CN101162262A - 一种快速自旋回波脉冲序列的校正方法及其应用 - Google Patents

Abstract

本发明为了解决现有FSE图像存在伪影、磁场稳定性和涡流状态等成像系统因素对图象质量存在影响的问题，提供了一种快速自旋回波脉冲序列的校正方法，所述校正方法可应用于磁共振成像系统的快速自旋回波(FSE)序列的参数校正，尤其可应用于发射机和接收机能够同步切换频率的磁共振成像系统的快速自旋回波(FSE)序列的参数校正。由于本发明的快速自旋回波脉冲序列的校正方法消除了磁场稳定性、涡流状态、受激回波等成像系统因素对图象质量产生的影响，预扫描时使用所述校正方法得到的参数为最优参数，因此解决了现有FSE图像存在伪影的问题。

Description

一种快速自旋回波脉冲序列的校正方法及其应用

技术领域

本发明涉及一种快速自旋回波脉冲序列的校正方法及其应用，属于磁共振成像技术领域。

背景技术

磁共振成像(MRI)技术已经成为医学诊断中非常有用的手段。采用常规磁共振成像序列进行扫描，单次扫描时间可达几分钟。如此长的扫描时间不仅会给病人带来不适，而且由于呼吸、心搏、胃肠蠕动以及某些自主运动所造成的伪影，使图像质量大大退化。采用快速成像序列可以将单次扫描时间缩短至几秒钟，从而减少图像的运动伪影和病人在扫描过程中的不适。快速自旋回波(FSE)序列是快速成像序列中的一种，已在多数MRI系统中得到应用。与标准自旋回波序列相比，FSE序列的扫描时间大大地缩短。然而，FSE序列成像方法对系统的磁场均匀性、梯度幅度失真、射频脉冲波形以及涡流状态的要求较高。为了消除或减小这些因素对图像的不良影响，通常需要在正式扫描之前进行预扫描。

美国专利US5378985和US6369568公开了一种FSE序列预扫描方案及其改进方案。该方案针对选层、相位编码和读方向(对应于直角坐标系中XYZ方向)分别对成像序列进行修改，使脉冲序列部分参数的校正独立于其它参数；并选取回波链中的两个回波信号作为参考，根据它们之间的0级相位差和1级相位差，对相应的参数进行校正。

尽管前面提到的预扫描方案对改善FSE图像质量有很大作用，然而，该方案依然存在以下问题：

1)该方案中预扫描序列与实际扫描采用的成像序列不同，这不仅增加了序列设计的难度，而且由于涡流状态与脉冲梯度的幅度及施加方式有关，因此最优参数在不同序列(预扫描序列与成像序列)之间的可移植性难以得到保证。

2)该方案通过预扫描校正成像序列参数的过程中，未考虑受激回波，而受激回波是产生图像伪影的原因之一。

3)该方案实施过程中，只选取了回波链中的两个回波来验证预扫描效果，这对于部分参数的校正是可行的。由于另外一部分参数的校正需要综合考虑回波链中全部回波，因此该方案得到的校正结果不是最优解。

发明内容

本发明针对现有技术的不足，提供一种快速自旋回波脉冲序列的校正方法及其在磁共振成像技术中的应用，以解决现有FSE图像存在伪影、磁场稳定性和涡流状态等成像系统因素对图象质量存在影响的问题。

为达到上述目的，本发明采取了如下技术方案：

本发明提供的快速自旋回波脉冲序列的校正方法，包括以下顺序步骤：

A、采用FSE脉冲序列进行扫描，根据回波链中第一个回波信号峰点的位置校正“读方向”上的散相梯度脉冲的幅度值；

B、采用已校正的散相梯度脉冲的幅度值进行FSE脉冲序列扫描，根据回波链中第二个回波信号峰点的位置校正读梯度脉冲的幅度值；

C、采用已校正的散相梯度脉冲的幅度值和已校正的读梯度脉冲的幅度值进行FSE脉冲序列扫描，根据回波链中全部回波信号峰点的相位校正反转射频脉冲的相位；

D、采用已校正的散相梯度脉冲的幅度值、读梯度脉冲的幅度值和反转射频脉冲的相位进行FSE脉冲序列扫描，根据回波链中第一个回波信号峰点的位置校正“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值。

