CN101487697B - 检测光学透镜支架的设备及相关方法 - Google Patents

检测光学透镜支架的设备及相关方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101487697B
CN101487697B CN200910118732XA CN200910118732A CN101487697B CN 101487697 B CN101487697 B CN 101487697B CN 200910118732X A CN200910118732X A CN 200910118732XA CN 200910118732 A CN200910118732 A CN 200910118732A CN 101487697 B CN101487697 B CN 101487697B
Authority
CN
China
Prior art keywords
turntable
support
axle
sensor
axis
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN200910118732XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN101487697A (zh
Inventor
J·M·默尼耶
J·J·魏代科契
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Briot International SA
Original Assignee
Briot International SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Briot International SA filed Critical Briot International SA
Publication of CN101487697A publication Critical patent/CN101487697A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN101487697B publication Critical patent/CN101487697B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/20—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring contours or curvatures
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24—GRINDING; POLISHING
    • B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B9/00—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
    • B24B9/02—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
    • B24B9/06—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B9/08—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass
    • B24B9/14—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass of optical work, e.g. lenses, prisms
    • B24B9/144—Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass of optical work, e.g. lenses, prisms the spectacles being used as a template

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

设备(10)包括可围绕第一轴线(B-B’)旋转的转台(50)、安装在转台(50)上的滑动装置(52)和安装为可在滑动装置(52)中沿着基本平行于第一轴线(B-B’)的第三轴线(A-A’)滑动的传感器(30)。该设备包括传感器移动装置(34)，以在检测支架时使传感器的接触面(42)沿着支架(14)移动。该移动装置(34)包括驱动转台(50)围绕第一轴线(B-B’)旋转的装置(70)。该设备包括控制装置(82)，该控制装置(82)用于控制使转台在垂直于第一轴线(B-B’)的平面上移动的装置(72)，并适于在检测支架期间，当转台被驱动围绕第一轴线(B-B’)旋转时，使转台(50)在所述平面上移动。

