CN101165460A - 电涡流位移/振动传感器系统校验仪 - Google Patents

电涡流位移/振动传感器系统校验仪 Download PDF

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CN101165460A CNA2006101173963A CN200610117396A CN101165460A CN 101165460 A CN101165460 A CN 101165460A CN A2006101173963 A CNA2006101173963 A CN A2006101173963A CN 200610117396 A CN200610117396 A CN 200610117396A CN 101165460 A CN101165460 A CN 101165460A
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徐健
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SHANGHAI RUISHI INSTRUMENT ELECTRONICS CO Ltd
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  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

本发明涉及一种电涡流位移/振动传感器系统校验仪,包括:驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、精密磨床磨制测试斜盘;所述的驱动模块主控制单元与两对极的旋变和闭环驱动控制连接,两对极的旋变和闭环驱动控制与精密磨床磨制测试斜盘连接;本发明的有益效果是:在高速电流伺服单元和速度伺服单元的控制下,实现更高精度、更快响应的伺服控制,两对极的旋变和闭环驱动控制(军用雷达控制技术),转速范围1~6000r/min,精度0.16‰。

Description

电涡流位移/振动传感器系统校验仪
技术领域
本发明涉及一种电涡流位移/振动传感器系统校验仪。
背景技术
迄今为止,在电力(火/水电厂)、石化、冶金等大型旋转机械设备行业,国外/国内厂家在校验轴位移/相对振动系统/摆度/偏心系统方面研究/生产过不同类型的校验设备,但这些设备始终都还没有实现校验位移/振动/摆度/偏心系统(传感器+位移/振动/摆度/偏心表等)的动态幅频特性曲线和静态线性特性曲线,这种设备本身的标准性差,振动频率调整范围小(更无法在低频/超低频段校验振动/摆度/偏心系统),智能数据分析/处理、通讯功能缺乏,校验繁琐,校验数据人为因素大,甚至会将合格的位移/振动/摆度/偏心系统校验成不合格系统。尤其在水电厂对低频/超低频摆度系统(摆度传感器+摆度表等)的校验设备几乎还是一个空白。
如何解决上述的技术问题是摆在科技技术人员面前需要解决的问题。
发明内容
本发明需要解决的技术问题是提供了一种电涡流位移/振动传感器系统校验仪,旨在解决上述的问题。
为了解决上述技术问题,本发明是通过以下技术方案实现的:
本发明包括:驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、精密磨床磨制测试斜盘;所述的驱动模块主控制单元与两对极的旋变和闭环驱动控制连接,两对极的旋变和闭环驱动控制与精密磨床磨制测试斜盘连接。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:在高速电流伺服单元和速度伺服单元的控制下,实现更高精度、更快响应的伺服控制,两对极的旋变和闭环驱动控制(军用雷达控制技术),转速范围1~6000r/min,精度0.16‰。
附图说明
图1是本发明的模块图;
具体实施方式
下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细描述:
由图1可见:本发明包括:驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、精密磨床磨制测试斜盘;所述的驱动模块主控制单元与两对极的旋变和闭环驱动控制连接,两对极的旋变和闭环驱动控制与精密磨床磨制测试斜盘连接。
本发明把电涡流传感器静态特性校验和动态特性校验两大功能模块整合到一台仪器中,适用于校验本特利、菲利浦、申克、新川等国外、国内所有-24VDC供电的电涡流位移/振动/摆度传感器及校准位移/振动/摆度/偏心监视系统,在校验过程中可上/下位机进行校验数据的传输与存储,能对电涡流传感器进行自动校验,自动绘制(可输出打印)出传感器的静态位移线性特性曲线、动态幅度频率响应特性曲线、自动计算出传感器的灵敏度、灵敏度误差、非线性误差。
本发明填补了在低频/超低频段校验摆度系统的空白(对频率范围0.1Hz~10Hz同样能进行有效校验)。RS9022M电涡流位移/振动传感器系统校验仪的电机驱动采用的是高压交流伺服驱动器,驱动器采用旋转变压器作为反馈信号,旋变变压器解码芯片采用DDC公司的RDC高精度IC,可以达到12BIT、14BIT、16BIT,控制精度高,速度精度可达到0.1%,驱动模块主控制单元采用高速DSP和FPGA实现,功率放大部分采用三菱公司的IPM模块,在高速电流伺服单元和速度伺服单元的控制下,实现更高精度、更快响应的伺服控制,两对极的旋变和闭环驱动控制(军用雷达控制技术),转速范围1~6000r/min,精度0.16‰。
本发明采用精密磨床磨制测试斜盘(振动/摆度试件盘),由电机带动用以模拟大型旋转设备轴振动/摆度/偏心,精度达到2um(P-P),测量振动/摆度/量程范围达到0~500um(P-P),性能指标远远超过同类产品。
本发明面板上配有5.7inch蓝膜液晶显示屏,分辨率320×240,内置高速数据采集、通讯板,采用500ksps、16位AD进行高速、高精度采样,采用DSP进行实时动/静态数据处理。
据华东国家计量测试中心上海市计量测试技术研究院出具的检测报告提供的数据,本发明与国内外同类产品进行比较,具体比较如下:
技术指标 本项目实测值   美国Bently实测值 日本Shinkwa 德国epro
  测量振动值范围μm 0~500   0~400   0~350   0~350
测量频率范围HZ   0.1~100   30-60 40-50   35-80
  电机转速精度   0.1%   2%   5%   2%

Claims (1)

1.一种电涡流位移/振动传感器系统校验仪,其特征在于包括:驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、精密磨床磨制测试斜盘;所述的驱动模块主控制单元与两对极的旋变和闭环驱动控制连接,两对极的旋变和闭环驱动控制与精密磨床磨制测试斜盘连接。
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PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Open date: 20080423