CN101160000A - 用于微波测量的感应加热装置 - Google Patents
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Abstract
用于微波测量的感应加热装置,属于微波、毫米波技术领域,特别涉及微波、毫米波测试技术领域。本发明的包括感应加热设备、感应圈、真空炉,真空炉上具有两个连接孔;感应圈采用紫铜管制作,其中部绕成螺旋状并位于真空炉内,两端穿过真空炉的连接孔与感应加热设备相连。本发明还可增加一个冷却系统,感应加热设备可以具有功率控制装置,真空炉上可开有温度测量孔、观察孔、充气孔、真空测量孔、真空抽气孔等。本发明具有结构简单、制作方便、加热速度快、加热效率高等优点,可在不同的温度条件下对被测物体进行加热,从而进行微波测量。
Description
所属技术领域
本发明属于微波、毫米波技术领域,特别涉及微波、毫米波测试技术领域。
背景技术
随着微波、毫米波技术的发展,微波、毫米波介质材料和器件的应用也越来越广泛。当这些材料和器件的工作环境温度发生变化时,它们的微波性能也会随之发生变化,严重时甚至不能正常工作。因此,在进行研制和应用时,需要在不同的温度条件下对这些器件和材料的微波性能进行测试。
当所需测试的微波器件或介质材料的工作温度较低时,例如小于100℃,通常采用恒温箱即可。但当温度升高到上百度甚至上千度时,则通常采用高温炉或在真空炉中对被测物体进行加热。
文献“Vasundara V.Varadan,Richard D.Hollinger,Deepak K.Ghodgaonkar,VijayK.Varadan,Free-space broadband measurement of high-temperature complex dielectricproperties at microwave frequencies,IEEE Transactions on Instrumentation andMeasurement,1991,Vol.40,No.5,p842~846.”中采用电阻加热的方法对被测样品进行加热,温度升高到850℃。但当温度需上升到更高温度时,采用电阻加热的方法需采用贵金属,成本昂贵。
文献“Paul Friederich,Rich L.Moore,James W.Larsen,Elevated temperaturemeasurements of permittivity and permeability at temperatures above 1000℃,Antennasand Propagation Society International Symposium,1991,Vol.3,p1672~1675.”中利用在真空炉中采用石墨电极加热的方法对被测样品进行加热,温度可高达2000℃。但石墨电极易脆,且使用不便。
文献“M.Garven,J.P.Calame,B.Myers,D.Lobas,Variable temperaturemeasurements of the dielectric properties of lossy materials in W-band,Infrared andMillimeter Waves and 13th International Conference on Terahertz Electronics,2005,Vol.1,p174~175.”中采用在真空炉中对被测样品进行加热,并充一定正压的氮气以避免测试装置被氧化。
文献“黎义,李建保,何小瓦,采用谐振腔法研究透波材料的高温介电性能,红外与毫米波学报,2004,Vol.23,No.2,p157~160”中介绍了俄罗斯的高温介电性能测试仪。该仪器采用充氮气气氛的高温炉对被测样品进行加热,温度可升到1200℃。
综上所述,国外在对介质材料和微波器件的高温测试技术方面已研究了多年,通常利用的加热设备为充氮气气氛保护的高温炉或真空炉,采用电阻加热或石墨电极加热。这些加热装置较复杂,且加工难度较高、加热速度慢、冷却时间长,难以适应对被测器件或材料进行更高温度的微波参数测试现状要求。
发明内容
本发明的任务是提供一种高温加热装置,以实现高温环境下的微波测量。
本发明的技术方案为:
用于微波测量的感应加热装置,包括感应加热设备1、感应圈2、真空炉3;其特征在于,真空炉3上具有两个连接孔;感应圈2采用紫铜管制作,其中部绕成螺旋状并位于真空炉3内,两端穿过真空炉3的连接孔与感应加热设备相连。
上述用于微波测量的感应加热装置的工作过程可以简单描述为:将待测微波介质样品放置于真空炉3内感应圈2中的某个位置,打开感应加热设备1,热量通过感应圈2对待测微波介质样品进行加热,当加热到所需温度后,停止加热,并通过微波介质测量装置对待测微波介质样品进行测试。
冷却系统可以是常见的水冷系统。
所述感应加热设备1可以具有功率控制装置,以控制输出功率的大小。
为了方便进行微波介质测量,所述真空炉3上开可开有温度测量孔、观察孔、充气孔、真空测量孔、真空抽气孔等。
需要说明的是,本发明适合不同各种微波器件及介质材料的高温微波参数测试,即本发明可以为不同频段对各种微波器件及介质材料进行微波参数高温测试提供高温加热装置。具有结构简单、制作方便、加热速度快等优点。
附图说明
图1为本发明所述用于微波测量的感应加热装置示意图
其中,1是感应加热设备,2是感应圈,3是真空炉。
图2为本发明具有冷却系统的用于微波测量的感应加热装置示意图
其中,4是冷却系统。
具体实施方式
当测试完毕或测试过程中,加热温度过高,需要迅速冷却时,本发明所述用于微波测量的感应加热装置还可增加一个冷却系统4,如图2所示,冷却系统4与真空炉3和感应圈2分别相连,为真空炉3和感应圈2分别提供循环制冷液。
Claims (5)
1.用于微波测量的感应加热装置,包括感应加热设备(1)、感应圈(2)、真空炉(3);其特征在于,真空炉(3)上具有两个连接孔;感应圈(2)采用紫铜管制作,其中部绕成螺旋状并位于真空炉(3)内,两端穿过真空炉(3)的连接孔与感应加热设备相连。
2.根据权利要求1所述的用于微波测量的感应加热装置,其特征在于,所述感应加热设备(1)还包括一个冷却系统(4),冷却系统(4)与真空炉(3)和感应圈(2)分别相连,为真空炉(3)和感应圈(2)分别提供循环制冷液。
3.根据权利要求2所述的用于微波测量的感应加热装置,其特征在于,所述冷却系统(4)为水冷系统。
4.根据权利要求1所述的用于微波测量的感应加热装置,其特征在于,所述感应加热设备(1)具有功率控制装置,以控制输出功率的大小。
5.根据权利要求1所述的用于微波测量的感应加热装置,其特征在于,所述真空炉3上开开有温度测量孔、观察孔、充气孔、真空测量孔、真空抽气孔。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CNB2007100503509A CN100484342C (zh) | 2007-10-30 | 2007-10-30 | 用于微波测量的感应加热装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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CNB2007100503509A CN100484342C (zh) | 2007-10-30 | 2007-10-30 | 用于微波测量的感应加热装置 |
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CN101160000A true CN101160000A (zh) | 2008-04-09 |
CN100484342C CN100484342C (zh) | 2009-04-29 |
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Family Applications (1)
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---|---|---|---|
CNB2007100503509A Expired - Fee Related CN100484342C (zh) | 2007-10-30 | 2007-10-30 | 用于微波测量的感应加热装置 |
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CN (1) | CN100484342C (zh) |
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---|---|---|---|---|
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CN101920299B (zh) * | 2009-06-11 | 2012-08-08 | 宝山钢铁股份有限公司 | 带温度检测系统的钢管端部感应加热装置 |
CN109782201A (zh) * | 2019-02-12 | 2019-05-21 | 宴晶科技(北京)有限公司 | 一种微波材料电磁参数测量仪器及测量方法 |
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