CN101387568A - 六氟化硫泄漏点的定位方法及其定位系统 - Google Patents

六氟化硫泄漏点的定位方法及其定位系统 Download PDF

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依晓春
涂建坤
王建财
沈奶连
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Abstract

一种六氟化硫泄漏点的定位方法及其定位系统，所述方法包括如下步骤：步骤一：采用六氟化硫吸收谱所对应波长范围的第一光源扫描被测设备的测试区域，获得第一图像；步骤二：采用不同于第一光源对应波长范围的第二光源扫描该测试区域，获得第二图像；步骤三：比较第一图像和第二图像的对应位置是否存在阴影暗区变化，若不存在变化，则判断该测试区域无气体泄漏；若第二图像中对应于第一图像的阴影暗区位置变亮，则判断有气体泄漏。一种六氟化硫泄漏点定位系统，包括：光源发生装置，图像采集装置。本发明可以准确地对六氟化硫气体泄漏点进行定位，避免了对六氟化硫泄漏点的误判。

Description

六氟化硫泄漏点的定位方法及其定位系统
技术领域
本发明涉及设备介质气体泄漏点的定位方法及系统，特别涉及应用于电力系统或其他六氟化硫填充容器设备的六氟化硫泄漏点的定位方法及系统。
背景技术
六氟化硫(SF6)作为一种绝缘性能特别稳定的介质气体，成为电力行业中使用的支柱性绝缘气体材料。在国内外的电力设备或器件中得以大范围的使用。例如，现有的高压断路器几乎全部采用六氟化硫代替油和空气作为绝缘介质，又如互感器、套管等也大量应用了六氟化硫介质。这种含有六氟化硫气体的电力设备或器件、容器在使用一段时间后，可能因为种种原因，例如物理损伤、化学腐蚀、自然老化等等，而发生泄漏。六氟化硫的泄漏将造成对应的电力设备或器件运行安全隐患、环境污染等。同时六氟化硫本身是较昂贵的材料，六氟化硫的泄漏也将造成直接的经济损失。因此对电力系统或其他六氟化硫填充容器设备进行定期地检查是否有泄漏，在发生泄漏时进行准确定位泄漏点具有非常重要的意义。
常见的六氟化硫空气含量检漏仪，是在检漏仪发现有气体泄漏时，将设备停电，再采用分段包扎、分段测试的方法确定漏点。该方法的缺点是：当出现泄漏时不能定位泄漏点，必须将设备停电再分段测试确定泄漏点，浪费人力及时间，而且设备停电必将带来经济损失；在气体可能泄漏处要安装多个传感器，安装与维护都很麻烦；当泄漏点较小时，可能因为不能精确定位而只能将仪器报废。
与本专利最接近的现有技术是基于远红外激光成像设备原理。其利用每种物质都有自己的吸收谱的原理，即对某个波长或某波长范围内的光进行吸收，而对其他波长的光则是透明的。由于六氟化硫对10.5至10.6um波长范围的光线吸收能力最强，可利用该波长范围内的远红外波长的光源进行检测。而该波长范围与CO2的P(16)和P(18)激光谱线重合。因此可采用CO2激光器发射激光作为光源，扫描六氟化硫填充的容器设备。当存在气体泄漏时，入射到该区域的光线将被吸收，用红外摄像机观察时，该区域无光线反射，则出现暗区。通过观察到暗区，即可初步关认为该暗区可能是气体泄漏区。在发现这种可能是气体泄漏区后，通过经验或其他手段来最终确定该区域是否是真正的泄漏点。这种方法的缺点是：如果某一区域刚好存在由于物体遮挡、无反射光的空间造成的阴影区域或其他原因造成的阴影，则不容易正确定性该阴影区域是否是气体泄漏区，特别是当泄漏较弱时，六氟化硫对激光的吸收小，阴影也较弱，人工判断较困难。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种六氟化硫泄漏点的定位方法及系统，通过六氟化硫对两种波长的吸收与无吸收的远红外图像相关分析法实现六氟化硫泄漏点的准确定位，避免对六氟化硫泄漏点的误判。
