具体实施方式
下面结合附图并以n=5为例对本发明作进一步详细的说明。
如图2所示,本发明环形压控振荡器的结构为:
5级延时单元s1至s5成环形首尾相连,每一级的正相和负相输入端INP和INN分别与前一级的负相与正相延时输出端OUTN、OUTP相连,第一级的正相和负相延时输入端INP和INN分别与最末一级的负相与正相延时输出端OUTN、OUTP相连;每一级的正相和负相信号输出端OUT+、OUT-分别与各输出缓冲电路b1至b5的正相和负相缓冲输入端IN+和IN-相连。各输出缓冲电路b1至b5的正相和负相缓冲输出端O+和O-作为最终十相位数字时钟信号。
图3为图2中延时单元的电路图,电路为全差分结构。
延时单元包括第一PMOS管MP3、第二PMOS管MP4、第三PMOS管MP5、第四PMOS管MP6,第五PMOS管MP8,第六PMOS管MP9;以及第一NMOS管MN1、第二NMOS管MN2、第三NMOS管MN7、第四NMOS管MN10和第五NMOS管MN11。第一PMOS管MP3和第二PMOS管MP4成二极管连接,源极接外接电源VDD,漏极分别接第一NMOS管MN1与第二NMOS管MN2的漏极;第三PMOS管MP5和第四PMOS管MP6源极接外接电源VDD,漏极分别接第一NMOS管MN1与第二NMOS管MN2的漏极,栅极分别接第一NMOS管MN1与第二NMOS管MN2的栅极,第五PMOS管MP8漏极作为负相信号输出端OUT-,栅极接正相延时输出端OUTP,源极接外接电源VDD,第六PMOS管MP9漏极作为正相信号输出端OUT+,栅极接负相延时输出端OUTN,源极接外接电源VDD;第一NMOS管MN1与第二NMOS管MN2漏极分别作为负相延时输出端OUTN和正相延时输出端OUTP,栅极分别作为INP和INN,源极接第三NMOS管MN7的漏极;第三NMOS管MN7漏极接第一NMOS管MN1与第二NMOS管MN2的源极,栅极接输入控制输入端Vctrl,漏极接地GND,第四NMOS管MN10漏极接负相信号输出端OUT-,栅极接控制输入端Vctrl,源极接地GND,第五NMOS管MN11漏极接正相信号输出端OUT+,栅极接控制输入端Vctrl,源极接地GND。
图4为输出缓冲电路的电路图。电路为全差分结构,可以看作如图5的两个具有相同输入的比较器,而每个比较器COMP结构又如图6所示,由一个电流镜放大器和两个反相器串联而成。
比较器COMP由第七PMOS管MP17、第八PMOS管MP18、第九PMOS管MP23、第十PMOS管MP27,以及第六NMOS管MN13、第七NMOS管MN14、第八NMOS管MN21和第九NMOS管MN23组成。第七PMOS管MP17和第八PMOS管MP18源极接外接电源VDD,栅极分别作为输出缓冲电路的负相和正相输入端IN-和IN+,漏极分别接第六NMOS管MN13和第七NMOS管MN14的漏极;第六NMOS管MN13漏极接第七PMOS管MP17的漏极,栅极接第七NMOS管MN14的栅极,源极接地GND;第七NMOS管MN14成二极管连接,漏极接第八PMOS管MP18的漏极,源极接地GND。第九PMOS管MP23和第八NMOS管MN21组成第一反相器,输入接第六NMOS管MN13的漏极,输出接第二反相器的输入;第十PMOS管MP27和第九NMOS管MN25组成第二反相器,输入接第一反相器的输出,输出作为输出缓冲电路的输出O+。
COMN与COMP完全对称,由第十一PMOS管MP16、第十二PMOS管MP19、第十三PMOS管MP22、第十四PMOS管MP26,以及第十NMOS管MN12、第十一NMOS管MN15、第十二NMOS管MN20和第十三NMOS管MN24组成。第十一PMOS管MP16和第十二PMOS管MP19源极接外接电源VDD,栅极分别接输出缓冲电路的正相和负相输入IN+和IN-,漏极分别接第十NMOS管MN12和第十一NMOS管MN15的漏极;第十NMOS管MN12漏极接第十一PMOS管MP16的漏极,栅极接第十一NMOS管MN15的栅极,源极接地GND;第十一NMOS管MN15成二极管连接,漏极接第十二PMOS管MP19的漏极,源极接地GND。第十三PMOS管MP22和第十二NMOS管MN20组成第三反相器,输入接第十NMOS管MN12漏极,输出接第四反相器的输入;第十四PMOS管MP26和第十三NMOS管MN24组成第四反相器,输入接第三反相器的输出,输出作为输出缓冲电路的输出O-。
如图2,out0-out9为十种相位输出,每一个延时单元(S1-S5)采用相同的结构,电路图如图3。其延时部分如图7,其中附加的PMOS管MP5和MP6通过减小负载管MP3和MP4的电流来增大电路增益,同时能将输出电平拉到接近外接电源VDD以达到大的输出摆幅并增加压控振荡器的线性。
