控制器142被配置成控制操纵台110的操作，处理系统144被配置成处理所述分光辐射度学数据以便将其转换成光度学和/或色度学数据。
进一步参照图1，电机控制器142依照从处理系统144接收的指令控制标识为My 122和Mz 124的致动器或电机。电机控制器142可以向处理系统144报告有关致动器或电机122和124的状况或位置的状态信息。
检测器系统150包括一个或多个检测器，所述检测器使得能够收集代表光源所发出光的至少分光辐射度学数据。控制系统140操作地连接到可以与其交换控制和数据信号的检测器系统150。该检测器系统可以提供有关采集的分光辐射度学数据(例如感测的光的光谱功率分布(SPD))的信息，或者可以被配置成基本上直接地提供光度学和/或色度学数据。
检测器系统
所述检测器系统对光源的至少分光辐射度学属性进行采样，并且该检测器系统或者处理系统可以将所采集的分光辐射度学数据处理成光度学和/或色度学数据。该检测器系统可以以若干不同的方式来配置，包括例如探头、多通道检测器、分光计等等。
在一个实施例中，所述检测器系统包括由一个或多个检测器元件构成的检测器，所述一个或多个检测器元件可以被线性地或以表面(areal)矩阵状方式配置，或者在本领域已知的另一种配置中被配置用于收集表示光源光输出特性的数据。
在本发明的一个实施例中，所述检测器系统包括探头和检测器，其例如通过充分的光学或光电连接(例如光纤或反射器网络)而互连。所述连接允许探头相对于或独立于检测器而运动。在这种配置中，探头提供对于光源所发出光的至少一部分的收集，并且检测器使得能够检测该收集的光。
应当理解，所述检测器和探头可以组合成单个模块单元。例如，它们可以从结构上结合在一起或者可以一起安装到操纵台上。可替换地，对于特定类型的检测器而言，可以不需要探头。
在本发明的一个实施例中，所述检测器系统被配置成直接采集代表光源的光度学和/或色度学数据。在该实施例中，检测器系统可以包括足够的滤波器元件，所述滤波器元件被配置成适当地对光源的光输出进行滤波，由此获得代表光源的光度学和/或色度学属性的数据。所述确定可以以若干不同的方式来实现，例如通过利用一组足够的滤波器元件对光进行滤波并且确定透过每个滤波器元件的光的积分强度来实现，或者例如通过以足够的分辨率确定光的光谱功率分布(SPD)并且在诸如计算机之类的处理单元中利用一组足够的滤波器函数对该SPD进行处理来实现。
在一个实施例中，本发明可以空间分辨分光辐射度学以及光度学属性。例如，可以针对相对于光源的坐标在希望的窄立体角内确定分光辐射度学和光度学属性。一般而言，所述滤波器元件的光谱灵敏度以及所述滤波器函数表示的模型化光谱灵敏度需要充分精确地模拟用来描述光的光度学和/或色度学属性的希望的视觉模型。如以上所讨论的，存在若干标准化视觉模型。例如，本发明实施例中的滤波器的模型化光谱灵敏度可以是CIE 1931 RGB颜色匹配函数。
在本发明的一个实施例中，所述检测器系统包括准直系统，该准直系统包括例如一个或多个用于控制光接收立体角以及用于准直光的开口(slit)或孔径。所述检测器系统可以包括例如末端适当定形的光纤或者一束光纤。该检测器可以包括一个或多个提供对于光源所发出光的至少一部分进行收集的其他光学元件。例如，光学元件可以是反射器、聚光器或者提供本领域技术人员容易理解的希望的功能的其他格式光学元件。
操纵台
所述操纵台用来可复现地(reproducibly)旋转、平移或者平移和旋转适当附加到该操纵台上的光源或检测器系统，以便调节检测器系统和光源之间的相对角取向和相对位置。该操纵台被配置成通过定向或移动光源、检测器系统或者这两者来相对于检测器系统对准光源。
在本发明的一个实施例中，所述操纵台具有两个或更多用于相对于检测器系统定向以及定位光源的自由度。本领域技术人员应当容易理解的是，沿着每个自由度运动的程度可以由操纵台的类型所限制。
在本发明的一个实施例中，具有至少一个自由度的第一操纵台使得能够操纵光源的位置或取向，具有至少一个自由度的第二操纵台使得能够操纵检测器系统的位置或取向。
在本发明的一个实施例中，所述操纵台包括一个或多个致动器、精密电机等等以便使得能够该操纵台围绕某个自由度的运动。例如，该操纵台可以包括一个或多个机动化定位和控制装置，例如Newport公司或Huber Diffraktionstechnik GmbH & Co.KG提供的装置。所述精密电机、致动器等等可以连接到所述控制和处理系统并且由所述控制和处理系统进行适当的控制。
在本发明的一个实施例中，所述操纵台包括用于附加光源的安装台。该操纵台具有至少一个用于围绕第一旋转轴以希望的第一角度定向安装台的旋转自由度以及另一个用于围绕对应的第二旋转轴以希望的第二角度定向安装台的自由度。所述第一轴和第二轴可以相交以及可以垂直，这取决于所述实施例。