所述散相梯度脉冲的幅度值校正过程包括以下顺序步骤：

1)选择一层，采用FSE脉冲序列进行扫描；

2)计算本次采样得到的第一个回波信号峰点的位置，若第一个回波信号的峰点位于采样“窗口”的中心，则散相梯度脉冲的幅度值校正过程结束，否则执行步骤3；

3)若散相梯度脉冲的当前幅度值为GA4，则新的幅度值GA4′＝GA4×TD/(Nt×2)，其中TD为采样点数，Nt为当前峰点所对应的采样点的序数，将GA4′的数值赋给GA4，用更新后的散相梯度脉冲的幅度值进行FSE脉冲序列扫描；

4)循环执行步骤2和步骤3，直至回波信号的峰点位于采样“窗口”的中心，则散相梯度脉冲的幅度值校正过程结束。

所述读梯度脉冲的幅度值校正过程包括以下顺序步骤：

1)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4进行FSE脉冲序列扫描；

2)将本次采样所得的第二个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第二个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，执行步骤5，否则执行步骤3；

3)若读梯度脉冲的当前幅度值为GA6，则新的幅度值GA6′＝GA6+δ(δ取GA6初始值的1％，或系统允许GA6步进的最小步长)，将GA6′的数值赋给GA6，用更新后的GA6值再次进行FSE脉冲序列扫描；

4)循环执行步骤2和步骤3，直至Ac＜Ar，执行步骤5；

5)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4及初步校正后的读梯度脉冲的幅度值GA6进行FSE脉冲序列扫描；

6)将本次采样所得的第二个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第二个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，则读梯度脉冲的幅度值校正过程结束，否则执行步骤7；

7)若读梯度脉冲的当前幅度值为GA6，则新的幅度值GA6′＝GA6-δ(δ同上)，将GA6′的数值赋给GA6，用更新后的GA6值再次进行FSE脉冲序列扫描；

8)循环执行步骤6和步骤7，直至Ac＜Ar，则读梯度脉冲的幅度值校正过程结束。

所述反转射频脉冲的相位校正过程包括以下顺序步骤：

1)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4及校正后的读梯度脉冲的幅度值GA6进行FSE脉冲序列扫描；

2)计算本次采样所得的第一回波峰点和第二回波峰点的相位差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则执行步骤5，否则执行步骤3；

3)若当前选层的频率偏移量为FQ2，则新的频率偏移量FQ2′＝FQ2+δ(δ取FQ2初始值的5％)，将FQ2′的数值赋给FQ2，用更新后的FQ2值再次进行FSE脉冲序列扫描；

4)循环执行步骤2和步骤3，直至σ＜σ₀，执行步骤5；

5)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4、校正后的读梯度脉冲的幅度值GA6及初步校正后的FQ2值进行FSE脉冲序列扫描；

6)计算本次采样所得的全部回波峰点相位的标准差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则反转射频脉冲的相位校正过程结束，否则执行步骤7；

7)若当前选层的频率偏移量为FQ3，则新的频率偏移量FQ3′＝FQ3+δ(δ取FQ3初始值的5％)，将FQ3′的数值赋给FQ3，用更新后的FQ3值再次进行FSE脉冲序列扫描；

8)循环执行步骤6和步骤7，直至σ＜σ₀，则反转射频脉冲的相位校正过程结束。

所述反转射频脉冲的相位校正过程还可按以下顺序步骤操作：

1)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4及校正后的读梯度脉冲的幅度值GA6进行FSE脉冲序列扫描；

2)计算本次采样所得的回波(不包含第一个回波)峰点相位的标准差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则执行步骤5，否则执行步骤3；

3)若当前选层的频率偏移量为FQ3，则新的频率偏移量FQ3′＝FQ3+δ(δ可以取FQ3初始值的5％)，将FQ3′的数值赋给FQ3，用更新后的FQ3值再次进行FSE脉冲序列扫描；

