CN101201859A - 测试点选择模块及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试点选择模块及方法。本发明将每一个预设输入单元分别对应电路板上的其中一个测试点。接着，利用检测单元将被使能的预设输入单元与对应表进行比对，以选择在电路板上对应的测试点进行设计。如此一来，在选择测试点上将更快速，且可降低错误率。

Description

测试点选择模块及方法

技术领域

本发明是有关于一种测试点选择方法，且特别是有关于一种将测试点模块化的测试点选择模块及方法。

背景技术

一般而言，在半导体制程中，有许多因素会影响制造出来的产品是否可用，为了确保产品品质，几乎所有产品在出厂前均需要经过一系列的测试。因此，在设计电路时，为了使得产品的功能运作正常，必须考虑配合生产完成后的测试需求，在印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)上预先加入测试点或测试结构。

而由于测试点有很多种，依照电流的不同或是高速线的不同，所选择的测试点便会有所不同。因此，便必须选择适当的测试点。而当布局工程师在手动加测试点时，是使用列表方式来选择测试点，且常常因为要切换测试点而浪费时间，并且也容易选错测试点。

发明内容

本发明提供一种测试点选择模块，利用使用者界面以进行选择测试点的动作，提供简便的操作方法。

本发明提供一种测试点选择方法，将预设输入单元设定一对应的测试点，以获得对应表，当预设输入单元被使能时，即可根据对应表来选择测试点。

本发明提出一种测试点选择模块，适用于电路板的配线设计，而测试点选择模块包括使用者界面、检测单元以及存储单元。其中，使用者界面是用以提供多个预设输入单元，其中每一个预设输入单元分别对应电路板上的其中一个测试点。而存储单元是用以存储至少一个对应表。检测单元则是用以将使用者界面上被使能的预设输入单元与从对应表中进行比对，以选择在电路板上对应的测试点进行设计。

从另一观点来看，本发明提出一种测试点选择方法，适用于电路板的配线设计，而测试点选择方法首先设定多个预设输入单元，而每一个预设输入单元分别对应电路板上的其中一个测试点。最后，将被使能的预设输入单元与对应表进行比对，以选择在电路板上对应的测试点进行设计。

本发明因利用设定使用者界面对应测试点，以获得对应表。因此，对应表设定完成后，即可利用使用者界面来选择测试点，并且可依照不同的需求设定不同的对应表。如此一来，在选择测试点上将更快速，且可降低错误率。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1是依照本发明一实施例的测试点选择模块的方块图。

图2是依照本发明一实施例的测试点选择方法的流程图。

具体实施方式

为方便说明，以下实施例的测试点例如是贯穿孔，然此领域具有通常知识者也可以视其需求而将本发明实施于各种测试点。

图1是依照本发明一实施例的测试点选择模块的方块图。请参照图1，测试点选择模块100包括使用者界面101、检测单元103、操作单元105以及存储单元107。测试点选择模块100是利用使用者界面101来快速选择测试点，类似于热键功能。其中，利用操作单元105来设定使用者界面101中的多个预设输入单元(未绘示)分别对应于哪一个测试点，再将设定的结果存储至存储单元107，并提供给检测单元103进行比对。而检测单元103便依照设定的结果，来选择测试点。

使用者界面101提供多个预设输入单元，其中每一个预设输入单元分别对应电路板上的其中一个测试点，使用者界面101则例如是键盘。另外，当预设输入单元被使能时，则产生使能信息并传送至检测单元103，以供其进行后续动作之用。

检测单元103是用来将使用者界面101上被使能的预设输入单元与对应表进行比对，以选择在电路板上对应的测试点进行设计。换言之，当检测单元103自使用者界面101检测到有预设输入单元被使能时，即根据预设输入单元的使能信息，自对应表中寻找与此预设输入单元配对的测试点，以进行电路板的配线设计。

操作单元105是用来设定对应表，并从使用者界面建立对应表至存储单元107，且将对应表提供给检测单元103进行比对。通过操作单元105将常用的测试点为其设定一个对应的预设输入单元，即设定成为一对一的组合。并将此对应表存储至存储单元107。换言之，即类似于设定热键功能。另外，操作单元105也可自存储单元107中，载入之前已设定的对应表，以提供给检测单元103对照使用。

存储单元107是用来存储对应表，且对应表可以有很多组，可根据不同的需求有不同的对应表。举例来说，不同功能的印刷电路板，其常用的测试点也有会有所不同，因此，便可设定多组对应表存放至存储单元107，日后使用到相同功能的印刷电路板，便可自存储单元107中找出对应的对应表来使用。

另外，测试点的分类，例如可根据焊垫(Pad)尺寸以及孔径尺寸来进行分类。举例来说，测试点可能有“VIA-20-10”以及“VIA-30-15”，则“VIA”代表测试点为贯穿孔，中间数字即代表焊垫尺寸，而最右方的数字则代表贯穿孔的孔径尺寸。然在此仅为方便说明，本实施例并限制其范围。