Description

检测光学透镜支架的设备及相关方法
技术领域
本发明涉及一种检测光学透镜支架的设备，该种类型的设备包括：
框架，该框架包括用于固定所述支架的装置；
转台，该转台安装成可在所述框架上围绕第一轴线旋转，所述第一轴线设置为基本垂直于所述支架的平均准线表面；
滑动装置，该滑动装置安装为可在所述转台上沿着与所述第一轴线基本垂直的第二轴线滑动；
传感器，该传感器安装为可在所述滑动装置中沿着与所述第一轴线基本平行的第三轴线滑动，所述传感器安装有横向检测部件，该检测部件具有用于与所述支架接触的接触面；
传感器移动装置，该传感器移动装置用于使所述传感器围绕所述支架的缘移动，以在检测所述支架时使所述接触面围绕所述支架移动，该传感器移动装置包括用于驱动所述转台围绕所述第一轴线旋转的装置；以及
转台移动装置，该转台移动装置用于使所述转台在与所述第一轴线基本垂直的平面上移动。
背景技术
这种检测设备通常与光学透镜的打磨机连接，以在透镜被打磨成具有支架的精确形状前精确测量支架的三维形状。
为此，目前在检测设备中用成对的夹子来固定支架。
一种已知的检测设备(EP-A-1 090 716)包括安装在转台上的传感器，该转台可围绕与支架的平均准线表面相垂直的第一轴线旋转。该传感器还可在转台上平行于第一轴线以及垂直于第一轴线移动。
在开始检测前，利用位于与转台的旋转轴线垂直的平面上的移动装置将转台的旋转轴线移动到接近第一支架缘的中心。随后，使转台固定，并相对于转台移动传感器以接触支架的槽。之后，驱动转台围绕其轴线旋转至少一整圈，同时保持传感器与槽的底部接触以跟随支架的形状。在旋转期间，转台的旋转轴线通常保持不动。
检测设备记录转台的每个旋转角θ、支架的高度z和矢量半径p，即，传感器的接触面与转台的旋转轴之间的距离。
支架的尺寸必须非常精确，因为在获得支架尺寸中的任何误差都将导致打磨形状的缺陷，进而造成在支架上难以组装透镜的问题。
当支架是刚性的并基本为圆形时，EP-A-1 090 716中描述的检测设备基本可以满足需求。
然而，目前，镜片支架正变得更为柔软，且是具有锐角的细长形。此时，上述类型的设备将无法令人完全满意。
如果传感器在非拐角部分与支架的槽严格垂直，那么只要传感器一抵达支架的拐角，它就会认定一个与支架截面的局部轴线几乎平行的结构。
在此情形下，考虑到在通过拐角时支架局部方向上的突然改变，传感器会在支架上施加一个足以使支架移动或局部变形的力。在此情形下，获得的支架的尺寸是不精确的，因而会导致打磨时出现缺陷。
发明内容
因此，本发明的目的是提供一种检测设备，该检测设备能够精确可靠地检测细长和/或有角形状的支架。
为此，本发明的目的是提供一种上述类型的检测设备，其特征在于，该设备包括控制装置，该控制装置用于在检测支架时控制用于使转台在基本垂直于第一轴线的基本垂直平面上移动的装置，并适于在所述转台被旋转驱动装置驱动而围绕第一轴线旋转时，使转台在基本垂直于第一轴线的基本垂直平面上在中心有效位置(central active positon)附近移动。
根据本发明的检测设备可以包括一个或多个以下特征，这些特征可以单独使用或以任何可能的技术组合进行使用：
-用于使所述转台在基本垂直于所述第一轴线的基本垂直平面上移动的装置，该装置包括用于驱动所述转台沿着位于该基本垂直平面中的平移轴相对于所述框架平移的装置；
-控制装置，该控制装置用于控制使所述转台在所述基本垂直平面上移动的装置，并且该控制装置包括存储装置，该存储装置用于存储在检测所述支架时使得所述转台在中心有效位置附近的位置与所述转台围绕所述第一轴线的各个角位相关联的预定曲线；
-该检测设备包括：记录装置，该记录装置用于在检测所述支架时记录所述接触面的多个在先位置，以及计算装置，该计算装置用于在检测同一支架期间，根据所述记录装置记录的多个在先位置，为所述转台的各个角位计算所述转台在垂直于所述第一轴线的基本垂直平面上的连续位置；
-该检测设备包括：采集装置，该采集装置用于采集与所述支架的简化轮廓相关的数据，以及计算装置，该计算装置根据采集装置所采集的简化轮廓的数据，为所述转台的各个角位计算所述转台在垂直于所述第一轴线的基本垂直平面上的连续位置；
-所述采集装置包括用于获取所述支架的数字图像的装置；以及
-滑动装置，该滑动装置可在所述转台上沿着第二轴线在前进位置和缩回位置之间平移移动，其中，在前进位置上，所述检测部件的接触面在穿过第一轴线并与第二轴线垂直的中央平面的第一侧伸出，在缩回位置上，所述接触面全部位于所述中央平面的第二侧，该第二侧与所述第一侧相对。
本发明还提供了一种光学透镜支架的检测方法，其特征在于，该检测方法包括以下步骤：
-将所述支架放置在如上所述的检测设备的固定装置中；
