CN101471112A - 光盘区分方法 - Google Patents

Abstract

一种光盘区分方法，首先将投射光束的焦点，锁定在光盘数据层上，以跨过轨槽及轨距，开始测试时间计时，记录检测到的RF信号，检查测试时间到达预定时间，假如尚未到达预定时间，则焦点锁定数据层继续测试，假如测试时间到达预定时间，则找出记录RF信号中最大强度的RF信号，将最大强度的RF信号与预先存储的光盘规格参数比较，以正确区分光盘。

Description

光盘区分方法

技术领域

本发明涉及一种光盘区分方法，尤其涉及光碟机读写光盘时，用以识别可重复烧录光盘的区分方法。

背景技术

一般光碟机为了加速读写光盘，在光盘进入定位后，即利用物理方法区分光盘的规格，设定光碟机读写该种光盘所需信号处理及伺服系统的各项最佳参数，以便正确读写光盘上的数据。

如图1所示，为已知光盘的区分方法的过程。已知区分光盘时，通过脉冲电压V的大小，驱动读取头H中的物镜1往上或下移动，控制物镜1将激光光束焦点穿越光盘W的数据层L。再由具有反射作用的数据层L将光束反射回读取头H，穿过读取头H投射光能转换器2。光能转换器2中包含等分为A、B、C及D等四个光接收部，分别接收反射光束不同的区域反射光通量，并依四个光接收部A+C+B+D总接收反射光强度，经由信号处理装置3处理，形成一代表总反射光强度的SBAD(Sub Beam Add Signal)信号，信号处理装置3亦产生相对该SBAD信号强度的RF(射频)信号，作为数据信号，同时将四个光接收部(A+C)-(B+D)反射光强度，形成聚焦误差FE(Focus Error)信号，用以将焦点锁定在数据层。

不同规格的光盘，例如CD-ROM、CD-R、CD-RW、DVD-ROM、DVD-R、DVD-RW等，所用的材料、染料的成份各有不同，致使各种规格的数据层具有不同反射率。因此已知光盘识别方法，利用驱动物镜1往上移动，当激光光束焦点经过空白的数据层L时，数据层L会反射最大强度的SBAD信号，实际测试各种规格光盘数据层L反射SBAD信号的强度，并记录各种规格光盘的SBAD信号，分析各种规格光盘SBAD信号分布及大小，再依据SBAD信号的强度大小，设定各种规格光盘SBAD信号阈值，存储在光碟机中的存储装置，以作为区分光盘规格的参数。

然而，前述区分方法基本上以空白片作为测试。当有些光盘烧录数据后，轨槽(Groove)会产生较暗的记号痕迹，测试的激光光束若恰巧投射在数据轨的记号痕迹，将使产生的SBAD信号强度变小，而造成与其他规格光盘的SBAD信号标准重迭，例如只读型光盘(Read-only Disc)或一次烧录型光盘(Write-once Disc)与可重复烧录光盘(Rewritable Disc)，SBAD信号重迭，无法正确区分光盘规格，常造成误判，导致设定好的光碟机参数，启动后无法正确解读光盘数据，必需再重新再行设定，不仅浪费时间，且降低光碟机的效率。因此，已知光盘区分方法在数据层反射信号的检测上，仍有问题亟待解决。

发明内容

本发明的目的在提供一种光盘区分方法，通过聚焦锁定光盘的数据层，让焦点在轨槽与轨距间来回摆动，利用读出的最大RF信号作为比较，以正确区别光盘。

为了达到前述发明的目的，本发明的光盘区分方法，首先将投射光束的焦点，锁定在光盘数据层上，以跨过轨槽及轨距，开始测试时间计时，记录检测到的RF信号，检查测试时间到达预定时间，假如尚未到达预定时间，则焦点锁定数据层继续测试，假如测试时间到达预定时间，则找出记录RF信号中最大强度的RF信号，将最大强度的RF信号与预先存储的光盘规格参数比较，以决定光盘的规格。

附图说明

图1为已知光盘区分方法的过程示意图。

图2为本发明光盘区分方法的过程示意图。

图3为本发明光盘区分方法的流程图。

【主要元件符号说明】

S1  开始区分步骤

S2  聚焦锁定数据层步骤

S3  计时步骤

S4  记录检测到RF信号步骤

S5  检查测试时间终点步骤

S6  分析RF信号步骤

S7  决定RF信号最大值步骤

S8  与预存光盘规格参数比较步骤

S9  决定光盘规格步骤

S10 结束步骤

具体实施方式

有关本发明为达成上述目的，所采用的技术手段及其功能，兹举优选实施例，并配合附图加以说明如下。

请参考图2，为本发明光盘区分方法取得光盘最大RF信号的过程。本发明在光盘W进入光碟机定位后，首先将读取头H所投射光束的焦点移动上升，到达数据层L时，利用聚焦误差信号锁定在数据层L上，物镜就会不停的上下移动，让焦点停留在数据层L上，一段预定的测试时间。数据层L具有反射作用，其上具有一轨槽G，为螺旋或同心圆状，用以烧录数据记号，轨槽间则以平面的轨距(Land)P分隔，为空白状，其上不烧录数据。

