一种故障诊断卡
技术领域
本实用新型属于CPU故障诊断领域,尤其涉及一种故障诊断卡。
背景技术
当前DDR已发展到DDR4,内存条的pin针数越来越多, DDR4 260PIN、UDIMM(Unbuffered Dual In-Line Memory Modules or unregistered Dual In-Line MemoryModules,无缓冲双通道内存模块) DDR4更是达到288pin,生产中经常会碰到内存座子或者CPU(Central Processing Unit,中央处理器)焊锡不良导致的不开机问题,但是信号线过多又不方便量测,影响debug调试进度以及维修进度。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种故障诊断卡,旨在解决不能诊断CPU是否焊接不良的技术问题。
本实用新型是这样实现的,一种故障诊断卡,所述故障诊断卡包括用于插入内存卡卡槽内并且与内存卡卡槽匹配的PCB板,所述PCB板上设置有用检测内存卡卡槽是否损坏的检测电路,所述PCB板的两端均设置有与内存卡卡槽相匹配使用的金手指,所述检测电路包括LED灯模块,连接所述LED灯模块的开关,连接所述开关的电源,所述LED灯模块的阴极连接所述金手指,所述电源阳极连接GND。
本实用新型的进一步技术方案是:所述LED灯模块为用于检测DDR3或DDR3L上的115个信号点及检测DDR4上的117个信号点的LED灯。
本实用新型的进一步技术方案是:所述LED灯为121个。
本实用新型的进一步技术方案是:所述PCB板一端上的所述金手指为与DDR3或DDR3L相匹配个数的金手指,所述PCB板另一端上的所述金手指为与DDR4相匹配个数的金手指。
本实用新型的有益效果是:此种诊断卡可以兼容DDR3/DDR3L/DDR4 SO-DIMM内存类型主板,可以快速的诊断CPU是否焊接不良,提高快速排错以及快速维修的效率,节省人力物力,诊断卡具有控制简单,电子元件种类少、兼容好等优势特点。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的一种故障诊断卡的结构图;
图2是本实用新型实施例提供的一种故障诊断卡的电气原理图;
图3是本实用新型实施例提供的一种故障诊断卡的DDR4信号点示意图一;
图4是本实用新型实施例提供的一种故障诊断卡的DDR4信号点示意图二;
图5是本实用新型实施例提供的一种故障诊断卡的DDR3信号点示意图;
图6是本实用新型实施例提供的一种故障诊断卡的使用原理示意图。
具体实施方式
附图标记:1-PCB板 2-金手指 3-LED灯 4-开关 5-电源。
图1-5示出了本实用新型提供的一种故障诊断卡,所述故障诊断卡包括用于插入内存卡卡槽内并且与内存卡卡槽匹配的PCB( Printed Circuit Board,印刷电路板)板1,所述PCB板1上设置有用检测内存卡卡槽是否损坏的检测电路,所述PCB板1的两端均设置有与内存卡卡槽相匹配使用的金手指2,所述检测电路包括LED(Light-Emitting Diode,发光二极管)灯模块,连接所述LED灯模块的开关4,连接所述开关4的电源5,所述LED灯模块的阴极连接所述金手指2,所述电源5阳极连接GND。
所述LED灯模块为用于检测DDR3或DDR3L上的115个信号点及检测DDR4上的117个信号点的LED灯3。
所述LED灯3为121个。
所述PCB板1一端上的所述金手指2为与DDR(Double Data Rate双倍速率同步动态随机存储器)3或DDR3L相匹配个数的金手指2,所述PCB板1另一端上的所述金手指2为与DDR4相匹配个数的金手指2。
此种故障诊断卡是由一块PCB板1,PCB板1的两侧分别为DDR3和DDR4内存条类型的金手指2。DDR4需检测117个信号点,DDR3和DDR3L需要检测115个信号点,其中DDR3和DDR3L有4个信号不与DDR4共用,需要单独接出来,故PVB板1上有117个LED灯3加上4个LED灯3共121个LED灯3通过一个开关4和电池连接,另PCB板1上有一些非共有信号和POWER测试点,可协助量测主板端讯号;LED灯3的阴极与内存条卡槽上的各个信号线相连;将LED灯3的阳极与电池的负极相连;将电池的阳极与电脑主板的GND相连。当按下开关4时,LED灯3与内存信号、电池一起形成一个回路,当内存信号正常时LED灯3则会亮起。
本故障诊断卡主要是根据内存信号在主板上的特定阻抗,通过LED灯3的亮与灭判断信号线的通断,诊断卡上的电池作为LED灯3的电源5,当信号线正常时,对应的LED灯3可以形成回路,按下开关4时LED灯3就会亮起;当信号线阻抗异常时,对应的LED灯3不能形成回路, LED灯3为灭的状态。
而目前的DDR3/DDR3L和DDR4在数据线和数据同步以及时钟信号是完全一样的,利用此点完全可以做兼容设计,诊断卡的金手指在两边外侧分别对应DDR3内存条和DDR4内存条的金手指,并且金手指开口设计自带防呆特点,诊断时对应插入相应的内存条卡槽内,按下开关即可。
此种故障诊断卡可以兼容DDR3/DDR3L/DDR4 SO-DIMM内存类型主板,可以快速的诊断CPU是否焊接不良,提高快速排错以及快速维修的效率,节省人力物力,诊断卡具有控制简单,电子元件种类少、兼容好等优势特点。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。