-定位所述传感器的接触面，使该接触面与所述支架接触；
-沿所述支架移动所述传感器，包括围绕所述第一轴线旋转所述转台，同时维持所述传感器的接触面与所述支架接触；以及在此旋转期间：
-在基本垂直于第一轴线的基本垂直平面上使转台在中心有效位置附近移动。
根据本发明的检测方法可包括一个或多个以下特征，这些特征可以单独使用或以任意技术上可能的组合进行使用：
-由控制装置根据预定曲线控制转台在所述基本垂直平面上的移动，该预定曲线使得所述转台围绕所述第一轴线的各个角位与所述转台在垂直于所述第一轴线的基本垂直平面上的位置相关联，该预定曲线存储于所述控制装置的存储装置中；
-控制步骤，该控制步骤包括在检测所述支架期间记录所述传感器的多个在先位置，以及在检测同一支架期间，根据记录的多个在先位置，为所述转台围绕所述第一轴线的各个连续角位计算所述转台相对于所述框架的位置；以及
-该检测方法包括采集与所述支架的简化轮廓相关的数据的步骤，控制步骤包括根据采集步骤所获得的简化轮廓数据，为所述转台围绕所述第一轴线的各个角位计算所述转台相对于所述框架的位置。
附图说明
参照附图，通过以下仅作为实施例提供的说明，将使本发明更易于理解，其中：
图1是根据本发明的第一种检测设备的相关部分的局部立体示意图；
图2是在细长、有角的镜片支架的检测方法的初始阶段，图1的设备的俯视图；
图3是在经过支架的拐角时与图2类似的视图；
图4是根据转台的旋转角来确定检测设备的转台中心相对于支架中心的位移的预定曲线图；
图5是显示根据本发明的检测方法的不同步骤的流程图；以及
图6是与图2类似的图，显示在根据本发明的检测设备的变型的转台上，传感器位置的两种可能的结构。
具体实施方式
图1至图3显示根据本发明的第一种检测设备10。
设备10用于检测在光学透镜支架14上限定的凹槽12的精确形状，该凹槽12在图1至图3中仅部分显示。检测设备10设置在光学透镜的打磨机16上，例如，设置在申请人在申请FR-A-2 852 878中所描述的那种类型的打磨机上。
如图1和图2所示，支架14包括两个支架缘18，在这些附图中，仅其中一个支架缘18可见。每个支架缘18的内部限定有凹槽12。
在图1中，每个支架缘18具有基本水平的平均准线表面。在水平面投影图上，每个支架缘18具有细长和有角的轮廓。因而，支架缘18包括两个部分：上部20A和下部20B，该上部20A和下部20B通过两个长度至少短1/2倍的侧部22A、22B彼此连接。每个支架缘18包括位于各个部分20A、20B和相邻部分22A、22B之间的拐角部分24，每个拐角部分24形成为大约90°的角度。
凹槽12沿着支架缘18的整个内周缘设置在支架缘18的内部。其横截面，例如可以基本呈V形。
参照图1至图3，检测设备10包括：框架26；夹子28，该夹子28用于将支架14相对于框架26固定；移动式传感器30，该移动式传感器30安装在传感器支座32上；以及装置34，该装置34用于使传感器30相对于框架26移动。
设备10还包括中央控制计算单元36，该中央控制计算单元36用于在检测支架14时控制并记录传感器30相对于框架26的位移。
夹子28，例如可以是申请FR-A-2 754 356中描述的那种类型的夹子。夹子28适于将支架14基本水平地保持在传感器支座32的上方。
在图1至图3所示的实施例中，设备10包括两对夹子28，该两对夹子28位于水平面上，并且分别用于夹持上部20A和下部20B。
传感器30包括沿着垂直移动轴线A-A’延伸的垂直支撑杆38，以及横切于轴线A-A’并固定安装在支撑杆38上端的传感器叶片(blade)40。
叶片40从轴线A-A’径向向外伸出。并且，该叶片40具有尖锐的或圆形的末端，该末端限定有用于与支架14的凹槽12接触的表面42。
传感器支座32包括：转台50，该转台50可围绕垂直的转台旋转轴线B-B’旋转；以及滑动装置52，该滑动装置52由转台50支撑，并可沿着垂直于轴线B-B’的水平滑动轴线C-C’移动。滑动装置52上安装有传感器30，因而传感器30可以滑动。
转台50包括具有轴线B-B’的水平圆板54，以及用于支撑和引导滑动装置52的构架56。
板54的外周上装配有一组齿58，以使得板54能够被驱动围绕轴线B-B’旋转。
构架56包括：两个垂直撑架60，该两个垂直撑架60彼此相对地设置在板54的边缘上；以及两个水平平行杆62，该两个水平平行杆62在板54的上方各自安装在板54的直径的一侧。
滑动装置52包括滑架(carriage)64，该滑架64安装为可以沿着轴线C-C’在杆62上滑行。在转台50围绕轴线B-B’旋转时，轴线C-C’通过围绕轴线B-B’的旋转而移动。
