CN101226233B - 芯片测试机构的测试方法及其装置 - Google Patents

Abstract

本发明一种芯片测试机构的测试方法及其装置。其中芯片测试机构具有绝缘测试座与芯片压制金属块。绝缘测试座被至少一接脚贯穿，此接脚具有第一端部与第二端部，且绝缘测试座曝露出第一端部与第二端部。芯片压制金属块具有至少一压制部，此压制部适于电性连接第一端部。此测试装置包括电源供应单元与至少一发光元件。电源供应单元用以供应电源电压，而此发光元件用以电性连接于电源电压与第二端部之间，当压制部电性连接第一端部且芯片压制金属块电性连接至共同电位时，发光元件发光。

Description

芯片测试机构的测试方法及其装置

技术领域

本发明涉及一种芯片测试机构的测试方法及其装置，且特别是有关于一种可同时检测多个芯片测试机构接脚的测试方法及其机构。

背景技术

芯片测试机构，广泛地应用在集成电路芯片的各种测试场合，用以辅助测试集成电路芯片的各脚位功能是否正常。

举例来说，假设所欲测试的芯片是6个接脚，如图1所示。图1为6接脚芯片的俯视图。因此，一般典型的芯片测试机构的侧视剖面图，如图2所示。请参照图2，其包括绝缘测试座110(即一般所谓的socket)、金属对位件120与芯片压制金属块130，且绝缘测试座110被接脚(如140所示)所贯穿。由于绝缘测试座110是为了测试6接脚芯片，因此共有6个接脚140贯穿绝缘测试座110，且如图2所示般地成对贯穿绝缘测试座110。当芯片放置在区域150中的时候，使用者就可以将芯片压制金属块130朝方向160压制芯片，以进行芯片接脚的测试。

然而，若是绝缘测试座110的接脚140有所损坏，例如接触不良或是阻抗太大，进而影响芯片接脚的检测时，就必须利用电表来检测接脚140，以汰换不良的接脚140，或是干脆更新绝缘测试座110(包含所有接脚140)。若是采取后者，为了确保芯片接脚检测结果的可信赖度，最终还是必须以电表来一一检测接脚140，以确认各接脚140是否完好，然后才能继续检测芯片接脚。

因此，若是绝缘测试座110的接脚140有所损坏，往往因为必须利用电表来进行检测，而使得修复的工作显得耗时费工。以另一观点来说，此种型式的芯片测试机构检测方式，对于分秒必争的科技业而言，也必须付出额外的时间成本，而绝缘测试座110的接脚140越多，所付出的时间成本也相对增加。故如何有效率地对芯片测试机构进行检测，以减少时间成本，是各家业者急需解决的问题。

发明内容

本发明的目的就是提供一种芯片测试机构的测试方法及其装置，其可同时检测多个芯片测试机构接脚，提高检测的效率。

本发明的再一目的是提供一种芯片测试机构的测试方法及其装置，其可使维修人员易于维修。

本发明的又一目的是提供一种芯片测试机构的测试方法及其装置，其可使维修人员易于检视维修后的品质。

基于上述及其它目的，本发明提出一种芯片测试机构的测试装置。其中芯片测试机构具有绝缘测试座与芯片压制金属块。绝缘测试座被至少一接脚贯穿，此接脚具有第一端部与第二端部，且绝缘测试座曝露出第一端部与第二端部。芯片压制金属块具有至少一压制部，此压制部适于电性连接第一端部。此芯片测试机构的测试装置包括电源供应单元与至少一发光元件。电源供应单元用以供应电源电压，而此发光元件用以电性连接于电源电压与第二端部之间，当压制部电性连接第一端部且芯片压制金属块电性连接至共同电位时，发光元件发光。

基于上述及其它目的，本发明提出一种芯片测试机构的测试方法。其中芯片测试机构具有绝缘测试座与芯片压制金属块。绝缘测试座被至少一接脚贯穿，此接脚具有第一端部与第二端部，且绝缘测试座曝露出第一端部与第二端部。芯片压制金属块具有至少一压制部，此压制部适于电性连接第一端部。此芯片测试机构的测试方法包括将芯片压制金属块电性连接至共同电位，然后供应一电源电压，接着再将至少一发光元件电性连接于电源电压与第二端部之间，使得当压制部电性连接第一端部时，发光元件能发光。

