CN101183137B - 探针式电路板测试制具的固定方法 - Google Patents

Abstract

一种探针式电路板测试制具的固定方法，包括以下步骤：步骤1，提供一测试制具，其具有数个测试探针；步骤2，提供一待测试电路板，其设有电子卡连接器及数个测试接点；步骤3，安装测试制具于电子卡连接器上以将测试制具固定于电路板上，同时电性连接测试制具的测试探针与电路板的测试接点；及步骤4，通过测试制具的测试探针与测试接点的电性连接读取待测电路板的测试数据。本发明探针式电路板测试制具的固定方法通过将测试制具做成具有电子卡的外部结构，从而可固定于电路板的电子卡的连接器上，并在测试制具上设数个探针，利用探针与电路板上的测试接点电性连接将测试信号读入测试制具，其不需要通过打孔或者焊接来固定测试制具，简化了很多测试工序，提高了工作效率，也不需要占用电子卡卡槽的脚位，即便后续电子卡有功能升级需要使用之前没有使用的端子，也不必更改测试制具。

Description

探针式电路板测试制具的固定方法

技术领域

本发明关于一种探针式电路板测试制具的固定方法，尤其是指一种利用待测电路板上电子卡连接器进行安装的探针式电路板测试制具的固定方法。

背景技术

为了方便调试和了解系统的工作情况，复杂的电路板上一般都设有用于测试的信号线。这些测试信号线连接到电子卡插槽的预留的端子上，然后将测试制具做成电子卡的外部结构，安置在连接器上，利用插槽内预留端子与测试制具的电性连接，将测试信号读入到测试制具。

然而，在电子卡连接器的预留端子用于功能升级之后，测试信号线则不能与预留端子连接，此时不得不重新设计测试信号线的输出点与测试制具，这给测试工作带来很大的不便，而且新设计的测试制具跟以前设计的系统板不再兼容，给工程上带来极大的不便，降低了工作效率。

为解决上述测试方式受功能升级影响的问题，将测试信号线连接到专门用于测试的接点上。通过将测试接点与测试制具的探针连接来读取测试信号。然而，该测试制具的固定需要通过焊接或者额外打孔来实现，如果通过焊接，那么每次的效率会非常低，如果通过额外打孔来固定测试制具，那么就会影响系统板上的走线。因此，该种探针式电路板测试制具的使用仍是非常不便。

发明内容

因此，本发明的目的在于提供一种探针式电路板测试制具的固定方法，其利用待测电路板上电子卡连接器来固定该探针式电路板测试制具，从而方便测试制具的固定，提高了测试效率。

为实现在上述目的，本发明提供一种探针式电路板测试制具的固定方法，包括以下步骤：

步骤1，提供一测试制具，其具有数个测试探针；

步骤2，提供一待测试电路板，其设有电子卡连接器及数个测试接点；

步骤3，安装测试制具于电子卡连接器上以将测试制具固定于电路板上，同时电性连接测试制具的测试探针与电路板的测试接点；

步骤4，通过测试制具的测试探针与测试接点的电性连接读取待测电路板的测试数据。

所述的探针式电路板测试制具的固定方法，其中，该测试制具包括可插入电子卡连接器的插槽的插接部与可与电子卡连接器固定件配合的固定部。

所述的探针式电路板测试制具的固定方法，其中，在步骤3中，安装测试制具于电子卡连接器上，包括以下步骤：

将测试制具的插接部斜插入连接器的插槽里；

按下测试制具的固定部，使其与连接器的固定件配合，以将测试制具固定于连接器上。

所述的探针式电路板测试制具的固定方法，其中，该测试制具还包括可与电子卡连接器定位件配合的定位部。

所述的探针式电路板测试制具的固定方法，其中，在步骤3中，安装测试制具于电子卡连接器上，还包括以下步骤：按下测试制具的定位部，使其与连接器的定位件配合以将测试制具定位于连接器上。

所述的探针式电路板测试制具的固定方法，其中，该插接部设于测试制具的一端，固定部则位于测试制具的另一端，而定位部则是靠近固定部的通孔。

所述的探针式电路板测试制具的固定方法，其中，该数个测试探针设于插接部与设固定部之间，且在测试制具相对于测试探针的另一侧面上设有数个输出端子。

综上所述，本发明探针式电路板测试制具的固定方法不需要利用电子卡连接器预留测试端子，而是通过将测试制具安置在电子卡连接器中，利用测试探针与电路板上的测试接点接触并电性连接将测试信号数据读入测试制具，因此，后续若电子卡有功能升级需要使用之前没有使用的端子，不需更改测试制具，同时，也不需要通过焊接或者打孔来固定测试制具，使测试工序大为简便，大大提高了工作效率。