滑架64带有沿着轴线A-A’延伸的垂直引导套筒66，该引导套筒66用于引导传感器的支撑杆38。套筒66相对于滑架64垂直向上伸出，并具有用于引导杆38的中心引导通道，在该中心引导通道中，杆38被安装为可以沿着其轴线A-A’滑动。
套筒66包括用于对杆38进行角分度的分度装置(未显示)，以防止杆38和传感器叶片40围绕轴线A-A’旋转。因此，叶片40可以相对于轴线B-B’径向延伸，并与轴线C-C’平行。
转台50可通过围绕轴线B-B’旋转而相对于框架26移动。此外，该转台50还通过引导装置67连接于框架26，以能够沿着穿过其旋转轴线B-B’的水平轴线D-D’相对于框架26移动。正如下文所见，从而，转台50可在远离夹子28的缩回静止位置和检测支架缘18的中心有效位置之间沿着轴线D-D’朝着各个支架缘18移动。
在各个中心有效位置，转台的轴线B-B’在夹子28之间延伸，并基本位于夹子28之间的中心69上，当支架14安装在夹子28上时，轴线B-B’即基本位于支架14的支架缘18的中心上。
正如下文所见，根据本发明，在检测支架14时，转台50的旋转轴线B-B’还可沿着水平轴线D-D’在中心有效位置附近局部移动。
如图1所示，传感器的移动装置34包括用于驱动转台50围绕轴线B-B’旋转的装置70、用于使转台50的旋转轴线B-B’沿着水平轴线D-D’移动的装置72、用于使滑动装置52沿着水平轴线C-C’在杆62上移动的装置74、以及用于使传感器30的垂直杆38沿着垂直轴线A-A’在套管66中移动的装置76。
旋转驱动装置70包括致动器，该致动器适于啮合外周的齿58，以使得板54围绕轴线B-B’旋转。驱动装置70适于使转台50围绕轴线B-B’连续地或者以0.1°，尤其是0.18°的规则脉冲旋转至少360°的角度。
用于使转台沿着轴线D-D’移动的装置72包括，例如螺杆螺母系统，或齿轮齿条系统。
装置72适于使转台50在其缩回位置和各个中心有效位置之间迅速移动。
此外，装置72还适于使转台50在各个中心有效位置附近精确地连续或以0.01mm的脉冲移动位移p。
滑动装置52的移动装置74适于使滑架64沿着杆62朝支架14的凹槽12移动。该装置74适于使接触面42以预定的力，例如以10g至50g之间的力压靠在凹槽12的底部。
用于使杆38移动的装置76适于使杆38和传感器叶片40垂直地沿着轴线A-A’移动，以使得无论支架相对于水平面发生何种局部倾斜，传感器叶片40均可与凹槽保持接触。
中央单元36包括用于控制旋转驱动装置70的控制装置80、用于控制转台50的轴线B-B’沿着轴线D-D’水平移动的控制装置82、用于控制使滑动装置52移动的装置74的控制装置84、以及用于控制使杆38移动的装置76的控制装置86。中央单元36还包括记录装置88，该记录装置88用于记录传感器30的位置。
控制装置80适于在检测时操作旋转驱动装置70，以使得传感器叶片在围绕并沿着支架移动时以0.1°的脉冲旋转360°。
控制装置82适于促动移动装置72，以使得转台50在其缩回位置和与支架缘18对应的各个有效位置之间移动。
根据本发明，控制装置82还适于操作移动装置72，以使得在检测支架14的支架缘18时，当接触面42围绕支架14的支架缘18在凹槽12中移动时，转台50能够沿着轴线D-D’在其中心有效位置附近局部移动。
为此，在本发明的第一实施方式中，控制装置82包括存储装置90，该存储装置90用于存储预定的曲线92，该曲线92是在检测支架14的支架缘18时，取检测初始阶段转台50的原始角位为基准，根据转台的旋转角θ确定转台50的旋转轴线B-B’在中心有效位置附近的位移p而形成的。例如，该种曲线可以是图4中显示的正弦类型的曲线。
控制装置82适于读取存在于存储装置90中的数据，以对应于由控制装置80测得的转台50围绕其轴线B-B’的每个旋转角θ，通过移动装置72使转台50沿着轴线D-D’相对于中心有效位置移动相应的位移p。
记录装置88适于记录检测期间传感器30的位置，具体地，记录转台相对于其初始基准位置的每一旋转角θ、转台围绕其轴线B-B’的旋转角θ、在滑架64沿着杆62移动时接触面42相对于转台50的轴线B-B’的径向位置ρ、在杆38在套管66中沿着轴线A-A’移动时接触面42的高度z、以及根据本发明，转台50的轴线B-B’相对于基本处于夹子28中央的中心有效位置沿着轴线D-D’的位移p。
参看图5所示的流程图，现在描述根据本发明的、在检测设备10中用于检测支架14的支架缘18的检测方法。
最初，转台50位于远离夹子28的缩回静止位置。待检测的支架14插入夹子28中，以相对于框架26固定。
然后，操作者开始检测。中央单元36启动用于使转台沿着轴线D-D’移动的装置82，以使得转台50从其静止位置移动到第一中心有效位置，其中，转台50的旋转轴线B-B’基本位于夹子28和支架缘18的中心69处。