4)循环执行步骤2和步骤3，直至σ＜σ₀，执行步骤5；

5)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4、校正后的读梯度脉冲的幅度值GA6及初步校正后的FQ3值进行FSE脉冲序列扫描；

6)计算本次采样所得的第一回波峰点与第二回波峰点的相位差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则反转射频脉冲的相位校正过程结束，否则执行步骤7；

7)若当前选层的频率偏移量为FQ2，则新的频率偏移量FQ2′＝FQ2+δ(δ可以取FQ2初始值的5％)，将FQ2′的数值赋给FQ2，用更新后的FQ2值再次进行FSE脉冲序列扫描；

8)循环执行步骤6和步骤7，直至σ＜σ₀，则反转射频脉冲的相位校正过程结束。

所述“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值校正过程包括以下顺序步骤：

1)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4、读梯度脉冲的幅度值GA6、FQ2值及FQ3值进行FSE脉冲序列扫描；

2)将本次采样所得的第一个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第一个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，则执行步骤5，否则执行步骤3；

3)若“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的当前幅度值为GA1，则新的幅度值GA1′＝GA1+δ(δ取GA1初始值的1％，或系统允许GA1步进的最小步长)，将GA1′的数值赋给GA1，用更新后的GA1值再次进行FSE脉冲序列扫描；

4)循环执行步骤2和步骤3，直至Ac＜Ar，执行步骤5；

5)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4、读梯度脉冲的幅度值GA6、FQ2值、FQ3值及初步校正后的GA1值进行FSE脉冲序列扫描；

6)将本次采样所得的第一个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第一个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，则“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值校正过程结束，否则执行步骤7；

7)若“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的当前幅度值为GA1，则新的幅度值GA1′＝GA1-δ(δ同上)，将GA1′的数值赋给GA1，用更新后的GA1值再次进行FSE脉冲序列扫描；

8)循环执行步骤6和步骤7，直至Ac＜Ar，则“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值校正过程结束。

所述快速自旋回波脉冲序列的校正方法可应用于磁共振成像系统的快速自旋回波(FSE)序列的参数校正，尤其可应用于发射机和接收机能够同步切换频率的磁共振成像系统的快速自旋回波(FSE)序列的参数校正。

本发明的快速自旋回波脉冲序列的校正方法消除了磁场稳定性、涡流状态、受激回波等成像系统因素对图象质量产生的影响，预扫描时使用所述校正方法得到的参数为最优参数，因此解决了现有FSE图像存在伪影的问题。

附图说明

图1为本发明实施例1所述自旋回波序列的示意图；

图2为本发明实施例2所述自旋回波序列的示意图。

图中：RF-射频脉冲；90°_x-激发脉冲；180°_y-反转脉冲；Gs-选层梯度；Gp-相位编码梯度；Gr-读梯度；Echo-回波；Tx-发射机；Rx-接收机。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细、完整的说明：

实施例1

本发明提供的快速自旋回波脉冲序列的校正方法，包括以下顺序步骤：

A、采用FSE脉冲序列进行扫描，根据回波链中第一个回波信号峰点的位置校正“读方向”上的散相梯度脉冲的幅度值；

B、采用已校正的散相梯度脉冲的幅度值进行FSE脉冲序列扫描，根据回波链中第二个回波信号峰点的位置校正读梯度脉冲的幅度值；

C、采用已校正的散相梯度脉冲的幅度值和已校正的读梯度脉冲的幅度值进行FSE脉冲序列扫描，根据回波链中全部回波信号峰点的相位校正反转射频脉冲的相位；

D、采用已校正的散相梯度脉冲的幅度值、读梯度脉冲的幅度值和反转射频脉冲的相位进行FSE脉冲序列扫描，根据回波链中第一个回波信号峰点的位置校正“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值。

