CN101029820A - 三维形状测量方法 - Google Patents
三维形状测量方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101029820A CN101029820A CNA2007100029103A CN200710002910A CN101029820A CN 101029820 A CN101029820 A CN 101029820A CN A2007100029103 A CNA2007100029103 A CN A2007100029103A CN 200710002910 A CN200710002910 A CN 200710002910A CN 101029820 A CN101029820 A CN 101029820A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- control part
- light source
- central control
- phase place
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02015—Interferometers characterised by the beam path configuration
- G01B9/02029—Combination with non-interferometric systems, i.e. for measuring the object
- G01B9/0203—With imaging systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明涉及三维形状测量方法,当检查对象物不处于正常检查模式的场合,在有裸板信息的板时通过数据库检索裸板信息、在由没有裸板信息的供应厂商供应的板的场合通过裸板学习来测量板的三维形状。本发明的三维形状测量方法包括以下步骤:测量第一照明源(41a)的亮度、测量将相位变换成高度的因数、确认测量作业是否为正常检查模式、测量与正常检查模式相应的板(62)的三维形状、确认有没有关于板的裸板信息、在没有裸板信息的情况下实施裸板学习、当裸板信息存在或产生裸板学习信息时测量与学习检查模式相应的板的目标对象物的三维形状、使用三维形状信息来分析板是否正常。由此,更易于实施板的三维形状测量作业。
Description
技术领域
本发明涉及三维形状测量方法,更具体地说,涉及下述测量方法,即,在检查对象物不处于正常检查模式中,在有裸板信息的板时通过DB(Date Base:数据库)检索裸板信息,在由无裸板信息的供应厂商供应的板时通过裸板(bare board)学习,能够测量板的目标对象物(target object)的三维形状。
背景技术
现有技术的三维形状测量方法如图9所示,为了测量三维形状,为了获得相应于基准面的基准相位,将产生自照明源(图中未示出)的光照射到光栅装置(图中未示出),使光栅图案照明照射到基准面(S10)。在将光栅图案照明照射到基准面时,按照能够利用相移算法(bucket algorithm)的方式使用PZT激励器(Piezoelectric Actuator:压电激励器,图中未示出)以微小间隔移送光栅同时照射到基准面,并通过CCD摄影机(图中未示出)和图像板(图中未示出)获得光栅图案图像(S11)。当由图像板获得光栅图案图像时,对光栅图案图像适用相移算法(S12),以获得相对于基准面的基准相位(S13)。
当获得与基准面相应的基准相位时,为了获得与检查对象相应的物体相位,首先将检查对象物放置到移送台上,使产生自照明源的光照射到光栅(图中未示出),以照射到检查对象物的测量面(S15)。在照射光栅图案照明时,按照能够利用相移算法的方式使用PZT激励器以微小间隔移送光栅同时照射到测量面,并通过CCD摄影机和图像板获得由测量面反射的光栅图案图像(S16)。当在图像板上获得由测量面反射的光栅图案图像时,对光栅图案图像适用相移算法(S17),以获得检查对象物的物体相位(S18)。
当获得基准相位和物体相位时,从基准相位中扣除物体相位(S20),获得莫尔条纹相位(S21)。当获得莫尔条纹相位时,将该莫尔条纹相位展开(S22),利用展开的结果来求解检查对象物的实际高度信息(S23),从而测量测量物的三维形状。
发明内容
但是,上述的现有技术的三维形状测量方法,在测量不是通常进行的检查对象物的全新的检查对象物的情况下,由于以手动方式一一计算测量条件后再实施,因此存在增加作业者的疲劳、降低测量作业的生产效率的问题。
因此,本发明是为了解决上述问题而提出的,目的在于提供一种三维形状测量方法,在检查对象物处于正常检查模式的情况下,测量基于正常检查模式的板的三维形状,在检查对象物不处于正常检查模式的情况下,通过数据库检索裸板信息,或者在由无裸板信息的供应厂商供应的板的情况下,通过裸板学习,测量板的三维形状,以能够改善测量作业的生产效率。