此时，如图5中的步骤100所示，转台的旋转角θ相对于基准位置为0°。
随后，在步骤104中，对于θ的初始值和各个连续值θ而言，控制装置82以存储在存储装置90中的曲线92为依据，确定与该θ值对应的、转台50的旋转轴线B-B’相对于中心有效位置的位移p。
在步骤106中，控制装置82根据步骤104得到的值p操作装置72，以使得转台50沿着轴线D-D’移动。
在图2所示的实施例中，转台的轴线B-B’与θ值等于0的中心基准位置一致，如曲线92所示。
另一方面，在图3所示的角θ基本等于45°的实施例中，转台50已经朝着左边的部分22A移动了一个非零距离p，该距离p基本等于支架缘18的中心69与外部22A之间距离的一半。
同时，如图2所示，控制装置84和控制装置86分别操作使所述滑动装置径向移动的装置74和使所述杆垂直移动的装置76，，以维持检测叶片40的接触面42与凹槽12的底部接触。
在步骤108中，记录装置88记录转台50的旋转角θ、接触面42的径向位置ρ、接触面42的高度z以及转台轴线B-B’的中心在框架26上相对于基准位置的位移p。然后，在步骤109中，修正角θ的位置，只要角θ小于360°即重复步骤104至步骤108。
根据本发明，对于转台围绕轴线B-B’的每个旋转角θ来说，均由控制装置82操作移动装置72，以使得在与接触面42接触的点上，由各个部分20A、20B、22B的法线与检测叶片40的径向轴线C-C’局部形成的角度α的值接近于0°，并且无论如何保持在-45°到+45°之间。
当角度θ等于360°时，停止对支架缘18的检测。随后单元36计算支架缘18的形状，并传送至打磨机16，以将透镜加工成具有支架14的尺寸。
一旦这个完成，移动装置72将转台50朝着第二支架缘18(未显示)移动，以在第二支架缘18上的相似的方式执行检测方法。
在第一个变型中，检测设备10不具有存储装置90，该存储装置90用于存储根据转台围绕其轴线B-B’的旋转角θ来确定转台50沿着轴线D-D’的位移p的预定曲线。
此外，控制装置包括用于在检测支架缘18时记录传感器30的多个在先位置的装置、以及用于仅对低于传感器30在特定时刻所采取的角度θ的角度θ计算支架的局部曲率的装置。
因而，计算局部曲率的装置适于确定传感器30是否处于支架14的基本线性区域中，或反之，处于拐角区域中，例如以获得的同一支架14上的角度θ在最近十次变化期间的值σ、ρ、p和z为基础，计算支架的局部曲率半径。
并且，控制装置82包括用于根据计算的局部曲率来自动控制位移p的装置，该自动控制位移p的装置还适于调节轴线B-B’与中心有效位置的距离，以使得在检测叶片40的轴线C-C’与位于接触面42的接触点上的支架的法线之间形成的角α(该角α由局部曲率计算得出)维持在-45°和+45°之间。
从而，对每个角θ来说，根据本发明的第二方法的实施包括，在根据预定的控制规则获得的数个之前得到的角度θ和转台中心的位移p的值的基础上，计算支架14的局部曲率。
在第二个变型中，设备10包括用于采集支架14的数字图象以确定不如检测轮廓精确的、支架14的简化轮廓的装置。例如，简化轮廓可以是二维的，包括数个点，这些点比利用驱动装置70使转台围绕其轴线B-B’转动360°所必需的脉冲数量少。
控制装置82包括用于根据由数字图象确定的简化轮廓来计算对应于每个旋转角θ的转台中心的位置p。
因而，位移p可从简化轮廓计算得到，例如，可通过使在检测叶片40的轴线C-C’与位于接触面42的理论接触点上的支架的简化轮廓的法线之间形成的角α的值维持在-45°和+45°之间，而从简化轮廓计算得到。
因此，根据本发明的第三方法包括采集支架缘18的数字图象，然后在对图象进行数字处理的基础上计算缘18的简化轮廓，以及规定根据角θ来确定位移p的控制规则，以使在传感器与简化轮廓的法线之间形成的角α维持在-45°和+45°之间。
在第三种变型中，例如，通过快速地预先检测支架缘18，并且同时在快速检测期间保持转台50的中心轴线不移动来确定简化轮廓，或通过根据第一控制规则移动该轴线来确定简化轮廓。此外，该方法包括在快速预先检测时所确定的简化轮廓的基础上，规定根据角θ来确定位移p的新控制规则。
如图6所示，在另一种变型中，滑动装置52被构建成可在图6中右边所示的前进位置和图6中左边所示的缩回位置之间移动，其中，在前进位置，检测表面42和检测叶片40在中央垂直平面P的第一侧径向伸出，该中央垂直平面P通过转台的轴线B-B’并与滑架的移动轴线C-C’垂直，在缩回位置，杆38、叶片40和接触面42全部位于中央平面P第一侧的相对一侧。
滑动装置52的此种结构允许检测侧部22A、22B非常短的支架。