选择一层进行校正(FQL1、FQL2和FQL3中对应于该层面的频率偏移量分别为FQ1、FQ2和FQ3)。

本实施例的散相梯度脉冲的幅度值校正过程包括以下顺序步骤：

1)执行图1所示的FSE脉冲序列，其中：在相位编码方向上，梯度脉冲231～236的幅度值均为0；在选层方向上，梯度脉冲221和222的幅度值(GA0和GA2)与正式扫描相同；梯度脉冲223的幅度值为GA1(GA1的初始值＝GA0×T0/T1，T0和T1分别为GA0和GA1作用的时间)；在读方向上，梯度脉冲242的幅度值(GA5)与正式扫描相同；梯度脉冲241与243的幅度值为GA4和GA6(GA4的初始值＝GA5×T5/T4，GA6的初始值GA5×T5/T6，T4、T5和T6分别为GA4、GA5和GA6作用的时间)；FQ2的初始值＝FQ1×t1/t2，FQ3的初始值＝FQ1×t1′/t2(t1为激发脉冲所对应的FQ1作用的时间，t1′为反转脉冲所对应的FQ1作用的时间，t2为FQ2作用的时间，t3为FQ3作用的时间)。

2)计算本次采样得到的第一个回波信号峰点的位置，若第一个回波信号201的峰点位于采样“窗口”的中心，则散相梯度脉冲的幅度值校正过程结束，否则执行步骤3。

3)若散相梯度脉冲241当前幅度值为GA4，则新的幅度值GA4′＝GA4×TD/(Nt×2)，其中TD为采样点数，Nt为当前峰点所对应的采样点的序数，将GA4′的数值赋给GA4，再次执行图1所示的FSE脉冲序列，并采用更新过的GA4。

4)循环执行步骤2和步骤3，直至回波信号201的峰点位于采样“窗口”的中心，则散相梯度脉冲的幅度值校正过程结束。

本实施例的读梯度脉冲的幅度值校正过程包括以下顺序步骤：

1)执行图1所示的FSE脉冲序列，其中散相梯度脉冲241幅度值采用校正的GA4。

2)将本次采样所得的第二个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第二个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，执行步骤5，否则执行步骤3。

3)若读梯度脉冲243当前幅度值为GA6，则新的幅度值GA6′＝GA6+δ(δ可以取GA6初始值的1％，或系统允许GA6步进的最小步长)，将GA6′的数值赋给GA6，再次执行图1所示的FSE脉冲序列，并采用更新过的GA6。

4)循环执行步骤2和步骤3，直至Ac＜Ar，执行步骤5。

5)执行图1所示的FSE脉冲序列，其中散相梯度脉冲241幅度值采用校正后的GA4、读梯度脉冲243幅度值采用初步校正后的GA6。

6)将本次采样所得的第二个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第二个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，则读梯度脉冲的幅度值校正过程结束，否则执行步骤7。

7)若读梯度脉冲243当前幅度值为GA6，则新的幅度值GA6′＝GA6-δ(δ同上)，将GA6′的数值赋给GA6，再次执行图1所示的FSE脉冲序列，并采用更新过的GA6。

8)循环执行步骤6和步骤7，直至Ac＜Ar，则读梯度脉冲的幅度值校正过程结束。

本实施例的反转射频脉冲的相位校正过程包括以下顺序步骤：

1)执行图1所示的FSE脉冲序列，其中散相梯度脉冲241幅度值采用校正后的GA4、读梯度脉冲243幅度值采用校正后的GA6。

2)计算本次采样所得的第一回波峰点和第二回波峰点的相位差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则执行步骤5，否则执行步骤3。

3)若当前选层的频率偏移量为FQ2，则新的频率偏移量FQ2′＝FQ2+δ(δ可以取FQ2初始值的5％)，将FQ2′的数值赋给FQ2，再次执行图1所示的FSE脉冲序列，并采用更新过的FQ2。

4)循环执行步骤2和步骤3，直至σ＜σ₀，执行步骤5。

5)执行图1所示的FSE脉冲序列，其中散相梯度脉冲241幅度值采用校正后的GA4、读梯度脉冲243幅度值采用校正后的GA6及当前选层的频率偏移量采用初步校正后的FQ2值。

6)计算本次采样所得的全部回波峰点相位的标准差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则反转射频脉冲的相位校正过程结束，否则执行步骤7。