在本发明的一个实施例中，所述操纵台被配置成通过三个或更多自由度允许光源和检测器系统之间的相对运动。操纵台的这种配置可以提供对于光源和检测器系统的更多方面的相对定位。例如，在一个实施例中，该操纵台还可以包括用于沿着笛卡尔坐标系统的一个或多个坐标进行线性定位的线性定位器。例如，所述安装台可以包括线性工作台、XY工作台或z工作台或者这些工作台中的两个或三个的组合，以便形成允许相对于所述第一旋转轴和第二旋转轴的交点精确地定位光源的多轴微定位平移台。这种实施例可以允许光源的对准，使得检测器系统在围绕所述第一和/或第二轴旋转的同时保持在光源的特定表面元件的焦点处。这也允许例如在精度和纬度坐标方面充分精确地规定检测器系统和光源之间的相对定向。
控制和处理系统
所述控制和处理系统向操纵台提供用于控制光源和检测器系统之间的相对位置和取向的控制信号。该控制和处理系统还被配置成将至少部分地代表光源的分光辐射度属性的收集的数据处理成代表光源的光度学和/或色度学数据。该控制和处理系统可选地还可以控制光源的工作条件以及检测器系统执行的数据的采样。
所述控制和处理系统包括用于控制所述设备的部件以及用于处理输入的信号和采集的数据的计算系统。该控制和处理系统可以包括若干由计算系统控制的组成控制器。计算系统可以包括通用或专用计算机并且可以例如包括一个或多个CPU，若干不同的存储装置，用于互连控制器、包含在操纵台中的可选位置传感器、检测器系统的输入或输出或者输入/输出接口，可选的网络接口以及用户界面系统。
所述控制和处理系统包括一个或多个用于与操纵台的致动器和/或电机通信的接口并且可以提供用于这些致动器和/或电机的操作的控制信号。
在本发明的一个实施例中，所述设备的操作的某些方面可以由所述控制和处理系统以前馈、反馈或者混合前馈反馈的方式来控制。例如，致动器和电机通常以前馈的方式来控制，但是可选地可以包括用于检测特定条件的位置传感器，所述特定条件可以用于例如操纵台的反馈控制。
在一个实施例中，当操纵台包括由例如制造商提供的集成模块单元形式的定位装置和控制装置时，所述控制和处理系统可以包括用于依照这样的模块单元的规范控制这些模块单元的硬件、固件和/或软件。
在本发明的一个实施例中，所述控制和处理系统的设计体现了所述设备的总体模型以便能够执行对所述设备的部件的充分控制。例如，所述设备的模型可以基于与操纵台(例如定位装置)关联的自由度以及所述装置的对应运动范围的限制。此外，所述设备的模型可以包括检测器系统的表示以及代表光源的可以由检测器系统收集的数据的格式，从而提供了用于确定数据处理的类型和级别的方式(means)，需要所述数据处理是为了能够确定光源的光度学和/或色度学特性。
在本发明的一个实施例中，所述控制和处理系统提供了用于处理采样的空间分光辐射度学、光度学或色度学数据的装置。该控制和处理系统可选地可以根据所表示的空间分光辐射度学数据确定光度学和/或色度学数据。为此目的，该控制和处理系统可以利用数据采集方法来配置以便采集在希望的立体角内光源和检测器系统之间的若干预定相对取向的分光辐射度学、光度学或色度学数据。该采集方法可选地还可以自适应地确定光源和检测器系统之间的若干相对取向，分光辐射度学、光度学或色度学数据需要在这些取向下进行确定。该采集方法可以通过分析满足特定预定关系的特定相对取向或坐标下的一个或多个已经采集的分光辐射度学、光度学或色度学属性的曲率、梯度幅度等等来自适应地确定光源和检测器系统之间的相对取向或坐标。例如，采样的取向或坐标可以是由对应相对取向所限定的最接近的近邻。自适应产生的另外的取向或坐标可以用来以细化的取向和空间分辨率采集和确定分光辐射度学、光度学或色度学属性。
在本发明的一个实施例中，可以基于光的分光辐射度学属性通过例如对光的适当滤波或者被感测光的光谱功率分布(SPD)的计算处理来分析确定光的光度学和/或色度学属性。然而，采用光谱滤波器特性与所希望视觉/观察者模型的特性匹配的高质量光学滤波器会是昂贵的。某些视觉模型/观察者标准可能需要使用具有正负灵敏度的光谱滤波器特性。例如，对于CIE 1931 RGB颜色匹配函数中的红色分量而言，情况就是如此，并且这个要求会增大所述控制和处理系统的设计的复杂度。例如，具有用于CIE 1931 RGB模型的加权函数的单一光学滤波器目前并不存在。作为替换，可能需要某种形式的光学或电子处理。所述设备对于其中颜色匹配函数的灵敏度发生符号变化的那些波长之间的每个邻接波长范围可能需要单独的滤波器。具有预定滤波器设计的设备可能在灵活性、耐用性和成本效率方面是有限的，但是同样可用于本发明的目的。应当指出的是，具有与希望的加权函数相应的足够透射或反射特性的元件可以用作光学滤波器。
在本发明的一个实施例中，用电子学方法对光进行滤波要求对高度分辨的光谱数据的SPD进行处理，并且从而需要具有能够在光谱上分辨光的装置的更复杂的控制和处理系统设置。然而，在总体设备水平上，显著增强的设备灵活性可能比这种考虑重要得多。计算确定光度学和/或色度学属性可以通过例如利用对应的颜色匹配函数对所述SPD进行加权并且计算加权平均值来实现。应当指出的是，所采集的数据的某种预处理或后处理可能是必要的，以便确定适当校准的SPD以及导出某些诸如CIE xy或uv之类的颜色坐标，这是容易理解的。
在本发明的一个实施例中，所述控制和处理系统可以包括用于至少在操作期间的特定时间与用户交互的用户界面。该用户界面可以例如显示希望的有关所述设备或光源的状态的信息。该用户界面可以包括输入装置，该输入装置输入例如代表所述设备或光源的部件的希望的工作条件或者工作条件范围的用户数据。