以DVD-R型光盘为例，当焦点锁定在数据层L，沿光盘径向来回小量移动时，焦点会横跨过轨槽G及轨距P。对全未烧录数据的空白片，轨槽G与轨距P对投射光束的反射作用基本上相同，所反射光最强，相对所获得的RF信号，如曲线U所示，也是维持在最大的强度，因此可获得正确的RF信号强度作为比较，以区别光盘。

反之，如轨槽G内烧录数据，当焦点横跨过轨距P及烧录数据的轨槽G，烧录数据的轨槽G，其内的数据记号，会降低反射光，使获得的RF信号变小，但空白的轨距P仍然维持在最大的强度，而使RF信号在最大及降低的强度间上下变化，如曲线K所示。因此，无论光盘是否烧录数据，轨距P均可使最大的强度出现。为避免以变小的RF信号作为比较，而与例如DVD-RW型光盘最大的RF信号无法区分。DVD-R型光盘必需由变动的RF信号中，找出最大的RF信号，与存储在光碟机存储装置中的光盘规格参数，作为比较，决定所在各种规格光盘信号阈值间范围，以区分出光盘规格。

前述虽然以焦点锁定在数据层L，沿光盘径向来回小量移动，让焦点会横跨过轨槽G及轨距P，以取得最大的RF信号。但因光盘W制造的精密度，光盘W均会存在或多或少的偏心(Eccentricity)的现象。因此，即使定点的将聚焦锁定在数据层L不移动，偏心的光盘W也会让轨槽G及轨距P横跨过焦点，而可同样获得所需该光盘W最大RF信号，以区分出光盘。此外，本发明虽以检测RF信号作为比较，但直接利用RF信号相对的SBAD信号作为比较，亦可达到本发明的目的。

如图3所示，为本发明区分光盘方法的流程。本发明利用聚焦锁定数据层，获得光盘最大RF信号，以区分光盘的详细步骤，说明如下；首先在步骤S1开始区分光盘，进入步骤S2，在光盘进入光碟机定位后，将读取头投射光束的焦点，锁定在数据层上，使焦点小幅度移动，跨过轨槽及轨距。在步骤S3开始计时，以进行预定时间的测试，再进入步骤S4同时记录检测到的RF信号，接着进入步骤S5，检查测试的时间是否到达预定时间终点？假如测试时间尚未完成，则回至步骤S2继续锁定数据层进行测试，假如测试时间到达预定时间终点，则进入步骤S6，分析步骤S4所记录检测到的RF信号变化状况，在步骤S7比较找出所记录RF信号中最大强度的RF信号。然后进入步骤S8，将该最大强度的RF信号与存储在光碟机存储装置中的光盘规格参数，作为比较。接着在步骤S9根据步骤S8的比较结果，决定光盘所属的规格，最后进入步骤S10，结束光盘区分作业程序。

由以上光盘区分的步骤，本发明光盘区分方法，即可通过将读取头投射光束的焦点，聚焦锁定在光盘的数据层，让焦点在轨槽与轨距间小幅度来回移动，以记录检测到的RF信号，无论光盘是否烧录数据，移至轨距的焦点，均能确保光盘空白处产生最大RF信号，再比较找出该最大RF信号，与预先存储的规格参数作为比较，以正确区分光盘。避免烧录数据的光盘，影响检测RF信号强度，防止误判，提高光碟机的效率。

以上所述者，仅用以方便说明本发明的优选实施例，本发明的范围不限于这些优选实施例，凡依本发明所做的任何变更，在不脱离本发明的精神下，皆属本发明请求保护的范围。

Claims (8)

1.一种光盘区分方法，其步骤包含：

(1)将投射光束的焦点，锁定在光盘数据层上，以跨过轨距；

(2)开始测试时间计时；

(3)记录检测到的RF信号；

(4)检查测试时间是否到达预定时间？假如尚未到达预定时间，则回至步骤(1)，假如测试时间到达预定时间，则进入步骤(5)；

(5)找出记录RF信号中最大强度的RF信号；以及

(6)将最大强度的RF信号与预先存储的光盘规格参数比较，以决定光盘的规格。

2.如权利要求1所述的光盘区分方法，其中该步骤(1)焦点锁定在数据层时，焦点跨过轨槽及轨距。

3.如权利要求2所述的光盘区分方法，其中该焦点沿光盘径向跨过轨槽及轨距。

4.如权利要求2所述的光盘区分方法，其中该焦点锁定在数据层时小幅度移动，以跨过轨槽及轨距。

5.如权利要求2所述的光盘区分方法，其中该焦点锁定在数据层时不移动，由光盘的偏心，使轨槽及轨距小幅度跨过焦点。

6.如权利要求1所述的光盘区分方法，其中该RF信号亦可以检测相对的SBAD信号取代。

7.如权利要求1所述的光盘区分方法，其中该步骤(6)预先存储的光盘规格参数为各种规格光盘信号阈值值。

8.如权利要求7所述的光盘区分方法，其中该步骤(6)比较最大RF信号所在各种规格光盘信号阈值间范围，决定光盘的规格。

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