CN101051288A - 计算机可执行之信号增益调校系统及其方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种计算机可执行之信号增益调校系统及其方法，即于电子装置的测试阶段，将待测电子装置连结至测试主机作测试，并根据测试结果及对应调校参数的比对，执行待测电子装置的信号增益值计算，并记录于电子装置内存中，使电子装置于每次运作时可自动执行信号增益调校，从而使所有生产的电子装置都能够维持最佳的运作质量。

Description

计算机可执行之信号增益调校系统及其方法

技术领域

本发明为一种电子装置之测试调校系统及其方法，特别是指一种利用测试结果与调校参数比对，计算各项信号增益调校值并记录于电子装置，使电子装置运作时能够维持最佳质量的系统及其方法。

背景技术

随着电子装置日趋轻、薄、短、小的发展趋势，使用者对于电子装置运作质量的要求也开始越来越高。

电子装置往往由许多电子零件所组成的，然而这些零件不但可能在生产时会发生一些信号误差值，甚至在电子装置进行生产在线的组装时，也可能因为组装上的工差问题，而使零件造成另外的信号误差值。虽然这些零件在未组装前个别的信号误差值对于电子装置的影响几乎微乎其微，不见得会影响到电子装置实际运作上的信号质量，但是当电子装置完成组装后这些所有的信号误差值累积起来便可能会直接影响到电子装置的运作质量。

过去，对于这类电子装置几乎都是通过在测试阶段通过各个测试项目的实际测试结果来发现的。当发现信号误差值过大时，则将电子装置以不良品视之直接销毁；当发现信号误差值不大时，便将电子装置重新进行组装；当发现信号误差值仍在可接受之容许范围内时，便将电子装置直接出厂销售。这些情况都将可能会造成厂商的庞大损失，举例来说：直接销毁将造成零件上的损失、重新组装将造成人力及设备的浪费、直接出厂将可能会影响到厂商无形的商誉。

因此，如何能够针对电子装置在生产阶段所造成的信号误差问题，彻底改善因为零件本身以及组装阶段所造成的信号误差值，使所有生产的电子装置都能够具有相同且最佳的运作质量，应是目前所有电子装置生产厂商所应该关注的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种计算机可执行之信号增益调校系统及其方法。其主要是根据电子装置在测试阶段所取得之测试结果来与调校参数进行比对，通过判断测试结果中各项测试项目所具有之信号状态值与调校参数中所建立之信号标准值，来决定需要记录在电子装置内存中的信号增益值，从而使电子装置可于每次运作时根据信号增益值来进行各个零件项目的主动调校，使电子装置能够达到永远保持最佳运作质量的目的功效。

在系统方面，主要包含有：储存各种待测电子装置之不同测试项目之测试程序数据库、储存各种待测电子装置之不同测试项目之调校参数数据库、用来测试各种待测电子装置并能够计算待测电子装置中不同测试项目所需要的信号增益值之测试主机，以及连结至测试主机上并具有一个可记录信号增益值之内存的待测电子装置。

其主要的运作方法包含下列步骤：建立各种待测电子装置对应之不同测试程序及不同调校参数；当待测电子装置连结至测试主机时，对待测电子装置执行测试程序以产生对应测试项目之测试结果；读取待测电子装置对应之测试项目之调校参数作比对；当发现信号状态值低于信号标准值时，计算信号增益值；及写入信号增益值至待测电子装置之内存，使待测电子装置可于运作时根据信号增益值主动进行信号增益调校。

通过本发明系统及其方法，将可使所有电子装置都可以在每次运作时确保其中的电子零件都能够具有相同且最佳的质量表现，从而改善电子装置在零件生产时、零件组装时所造成的信号误差值问题，达到提升电子装置质量的功效。

附图说明

图1是本发明系统架构示意图。

图2是本发明方法流程图。

图3是本发明信号增益值生成示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步详细的说明。

本发明提出一种计算机可执行之信号增益调校系统及其方法。其主要的技术手段实现在电子装置的测试阶段，，其整体的系统架构如图1所示：

大致上可分为测试主机30以及待测电子装置50两个主要部分，且该两个部分通过数据传输接口40来进行连结。在测试主机30部分，分别和测试程序数据库10以及调校参数数据库20连接，用以执行对待测电子装置50的测试调校程序，特别是针对待测电子装置50上有关信号的测试调校。