在本发明的一个实施例中，所述控制和处理系统可以处理用户输入数据。该用户输入数据可以包括用于对针对各种设备配置自动地采集分光辐射度学、光度学或色度学数据的预定方式进行编程的信息。可编程控制和处理系统配置可以包括例如对应操纵台的取向的平面坐标或经度和纬度序列以及光源的工作条件。
现在将参照特定的实例来描述本发明。应当理解，以下实例意在描述本发明的实施例，而非意在以任何方式限制本发明。
实例
图1示意性地示出了依照本发明一个实施例的设备100。该设备包括操纵台110，所述操纵台110具有两个用于操纵光源190的取向的旋转自由度。
该设备还包括控制系统140，所述控制系统140包括电机控制器142和处理系统144。电机控制器142依照从处理系统144接收的指令控制致动器或电机My 122和Mz 124。电机控制器142可以向处理系统144报告有关致动器或电机122和124的状况或位置的状态信息。所述处理系统可以控制光源190的工作条件。所述设备还包括检测器系统150，该检测器系统150可以被配置成收集辐射度学数据。该检测器系统150可以以若干不同的方式来配置，包括例如探头152、多通道检测器(未示出)或分光计154。该检测器系统可以包括一个或多个检测器元件，所述一个或多个检测器元件可以被线性地或以表面矩阵状方式或者以本领域中公知的任何其他方式配置。
控制系统140可操作地连接到可以与其交换控制和数据信号的检测器系统150。该检测器系统可以提供有关采集的分光辐射度学数据(例如感测的光的光谱功率分布)的信息。该检测器系统可选地可以包括直接地提供光度学和/或色度学数据的装置。而且，该检测器系统可以提供例如有关所述探头或检测器的工作条件的信息。该检测器系统可以包括准直系统，该准直系统包括例如一个或多个用于控制光接收立体角以及用于准直光的开口或孔径。所述探头可以包括例如末端适当定形的一根光纤或者一束光纤。该探头可以包括光接收积分球。
在本发明的一个实施例中，例如，电机My可以是Newport RV160PP或者类似的精密转台，电机Mz可以是RTM160PP或者类似的精密转台，并且所述电机控制器可以是Newport ESP300。所述分光计可以是仪器系统CAS140B或者具有连接到适当的光学探头的光纤接口的类似装置。
应当指出的是，许多配备了多达两个转台以及平面平行平移台的操纵台可以提供半圈范围内的旋转能力。针对两个垂直轴中的每一个具有接近半圈旋转能力的操纵台可以大大有助于实现本发明的实施例，所述实施例适于表征不同于远场条件的光源。应当指出的是，在不同于远场的条件下进行的光源的表征可能需要与对于远场条件下进行表征有用的探头类型不同的探头类型。
图2示出了依照本发明一个实施例的用户界面的一部分200的实施例。该用户界面可以另外地显示(未示出)光源的位置和取向以及所采集并且处理的包括CCT、CRI、L、(x，y)、(u，v)等的数据的一维、二维或三维图形。这些图形可以被显示并且更新，因为在进行测量的同时新的数据变得可用。如图所示，用户界面可以显示或查询有关控制参数的信息，例如：标识可以将所采集的数据保存到其中的文件的“文件路径(File Path)”210，以及“在校准曲线(Calibration Curve)”220之下的用于校准任何所采集的辐射度学或光度学数据的指示。数据的校准可以解决光例如沿着光纤传输中的分散(dispersion)效应或者考虑传感器元件的灵敏度。另外的控制参数可以包括哪个串行端口230用于控制所述电机控制器，经过编程的自动数据采集期间所述操纵台的Mz旋转的竖直角增加的竖直角增量(以度为单位)240以及竖直角的步长(增量)数245。此外，所述用户界面可以显示或查询启动经过编程的自动数据采集的竖直启动角247，以及例如用于逆时针(jogCCW)或顺时针(jog CW)方向改变所述竖直角的控制元件248和249(例如按钮)和当改变所述竖直角时用于选择“慢速(slow speed)”的元件243。
所述用户界面可以包括若干用于显示或影响所述操纵台的My旋转的水平角的元件。如图所示，这些可以包括水平角的步长(增量)数250以及逆时针251或顺时针253缓慢进给(jog)水平角和选择用于改变水平角的慢速255。
如图所示，用户界面的另外的元件可以包括“状态(Status)”字段260下的状态消息，其指示所述设备的状态或者提供对于所述设备的工作条件的指示。而且，“竖直角”261和“水平角”263显示操纵台的当前旋转角度。紧接“状态”字段的指示器元件265例如可以变成红色或闪烁红色，以便发出有关所述设备正在接受重新配置的信号，例如操纵台的旋转电机正转向重新配置所述设备。信令指示器元件也可以指示所述设备当前不能接受任何另外的输入或者另一个重新配置请求。