环形振荡器频率表达式为
假设MP5和MP6一直处于线性区,可得
其中μ
p是p沟器件的沟道空穴迁移率(cm
2/V·s);
为单位面积栅氧电容(F/cm
2);W为有效沟道宽度,L为有效沟道长度;V
TP为p沟器件的阈值电压;V
SD3=V
DD-V
D3=V
DD-V
G3,V
D3为MP
3漏极电位,V
G3为MP
3栅极电位。
所以MP3和MP5的平均电导为:
如果式(2)中二次项
和常数项
之和与式(3)中二次项
相等,可得:
这里,VIN,CM是差分对的共模输入电压。
假设(W/L)3,5=(W/L)3=(W/L)5,得:
假设MN7管的漏极电压为VP,MN1和MN7皆处于饱和区。讨论最简单的情况,即差分对平分尾电流,则:
ISS为尾电流,控制输入端Vctrl为控制电压。
式(7)与(8)相除可得:
所以:
由式(1)、(6)和(10)可得:
由式(11)可以看出,fosc与Vctrl成线性关系,并且fosc的线性调节范围可达一个数量级。
相位噪声(phase noise)是抖动(jitter)在频域内的体现,使用Razavimodel,差分环形振荡器的相位噪声可以表示为:
k是玻尔兹曼常数,T是开尔文温度,R是每一级的输出电阻,ω0是振荡器的振荡频率,Δω为相对于ω0的偏移量。
将式(6)带入式(12)可得:
由式(13),通过适当设计器件尺寸,我们可以尽量减小相位噪声。除此之外,为得到低抖动和低相位噪声,我们还可以采用以如下措施:使用低噪声器件;设置合适的直流工作点;减少外部干扰和噪声;使用其他电路和添加电容。
图2中负相延时输出端OUTN和正相延时输出端OUTP得到的输出信号为未整形的正弦模拟信号,为了得到整形的方波数字时钟,需要将振荡器产生的信号转化成方波,图2中输出缓冲电路(b1-b5)用来将振荡器的模拟输出转化成数字信号。输出缓冲电路的电路如图4。
输出缓冲电路的等效结构图如图5所示,可以看作两个比较器,而每个比较器又可以如图6等效。对于比较器来说,增益、频率响应还有传输延时都是它非常重要的特性,下面将分别说明。
比较器增益表达式为:
VOH为比较器的输出高电平,VOL为比较器输出低电平,VIH为当比较器输出为VOH时的输入最低电平,VIL为当输出为VOL时最高输入电平。
如图6,比较器小信号增益为:
AV=gm1,2(ro2//ro4) (13)
其中MP17和MP18,MN14和MN13分别相同,其中:
这里,增益越大,比较器性能越好。使用准差分对结构分析,可得最大和最小输出电压:VOH=外接电源VDD,VOL=0。
因为存在电流镜,这个准差分对结构有两个极点。
输出极点:
镜像极点:
CL是输出极点的节点电容,CM是镜像极点的节点电容,传输函数可以由式(15)和(16)得到,用以分析频域特性。
输出缓冲电路采用两级反相器链来将预放大判决电路的模拟信号转化成数字信号,并提供大的负载驱动能力。
考虑反相器特性。当输入电压与输出电压相等时,称此点电压为翻转电压VSP,此时NMOS管和PMOS管都处于饱和区,漏电流相等:
其中
这里KP
n,p为n沟器件和p沟器件的沟长调制因子,W为有效沟宽,L为有效沟长,V
TN为n沟器件阈值电压,V
TP为p沟器件阈值电压。
因此可得:
考虑反相器链驱动电容负载Cload的情况,若是由一个反相器驱动,则其延时可表示为:
tPHL+tPLH=(Rn+Rp)·(Cout+Cload) (19)
R
n,p为一个MOSFET的漏源平均阻抗,
C
out为输出电容。
更进一步考虑,如果使用反相器链,每一个反相器都是前一反相器的A倍(即后一个反相器MOSFET的沟宽是前一个的A倍),适当选择A和N(N为反相器个数),可以使得延时最小。
因为每一个反相器的输入电容都是前一个反相器的A倍,如果使得负载电容是最后一个反相器A倍的话,可得:
Cin1为第一级反相器的输入电容。
反相器链的总延时可以表示为:
化简得:
这里Rn1和Rp1分别是第一级反相器p管和n管的有效电阻,Cout1是第一级反相器的输出电容。
为得到使延时最小的N值,将式(22)以为N参数求导,并使之为零得:
第一项为第一级反相器的内部延时(不考虑负载电容),假设它的值非常小,可以忽略,因此使延时最小的N值表示为:
在这里,我们选择的N=2,两级反相器可以保证在不牺牲速度的情况下大的电容驱动能力。从式(24)可以得知,适当选择W/L可以得到最小的传输延时。
图2中MP8、MN10与MP9、MN11皆为恒流源负载的共源放大器,其作用是隔离比较器大的W/L对延时电路造成的电容加载,同时对信号进行预放大,使得输出方波占空比接近50%。
以上所述为本发明的较佳实施例而已,但本发明不应该局限于该实施例和附图所公开的内容。所以凡是不脱离本发明所公开的精神下完成的等效或修改,都落入本发明保护的范围。