依照本发明较佳实施例所述的芯片测试机构的测试方法及其装置，上述的发光元件以发光二极管(light emitting diode，简称LED)来实施，且发光二极管的阳极电性连接电源电压，而阴极电性连接上述的第二端部。

本发明因将芯片压制金属块电性连接至共同电位，然后供应一电源电压，接着再将至少一发光元件电性连接于电源电压与各自对应的接脚的第二端部之间，使得当芯片压制金属块的压制部电性连接于上述发光元件的对应接脚的第一端部时，该对应的发光元件能发光。故本发明可同时检测多个芯片测试机构接脚，进而提高检测的效率。以其它观点而言，本发明还可使维修人员易于维修，亦使得维修人员易于检视维修后的品质，同时还可降低业者的时间成本。

为让本发明的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

图1为6接脚芯片的俯视图；

图2为芯片测试机构的侧视剖面图；

图3为依照本发明一较佳实施例的测试装置的耦接示意图；

图4为依照本发明一较佳实施例的测试方法的流程图；

图5为图3的接脚损坏示意图。

【主要元件符号说明】

110：绝缘测试座

120：金属对位件

130：芯片压制金属块

140、141、142：接脚

143、145：第一端部

144、146：第二端部

147、148：压制部

150：区域

160：方向

310：芯片测试机构的侧视剖面

321、322：发光元件

323、324：电阻

325：开关单元

326：电源供应单元

501：标号

GND：共同电位

IN：交流电源

PV：电源电压

具体实施方式

以下描述本发明的较佳实施模式，此描述非用于限制本发明，只为描述本发明实施例的一般原则，而本发明的保护范围由申请专利范围定义。另外，为了描述的方便，以下以图2所示的芯片测试机构侧视剖面图来列举本发明的实施模式，且假设此芯片测试机构用以测试只有二个接脚的芯片。在下述的例子中，省略芯片测试机构的细部结构，以免模糊本发明的描述。

图3为依照本发明一较佳实施例的测试装置的耦接示意图。请参照图3，其中标号310所涵盖的部分就是芯片测试机构的侧视剖面，而其余的部分为本发明的测试装置。此芯片测试机构包括绝缘测试座110、金属对位件120与芯片压制金属块130，且绝缘测试座110被接脚141与142所贯穿。接脚141具有第一端部143与第二端部144，而接脚142具有第一端部145与第二端部146。此绝缘测试座110曝露出第一端部143、145与第二端部144、146。芯片压制金属块130具有压制部147与148，而压制部147与148适于分别电性连接第一端部143与145。

请依照说明的需要而同时参照图3、以及图4所示的依照本发明一较佳实施例的测试方法的流程图。为了检测接脚141与142是否良好，可先将芯片压制金属块130电性连接至共同电位GND(如图4的步骤401)。然后，再供应一个电源电压PV(如图4的步骤402)。接着，再将发光元件321电性连接于电源电压PV与接脚141的第二端部144之间，以及将发光元件322电性连接于电源电压PV与接脚142的第二端部146之间(如图4的步骤403)。在此实施例中，发光元件321与322皆是以发光二极管来实施，且发光二极管的阳极电性连接电源电压PV，而阴极则电性连接至对应的第二端部。

如此一来，当芯片压制金属块130的压制部147与148分别电性连接第一端部143与145时，则发光元件321与322就能够发光，然而当绝缘测试座110的接脚有所损坏时，如图5的标号501所示(图5为图3的接脚损坏示意图)，那么发光元件322就不会亮。请参照图3，再假设另一个情况，若第一端部143与压制部147、以及第一端部145与压制部148皆能够正常接触，然而接脚142却具有高阻抗(例如呈现半断裂的情况)，那么发光元件322的亮度就会较发光元件321来得暗。

由此可知，只要制作一次本发明的测试装置，那么只要使用者往后有需要再检测具有相同接脚数目的芯片测试机构时，就可利用本测试装置以目视的方式来检测接脚的良好与否，并可以马上针对发光元件不亮或是亮度太暗的对应接脚进行更换，方便至极。

若欲避免发光元件321与322太容易烧坏，使用者还可以分别加上限制电流用的阻抗装置，例如电阻323与324。另外，使用者更可在电源电压PV的供电路径上加上一个开关单元325，例如加在电源电压PV与发光元件321、322的阳极之间，使得使用者可以依照操作的需要而随时开启或关闭本测试装置。然而必须说明的是，上述开关单元325的摆置位置并非用以限定本发明。