如图中另外所示的，可以存在用于启动“竖直(Vertical)”和“水平(Horizontal)”下的设置所配置的扫描的用户界面元件“运行(Run)”270。此外，可以存在用于限定操纵台的预定原位(home)配置的“设置原位(Set Home)”元件271以及用于将所述设备置于该预定原位配置的“原位(Home)”元件273。例如，所述原位配置可以被限定为操纵台的空(零)旋转角。该零角度可以指操纵台的硬件编码或在先限定的软件编码的配置。所述用户界面可以具有例如对于紧急情况用途有用的“中断(Halt)”元件280。激励“中断”元件可以例如停止所述设备的操纵台和任何其他机械部件的所有运动。此外，“复位(Reset)”元件290可以用来将所述输入字段复位到缺省值并且可选地例如重新配置所述设备。
此外，所述设备的尺寸取决于要研究的光源的类型。用于表征相对较小的光源(例如灯泡大小)的设备可以比用于表征发光体的那些设备小得多。
此外，不同类型的光源可能需要不同类型的附接(attachment)方法或机制。光源可以以若干不同方式可释放地附接到操纵台上。例如，所述附接可以包括适用于安装发光体、LED或LED小片或者任何其他类型的发光元件的安装台。附接的格式和类型还可以包括例如用于可复现地设置光源的装置，例如桶状物。
特别地，到光源的距离可以根据探头的类型以及检测器的类型来变化。例如，依照一个实施例以及如图1所示，所述操纵台包括一个用于围绕y轴旋转的水平转台120以及用于围绕z轴旋转的竖直转台130。应当指出的是，所述操纵台可以包括一个或多个另外的旋转或平移台。例如，一个或多个另外的平移台可以大大有助于特别用于正确地对准光源的所述设备的初始设置。
如以上已经概括地描述的，本发明的另一实施例可以包括用于围绕第一旋转轴旋转光源的转台以及用于围绕第二旋转轴旋转检测器系统或其一部分(例如仅仅探头)的另一转台。所述第一和第二旋转轴可以相交于光源处或附近，并且可以包括法线角。
在本发明的另一实施例中，所述设备包括一个或多个用于检测器系统、探头、检测器或者探头或检测器元件的阵列、矩阵或网格的平移运动的平面平行平移台。
图3和图4示出了依照本发明一个实施例用于表征光源的设备的操纵台300的图片。操纵台300包括具有电机驱动器312的转台310以及具有电机驱动器322的转台320。
图5示出了具有探头对准元件405的探头支撑400的图片，所述探头对准元件405用于对准依照本发明一个实施例用于表征光源的设备的探头(未示出)。图6示出了探头410的前视图的图片。图5中示出的探头支撑在例如光学工作台上提供了探头的模块设置。
图7示出了依照本发明一个实施例用于表征光源的设备的原型装置的图片。它包括操纵台300和探头支撑400。操纵台300设置在光学平台(bench)10上并且可操作地附接到控制系统(未示出)和电源(未示出)。操纵台可以保持光源(未示出)。所述探头支撑包括同样可操作地连接的探头。该探头支撑置于壁架20上。所述设备是具有足够的暗室特性的房间中的装置。该装置的校准可以例如包括一个或多个用于相对于壁架20相对定位和定向光学平台10的步骤。
显然，本发明的上述实施例是一些实例，并且可以以许多方式来改变。这样的当前的或未来的变化不应当被视为偏离了本发明的精神和范围，本领域技术人员应当清楚，所有这样的修改都预期包含在所附权利要求的范围之内。
Claims (18)
1.一种用于确定光源所发出光的属性的设备，该设备包括：
a)检测器系统，其用于产生表示用于光源所发出光的至少一部分的至少分光辐射度学数据的数据；
b)操纵台，其被配置成控制检测器系统和光源之间的相对位置；以及
c)控制和处理系统，其被配置成控制检测器系统的操作和操纵台的操作，所述控制和处理系统还被配置成记录与其关联的检测器系统和光源的数据和相对位置，该控制和处理系统被配置成处理所述数据以便确定光源所发出光的光度学或色度学属性。
2.依照权利要求1的设备，其中控制和处理系统被配置成处理所述数据以便确定光源所发出光的光度学和色度学属性。
3.依照权利要求1的设备，其中操纵台具有两个或更多用于定位检测器系统或光源的自由度。
4.依照权利要求1的设备，包括用于对控制和处理系统进行编程的用户界面。
5.依照权利要求4的设备，其中用户界面能够用来输入控制参数。
6.依照权利要求1的设备，其中检测器系统和光源能够被独立地放置。
7.依照权利要求1的设备，包括操作地连接到检测器系统以便收集光的探头。
8.依照权利要求1的设备，其中检测器系统包括分光计。
9.依照权利要求1的设备，其中检测器系统包括多通道检测器。
10.依照权利要求1的设备，其中检测器系统包括被配置成至少部分地提供光源所发出光的光度学或色度学属性的滤波系统。
11.依照权利要求10的设备，其中滤波系统基于CIE 1931模型而被配置。
12.一种用于确定光源所发出光的属性的方法，该方法包括步骤：
a)相对于坐标系统设置并且对准光源；
b)将检测器系统放置在光源远侧的传感器位置处，从而限定检测器系统和光源之间的相对位置和取向，所述检测器系统产生光源所发出光的至少一部分的至少分光辐射度学数据；
c)从检测器系统采集分光辐射度学数据；
d)处理该分光辐射度学数据以便产生表示所采集的分光辐射度学数据的光度学或色度学数据。
13.依照权利要求12的方法，其中所述处理步骤使得能够确定表示所采集的分光辐射度学数据的光度学和色度学数据。
14.依照权利要求12的方法，还包括将所述分光辐射度学数据以及检测器系统和光源之间的相对位置和取向记录到数据仓库中。