附图的简要说明

下面结合附图，通过对本实用新型的具体实施方式详细描述，将使本实用新型的技术方案及其他有益效果显而易见。

附图中，

图1是本发明探针式电路板测试制具的固定方法流程图；

图2是本发明探针式电路板测试制具的安装过程示意图；

图3是本发明探针式电路板测试制具的固定示意图。

具体实施方式

如图1-3所示，本发明探针式电路板测试制具的固定方法，包括以下步骤：

步骤1，提供一测试制具10，其具有数个测试探针12；

步骤2，提供一待测试电路板20，其设有电子卡连接器22及数个测试接点24：

步骤3，安装测试制具10于电子卡连接器22上以将测试制具10固定于电路板20上，同时电性连接测试制具10的测试探针12与电路板20的测试接点24；

步骤4，通过测试制具10的测试探针12与测试接点24的电性连接读取待测电路板的测试数据。

该电子卡连接器22可为现有各种电子卡连接器，例如Mini-PCIE，Mini-PCI，SoDIMM等。如图2所示，在本实施例中，该电子卡连接器22包括：可供电子卡插接的插槽(图未示)、固定件26与定位件28。在本实施例中，该固定件26为一对卡扣，而定位件28为一对定位柱。

该测试制具10包括可插入电子卡连接器的插槽的插接部14、可与电子卡连接器固定件26配合的固定部16、及可与电子卡连接器22定位件28配合的定位部18。该插接部14设于测试制具的一端，而固定部16为设于测试制具另一端的端部，定位部18则为靠近固定部16的一对通孔。该数个测试探针12设于插接部14与固定部16之间，且在测试制具10相对于测试探针12的另一侧面上设有数个输出端子19以将测试数据输出。

所述的探针式电路板测试制具的固定方法，在步骤3中，安装测试制具10于电子卡连接器22上，包括以下步骤：

将测试制具10的插接部14斜插入连接器22的插槽里；

按下测试制具10的定位部18，使其与连接器的定位件28配合以将测试制具10定位于连接器22上；及

按下测试制具10的固定部16，使其与连接器的固定件26配合，以将测试制具10固定于连接器22上。

作为一个更具体的例子，安装测试制具10于电子卡连接器22包括以下步骤：

首先，将测试制具10的一端斜插入连接器22的插槽里；

其次，按下测试制具10的另一端，使其上通孔18对准连接器22的定位柱28；

最后，进一步按下测试制具10的该另一端，使其端部16边缘滑过卡扣26，并卡于卡扣26上。

另外，测试制具10也可方便的从连接器22中取下，其通过按下对应于卡扣26设置的释放扣30，利用弹性使卡扣26从测试制具10的端部16边缘松脱，这样可方便的将测试制具10从连接器22中取下。

本发明通过测试制具10设有用于与电子卡连接器对接固定的外部结构及数个测试探针32，方便地将测试制具10固定于待测电路板10上，测试制具10与连接器没有任何电性连接，不需要利用连接器22插槽内预留端子读入测试信号数据，因此，不受电路板升级的影响。所以，后续即便电子卡有功能升级需要使用之前没有使用的端子，不需更改测试制具10，同时，也不需要通过焊接或者打孔来固定测试制具10，使测试工序大为简便，大大提高了工作效率。

以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本实用新型的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本实用新型后附的权利要求的保护范围。

Claims (4)

1.一种探针式电路板测试制具的固定方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，提供一测试制具，其具有数个测试探针；

步骤2，提供一待测试电路板，其设有电子卡连接器及数个测试接点，电子卡连接器包括插槽、固定件及定位件；

步骤3，安装测试制具于电子卡连接器上以将测试制具固定于电路板上，同时电性连接测试制具的测试探针与电路板的测试接点；

步骤4，通过测试制具的测试探针与测试接点的电性连接读取待测电路板的测试数据；

其中：该测试制具包括可插入电子卡连接器的插槽的插接部与可与电子卡连接器固定件配合的固定部；

该测试制具还包括可与电子卡连接器定位件配合的定位部；

该插接部设于测试制具的一端，固定部为测试制具的另一端的端部，而定位部为靠近固定部的通孔。

2.如权利要求1所述的探针式电路板测试制具的固定方法，其特征在于，在步骤3中，安装测试制具于电子卡连接器上，包括以下步骤：

将测试制具的插接部斜插入连接器的插槽里；

按下测试制具的固定部，使其与连接器的固定件配合，以将测试制具固定于连接器上。

3.如权利要求1所述的探针式电路板测试制具的固定方法，其特征在于，在步骤3中，安装测试制具于电子卡连接器上，还包括以下步骤：按下测试制具的定位部，使其与连接器的定位件配合以将测试制具定位于连接器上。

4.如权利要求1所述的探针式电路板测试制具的固定方法，其特征在于，该数个测试探针设于插接部与固定部之间，且在测试制具相对于测试探针的另一侧面上设有数个输出端子。

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