CN101441160B - 一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,通过原子力显微镜对待测区域进行大范围扫描获取当前AFM图像后,将当前AFM图像进行等比例缩为0-255之间整数的数学信息图像A,然后对该数学信息图像A进行8×8的图块分割,对分割后的图块C采用DCT进行处理获得频域图块D,对频域图块采用量化表进行量化获得量化图块E,对每一个量化图块采用8为步进进行二维遍历得到分化图块F,然后对每一个分化图块求取压缩率,选取压缩率最小的分化图块即为求得的子区域;最后应用该子区域进行进一步扫描成像,从而获得更高分辨率的图像,通过反复调用该方法可以使原子力显微镜实现连续自动成像。
Description
技术领域
本发明涉及一种对原子力显微镜采集的图像进行特征提取的方法,更特别地说,是指一种采用区域遍历模式在原子力显微镜图像(AFM图像)上选取细节最丰富的子区域,然后再次进行更高分辨率的扫描成像的方法。
背景技术
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种利用原子、分子间的相互作用力来观察物体表面微观形貌的仪器。原子力显微镜有一根纳米级的探针被固定在可灵敏操控的微米级弹性悬臂上,当探针很靠近样品时,其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂弯曲,偏离原来的位置。根据扫描样品时探针的偏离量或振动频率重建三维图像,就能间接获得样品表面的形貌或原子成分。
随着科技的发展,原子力显微镜已经由地面应用发展到了深空探测,如火星探测等。为了实现深空探测,原子力显微镜应当能够实现自动化操作,其中的一个重要环节就是实现连续自动扫描成像。
现有的深空探测用原子力显微镜扫描图像选区技术采用固定网格图像分割技术,先对待测区域进行大范围的扫描得到AFM图像,然后将扫描图像等分为九个子区域,接着分别对这九个子区域图像进行jpeg算法压缩,压缩率最小的子区域就认为是信息最丰富子区域。
发明内容
本发明的目的是提出一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,通过原子力显微镜对等测区域进行大范围扫描获取当前AFM图像,然后根据连续成像自动选区方法对当前AFM图像进行区域遍历模式分析,从而获得细节最丰富压缩率最小子区域;根据该子区域进行下一次AFM图像采集。本发明的连续成像自动选区方法可以多次重复进行AFM图像选区进行扫描,可实现分辨率逐步提高的连续自动扫描成像。
本发明的一种原子力显微镜的连续成像自动选区方法,通过原子力显微镜对待测区域进行大范围扫描获取当前AFM图像后,将当前AFM图像进行等比例缩为0-255之间整数的数学信息图像A,然后对该数学信息图像A进行8×8的图块分割,对分割后的图块C采用DCT进行处理获得频域图块D,对频域图块采用量化表进行量化获得量化图块E,对每一个量化图块采用8为步进进行二维遍历得到分化图块F,然后对每一个分化图块依据压缩率公式 求取压缩率,选取压缩率最小的分化图块即为求得的子区域;最后应用该子区域进行进一步扫描成像,从而获得更高分辨率的图像,通过反复调用该方法能够实现原子力显微镜连续自动成像。
本发明连续成像自动选区方法的优点在于:
1、提出了一种新的提取细节最丰富子区域的判别方法,这个判别方法依据AFM图像的特点,能够较好地保证提取出来的子区域具有进一步成像的价值。
2、量化图块F采用了区域遍历模式,提取结果比采用固定网格模式的提取结果更加精确。
3、从分割图块C至频域图块D的计算利用了DCT的8×8块结构计算特点,极大地降低了运算复杂度,提高了运算效率。避免了由于运算时间过长原子力显微镜探针漂移导致的定位不准确,为实际应用奠定了基础,尤其适用于高精度成像。
4、本发明提出的方法可以重复应用于图像扫描,从而获得更高分辨率的图像,通过反复调用该方法可以实现连续自动成像。
附图说明
图1是月壤的大范围扫描获取的一幅AFM图像。
图1A是本发明对采集获取的AFM图像应用在坐标系下的示意图。
图2是本发明对AFM图像进行的自动选区的流程图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明做进一步的详细说明。
本发明的一种原子力显微镜的连续成像自动选区方法,通过原子力显微镜对待测区域进行大范围扫描获取当前AFM图像后,将当前AFM图像进行等比例缩为0-255之间整数的数学信息图像A,然后对该数学信息图像A进行8×8的图块分割,对分割后的图块C采用DCT(Discrete Cosine Transform,离散余弦变换)进行处理获得频域图块D,对频域图块D采用量化表进行量化获得量化图块E,对每一个量化图块采用8为步进进行二维遍历得到分化图块F,然后对每一个分化图块依据压缩率公式 求取压缩率,选取压缩率最小的分化图块即为求得的子区域。最后应用该子区域进行进一步扫描成像,从而获得更高分辨率的图像,通过反复调用该方法能够实现原子力显微镜连续自动成像。