为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：
一种六氟化硫泄漏点的定位方法，其特征在于包括如下步骤：
步骤一：采用六氟化硫吸收谱所对应波长范围的第一光源扫描被测设备的测试区域，获得第一图像；
步骤二：采用不同于第一光源对应波长范围的第二光源扫描该测试区域，获得第二图像；
步骤三：比较第一图像和第二图像的对应位置是否存在阴影暗区变化，若不存在变化，则判断该测试区域无气体泄漏；若第二图像中对应于第一图像的阴影暗区位置变亮，则判断有气体泄漏。
进一步地，所述第一光源与第二光源在同一位置以相同的角度扫描该测试区域。
进一步地，所述第一光源和第二光源由一个波长可调的激光器产生。
进一步地，所述第一光源和第二光源分别由两个不同波长的激光器产生。
进一步地，所述第一光源由一个单波长的激光器产生，所述第二光源采用自然光。
进一步地，所述第一光源的波长范围为10.5um至10.6um。
进一步地，所述第二光源的波长范围可为10.3um至10.5um。
一种六氟化硫泄漏点定位系统，包括：
光源发生装置，用于分别产生六氟化硫吸收谱对应波长范围和不同于六氟化硫吸收谱对应波长范围的两种光；
图像采集装置，用于分别采集上述两种光扫描被测设备的测试区域生成的第一图像和第二图像。
进一步地，所述光源发生装置包括一个用于产生所述两种光所对应波长范围的波长可调的激光器、以及位于所述两种光的光路上的扩束镜。
进一步地，所述光源发生装置包括用于产生所述两种光所对应波长范围的两个激光器以及用于切换两种光的光路切换模块。
进一步地，所述光路切换模块包括分别用于反射两个激光器发出的光的第一反射镜和第二反射镜、第三反射镜、扩束镜、以及用于驱动第三反射镜旋转以切换第一反射镜和第二反射镜反射的光至扩束镜的电机。
进一步地，所述对应六氟化硫吸收谱的光的波长范围为10.5um至10.6um。
进一步地，所述不同于六氟化硫吸收谱的光的波长范围可为10.3um至10.5um。
进一步地，所述图像采集装置为红外摄像机。
进一步地，所述图像采集装置为红外CCD图像传感器。
进一步地，还包括平移台装置，所述图像采集装置和光源发生装置固定于所述平移台装置上。
进一步地，还包括与所述图像采集装置相连接的图像比较装置。
本发明可以准确地对六氟化硫气体泄漏点进行定位，避免了对六氟化硫泄漏点的误判。
以下结合附图及具体实施例进一步说明本发明。
附图说明
图1为六氟化硫泄漏点定位系统实施例结构示意图。
具体实施方式
六氟化硫泄漏点的定位方法实施例
一种六氟化硫泄漏点的定位方法，其特征在于包括如下步骤：
步骤一：采用六氟化硫吸收谱所对应波长范围的第一光源扫描被测设备的测试区域，获得第一图像；该第一图像上可能存在多个暗区，这些暗区可能是由于泄漏的六氟化硫气体吸收了第一光源入射到该处的光线造成的，也可能是由于物体遮挡或者无反射光的空间等其它原因造成的；
步骤二：采用不同于第一光源对应波长范围的第二光源扫描该测试区域，获得第二图像；
步骤三：如果第一图像中的阴影是由于泄漏的六氟化硫对光线的吸收造成的，那么在第二图像中相应的阴影区域会变亮，如果第二图像与第一图像没有任何这种差别，则可认为不存在气体泄漏。因此，比较第一图像和第二图像的对应位置是否存在阴影暗区变化，若不存在变化，则判断该测试区域无气体泄漏；若第二图像中对应于第一图像的阴影暗区位置变亮，则判断有气体泄漏。
为了方便第一图像和第二图像的比较，本实施采用第一光源与第二光源在同一位置以相同的角度扫描该测试区域，此时获得的第一图像和第二图像位置基本相同。从而方便图像的比较。
