CN101344546A

CN101344546A - 金属膜电阻的检测装置及检测方法

Info

Publication number: CN101344546A
Application number: CNA2007102010544A
Authority: CN
Inventors: 谢向兵; 刘发印; 李强
Original assignee: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd; Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Current assignee: Kang Quasi Electronic Technology (kunshan) Co Ltd; Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date: 2007-07-12
Filing date: 2007-07-12
Publication date: 2009-01-14

Abstract

一种金属膜电阻的检测装置，包括输入模块、比较器及输出模块。输入模块用于与待测工件相连，并接收待测工件的电阻值。比较器用于将待测工件的电阻值与预定的阻值阈值相比较，并产生比较结果信号。输出模块用于根据比较结果信号将比较结果显示。本发明还提供一种金属膜电阻的检测方法。该检测装置及检测方法通过将待测工件的电阻值与预定的阻值阈值相比较，将比较结果直观地输出，可以有效地避免误检现象；其比较过程与输出皆是自动完成，缩短了检测所需的时间，提升了检测效率。

Description

金属膜电阻的检测装置及检测方法

技术领域

本发明涉及一种金属膜电阻的检测装置及检测方法，特别涉及一种金属屏蔽镀膜的电阻检测装置及检测方法。

背景技术

塑胶外壳的笔记本电脑为了防止出现电磁干扰(Electronic Magnetic Interference，EMI)，需要在塑胶外壳的内表面镀一层金属层，该金属层可被称为“金属屏蔽镀膜”。

为了保证金属屏蔽镀膜对EMI的屏蔽性能，通常地，在制造过程中需对所镀的金属屏蔽镀膜进行检测，其中主要是对金属屏蔽镀膜的厚度的检测。对金属屏蔽镀膜的厚度检测通常有透射电子显微镜(TEM)检测、扫描电子显微镜(SEM)检测、轮廓检测、荧光分析检测、声学分析检测等方法。这些方法所需仪器较为复杂、成本高、且耗费的检测时间长，其检测效率不能适应于工厂的规模化快速生产中使用。

金属屏蔽镀膜的电阻大小与其厚度成反比关系、而与测量点之间的长度成正比关系，因而，通过检测金属屏蔽镀膜的电阻，即可判断该金属屏蔽镀膜的厚度是否符合要求；并且，电阻检测的方法所使用的仪器简单，操作方便。因而，电阻检测方法被较多地应用于工厂生产中对金属屏蔽镀膜的检测。通常的电阻检测方法的检测仪器为一台万用表，将万用表的探头置于需检测的工件表面上金属屏蔽镀膜对应的位置处，即可读出两探头之间的金属屏蔽镀膜的电阻值。使用者依据所读到的电阻值来判断该待测工件上的金属屏蔽镀膜是否合格。

然而，上述电阻检测的方法取决于使用者的主观判断，因而容易造成误检，效率较低。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种可以有效地自动判断金属屏蔽镀膜是否合格的检测装置。

此外，还有必要提供一种可以有效地自动判断金属屏蔽镀膜是否合格的检测方法。

一种金属膜电阻的检测装置，包括：

输入模块，用于与待测工件相连，并接收待测工件的电阻值；

比较器，用于将所述待测工件的电阻值与预定的阻值阈值相比较，并产生比较结果信号；

输出模块，用于根据所述比较结果信号将比较结果显示。

一种金属膜电阻的的检测方法，包括：

获得待测工件的电阻值，并产生阻值信号；

将所述待测工件的电阻值与预定的阻值阈值相比较，并产生比较结果；和

将所述比较结果输出。

上述金属膜电阻的检测装置及检测方法通过将所测得的待测工件的电阻值与预先设定的阻值阈值相比较，产生比较结果信号后将比较结果直观地输出，可以有效地避免误检现象；其比较过程与输出皆是自动完成，缩短了检测所需的时间，提升了检测效率。

附图说明

图1为本发明金属膜电阻的检测装置的第一较佳实施方式的结构框图。

图2为本发明金属膜电阻的检测装置的第二较佳实施方式的结构框图。

图3为使用该第二较佳实施方式的金属膜电阻的检测装置进行金属膜电阻的检测的方法流程图。

具体实施方式

如图1所示，本发明金属膜电阻的检测装置的第一较佳实施方式包括输入模块102、放大器104、模/数转换模块106、比较器108及输出模块110等。

输入模块102用于与待测工件相连，以获得待测工件上两个待测点之间的电阻值。该输入模块102提供一种类似于万用表测量电阻的功能，该输入模块102测量出待测工件两端的电压，并依据该工件电压得出所测工件的电阻阻值。输入模块102将所得阻值信号送至放大器104。

放大器104用于将输入模块102所传送的阻值信号进行放大，并产生放大信号送到模/数转换模块106。在其他实施方式中，若输入模块102所得的阻值信号的强度足够，则该金属膜电阻的检测装置亦可不包括该放大器104。

模/数转换模块106将放大器104所传送的模拟形式的放大信号进行取样量化，以将其转换成数字格式的阻值信号，并将所生成的数字阻值信号传送到比较器108。在其他实施方式中，若比较器108可以处理模拟格式的信号，则该模/数转换模块106亦可不包括在该金属膜电阻的检测装置中。

比较器108将该数字阻值信号与预定的阻值阈值信号进行比较，并根据该比较的结果产生“PASS”或者“FAIL”的比较结果信号。该比较结果信号被传送到输出模块110。例如，设该数字阻值信号所指的阻值为X，若预定的阻值阈值信号所指的阻值阈值为5.2Ω，则当X≥5.2Ω时，比较结果信号为“FAIL”，而当X＜5.2Ω时，比较结果信号为“PASS”。

输出模块110根据比较器108所产生的比较结果信号输出相应的检测结果。该输出模块110包括一对指示灯122，该对指示灯122分别代表检测结果的“通过”与“不通过”。当比较结果信号为“PASS”时，其中代表“通过”的指示灯发光；而当比较结果信号为“FAIL”时，其中代表“不通过”的指示灯发光。或者，输出模块110包括一个报警器124，当比较结果为“FAIL”时，报警器124响起，从而可以提醒使用者。

输出模块110还包括显示单元126，该显示单元126用于显示当前比较器108进行比较时的阻值阈值“SET VALUE”、当前所检测到的待测工件的电阻值“VALUE”、以及当前比较所得的结果“PASS”或“FAIL”。

如图2所示，本发明金属膜电阻检测装置的第二较佳实施方式包括与该第一较佳实施方式中结构类似的输入模块202、放大器204、模/数转换模块206、比较器208及输出模块210等。

由于不同待测工件的阻值级别不同，对其进行检测的电阻器值误差容限也不同，为使得该检测装置适应于不同的待测工件的检测需求，检测装置200还包括阈值设置模块212，该阈值设置模块212用于设置比较器208进行比较所用的预定阻值阈值。该阈值设置模块212包括档位选择开关222和档位存储器224。档位选择开关222用于接收外部的档位调节操作。档位存储器224用于存储与各个档位相应的阻值阈值。根据外部的档位调节操作所选择的档位，档位存储器224设置与该档位相应的阻值阈值，以供比较器208进行比较。由于所述金属屏蔽镀膜的电阻率较小，因而各档位之间的间隔可以设置得较小，例如：各档位被设置为5.2Ω、8.2Ω、10.2Ω、12.2Ω、15.2Ω……。档位存储器224所设置的阻值阈值还可由输出模块210显示于其显示单元236上。

如图3所示，本发明金属膜电阻检测方法以图2所示的金属膜电阻检测装置为例进行说明，包括：

步骤302，上电后，系统进行初始化。例如：输出模块210的指示灯232不发光、显示单元236的显示信息清空。

步骤304，阈值设置模块212的档位选择开关222接收外部的档位调节操作，档位存储器224设置一个与所调节档位相应的阻值阈值，以供比较器208将其与工件的测得电阻值进行比较。进而，输出模块210还可读取该阻值阈值，并将该阻值阈值作为“SET VALUE”显示于该输出模块210的显示单元236上。

步骤306，输入模块202接收待测工件上两个待测点之间的电压，并根据所述电压得出该待测工件上两待测点之间的电阻值。输入模块202将所得阻值信号送到放大器204。

步骤308，放大器204对所接收的阻值信号进行放大，以利于后续信号处理。放大器204对所接收的阻值信号进行放大后产生放大信号，该放大信号被传送到模/数转换模块206。

步骤310，模/数转换模块206对该放大信号进行取样量化，将模拟形式的放大信号转换为数字阻值信号，并将所得数字阻值信号送至比较器208。该数字阻值信号还可被传送到输出模块210，从而所测得的待测工件的阻值可以被显示于该输出模块210的显示单元236上。

步骤312，比较器208将数字阻值信号与阈值设置模块212所设置的阻值阈值相比较，产生比较结果信号，并将所产生的比较结果信号传送到输出模块210。

步骤314，输出模块210依据所述比较结果信号将最终比较结果输出。例如：根据比较结果信号将相应的输出模块210中相应的指示灯232点亮，若比较结果信号为“PASS”，其中代表“通过”的指示灯232被点亮；若比较结果信号为“FAIL”，其中代表“不通过”的指示灯232则被点亮，同时报警器234发出响声报警，以提醒使用者注意。进而，输出模块210中也可以依据比较结果信号而将“PASS”或“FAIL”的比较结果显示在其显示单元236上。

上述金属膜电阻的检测装置及检测方法还可依据不同种类的待测工件选择不同的档位，在不同档位上采用相应的阻值阈值，可以满足多种待测工件的检测需求。

Claims

1.一种金属膜电阻的检测装置，包括：

输入模块，用于与待测工件相接触，以获得待测工件的电阻值；

输出模块，用于根据所述比较结果信号将比较结果显示。

2.如权利要求1所述的金属膜电阻的检测装置，其特征在于：所述金属膜电阻的检测装置还包括放大器，所述放大器与所述输入模块相连，用于将所述输入模块所传送的阻值信号进行放大，并将放大后的信号传给所述比较器。

3.如权利要求1所述的金属膜电阻的检测装置，其特征在于：所述金属膜电阻的检测装置还包括连接于所述输入模块及所述比较器之间的模/数转换模块，所述模/数转换模块用于将所述输入模块所传送的模拟形式的阻值信号转换为数字阻值信号。

4.如权利要求1所述的金属膜电阻的检测装置，其特征在于：所述金属膜电阻的检测装置还包括与所述比较器相连的阈值设置模块，所述阈值设置模块用于为所述比较器设置所述阈值，以提供所述比较器进行比较。

5.如权利要求4所述的金属膜电阻的检测装置，其特征在于：所述阈值设置模块包括：

档位选择开关，用于提供外界的档位调节操作；

档位存储器，用于存储与各档位相应的阻值阈值，所述档位存储器根据外界的档位调节操作为所述比较器设置相应的阻值阈值。

6.如权利要求1所述的金属膜电阻的检测装置，其特征在于：所述输出模块还用于将所述待测工件的电阻值及所述阻值阈值输出。

7.一种金属膜电阻的检测方法，包括以下步骤：

获得待测工件的电阻值，并产生阻值信号；

将所述待测工件的电阻值与预定的阻值阈值相比较，并产生比较结果；和将所述比较结果输出。

8.如权利要求7所述的金属膜电阻的检测方法，其特征在于：所述金属膜电阻的检测方法在所述获得待测工件的电阻值并产生阻值信号的步骤后进一步包括：

将所述阻值信号放大，以产生放大信号；和

将所述放大信号进行取样量化，转换为数字阻值信号。

9.如权利要求7所述的金属膜电阻的检测方法，其特征在于：所述金属膜电阻的检测方法在所述将待测工件的电阻值与预定的阻值阈值相比较的步骤前进一步包括：

接收外界的档位选择操作；和

依据所述档位选择操作设置所述预定的阻值阈值。

10.如权利要求7所述的金属膜电阻的检测方法，其特征在于：所述金属膜电阻的检测方法还包括：将所述待测工件的电阻值与所述阻值阈值输出。