15.依照权利要求12的方法，还包括将所述光度学或色度学数据以及检测器系统和光源之间的相对位置和取向记录到数据仓库中。
16.依照权利要求12的方法，还包括确定光源的新的取向和位置。
17.依照权利要求16的方法，其中所述新的取向和位置能够通过用户界面输入。
18.依照权利要求16的方法，其中所述新的取向和位置选自多个预定的取向和位置。
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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| WO (1) | WO2008003172A1 (zh) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103292978A (zh) * | 2012-02-22 | 2013-09-11 | 大塚电子株式会社 | 光源支承装置及采用该装置的光辐射特性测定装置 |
| CN109690266A (zh) * | 2016-07-12 | 2019-04-26 | 布鲁工业科技公司 | 用于表征光源的方法和设备 |
| CN110375855A (zh) * | 2019-08-13 | 2019-10-25 | 厦门大学 | 微型发光器件的三维光谱成像装置及方法 |
| CN112362306A (zh) * | 2020-09-30 | 2021-02-12 | 深圳天祥质量技术服务有限公司 | 一种脉冲光源光生物安全检测方法及装置 |
| CN113945366A (zh) * | 2020-07-17 | 2022-01-18 | 泰科诺团队控股有限公司 | 光源和辐射源的光辐射特性的光度表征方法 |
Families Citing this family (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20050259424A1 (en) * | 2004-05-18 | 2005-11-24 | Zampini Thomas L Ii | Collimating and controlling light produced by light emitting diodes |
| US7729941B2 (en) | 2006-11-17 | 2010-06-01 | Integrated Illumination Systems, Inc. | Apparatus and method of using lighting systems to enhance brand recognition |
| US8013538B2 (en) | 2007-01-26 | 2011-09-06 | Integrated Illumination Systems, Inc. | TRI-light |
| CN101158600A (zh) * | 2007-06-05 | 2008-04-09 | 杭州远方光电信息有限公司 | 分布光度计 |
| US8742686B2 (en) * | 2007-09-24 | 2014-06-03 | Integrated Illumination Systems, Inc. | Systems and methods for providing an OEM level networked lighting system |
| US8255487B2 (en) * | 2008-05-16 | 2012-08-28 | Integrated Illumination Systems, Inc. | Systems and methods for communicating in a lighting network |
| US20100264913A1 (en) * | 2008-08-20 | 2010-10-21 | Adarsh Sandhu | Magnetic field sensor |
| US9123223B1 (en) | 2008-10-13 | 2015-09-01 | Target Brands, Inc. | Video monitoring system using an alarm sensor for an exit facilitating access to captured video |
| KR101136559B1 (ko) * | 2008-12-19 | 2012-04-17 | 광전자정밀주식회사 | 분주펄스기반 엘이디 모듈 광 특성 측정 방법 및 장치 |
| US8585245B2 (en) | 2009-04-23 | 2013-11-19 | Integrated Illumination Systems, Inc. | Systems and methods for sealing a lighting fixture |