其中，第一光源的波长范围为10.5um至10.6um；第二光源的波长是六氟化硫吸收不明显波长，但为了图像的背景能够尽量一致，该第二光源的波长可选择尽量靠近六氟化硫的吸收波长，例如选择波长范围可为10.3um至10.5um。
其中，所述第一光源和第二光源可以分别由两个不同波长的激光器产生，也可以由一个波长可调的激光器产生；还可以是所述第一光源由一激光器产生，所述第二光源则直接采用自然光。
其中，所述步骤三中第一图像和第二图像的比较，可以是用红外摄像机摄像得到两图像后，直接通过肉眼来比较。也可以采用红外CCD图像传感器对第一图像和第二图像采样，并输入到图像比较装置中，例如计算机中，进行相应的数字图像处理和比较，从而准确的判断是否是六氟化硫气体泄漏点。
六氟化硫泄漏点的定位系统实施例
如图1所示，一种六氟化硫泄漏点定位系统，包括：
光源发生装置，用于分别产生六氟化硫吸收谱所对应波长范围和不同于六氟化硫吸收谱对应波长范围的两种光；
图像采集装置，用于分别采集两种光扫描被测设备的测试区域生成的第一图像和第二图像。
其中，所述图像采集装置可以是红外摄像机，也可以是通过透镜成像的CCD图像传感器。
其中，所述光源发生装置可采用多种技术手段实现，以下列举两种方式分别说明。
方式一
所述光源发生装置包括一个用于产生所述两种光所对应波长范围的波长可调的激光器、以及位于所述两种光的光路上的扩束镜。先将激光器发出的光的波长调节到六氟化硫吸收谱对应波长范围并扫描被测试区域，得到第一图像；然后调节到另一波长范围并扫描被测试区域，该波长的选择尽量靠近六氟化硫的吸收波长，例如10.3um至10.5um，得到第二图像。第一图像与第二图像的比较与方式一中的相同，在此省略。
方式二
所述光路切换模块具体可以是包括分别用于反射两个激光器1、2发出的光的第一反射镜7和第二反射镜5、第三反射镜4、扩束镜6、以及用于驱动第三反射镜4旋转以切换第一反射镜7和第二反射镜5反射的光至扩束镜6的电机3。使用时，可先用激光器1扫描测试区域9，得到第一图像；然后通过电机3带动第三反射镜4旋转90度，切换到另一中心波长的激光器2扫描测试区域9，得到第二图像。
当图像采集装置为红外摄像机10时，通过红外摄像机10摄像得到第一图像和第二图像，然后可通过肉眼来比较第一图像和第二图像的对应位置是否存在阴影暗区变化，若不存在变化，则判断无气体泄漏；若第二图像中对应于第一图像的阴影暗区位置变亮，则判断有气体泄漏。
如图1所示，所述光源发生装置包括置于一箱体8中的用于产生所述两种光所对应波长的两个激光器1、2以及用于切换两种光的光路切换模块。其中，激光器1发出的光的波长范围为10.5um至10.6um，例如采用10.6um的CO2，激光器；激光器2发出的光的波长范围可为10.3um至10.5um。
其中，所述六氟化硫泄漏点定位系统还可以包括与红外CCD图像传感器12相连接的图像比较装置13，通过透镜11成像的CCD图像传感器12对第一图像和第二图像的采样，并输入到图像比较装置13进行相应的数字图像处理和比较，判断第一图像和第二图像的对应位置是否存在阴影暗区变化，若不存在变化，则判断无气体泄漏；若第二图像中对应于第一图像的阴影暗区位置变亮，则判断有气体泄漏。其中，所述图像比较装置13可以是计算机。
此外，还可以包括平移台装置，所述图像采集装置和光源发生装置设于所述平移台装置上，通过控制平移台装置的移动及对计算机的操作，实现对测试区域进行自动扫描，并将采集到的图像输入到计算机中，自动进行数字图像处理，并给出是否在存在泄漏点的结论。从而使得测试人员能够从相对繁重的体力劳动中解放出来，节省人力。