7)若当前选层的频率偏移量为FQ3，则新的频率偏移量FQ3′＝FQ3+δ(δ可以取FQ3初始值的5％)，将FQ3′的数值赋给FQ3，再次执行图1所示的FSE脉冲序列，并采用更新过的FQ3。

8)循环执行步骤6和步骤7，直至σ＜σ₀，则反转射频脉冲的相位校正过程结束。

所述“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值校正过程包括以下顺序步骤：

1)执行图1所示的FSE脉冲序列，其中散相梯度脉冲241幅度值采用校正后的GA4、读梯度脉冲243幅度值采用校正后的GA6、选层的频率偏移量采用校正后的FQ2值及FQ3值。

2)将本次采样所得的第一个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第一个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，则执行步骤5，否则执行步骤3。

3)若“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲22 3当前幅度值为GA1，则新的幅度值GA1′＝GA1+δ(δ可以取GA1初始值的1％，或系统允许GA1步进的最小步长)，将GA1′的数值赋给GA1，采用更新过的GA1，再次执行图1所示的FSE脉冲序列。

4)循环执行步骤2和步骤3，直至Ac＜Ar，执行步骤5。

5)执行图1所示的FSE脉冲序列，其中散相梯度脉冲241幅度值采用校正后的GA4、读梯度脉冲243幅度值采用校正后的GA6、选层的频率偏移量采用校正后的FQ2值及FQ3值和“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲223幅度值采用初步校正后的GA1值。

6)将本次采样所得的第一个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第一个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，则“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值校正过程结束，否则执行步骤7。

7)若“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲223当前幅度值为GA1，则新的幅度值GA1′＝GA1-δ(δ同上)，将GA1′的数值赋给GA1，采用更新过的GA1，再次执行图1所示的FSE脉冲序列。

8)循环执行步骤6和步骤7，直至Ac＜Ar，则“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值校正过程结束。

经过上述校正得到的散相梯度脉冲241和读梯度脉冲243可以校正读梯度脉冲242引起的“相移”，并消除了受激回波产生的影响。经过上述校正得到的FQ2可以校正反转射频脉冲212相对于212的相位，使它们的相位相差90°，得到的FQ3可以校正相邻的反转射频脉冲212之间的相位，使它们的相位差为0，从而避免因反转脉冲不精确引起的误差累积。经过上述校正得到的“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲223可以校正“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲221引起的“相移”。

与FQL1相对应的所有层面均需要经过上述校正。所有层面均校正完毕，预扫描程序结束。用于校正梯度脉冲所致“相移”的223、241、243和用于校正反转射频脉冲相位的FQ2、FQ3，均与系统磁场稳定性和涡流状态等因素有关，需要根据每次扫描的参数加以确定。在正式扫描之前，需要通过预扫描确定上述各校正参数。

实施例2

本实施例与实施例1的不同之处仅在于，所述反转射频脉冲的相位校正过程按以下顺序步骤操作：

1)执行图2所示的FSE脉冲序列，其中散相梯度脉冲241幅度值采用校正后的GA4、读梯度脉冲243幅度值采用校正后的GA6，其它序列参数与实施例1相同。

2)计算本次采样所得的回波(不包含第一个回波)峰点相位的标准差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则执行步骤5，否则执行步骤3。

3)若当前选层的频率偏移量为FQ3，则新的频率偏移量FQ3′＝FQ3+δ(δ可以取FQ3初始值的5％)，将FQ3′的数值赋给FQ3，再次执行图2所示的FSE脉冲序列，并采用更新过的FQ3。

4)循环执行步骤2和步骤3，直至σ＜σ₀，执行步骤5。

5)执行图2所示的FSE脉冲序列，其中散相梯度脉冲241幅度值采用校正后的GA4、读梯度脉冲243幅度值采用校正后的GA6及当前选层的频率偏移量采用初步校正后的FQ3值。

6)计算本次采样所得的第一回波峰点与第二回波峰点的相位差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则反转射频脉冲的相位校正过程结束，否则执行步骤7。

7)若当前选层的频率偏移量为FQ2，则新的频率偏移量FQ2′＝FQ2+δ(δ可以取FQ2初始值的5％)，将FQ2′的数值赋给FQ2，再次执行图2所示的FSE脉冲序列，并采用更新过的FQ2值。