在本发明中,对大范围扫描获得的AFM图像,是指原子力显微镜采集图像所能达到的扫描区域;或称原子力显微镜满工作量程时扫描的图像。
参见图1是月壤的大范围扫描获取的一幅AFM图像。从该AFM图像中可以看出,有的地方特征信息(凸起)较为丰富,有的地方特征信息较为平泛,为了进行下一次有价值的图像采集,本发明提出一种区域遍历模式分析方法对图像进行自动选区获取压缩率最小子区域,该子区域可以作为下一次AFM图像的扫描区域。
参见图1A、图2所示,本发明的一种原子力显微镜的连续成像自动选区方法,通过原子力显微镜对待测区域进行大范围扫描获取当前AFM图像(该当前AFM图像是与图1相似的图像)。设当前AFM图像宽度为Wn,高度为Hn,左上角坐标为(xn,yn),则当前AFM图像数据集合表达为参见图1A所示,图中是将当前AFM图像映射(是指宽度、高度相同)到平面直角坐标系下,然后对坐标系xoy下的当前AFM图像进行自动选区的处理步骤为:
第一步:将当前AFM图像进行等比例缩为0-255之间整数的数学信息图像A,该图像A对应的数据集合记为O′W×H[0,0];
第三步:将第二步得到的延拓图像B划分为8×8个图块
第四步:对分割图块 中的每一个图块分别进行以8×8为块的离散余弦变换处理,得到频域图块
第五步:使用量化表 对频域图块 中的每个频域图块进行量化处理,得到量化图块
第六步:对量化图块 中的每个图块以8为步进进行二维遍历得到分化图块 其中,第一个分化图块 第二个分化图块 且W2=W1-8,H2=H1-8,第八个分化图块 第九个分化图块 第十个分化图块 第十六个分化图块 第五十七个分化图块 第五十八个分化图块 和第六十四个分化图块
在本发明中,分化图块F中的每一个分化图块的宽WS和高HS是相同的。
第七步:采用压缩率公式 分别对上述分化图块F进行计算,获得分化图块F中每一个分化图块的压缩率;选取压缩率最小的那个分化图块记为G,该分化图块G所对应的扫描区域作为下一次AFM图像的扫描区域。压缩率公式中PZero表示分化图块F中为零的数值的个数,PTotal表示分化图块F中数值的总个数。
在本发明中,当前AFM图像的宽度和高度的单位是像素。数学信息图像A、分割后的图块、频域图块D、量化图块E和分化图块F中的宽度和高度的单位是像素。
在本发明中,引用符号指代的物理意义为:
一、分割图块 中的每一个分割图块的物理意义为:
对分割图块C中每一个分割图块的宽度有两种取值,分别记为WC1、WC2,每一个分割图块的高度有两种取值,分别记为HC1、HC2,虽然下述对每一个分割图块的指代不同,但是具有相同的WC1、WC2、HC1、HC2标识的图块宽度和高度是相同的。
C11表示第一行第一列的图块,C11的数据集合为WC1表示图块C11的宽,HC1表示图块C11的高,[0,0]表示图块C11的左上角坐标;
C28表示第二行第八列的图块,C28的数据集合为WC2表示图块C28的宽,HC2表示图块C28的高,[7,1]表示图块C28的左上角坐标;
二、频域图块 中的每一个频域图块的物理意义为:
对频域图块D中每一个频域图块的宽度有两种取值,分别记为WD1、WD2,每一个频域图块的高度有两种取值,分别记为HD1、HD2,虽然下述对每一个频域图块的指代不同,但是具有相同的WD1、WD2、HD1、HD2标识的图块宽度和高度是相同的。
D12表示第一行第二列的频域图块,D12的数据集合为WD2表示频域图块D12的宽,HD1表示图块D12的高,[1,0]表示频域图块D12的左上角坐标;
D81表示第八行第一列的频域图块,D81的数据集合为WD1表示频域图块D81的宽,HD2表示频域图块D81的高,[0,7]表示频域图块D81的左上角坐标;
三、对量化图块 中的每一个量化图块的物理意义为:
对量化图块E中每一个量化图块的宽度有两种取值,分别记为WE1、WE2,每一个量化图块的高度有两种取值,分别记为HE1、HE2,虽然下述对每一个量化图块的指代不同,但是具有相同的WE1、WE2、HE1、HE2标识的图块宽度和高度是相同的。
E82表示第八行第二列的量化图块,E82的数据集合为WE2表示量化图块E82的宽,HE2表示量化图块E82的高,[1,7]表示量化图块E82的左上角坐标;
四、分化图块 中的每一个分化图块的物理意义为:
分化图块F中每一个分化图块的宽度记为WS,每一个分化图块的高度记为HS,虽然下述对每一个分化图块的指代不同,但是每一个分化图块宽度WS和高度HS是相同的。在本发明中,WC2、WD2和WE2的数值是相等的,记为W2,该W2=W1-8。HC2、HD2和HE2的数值是相等的,记为H2,该H2=H1-8。