Claims (17)

1.一种六氟化硫泄漏点的定位方法，其特征在于包括如下步骤：
步骤一：采用六氟化硫吸收谱所对应波长范围的第一光源扫描被测设备的测试区域，获得第一图像；
步骤二：采用不同于第一光源对应波长范围的第二光源扫描该测试区域，获得第二图像；
步骤三：比较第一图像和第二图像的对应位置是否存在阴影暗区变化，若不存在变化，则判断该测试区域无气体泄漏；若第二图像中对应于第一图像的阴影暗区位置变亮，则判断有气体泄漏。
2.根据权利要求1所述的六氟化硫泄漏点的定位方法，其特征在于：所述第一光源与第二光源在同一位置以相同的角度扫描该测试区域。
3.根据权利要求2所述的六氟化硫泄漏点的定位方法，其特征在于：所述第一光源和第二光源由一个波长可调的激光器产生。
4.根据权利要求2所述的六氟化硫泄漏点的定位方法，其特征在于：所述第一光源和第二光源分别由两个不同波长的激光器产生。
5.根据权利要求1所述的六氟化硫泄漏点的定位方法，其特征在于：所述第一光源由一个单波长的激光器产生，所述第二光源采用自然光。
6.根据权利要求1所述的六氟化硫泄漏点的定位方法，其特征在于：所述第一光源的波长范围为10.5um至10.6um。
7.根据权利要求1至6中任一权利要求所述的六氟化硫泄漏点的定位方法，其特征在于：所述第二光源的波长范围为10.3um至10.5um。
8.一种六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于包括：
光源发生装置，用于分别产生六氟化硫吸收谱对应波长范围和不同于六氟化硫吸收谱对应波长范围的两种光；
图像采集装置，用于分别采集上述两种光扫描被测设备的测试区域生成的第一图像和第二图像。
9.根据权利要求8所述的六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于：所述光源发生装置包括一个用于产生所述两种光所对应波长范围的波长可调的激光器、以及位于所述两种光的光路上的扩束镜。
10.根据权利要求8所述的六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于：所述光源发生装置包括用于产生所述两种光所对应波长范围的两个激光器以及用于切换两种光的光路切换模块。
11.根据权利要求10所述的六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于：所述光路切换模块包括分别用于反射两个激光器发出的光的第一反射镜和第二反射镜、第三反射镜、扩束镜、以及用于驱动第三反射镜旋转以切换第一反射镜和第二反射镜反射的光至扩束镜的电机。
12.根据权利要求8至11中任一权利要求所述的六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于：所述对应六氟化硫吸收谱的光的波长范围为10.5um至10.6um。
13.根据权利要求8至11中任一权利要求所述的六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于：所述不同于六氟化硫吸收谱的光的波长范围为10.3um至10.5um。
14.根据权利要求8所述的六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于：所述图像采集装置为红外摄像机。
15.根据权利要求8所述的六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于：所述图像采集装置为红外CCD图像传感器。
16.根据权利要求8所述的六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于：还包括平移台装置，所述图像采集装置和光源发生装置固定于所述平移台装置上。
17.根据权利要求8所述的六氟化硫泄漏点定位系统，其特征在于：还包括与所述图像采集装置相连接的图像比较装置。
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102564714A (zh) * 2012-01-10 2012-07-11 广州科易光电技术有限公司 一种sf6的检测方法以及用于检测sf6的红外热像仪
CN102866115A (zh) * 2012-10-09 2013-01-09 李林军 一种采用中红外光源检测sf6气体及其分解物的装置及检测方法
CN103712059A (zh) * 2013-11-29 2014-04-09 中国海洋石油总公司 液化天然气储罐泄漏区域定位方法
CN103954401A (zh) * 2014-04-09 2014-07-30 国家电网公司 一种gis用sf6气体泄漏定位绝缘胶带
CN104155071A (zh) * 2014-08-12 2014-11-19 中国科学院合肥物质科学研究院 一种基于背景纹影技术的气体泄漏监测装置与方法
CN105092161A (zh) * 2014-05-20 2015-11-25 庄孟文 一种sf6气体漏点检测报警系统
TWI550264B (zh) * 2014-10-17 2016-09-21 Hitachi Ltd Oil leakage detection device and method
CN108507725A (zh) * 2018-04-20 2018-09-07 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 一种六氟化硫气体泄漏自动检测装置
CN108700834A (zh) * 2016-03-07 2018-10-23 Asml荷兰有限公司 照射系统和量测系统
CN110108651A (zh) * 2019-05-31 2019-08-09 杭州国翌科技有限公司 气体泄漏点定位装置
CN110231308A (zh) * 2019-08-05 2019-09-13 南京南智芯光科技有限公司 一种主动照明气体成像检测方法及系统
CN113155362A (zh) * 2021-05-12 2021-07-23 山西瑞航科技有限公司 一种基于红外热成像原理的六氟化硫气体泄漏检测系统
CN113945326A (zh) * 2021-12-21 2022-01-18 广州市腾嘉自动化仪表有限公司 一种高光谱红外气体泄露检测系统和方法
WO2023102553A3 (en) * 2021-12-03 2023-08-31 Sixgill, LLC System and method of detecting gas leaks
US12033357B2 (en) 2021-12-03 2024-07-09 Plainsight Technologies Inc. System and method of detecting gas leaks