8)循环执行步骤6和步骤7，直至σ＜σ₀，则反转射频脉冲的相位校正过程结束。

Claims (8)

1.一种快速自旋回波脉冲序列的校正方法，其特征在于，所述校正方法包括以下顺序步骤：

A、采用FSE脉冲序列进行扫描，根据回波链中第一个回波信号峰点的位置校正“读方向”上的散相梯度脉冲的幅度值；

B、采用已校正的散相梯度脉冲的幅度值进行FSE脉冲序列扫描，根据回波链中第二个回波信号峰点的位置校正读梯度脉冲的幅度值；

C、采用已校正的散相梯度脉冲的幅度值和已校正的读梯度脉冲的幅度值进行FSE脉冲序列扫描，根据回波链中全部回波信号峰点的相位校正反转射频脉冲的相位；

D、采用已校正的散相梯度脉冲的幅度值、读梯度脉冲的幅度值和反转射频脉冲的相位进行FSE脉冲序列扫描，根据回波链中第一个回波信号峰点的位置校正“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值。

2.根据权利要求1所述的快速自旋回波脉冲序列的校正方法，其特征在于，所述散相梯度脉冲的幅度值校正过程包括以下顺序步骤：

1)选择一层，采用FSE脉冲序列进行扫描；

2)计算本次采样得到的第一个回波信号峰点的位置，若第一个回波信号的峰点位于采样“窗口”的中心，则散相梯度脉冲的幅度值校正过程结束，否则执行步骤3；

3)若散相梯度脉冲的当前幅度值为GA4，则新的幅度值GA4′＝GA4×TD/(Nt×2)，其中TD为采样点数，Nt为当前峰点所对应的采样点的序数，将GA4′的数值赋给GA4，用更新后的散相梯度脉冲的幅度值进行FSE脉冲序列扫描；

4)循环执行步骤2和步骤3，直至回波信号的峰点位于采样“窗口”的中心，则散相梯度脉冲的幅度值校正过程结束。

3.根据权利要求1所述的快速自旋回波脉冲序列的校正方法，其特征在于，所述读梯度脉冲的幅度值校正过程包括以下顺序步骤：

1)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4进行FSE脉冲序列扫描；

2)将本次采样所得的第二个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第二个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，执行步骤5，否则执行步骤3；

3)若读梯度脉冲的当前幅度值为GA6，则新的幅度值GA6′＝GA6+δ(δ取GA6初始值的1％，或系统允许GA6步进的最小步长)，将GA6′的数值赋给GA6，用更新后的GA6值再次进行FSE脉冲序列扫描；

4)循环执行步骤2和步骤3，直至Ac＜Ar，执行步骤5；

5)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4及初步校正后的读梯度脉冲的幅度值GA6进行FSE脉冲序列扫描；

6)将本次采样所得的第二个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第二个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，则读梯度脉冲的幅度值校正过程结束，否则执行步骤7；

7)若读梯度脉冲的当前幅度值为GA6，则新的幅度值GA6′＝GA6-δ(δ同上)，将GA6′的数值赋给GA6，用更新后的GA6值再次进行FSE脉冲序列扫描；

8)循环执行步骤6和步骤7，直至Ac＜Ar，则读梯度脉冲的幅度值校正过程结束。

4.根据权利要求1所述的快速自旋回波脉冲序列的校正方法，其特征在于，所述反转射频脉冲的相位校正过程包括以下顺序步骤：

1)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4及校正后的读梯度脉冲的幅度值GA6进行FSE脉冲序列扫描；

2)计算本次采样所得的第一回波峰点和第二回波峰点的相位差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则执行步骤5，否则执行步骤3；

3)若当前选层的频率偏移量为FQ2，则新的频率偏移量FQ2′＝FQ2+δ(δ取FQ2初始值的5％)，将FQ2′的数值赋给FQ2，用更新后的FQ2值再次进行FSE脉冲序列扫描；