第一个分化图块 中,
第二个分化图块 中,
F1,8表示F12中第二行第一列的分化图块,F1,8的数据集合为WS表示分化图块F1,8的宽,HS表示分化图块F1,8的高,[1,8]表示分化图块F1,8的左上角坐标;
第八个分化图块 中,
F15,0表示F18中第一行第二列的分化图块,F15,0的数据集合为WS表示分化图块F15,0的宽,HS表示分化图块F15,0的高,[15,0]表示分化图块F15,0的左上角坐标;
第九个分化图块 中,
F8,1表示F21中第一行第二列的分化图块,F8,1的数据集合为WS表示分化图块F8,1的宽,HS表示分化图块F8,1的高,[8,1]表示分化图块F8,1的左上角坐标;
第十个分化图块 中,
F1,1表示F22中第一行第一列的分化图块,F1,1的数据集合为WS表示分化图块F1,1的宽,HS表示分化图块F1,1的高,[1,1]表示分化图块F1,1的左上角坐标;
F9,9表示F22中第二行第二列的分化图块,F9,9的数据集合为WS表示分化图块F9,9的宽,HS表示分化图块F9,9的高,[9,9]表示分化图块F9,9的左上角坐标;
第十六个分化图块 中,
F7,1表示F28中第一行第一列的分化图块,F7,1的数据集合为WS表示分化图块F7,1的宽,HS表示分化图块F7,1的高,[7,1]表示分化图块F7,1的左上角坐标;
在本发明中,分割图块C、频域图块D、量化图块E和分化图块F中的图像宽度和图像高度存在有如下关系:
(1)WC2=WD2=WE2=W2=W1-8。
(2)WC1=WD1=WE1=W1。
(3)HC2=HD2=HE2=H2=H1-8。
(4)HC1=HD1=HE1=H1。
Claims (3)
1.一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,其特征在于:通过原子力显微镜对待测区域进行大范围扫描获取当前AFM图像,将当前AFM图像进行等比例缩为0-255之间整数的数学信息图像A,然后对该数学信息图像A进行8×8的图块分割,对分割后的图块C采用离散余弦变换DCT进行处理获得频域图块D,对频域图块采用量化表进行量化获得量化图块E,对每一个量化图块采用8为步进的二维遍历得到分化图块F,然后对每一个分化图块依据压缩率公式求取压缩率,选取压缩率最小的分化图块即为求得的子区域;最后应用该子区域进行进一步扫描成像,从而获得更高分辨率的图像,通过反复调用该方法能够实现原子力显微镜的连续自动成像;PZero表示分化图块F中为零的数值的个数,PTotal表示分化图块F中数值的总个数;
对所述的数学信息图像A的宽、高不是8的整数倍,则通过填充0的方式延拓到8的整数倍,得到延拓后的图像B,延拓图像B的宽度为W1,高度为H1,延拓图像B对应的数据集合记为延拓图像B划分为8×8个分割图块C11表示第一行第一列的图块,C12表示第一行第二列的图块,C18表示第一行第八列的图块,C21表示第二行第一列的图块,C22表示第二行第二列的图块,C28表示第二行第八列的图块,C81表示第八行第一列的图块,C82表示第八行第二列的图块,C88表示第八行第八列的图块;
对分割图块中的每一个图块分别进行以8×8为块的离散余弦变换DCT处理,得到频域图块D11表示第一行第一列的频域图块,D12表示第一行第二列的频域图块,D18表示第一行第八列的频域图块,D21表示第二行第一列的频域图块,D22表示第二行第二列的频域图块,D28表示第二行第八列的频域图块,D81表示第八行第一列的频域图块,D82表示第八行第二列的频域图块,D88表示第八行第八列的频域图块;
使用量化表对频域图块中的每个频域图块进行量化处理,得到量化图块E11表示第一行第一列的量化图块,E12表示第一行第二列的量化图块,E18表示第一行第八列的量化图块,E21表示第二行第一列的量化图块,E22表示第二行第二列的量化图块,E28表示第二行第八列的量化图块,E81表示第八行第一列的量化图块,E82表示第八行第二列的量化图块,E88表示第八行第八列的量化图块;
2.根据权利要求1所述的适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,其特征在于:当前AFM图像的宽度和高度的单位是像素。
3.根据权利要求1所述的适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,其特征在于:数学信息图像A、分割后的图块、频域图块D、量化图块E和分化图块F中的宽度和高度的单位是像素。
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