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102564714A (zh) * 2012-01-10 2012-07-11 广州科易光电技术有限公司 一种sf6的检测方法以及用于检测sf6的红外热像仪
CN102564714B (zh) * 2012-01-10 2015-03-11 广州科易光电技术有限公司 一种sf6的检测方法以及用于检测sf6的红外热像仪
CN102866115A (zh) * 2012-10-09 2013-01-09 李林军 一种采用中红外光源检测sf6气体及其分解物的装置及检测方法
CN103712059A (zh) * 2013-11-29 2014-04-09 中国海洋石油总公司 液化天然气储罐泄漏区域定位方法
CN103712059B (zh) * 2013-11-29 2016-01-20 中国海洋石油总公司 液化天然气储罐泄漏区域定位方法
CN103954401A (zh) * 2014-04-09 2014-07-30 国家电网公司 一种gis用sf6气体泄漏定位绝缘胶带
CN105092161A (zh) * 2014-05-20 2015-11-25 庄孟文 一种sf6气体漏点检测报警系统
CN104155071A (zh) * 2014-08-12 2014-11-19 中国科学院合肥物质科学研究院 一种基于背景纹影技术的气体泄漏监测装置与方法
TWI550264B (zh) * 2014-10-17 2016-09-21 Hitachi Ltd Oil leakage detection device and method
CN108700834A (zh) * 2016-03-07 2018-10-23 Asml荷兰有限公司 照射系统和量测系统
CN108507725A (zh) * 2018-04-20 2018-09-07 国网江苏省电力有限公司电力科学研究院 一种六氟化硫气体泄漏自动检测装置
CN110108651A (zh) * 2019-05-31 2019-08-09 杭州国翌科技有限公司 气体泄漏点定位装置
CN110231308A (zh) * 2019-08-05 2019-09-13 南京南智芯光科技有限公司 一种主动照明气体成像检测方法及系统
CN113155362A (zh) * 2021-05-12 2021-07-23 山西瑞航科技有限公司 一种基于红外热成像原理的六氟化硫气体泄漏检测系统
WO2023102553A3 (en) * 2021-12-03 2023-08-31 Sixgill, LLC System and method of detecting gas leaks
US12033357B2 (en) 2021-12-03 2024-07-09 Plainsight Technologies Inc. System and method of detecting gas leaks
CN113945326A (zh) * 2021-12-21 2022-01-18 广州市腾嘉自动化仪表有限公司 一种高光谱红外气体泄露检测系统和方法
CN113945326B (zh) * 2021-12-21 2022-03-22 广州市腾嘉自动化仪表有限公司 一种高光谱红外气体泄露检测系统和方法

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