4)循环执行步骤2和步骤3，直至σ＜σ₀，执行步骤5；

5)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4、校正后的读梯度脉冲的幅度值GA6及初步校正后的FQ2值进行FSE脉冲序列扫描；

6)计算本次采样所得的全部回波峰点相位的标准差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则反转射频脉冲的相位校正过程结束，否则执行步骤7；

7)若当前选层的频率偏移量为FQ3，则新的频率偏移量FQ3′＝FQ3+δ(δ取FQ3初始值的5％)，将FQ3′的数值赋给FQ3，用更新后的FQ3值再次进行FSE脉冲序列扫描；

8)循环执行步骤6和步骤7，直至σ＜σ₀，则反转射频脉冲的相位校正过程结束。

5.根据权利要求1所述的快速自旋回波脉冲序列的校正方法，其特征在于，所述反转射频脉冲的相位校正过程按以下顺序步骤操作：

1)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4及校正后的读梯度脉冲的幅度值GA6进行FSE脉冲序列扫描；

2)计算本次采样所得的回波(不包含第一个回波)峰点相位的标准差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则执行步骤5，否则执行步骤3；

3)若当前选层的频率偏移量为FQ3，则新的频率偏移量FQ3′＝FQ3+δ(δ可以取FQ3初始值的5％)，将FQ3′的数值赋给FQ3，用更新后的FQ3值再次进行FSE脉冲序列扫描；

4)循环执行步骤2和步骤3，直至σ＜σ₀，执行步骤5；

5)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4、校正后的读梯度脉冲的幅度值GA6及初步校正后的FQ3值进行FSE脉冲序列扫描；

6)计算本次采样所得的第一回波峰点与第二回波峰点的相位差σ，若σ＜σ₀(σ₀为预先设定的参考值)，则反转射频脉冲的相位校正过程结束，否则执行步骤7；

7)若当前选层的频率偏移量为FQ2，则新的频率偏移量FQ2′＝FQ2+δ(δ可以取FQ2初始值的5％)，将FQ2′的数值赋给FQ2，用更新后的FQ2值再次进行FSE脉冲序列扫描；

8)循环执行步骤6和步骤7，直至σ＜σ₀，则反转射频脉冲的相位校正过程结束。

6.根据权利要求1所述的快速自旋回波脉冲序列的校正方法，其特征在于，所述“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值校正过程包括以下顺序步骤：

1)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4、读梯度脉冲的幅度值GA6、FQ2值及FQ3值进行FSE脉冲序列扫描；

2)将本次采样所得的第一个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第一个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，则执行步骤5，否则执行步骤3；

3)若“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的当前幅度值为GA1，则新的幅度值GA1′＝GA1+δ(δ取GA1初始值的1％，或系统允许GA1步进的最小步长)，将GA1′的数值赋给GA1，用更新后的GA1值再次进行FSE脉冲序列扫描；

4)循环执行步骤2和步骤3，直至Ac＜Ar，执行步骤5；

5)用校正后的散相梯度脉冲的幅度值GA4、读梯度脉冲的幅度值GA6、FQ2值、FQ3值及初步校正后的GA1值进行FSE脉冲序列扫描；

6)将本次采样所得的第一个回波信号的幅度值Ac与前一次采样的第一个回波信号的幅度值Ar进行比较，若Ac＜Ar，则“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值校正过程结束，否则执行步骤7；

7)若“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的当前幅度值为GA1，则新的幅度值GA1′＝GA1-δ(δ同上)，将GA1′的数值赋给GA1，用更新后的GA1值再次进行FSE脉冲序列扫描；

8)循环执行步骤6和步骤7，直至Ac＜Ar，则“选层方向”上的相位重会聚梯度脉冲的幅度值校正过程结束。

7.一种权利要求1所述的快速自旋回波脉冲序列的校正方法的应用，其特征在于，所述校正方法用于磁共振成像系统的快速自旋回波(FSE)序列的参数校正。

8.根据权利要求7所述的快速自旋回波脉冲序列的校正方法的应用，其特征在于，所述校正方法用于发射机和接收机能够同步切换频率的磁共振成像系统的快速自旋回波(FSE)序列的参数校正。

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