| KR101392985B1 (ko) * | 2009-12-17 | 2014-05-08 | 광전자정밀주식회사 | 광원 핸들링 장치 및 이를 이용한 광특성 측정 장치 |
| US9066381B2 (en) | 2011-03-16 | 2015-06-23 | Integrated Illumination Systems, Inc. | System and method for low level dimming |
| US9967940B2 (en) | 2011-05-05 | 2018-05-08 | Integrated Illumination Systems, Inc. | Systems and methods for active thermal management |
| EP2810029B1 (en) * | 2012-02-03 | 2023-06-28 | Vip 2 Ivs | Portable light measurement system |
| US8894437B2 (en) | 2012-07-19 | 2014-11-25 | Integrated Illumination Systems, Inc. | Systems and methods for connector enabling vertical removal |
| DE102012215112A1 (de) * | 2012-08-24 | 2014-02-27 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronische Bauelementevorrichtung, Verfahren zum Betrieb eines optoelektronischen Bauelementes |
| US9379578B2 (en) | 2012-11-19 | 2016-06-28 | Integrated Illumination Systems, Inc. | Systems and methods for multi-state power management |
| KR101355530B1 (ko) * | 2012-12-10 | 2014-01-27 | 양 전자시스템 주식회사 | 평판디스플레이용 프로브 시스템의 탑라이트 장치 |
| US9420665B2 (en) | 2012-12-28 | 2016-08-16 | Integration Illumination Systems, Inc. | Systems and methods for continuous adjustment of reference signal to control chip |
| US9485814B2 (en) | 2013-01-04 | 2016-11-01 | Integrated Illumination Systems, Inc. | Systems and methods for a hysteresis based driver using a LED as a voltage reference |
| US20150316411A1 (en) * | 2014-05-02 | 2015-11-05 | Kla-Tencor Corporation | Method and System for Intrinsic LED Heating for Measurement |
| DE102015201093A1 (de) * | 2015-01-22 | 2016-07-28 | Lmt Lichtmesstechnik Gmbh Berlin | Verfahren und Gonioradiometer zur richtungsabhängigen Messung mindestens einer lichttechnischen oder radiometrischen Kenngröße einer optischen Strahlungsquelle |
| US10060599B2 (en) | 2015-05-29 | 2018-08-28 | Integrated Illumination Systems, Inc. | Systems, methods and apparatus for programmable light fixtures |
| US10030844B2 (en) | 2015-05-29 | 2018-07-24 | Integrated Illumination Systems, Inc. | Systems, methods and apparatus for illumination using asymmetrical optics |