在上述实施例中，电源电压PV是由电源供应单元326来提供，此电源供应单元326负责将交流电源IN(例如一般室内专用的110伏特交流电源或是220伏特交流电源)转换为直流形式的电源电压PV。当然，此电源供应单元326也可以是负责将直流电源转换为上述的电源电压PV。甚至，使用者也可直接以电池来供应电源电压PV。此外，使用者也可以利用排线来电性连接发光二极管的阴极与接脚的第二端部。

经由前述的教示可知，采用本发明的测试装置及其方法，使用者便可对测试结果一目了然，省去耗时费工的检测。因此，使用者当可依照绝缘测试座的接脚数目，并按照前述的方式来制作出合适的测试装置，在此便不再重复赘述。总之，只要是将芯片压制金属块电性连接至共同电位，然后利用多个电性连接至电源电压的发光元件来同时检测多个绝缘测试座的接脚的良好与否，就已经是符合本发明的精神。

本发明因将芯片压制金属块电性连接至共同电位，然后供应一电源电压，接着再将至少一发光元件电性连接于电源电压与各自对应的接脚的第二端部之间，使得当芯片压制金属块的压制部电性连接于上述发光元件的对应接脚的第一端部时，该对应的发光元件能发光。故本发明可同时检测多个芯片测试机构接脚，进而提高检测的效率。以其它观点而言，本发明还可使维修人员易于维修，亦使得维修人员易于检视维修后的品质，同时还可降低业者的时间成本。

虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

Claims (9)

1.一种芯片测试机构的测试装置，其特征在于该芯片测试机构具有一绝缘测试座与一芯片压制金属块，该绝缘测试座被至少一接脚贯穿，该接脚具有一第一端部与一第二端部，且该绝缘测试座曝露出该第一端部与该第二端部，该芯片压制金属块具有至少一压制部，该压制部适于电性连接该第一端部，该芯片测试机构的测试装置包括：

一电源供应单元，用以供应一电源电压；以及

至少一发光元件，用以电性连接于该电源电压与该第二端部之间，当该芯片压制金属块电性连接至一共同电位时，倘若该压制部可以电性连接至该第一端部，则该发光元件透过该接脚与该芯片压制金属块导通至该共同电位并据以发光，反之，倘若该压制部无法电性连接至该第一端部，则该发光元件无法导通至该共同电位且无法发光。

2.如权利要求1所述的芯片测试机构的测试装置，其特征在于，还包括至少一阻抗装置，该阻抗装置电性连接于该电源电压与该发光元件之间。

3.如权利要求2所述的芯片测试机构的测试装置，其特征在于，所述阻抗装置包括一电阻。

4.如权利要求1所述的芯片测试机构的测试装置，其特征在于，所述电源电压为直流形式的电源电压。

5.如权利要求1所述的芯片测试机构的测试装置，其特征在于，还包括一开关单元，该开关单元电性连接于该电源电压与该发光元件之间。

6.一种芯片测试机构的测试方法，其特征在于，该芯片测试机构具有一绝缘测试座与一芯片压制金属块，该绝缘测试座被至少一接脚贯穿，该接脚具有一第一端部与一第二端部，且该绝缘测试座曝露出该第一端部与该第二端部，该芯片压制金属块具有至少一压制部，该压制部适于电性连接该第一端部，该芯片测试机构的测试方法包括下列步骤：

将该芯片压制金属块电性连接至一共同电位；

供应一电源电压；以及

将至少一发光元件电性连接于该电源电压与该第二端部之间，使得当该压制部电性连接该第一端部时，则该发光元件透过该接脚与该芯片压制金属块导通至该共同电位并据以发光，且当该压制部无法电性连接至该第一端部时，则该发光元件无法导通至该共同电位且无法发光。

7.如权利要求6所述的芯片测试机构的测试方法，其特征在于，还包括将至少一阻抗装置电性连接于该电源电压与该发光元件之间。

8.如权利要求7所述的芯片测试机构的测试方法，其特征在于，所述阻抗装置包括一电阻。

9.如权利要求6所述的芯片测试机构的测试方法，其特征在于，所述电源电压为直流形式的电源电压。

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