Claims (11)

1.一种用于检测光学透镜的支架(14)的检测设备(10)，该检测设备包括：
框架(26)，该框架(26)包括用于固定所述支架(14)的固定装置(28)；
转台(50)，该转台(50)安装为能够在所述框架(26)上围绕第一轴线(B-B’)旋转，所述第一轴线(B-B’)设置为基本垂直于所述支架(14)的平均准线表面；
滑动装置(52)，该滑动装置(52)安装为能够在所述转台(50)上沿着基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的第二轴线(C-C’)滑动；
传感器(30)，该传感器(30)安装为能够在所述滑动装置(52)中沿着基本平行于所述第一轴线(B-B’)的第三轴线(A-A’)滑动，所述传感器(30)装配有横向检测部件(40)，该横向检测部件(40)具有用于与所述支架(14)接触的接触面(42)；
传感器移动装置(34)，该传感器移动装置(34)用于使所述传感器(30)围绕所述支架(14)的缘(18)移动，以在检测所述支架时使所述接触面(42)围绕所述支架(14)移动，该传感器移动装置(34)包括用于驱动所述转台(50)围绕所述第一轴线(B-B’)旋转的旋转驱动装置(70)；以及转台移动装置(72)，该转台移动装置(72)用于使所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的基本垂直平面上移动；
其特征在于，所述检测设备(10)包括控制装置(82)，该控制装置(82)用于在检测所述支架时控制用于使所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的所述基本垂直平面上移动的转台移动装置(72)，并适于在所述旋转驱动装置(70)驱动所述转台(50)围绕所述第一轴线(B-B’)旋转的同时，使所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的所述基本垂直平面上在中心有效位置附近移动。
2.根据权利要求1所述的检测设备(10)，其特征在于，用于使所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的所述基本垂直平面上移动的所述转台移动装置(72)包括用于驱动所述转台(50)沿着位于所述基本垂直平面中的平移轴线(D-D’)相对于所述框架(26)平移的装置。
3.根据权利要求1或2所述的检测设备(10)，其特征在于，用于控制使所述转台在所述基本垂直平面上移动的所述转台移动装置(72)的所述控制装置(82)包括存储装置(90)，该存储装置(90)用于存储在检测所述支架时使得所述转台(50)在所述中心有效位置附近的位置(p)与所述转台(50)围绕所述第一轴线(B-B’)的各个角位(θ)相关联的预定曲线。
4.根据权利要求1或2所述的检测设备(10)，其特征在于，该检测设备(10)包括：记录装置，该记录装置用于记录在检测所述支架(14)时所述接触面(42)的多个在先位置；以及计算装置，该计算装置用于在检测同一支架(14)期间，根据所述记录装置记录的多个在先位置，为所述转台(50)的各个角位(θ)计算所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的所述基本垂直平面上的连续位置。
5.根据权利要求1或2所述的检测设备(10)，其特征在于，该检测设备(10)包括：采集装置，该采集装置用于采集与所述支架(14)的简化轮廓相关的数据；以及计算装置，该计算装置用于根据由所述采集装置采集的简化轮廓的数据，为所述转台(50)的各个角位(θ)计算所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的所述基本垂直平面上的位置。
6.根据权利要求5所述的检测设备(10)，其特征在于，所述采集装置包括用于获取所述支架的数字图象的装置。
7.根据权利要求1或2所述的检测设备，其特征在于，所述滑动装置(52)能够在所述转台上沿着所述第二轴线(C-C’)在前进位置和缩回位置之间平移移动，其中，在所述前进位置上，所述横向检测部件(40)的接触面(42)在中央平面(P)的第一侧伸出，该中央平面(P)穿过所述第一轴线(B-B’)并垂直于所述第二轴线(C-C’)，在所述缩回位置上，所述接触面(42)全部位于所述中央平面(P)的第二侧，该第二侧与所述第一侧相对。
8.一种光学透镜的支架(14)的检测方法，其特征在于，该检测方法包括以下步骤：
-将所述支架(14)设置在根据权利要求1至7中任一项所述的检测设备(10)的固定装置(28)中；
-对传感器(30)的接触面(42)进行定位，使所述接触面(42)与所述支架(14)接触；
-使所述传感器(30)沿着所述支架(14)移动，包括在维持所述传感器(30)的接触面(42)与所述支架(14)接触的同时，使转台(50)围绕第一轴线(B-B’)旋转；以及在此旋转期间：
-使所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的基本垂直平面上在中心有效位置附近移动；
-控制步骤，其中，控制装置(82)在检测所述支架(14)时控制用于使所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的所述基本垂直平面上移动的转台移动装置(72)，并在旋转驱动装置(70)驱动所述转台(50)围绕所述第一轴线(B-B’)旋转的同时，使所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的所述基本垂直平面上的中心有效位置附近移动。
9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，控制装置(82)根据预定曲线来控制用于使所述转台(50)在所述基本垂直平面上移动的转台移动装置(72)，所述预定曲线使得所述转台(50)围绕所述第一轴线(B-B’)的各个角位(θ)与所述转台(50)在基本垂直于所述第一轴线(B-B’)的所述基本垂直平面上的位置(p)相关联，并且该预定曲线存储在所述控制装置(82)的存储装置(90)中。
10.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述控制步骤包括在检测所述支架(14)时记录所述传感器(30)的多个在先位置，以及在检测同一个支架(14)期间，根据所记录的多个在先位置，为所述转台(50)围绕所述第一轴线(B-B’)的各个连续角位计算所述转台(50)相对于框架(26)的位置。
11.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，该方法包括采集与所述支架(14)的简化轮廓相关的数据的步骤，所述控制步骤包括根据在所述采集步骤中获得的简化轮廓的数据，为所述转台(50)围绕所述第一轴线(B-B’)的各个角位计算所述转台(50)相对于框架(26)的位置。
CN200910118732XA 2008-01-02 2009-01-04 检测光学透镜支架的设备及相关方法 Active CN101487697B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0850006 2008-01-02
FR0850006A FR2925963B1 (fr) 2008-01-02 2008-01-02 Appareil de palpage d'une monture de verres optiques et procede associe