其中，测试程序数据库10，主要储存各种待测电子装置50之不同测试项目所建立之测试程序，通常每一笔测试程序都会包含有：装置型号、测试项目、测试程序档案等项目；而调校参数数据库20，则储存各种待测电子装置50之不同测试项目所建立之调校参数210，通常每一笔调校参数210都会包含有：装置型号、测试项目、信号标准值等项目，请参阅图3所示，其为本发明信号增益值生成示意图。

由于每种待测电子装置50所具有的零件和组装的项目均不同，因此出厂前所需要进行测试的项目当然也会有所不同，所以相对于不同的测试项目必须要具有对应之计算机可执行测试程序，也由于不同的零件在不同待测电子装置50中会有不同的信号表现需求，因此所建立的调校参数210也会有所不同。

测试主机30，则主要就是在当侦测到待测电子装置50连结时，先确认待测电子装置50的装置型号，然后对待测电子装置50执行对应所需的测试程序，并针对每一个测试项目经过对应测试程序测试的结果产生一个测试结果200，并读取待测电子装置50对应之测试项目之调校参数210作比对，当发现测试结果200中所测得之信号状态值低于调校参数210中的信号标准值时，表示此测试项目必须进行调校，所以需要计算出对应测试项目所需要调校的信号增益值220，然后再将所计算出来的信号增益值220记录在待测电子装置50的内存55中。

其中，测试结果200通过执行对应测试项目之测试程序所产生的，所产生出来的结果必须包括有以下的信息，如：装置型号、测试项目及信号状态值等。

而所谓的信号增益值220，就是指需要增加的信号强度(通常以dB作为单位)大小，计算的方式就是将记录在调校参数210中的信号标准值减去测试结果200中的信号状态值所得到的数值。一般来说，由于待测电子装置50中的零件本身生产时便具有误差值再加上组装时所造成的工差影响，所以通常所测试出来的信号状态值会小于所预先建立之信号标准值，因此两者之间的差值便成为日后需要主动进行信号增益调校的数值。

一旦在待测电子装置50的内存55中储存有每个需要调校之测试项目的信号增益值220后，便可以主动在每次运作时实时通过计算机可执行程序来进行信号增益的调校，使每个部分的信号表现都能够符合标准，从而达到提升质量的目的功效。

测试主机30与待测电子装置50之间主要通过数据传输接口40来进行连结，此种数据传输接口40可以通用串行总线接口，或者其它可行的实施方式，只需要能够使测试主机30与待测电子装置50之间进行数据的传递与沟通即可，本发明中并未作任何限定。

图2为本发明方法流程图。其主要的运作步骤说明如下：

首先，在测试主机30所连接的数据库中建立各种待测电子装置50对应之不同测试程序及不同调校参数210，分别成为测试程序数据库10以及调校参数数据库20(步骤100)；接着持续判断是否有待测电子装置50连结上来？(步骤110)当有待测电子装置50通过数据传输接口40连结至测试主机30时，测试主机30便会根据待测电子装置50的装置型号，开始对待测电子装置50执行测试程序，并产生对应测试项目之测试结果200(步骤120)，若没有待测电子装置50连结时则将持续等待待测电子装置50的连结(步骤170)。

如图3所示，在每一笔测试结果200中至少会包含有装置型号、测试项目以及信号状态值的信息；当测试主机30接收到测试结果200之后，便会根据装置型号读取出与待测电子装置50对应之测试项目之调校参数210来作比对(步骤130)，调校参数210中也至少会包含有装置型号、测试项目以及信号标准值等信息，比对主要针对信号状态值与信号标准值的部分；当发现信号状态值低于信号标准值时(步骤140)，表示此测试项目日后需要主动执行信号增益调校，因此便开始计算其对应之信号增益值220(步骤150)，信号增益值220的计算方式便是将信号标准值减去信号状态值后所得到的数值；最后将信号增益值220写入至待测电子装置50之内存55(步骤160)，通常可用闪存来实现，使待测电子装置50可于每次运作时都根据信号增益值220主动进行信号增益调校，执行信号增益调校的动作可以通过计算机可执行程序来读取信号增益值220进行即可。