| EP3673246A4 (en) | 2017-08-25 | 2021-05-19 | BlueLight Analytics Inc. | SYSTEM AND DEVICES FOR MEASURING LIGHT SOURCES AND METHOD OF USING THEREOF |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3931515A (en) * | 1963-04-05 | 1976-01-06 | Sanders Associates, Inc. | Radiant energy detection apparatus |
| DE3546095A1 (de) * | 1985-12-24 | 1987-06-25 | Zeiss Carl Fa | Goniometertisch |
| US5253036A (en) * | 1991-09-06 | 1993-10-12 | Ledalite Architectural Products Inc. | Near-field photometric method and apparatus |
| US5521852A (en) * | 1993-10-29 | 1996-05-28 | Holophane Lighting, Inc. | Method and system for designing lighting installations |
| US5949534A (en) * | 1998-01-23 | 1999-09-07 | Photon, Inc. | Goniometric scanning radiometer |
| WO2001036931A2 (en) * | 1999-11-03 | 2001-05-25 | Photon, Inc. | Far-field scanning apparatus and method for rapid measurement of light source characteristics with high dynamic range |
| US20020128542A1 (en) * | 2001-03-09 | 2002-09-12 | Van Over James E. | Physiological monitor for veterinary and human medical use and method |
| US6983547B2 (en) * | 2001-03-19 | 2006-01-10 | Veeco Instruments Inc. | Goniometer |
| EP1407237A1 (en) * | 2001-06-20 | 2004-04-14 | Delta Dansk Elektronik, Lys & Akustik | Combination of response adapting filter and detector |
| US7092081B2 (en) * | 2003-12-30 | 2006-08-15 | Ritdisplay Corporation | Apparatus for measuring optoelectric properties of OLED and the measurement method thereof |
| EP2029982A1 (en) * | 2006-06-05 | 2009-03-04 | TIR Technology LP | Apparatus and method for determining characteristics of a light source |
-
2007
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Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103292978A (zh) * | 2012-02-22 | 2013-09-11 | 大塚电子株式会社 | 光源支承装置及采用该装置的光辐射特性测定装置 |
| CN109690266A (zh) * | 2016-07-12 | 2019-04-26 | 布鲁工业科技公司 | 用于表征光源的方法和设备 |
| CN109690266B (zh) * | 2016-07-12 | 2021-12-07 | 布鲁工业科技公司 | 用于表征光源的方法和设备 |
| CN110375855A (zh) * | 2019-08-13 | 2019-10-25 | 厦门大学 | 微型发光器件的三维光谱成像装置及方法 |
| CN113945366A (zh) * | 2020-07-17 | 2022-01-18 | 泰科诺团队控股有限公司 | 光源和辐射源的光辐射特性的光度表征方法 |
| CN112362306A (zh) * | 2020-09-30 | 2021-02-12 | 深圳天祥质量技术服务有限公司 | 一种脉冲光源光生物安全检测方法及装置 |
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