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101487697A CN101487697A (zh) 2009-07-22
CN101487697B true CN101487697B (zh) 2012-08-08

Family

ID=39561785

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN200910118732XA Active CN101487697B (zh) 2008-01-02 2009-01-04 检测光学透镜支架的设备及相关方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7866053B2 (zh)
KR (1) KR101643417B1 (zh)
CN (1) CN101487697B (zh)
FR (1) FR2925963B1 (zh)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5194107B2 (ja) * 2008-04-04 2013-05-08 Ｈｏｙａ株式会社 眼鏡レンズのヤゲン周長測定装置およびヤゲン周長測定方法
DE102009037133B4 (de) * 2009-07-31 2013-01-31 Carl Zeiss Laser Optics Gmbh Haltevorrichtung für ein optisches Element
CN101988826B (zh) * 2009-08-03 2012-06-27 中冶长天国际工程有限责任公司 一种安装测量定心装置
JP5586930B2 (ja) * 2009-12-09 2014-09-10 株式会社ニデック 眼鏡枠形状測定装置
JP5562624B2 (ja) * 2009-12-09 2014-07-30 株式会社ニデック 眼鏡枠形状測定装置
CN103852031B (zh) * 2012-11-28 2018-06-01 联想(北京)有限公司 一种电子设备及测量物体形状的方法
KR102211785B1 (ko) * 2018-09-17 2021-02-04 데이터로그, 엘엘씨 통나무 검척 시스템 및 관련 방법

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0172802A2 (fr) * 1984-08-10 1986-02-26 DIGICONCEPT Société de Personnes à Reponsabilité Limitée Procédé et appareil destiné à faciliter le meulage des verres de lunettes
US5121550A (en) * 1990-12-03 1992-06-16 Gerber Optial, Inc. Automatic surface tracer
CN1460834A (zh) * 2002-04-08 2003-12-10 Hoya株式会社 镜框形状检测装置
CN1702425A (zh) * 2004-05-28 2005-11-30 埃西勒国际通用光学公司 具有转动活动触头的外形读出器