事实上，本发明测试主机30在测试阶段可以同时针对一个以上或是一种以上的待测电子装置50进行上述的信号增益调校动作，并不以上述内容为唯一的实施方式。

图3则是本发明信号增益值220生成的示意图，当测试主机30接收到测试结果200的内容时(即001，A1，2.5)，便会自调校参数数据库20中找到对应001装置型号之A1测试项目的调校参数210(即001，A1，5)。此时发现，待测电子装置50中测试项目A1的信号具有误差且过于微弱，因此便可以根据计算信号增益值220的方式来算出所需进行信号增益调校的数值为2.5(即5-2.5)，并可将此信号增益值220记录在待测电子装置50的内存55中。

Claims (14)

1.一种计算机可执行之信号增益调校系统，其特征在于所述系统包含：

一测试程序数据库，用以储存对应若干个待测电子装置之若干个测试项目所建立之计算机可执行若干个测试程序；

一调校参数数据库，用以储存对应各该待测电子装置之各该测试项目所建立之若干个调校参数；

一测试主机，用以于侦测到该待测电子装置连结时，对该待测电子装置执行该测试程序以产生对应该测试项目之一测试结果，并读取该待测电子装置对应之该测试项目之该调校参数作比对，当发现一信号状态值低于一信号标准值时，计算一信号增益值；及

一待测电子装置，包含用以记录该信号增益值之一内存；

其中，该待测电子装置可于运作时根据该信号增益值主动进行信号增益调校。

2.根据权利要求1所述之计算机可执行之信号增益调校系统，其特征在于：所述调校参数可提供通过一装置型号来读取，并依据该测试项目比对来查找对应之该信号标准值。

3.根据权利要求1所述之计算机可执行之信号增益调校系统，其特征在于：所述待测电子装置通过一数据传输接口来与该测试主机连结。

4.根据权利要求3所述之计算机可执行之信号增益调校系统，其特征在于：所述数据传输接口为通用串行总线接口。

5.根据权利要求1所述之计算机可执行之信号增益调校系统，其特征在于：所述测试结果根据该测试项目去执行对应该测试程序所获得之该装置型号、该测试项目及该信号状态值。

6.根据权利要求1所述之计算机可执行之信号增益调校系统，其特征在于：所述信号增益值等于该信号标准值减去该信号状态值。

7.根据权利要求1所述之计算机可执行之信号增益调校系统，其特征在于：所述待测电子装置可于运作时根据该信号增益值主动进行信号增益调校的部分可以通过计算机可执行程序来进行。

8.一种计算机可执行之信号增益调校方法，其特征在于所述方法包含下列步骤：

建立若干个待测电子装置对应之计算机可执行若干个测试程序及若干个调校参数；

当该待测电子装置连结至一测试主机时，对该待测电子装置执行该测试程序以产生对应一测试项目之一测试结果；

读取该待测电子装置对应之该测试项目之一调校参数作比对；

当发现一信号状态值低于一信号标准值时，计算一信号增益值；及

写入该信号增益值至该待测电子装置之一内存；

其中，该待测电子装置可于运作时根据该信号增益值主动进行信号增益调校。

9.根据权利要求8所述所述之计算机可执行之信号增益调校方法，其特征在于：所述调校参数可提供通过一装置型号来读取，并依据该测试项目比对来查找对应之该信号标准值。

10.根据权利要求8所述所述之计算机可执行之信号增益调校方法，其特征在于：所述待测电子装置通过一数据传输接口来与该测试主机连结。

11.根据权利要求10所述所述之计算机可执行之信号增益调校方法，其特征在于：所述数据传输接口为通用串行总线接口。

12.根据权利要求8所述所述之计算机可执行之信号增益调校方法，其特征在于：所述测试结果根据该测试项目去执行对应该测试程序所获得之该装置型号、该测试项目及该信号状态值。

13.根据权利要求8所述所述之计算机可执行之信号增益调校方法，其特征在于：所述信号增益值等于该信号标准值减去该信号状态值。

14.根据权利要求8所述所述之计算机可执行之信号增益调校方法，其特征在于：所述待测电子装置可于运作时根据该信号增益值主动进行信号增益调校的步骤可以通过计算机可执行程序来进行。

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