本发明的另一目的在于,在不同步骤使在测量三维形状时使用的照明源的亮度恒定维持来测量三维形状,由此能够改善三维形状的测量质量。
为了达到上述目的,本发明的三维形状测量方法包括下述步骤:由中央控制部控制模块控制部和图像获取部,以测量第一照明源的亮度;当第一照明源的亮度测量结束时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部,以测量将相位变换为高度的因数;当第一照明源的亮度和将相位变换为高度的因数被测量时,由中央控制部确认测量作业是否为正常检查模式;当在确认是否为正常检查模式的步骤中被确认为正常检查模式时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部,以测量基于正常检查模式的板的三维形状;当在确认是否为正常检查模式的步骤中被确认为不是正常检查模式时,由中央控制部检索数据库以确认是否存在相对于板的裸板信息;在确认是否存在裸板信息的步骤中,当不存在裸板信息时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部,实施裸板学习;在确认是否存在裸板信息的步骤中,当存在裸板信息时或者当实施裸板学习的步骤产生裸板学习信息时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部,以测量基于学习检查模式的板的三维形状;当在测量基于正常检查模式的板的三维形状的步骤中和在测量基于学习检查模式的板的三维形状的步骤中板的三维形状被分别测量时,中央控制部利用所测量的三维形状信息分析板是否为正常。
附图说明
图1为表示本发明的三维形状测量方法适用的三维形状测量系统的图;
图2A至2C为表示各板、裸板和校准目标的结构的图;
图3为表示本发明三维形状测量方法的流程图;
图4为详细表示对图3所示的第一照明源的亮度进行测量的步骤的流程图;
图5为详细表示对图3所示的将相位变换成高度的因数进行测量的步骤的流程图;
图6A和图6B为详细表示对根据图3所示的正常检查模式的板的三维形状进行测量的步骤的流程图;
图7A和图7B为详细表示图3所示的裸板学习步骤的流程图;
图8A和图8B为详细表示对根据图3所示的学习检查模式的板的三维形状进行测量的步骤的流程图;
图9为表示现有的三维形状测量方法的流程图。
标号的说明
10 中央控制部
20 模块控制部
30 图像获取部
40 图形投影器
41 照明部
41a 第一照明源
42 光栅移送装置
50 第二照明源
60 台移送装置
61 X-Y台
70 摄影机
80 DB
具体实施方式
以下,参照附图对本发明的实施例进行说明如下。
图1为表示本发明的三维形状测量方法适用的三维形状测量系统的图。如图所示,本发明的三维形状测量方法适用的三维形状测量系统包括:中央控制部10、模块控制部20、图像获取部30、至少一个以上的图形投影器40、第二照明源50、X-Y台61、台移送装置60和摄影机70,依次对各构成进行说明如下。
摄影机70适用CCD(电荷耦合装置)或者CMOS(互补金属氧化物半导体)摄影机,摄影机70的下侧设有透镜72、滤光器71和第二照明源50。摄影机70上具备的第二照明源50包括圆形排列多个发光二极管(图中未示出)或者适用圆形灯(图中未示出),作为测量检查对象物的板62和裸板63特定位置的特殊形状的照明使用。
台移送装置60使位于摄影机70下侧的X-Y台61驱动以按照摄影机70可以对板62、裸板63或校准目标64进行摄影的方式将其分别移送到预定的位置。
三维形状测量系统具备以实线和虚线分别表示的两个图形投影器40中的至少一个,图形投影器40分别倾斜地设置在对板62、裸板63或校准目标64进行摄影的摄影机70的一侧或另一侧。图形投影器40包括:照明部41、光栅移送装置42、光栅装置43和透镜44。照明部41由第一照明源41a和透镜41b、41c构成,从第一照明源41a产生的照明透过透镜44照射到光栅装置43后,分别照射到作为检查对象物的板62、裸板63或校准目标64。
图像获取部30接收由摄影机70拍摄的图像将其传送到中央控制部10,模块控制部20由台控制器21、光栅控制器22、照明控制器23构成。照明控制器23控制照明部41的第一照明源41a或第二照明源50,光栅控制器22控制光栅移送装置42的驱动,台控制器21控制台移送装置60的驱动。
中央控制部10由控制板11、图像处理板12和接口板13构成。中央控制部10通过接口板13对模块控制部20和图像获取部30发送/接收控制信号和信息,图像处理板12处理从图像获取部30接收的图像,控制板11整体地控制本发明的三维形状测量系统。此外,中央控制部10在DB(数据库)80中检索新板供应厂商的裸板信息或者存储通过学习检查模式获得的裸板信息。