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2652893B1 (fr) * 1989-10-06 1993-03-19 Essilor Int Appareil de lecture de contour, notamment pour monture de lunettes.
US5960550A (en) * 1997-07-31 1999-10-05 Sola International, Inc. Device and method for marking ophthalmic lenses and molds
DE19905779A1 (de) * 1999-02-12 2000-08-17 Zeiss Carl Fa Vorrichtung zum Kippen eines Gegenstandes um wenigstens eine Achse, insbesondere eines optischen Elementes
US6243960B1 (en) * 1999-03-16 2001-06-12 National Optronics, Incorporated Tracer, clamp and object engager for holding and tracing a lens mount of an eyeglass frame, a lens, and/or a lens pattern, to reliably detect a shape thereof even when the shape includes high wrap
US6745616B1 (en) * 1999-10-21 2004-06-08 Mitutoyo Corporation Surface texture measuring machine, leveling device for surface texture measuring machine and orientation-adjusting method of workpiece of surface texture measuring machine
JP2002340503A (ja) * 2001-05-16 2002-11-27 Mitsutoyo Corp 表面性状測定機における被測定物の相対姿勢調整方法
US6873423B2 (en) * 2003-07-21 2005-03-29 Lih Rurng Instrument Trading Co., Ltd. Length measure apparatus and the method for measuring
KR100550898B1 (ko) * 2004-03-04 2006-02-13 삼성전기주식회사 초소형 렌즈모듈
US7140119B2 (en) * 2004-04-23 2006-11-28 Corning Incorporated Measurement of form of spherical and near-spherical optical surfaces
KR100638722B1 (ko) * 2005-02-02 2006-10-30 삼성전기주식회사 렌즈 이송장치
FR2892332B1 (fr) * 2005-10-20 2008-02-01 Briot Internat Sa Appareil de palpage d'une monture de lunettes et machine de meulage associee
FR2893723B1 (fr) * 2005-11-23 2008-02-01 Essilor Int Appareil de lecture de contour de drageoir de cercle de monture de lunettes
FR2934060B1 (fr) * 2008-07-18 2010-09-24 Briot Int Appareil de palpage d'une monture de verres optiques et procede de palpage associe
FR2935812B1 (fr) * 2008-09-11 2011-05-13 Briot Int Appareil de palpage de verres optiques et procede associe.

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0172802A2 (fr) * 1984-08-10 1986-02-26 DIGICONCEPT Société de Personnes à Reponsabilité Limitée Procédé et appareil destiné à faciliter le meulage des verres de lunettes
US5121550A (en) * 1990-12-03 1992-06-16 Gerber Optial, Inc. Automatic surface tracer
CN1460834A (zh) * 2002-04-08 2003-12-10 Hoya株式会社 镜框形状检测装置
CN1702425A (zh) * 2004-05-28 2005-11-30 埃西勒国际通用光学公司 具有转动活动触头的外形读出器

Also Published As

Publication number Publication date
FR2925963B1 (fr) 2010-08-13
KR20090074693A (ko) 2009-07-07
CN101487697A (zh) 2009-07-22
US7866053B2 (en) 2011-01-11
FR2925963A1 (fr) 2009-07-03
KR101643417B1 (ko) 2016-07-27
US20090172960A1 (en) 2009-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101487697B (zh) 检测光学透镜支架的设备及相关方法
JPH0648186B2 (ja) 測定装置
CN205157409U (zh) 一种具有图像采集功能的三维定位样品台
CN100561166C (zh) 镜头模组同心度检测系统及其检测方法
CN212432141U (zh) 用于校准激光三角测量系统的校准工具
GB2068797A (en) Lens grinding machine and method
US10809111B2 (en) Apparatus and method for measuring an internal volume of a mould
CN104931506B (zh) 一种手机外壳质量检测方法
CN1991298B (zh) 轴锥计量系统和方法
CN105737746A (zh) 圆形壳体的壁厚测量装置与测量方法
CN100528395C (zh) 工件的弯曲角度检测装置及工件的弯曲加工机
CN214583918U (zh) 一种弹簧刚度检测装置
CN208476179U (zh) 一种激光检测机
CN107883964B (zh) 环抛加工中工件环上单点运动轨迹检测装置及利用该装置进行检测的方法
CN117584041A (zh) 一种晶圆定位装置与方法及其减薄机
CN109556508A (zh) 轮胎内表面形状测定装置以及轮胎内表面形状测定方法
CN112566751B (zh) 数控机床
CN104048634A (zh) 轴承外圈轨道在线自动检测机及其检测方法
CN203163693U (zh) 工件规格自动检测机
CN113118916B (zh) 一种大型环抛机工件环驱动设备
CN111854656B (zh) 一种基于大负载转盘的精准定位方法及系统
CN107363467A (zh) 一种双工位检测与修复设备
CN208459293U (zh) 一种精密器件的3d视觉检测装置
CN112268494A (zh) 一种带有保护装置的轮毂圆度检测设备
CN201408102Y (zh) 一种打火机泄漏检测仪

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C53 Correction of patent of invention or patent application
CB02 Change of applicant information

Address after: French Pon Dellal J

Applicant after: Briot Internat S. A.

Address before: French Pon Dellal J

Applicant before: Briot Internat

COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: APPLICANT; FROM: BRIOT INTERNAT TO: LUNIO TECHNOLOGY OPERATION INC.

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant