CN101276307A - Super I/O测试方法 - Google Patents

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CN101276307A CNA2007102003377A CN200710200337A CN101276307A CN 101276307 A CN101276307 A CN 101276307A CN A2007102003377 A CNA2007102003377 A CN A2007102003377A CN 200710200337 A CN200710200337 A CN 200710200337A CN 101276307 A CN101276307 A CN 101276307A
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汪永安
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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Abstract

一种Super I/O测试方法,通过一设置在主板上的Super I/O芯片测试计算机硬件温度、电压及风扇转速等,相对现有技术,本发明不但包括了现有测试方法的读取I/O寄存器内容,还按照需要从显示器上直观显示计算机硬件信息,方便直观地帮助用户了解硬件状态。

Description

Super I/O测试方法
技术领域
本发明涉及一种测试方法,尤指一种利用Super I/O芯片测试的测试方法。
背景技术
为了让用户能够了解硬件的工作状态(温度、转速、电压等),主板上通常有一块至两块专门用于监控硬件工作状态的硬件监控芯片。当硬件监控芯片与各种传感元件(电压、温度、转速)配合时,便能在硬件工作状态不正常时,自动采取保护措施或及时调整相应元件的工作参数,以保证电脑中各配件工作在正常状态下。常见的有温度控制芯片和通用硬件监控芯片等。
通用硬件监控芯片通常还整合了超级I/O(输入/输出管理)功能,可以用来监控受监控对象的电压、温度、转速等。对于温度的监控需与温度传感元件配合;对风扇电机转速的监控,则需与CPU或显卡的散热风扇配合。现有技术中,能够利用Super I/O芯片中的I/O寄存器内容了解当前的硬件信息,但对于普通的用户来说很难读懂,需要查阅相关资料才能明白各种I/O寄存器的含义。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种能直观显示硬件信息的Super I/O测试方法。
一种Super I/O测试方法,通过一设置在主板上的Super I/O芯片测试计算机硬件温度、电压及风扇转速等,其包括以下步骤:a.判断所述Super I/O芯片的ID,用以识别不同厂家的Super I/O芯片;b.设置所述Super I/O芯片的参数值;c.此时,显示输入端口界面,分别输入索引端口值和数据端口值;d.显示对应端口值的寄存器内容;输入第一特定键,则显示温度和风扇转速等信息,此时,系统会首先判断输入的端口地址是否为硬件监控端口,若输入的端口地址是硬件监控端口,则将从所述Super I/O芯片中已读取出的十六进制寄存器内容转换为十进制数据值,若为温度寄存器,则所述十进制数据值为温度值;若为风扇转速寄存器,则所述十进制数据值为风扇转速值;若输入的端口地址不是硬件监控端口,则无温度、风扇转速及电压等信息显示,该显示功能被屏蔽。
相对现有技术,本发明不但包括了现有测试方法的读取I/O寄存器内容,还按照需要从显示器上直观显示计算机硬件信息,方便直观地帮助用户了解硬件状态。
附图说明
图1为实现本发明Super I/O测试方法较佳实施方式的硬件构成图。
图2为实现本发明Super I/O测试方法较佳实施方式的流程图。
具体实施方式
请参阅图1,实现本发明Super I/O测试方法较佳实施方式的测试系统包括一显示器20、一测试治具30及一主板40。所述显示器20用于显示出对电脑硬件测试的测试结果,方便用户调试,所述测试治具30用于从所述主板40上的一Super I/O芯片41中调出所需数据。所述主板40上还设有南桥及北桥等其他芯片。
在对所述主板40上的硬件测试前,需先将所述显示器20及所述主板40连接在一起,运行所述测试治具30,根据系统需要输入相关内容,即可显示各种对应信息。
请参阅图2,实现本发明硬件监测方法较佳实施方式的流程图包括以下步骤:
S1:判断所述Super I/O芯片ID(Identification,标识),系统会识别不同芯片的厂家,根据不同厂家的不同芯片ID,程序会进行不同的处理。若失败则报错处理,程序结束。
S2:若成功识别到芯片ID,开始设置参数。不同芯片对应不同的参数值。
S3:此时会显示出输入端口的界面,用户可根据需要自行选择设置端口,分别输入索引端口(Index port)和数据端口(Data port)的值。
S4:显示对应端口值的寄存器内容,所述测试治具会调出所述Super I/O芯片中的若干I/O寄存器内容,此时,输入第一特定键(如快捷键TAB),则将从所述Super I/O芯片中已读取出的十六进制寄存器内容转换为十进制数据,并在显示器上显示出所述十进制数据值。若所述寄存器为温度寄存器,则显示十进制数据值为温度值;若所述寄存器为风扇转速寄存器,则显示十进制数据值为风扇转速值;若输入的端口地址不是硬件监控端口,则无温度、风扇转速及电压等信息显示,该显示功能被屏蔽。
S5:输入方向键,则系统会根据输入方向进行光标调整,选中不同的寄存器,并进一步在显示器屏幕下方显示该对应寄存器内容说明,然后转到S4处理。
S6:输入数字键,即对应修改所述Super I/O芯片中寄存器的内容,则保存数据记录,然后转到S4继续处理。
S7:输入第二特定键(如快捷键F10),则表明需要显示风扇曲线,该曲线为风扇转速随温度变化的曲线,此时,系统会自动转换显示模式打点连线,从显示器上直观显示出当前风扇曲线,然后转到S4处理。
S8:输入第三特定键(如快捷键F12),则以文件的形式保存以上的数据,再转到S4处理。
S9:输入第四特定键(如快捷键F1),则可显示帮助信息,然后转到S4继续处理。
S10:输入退出键时,则程序结束。

Claims (6)

1. 一种Super I/O测试方法,通过一设置在主板上的Super I/O芯片测试计算机硬件温度、电压及风扇转速等,其特征在于包括以下步骤:
a.判断所述Super I/O芯片的ID,用以识别不同厂家的Super I/O芯片;
b.设置所述Super I/O芯片的参数值;
c.此时,显示输入端口界面,分别输入索引端口值和数据端口值;
d.显示对应端口值的寄存器内容;若输入第一特定键,则显示温度和风扇转速等信息,此时,系统会首先判断输入的端口地址是否为硬件监控端口,若输入的端口地址是硬件监控端口,则将从所述Super I/O芯片中已读取出的十六进制寄存器内容转换为十进制数据值,若为温度寄存器,则所述十进制数据值为温度值;若为风扇转速寄存器,则所述十进制数据值为风扇转速值;若输入的端口地址不是硬件监控端口,则无温度、风扇转速及电压等信息显示,该显示功能被屏蔽。
2. 如权利要求1所述的Super I/O测试方法,其特征在于:输入方向键,则根据方向键的输入方向进行坐标调整,选中不同的寄存器,且在显示器屏幕下方显示出相应寄存器说明。
3. 如权利要求1所述的Super I/O测试方法,其特征在于:输入数字键,即修改所述Super I/O芯片中寄存器内容,且可将所修改数据保存。
4. 如权利要求1所述的Super I/O测试方法,其特征在于:输入第二特定键,则换显示模式打点连线,从显示器上可直观显示出当前风扇曲线,即风扇转速随温度变化的曲线。
5. 如权利要求1所述的Super I/O测试方法,其特征在于:将所述Super I/O芯片中寄存器内容的数据以文件形式保存。
6. 如权利要求1所述的Super I/O测试方法,其特征在于:所述SuperI/O测试方法还可提供帮助信息。
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PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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