以下即搭配上述实施例的测试点选择模块100，以进一步说明测试点选择方法的各步骤。图2是依照本发明一实施例的测试点选择方法的流程图。请同时参照图1及图2，步骤S210利用操作单元105来设定对应表，将使用者界面101的预设输入单元搭配一个常用的测试点。另外，根据常用的测试点的数量来决定欲设定的预设输入单元数量的多寡，且一个测试点对应一个预设输入单元。

举例来说，以键盘而言，在设定对应表时，可事先将键盘上预设按键的使能信息存放至数据库中，待设定时，将使能信息自数据库载入，再根据使用者的习惯去填入对应的测试点。另外，也可在设定时，按下欲设定的按键，以接收其使能信息来进行设定。然在此仅为方便说明，本发明并不限制设定对应表的方法。

接着，步骤S220利用操作单元105将设定好的对应表存储至存储单元107中的数据库，待日后遇到相同需求时，便可直接自数据库中载入。而对应表设定完成后，即可将对应表提供给检测单元103，以进行比对之用。

另外，对应表设定完成后，可同时将对应表存储至数据库，并将对应表提供给检测单元103以进行步骤S240。亦或是待对应表存储完毕后，再进行步骤S240。然在此并不限制其范围。

而除了建立新的对应表之外，也可使用已经设定完成的对应表，步骤S230即是利用操作单元105自数据库中载入已存在的对应表，并将此对应表提供给检测单元103进行对照使用。

值得一提的是，在设定对应表时，可直接重新设定一个新的对应表，也可自数据库中载入已存在的对应表。当载入已存在的对应表时，可依照使用需求来更改此对应表。例如，更改对应的测试点，而预设输入单元不改，或是更改预设输入单元，而对应的测试点不改。并且可于存在的对应表新增一组或多组预设输入单元与对应的测试点。然在此并不限制其范围。

然后，步骤S240即利用检测单元103检测被使能的预设输入单元。即是检测是否有来自使用者界面101所发送的使能信息，以执行步骤S250。例如是按下按键，则按键将送出使能信息，以通知检测单元103。

最后，步骤S250即是检测单元103根据被使能的预设输入单元来查询对应表，以切换至对应的测试点。举例来说，以键盘为例，即是利用电脑程序来设定，将欲使用的测试点分别以键盘上的按键设定好，待欲选择测试点时，只要按下对应的按键即可。

为了更明确地表达上述概念，以下再举一例说明。以键盘为例，假设常用的测试点有“VIA-20-10”以及“VIA-30-15”两种类型。首先设定对应表，将按键“A”设定成对应测试点“VIA-20-10”，而设定按键“B”对应测试点“VIA-30-15”，并且将对应表存储至数据库中，为其取一个文件名。接着，便可根据电流的不同以及高速线的不同，来选择测试点。若欲选择测试点类型“VIA-20-10”，则按下按键“A”，当检测单元103检测到按键“A”的使能信息，即会至对应表选择按键“A”所对应的测试点“VIA-20-10”。同理，若欲选择测试点“VIA-30-15”，则按下按键“B」。

综上所述，本发明的测试点选择模块及方法，由于利用使用者界面来选择测试点，因此至少具有下列优点：

1.降低人为错误的产生。

2.在选择测试点上，更快速且方便。

虽然本发明已以较佳实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许更动与润饰，因此本发明的保护范围当以权利要求所界定的为准。

Claims (10)

1.一种测试点选择模块，适用于一电路板的配线设计，而该测试点选择模块包括：

一使用者界面，提供多个预设输入单元，其中每一该些预设输入单元分别对应该电路板上的测试点其中之一；

一存储单元，用以存储至少一对应表；以及

一检测单元，将该使用者界面上被使能的预设输入单元与该对应表进行比对，以选择在该电路板上对应的测试点进行设计。

2.如权利要求1所述的测试点选择模块，其特征在于，还包括一操作单元，用以从该使用者界面建立该对应表至该存储单元，且提供该对应表供该检测单元进行比对。

3.如权利要求2所述的测试点选择模块，其特征在于，该操作单元还包括自该存储单元载入该对应表。

4.如权利要求1所述的测试点选择模块，其特征在于，该使用者界面为键盘。

5.如权利要求1所述的测试点选择模块，其特征在于，该测试点包括一焊垫尺寸以及一孔径尺寸。

6.一种测试点选择方法，适用于一电路板的配线设计，而该测试点选择方法包括下列步骤：

设定多个预设输入单元，而每一该些预设输入单元分别对应该电路板上的测试点其中之一；以及

将被使能的预设输入单元与一对应表进行比对，以选择在该电路板上对应的测试点进行设计。

7.如权利要求6所述的测试点选择方法，其特征在于，还包括设定该对应表。

8.如权利要求6所述的测试点选择方法，其特征在于，还包括存储该对应表至一数据库。

9.如权利要求8所述的测试点选择方法，其特征在于，还包括自该数据库载入该对应表。

10.如权利要求6所述的测试点选择方法，其特征在于，该测试点包括一焊垫尺寸以及一孔径尺寸。

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