使用附图1至图3对使用上述构成的三维形状测量系统测量板62的三维形状的方法进行说明如下。
图1为表示本发明的三维形状测量方法适用的三维形状测量系统的图,图2A至2C分别为表示板、裸板和校准目标的结构的图,图3为表示本发明三维形状测量方法的流程图。
如图1至图3所示,在测量三维形状之前,实施适用本发明的三维形状测量系统的初始设定作业。三维形状测量系统的初始设定作业首先实施步骤S100,由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30以测定第一照明源41a的亮度。当第一照明源41a的亮度测量结束时,实施步骤S200,由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30以测定将相位变换成高度的因数,由此三维形状测量系统的初始设定作业结束。
当三维形状测量系统初始设定作业用的第一照明源41a的亮度和将相位变换成高度的因数被测量时,实施步骤S300,由中央控制部10确认测量作业是否为正常检查模式。由中央控制部10确认是否为正常检查模式的方法,当操作者在进行板62的测量作业时使用键盘(图中未示出)那样的输入装置输入的信息和使用预先设置在三维形状测量系统中的作业程序来选择正常检查模式或学习检查模式时,由中央控制部10对其进行识别和确认。
在确认是否为正常检查模式的步骤S300中,当被确认为是正常检查模式时,实施步骤S400,由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30以测量根据正常检查模式的板62的三维形状。反之,在确认是否为正常检查模式的步骤S300中,当被确认为不是正常检查模式时,实施步骤S500,由中央控制部10检索DB80以确认有没有相对于板62的裸板信息。
确认有没有裸板信息的步骤S500实施步骤S510,通过驱动台移送装置60的台控制器21控制X-Y台61以将板62移送到测量位置。当板被移送到测量位置时,实施步骤S520,由中央控制部10控制照明控制器23以使第二照明源50接通。当第二照明源50被接通时,实施步骤S530,摄影机70对板62进行摄影,当图像获取部30获得图像时使用该图像由中央控制部10算出与板62特定部分的特殊形状相对的图像信息。板和裸板63的特殊部分用可以区别不同制造厂商或板62适用的不同产品的标记(图中未示出)表示。当与板62的目标对象物的特殊部分相对的位置信息被算出时,实施步骤S540,由中央控制部10在DB80中检索与算出的板62的目标对象物的特殊部分相对的图像信息一致的裸板信息。实施步骤S550,由中央控制部10确认检索的结果裸板信息是否存在DB80中,以检查与当前测量的板62相对的裸板信息是否存在DB80中。
在确认有没有相对于当前测量的板62的裸板信息的步骤S500中,在没有裸板信息的情况下,实施步骤S600,由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30以进行裸板学习。
在确认有没有裸板信息的步骤S500中,在裸板信息存在或实施裸板学习的步骤S600中,当裸板学习信息产生时,实施步骤S700,由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30以测量根据学习检查模式的板的三维形状。在测量根据正常检查模式的板的三维形状的步骤S400和测量根据学习检查模式的板的三维形状的步骤S700中,当各板62的三维形状被测量时,中央控制部10使用测量的三维形状信息实施分析板62是否正常的步骤S800,对板的上述目标对象物的三维形状进行测量后,判断形成于板62上的焊料62e有没有不良。如此,可以根据板62是处于正常检查模式还是学习检查模式来测量板62的三维形状,从而可以更易于实施板62的三维形状测量作业。
对本发明测量三维形状的方法中步骤S100、S200、S400、S600、S700的构成更详细地依次说明如下。
由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30以测量第一照明源41a的亮度的步骤S100如图1至图4所示,首先,由中央控制部10设定照明调整命令值的范围后,实施步骤S110,根据各设定的调整命令值通过模块控制部20具有的照明控制器23的控制对第一照明源41a的亮度进行调整。
为了调整第一照明源41a的亮度使用校准目标64。如图2C所示,校准目标64包括平面64a和台阶64b并由灰色形成,为测量三维形状的初始作业时测量第一照明源41a的亮度或者算出将相位变换成高度的因数时适用校准目标64。为了使用校准目标64来测量第一照明源41a的亮度,实施步骤S111,通过模块控制部20具有的、驱动台移送装置60的台控制器21来驱动X-Y台61使校准目标64移送到测量位置。测量位置表示摄影机70可以对校准目标进行摄影的位置。
当校准目标64被移送到测量位置时,实施步骤S112,通过模块控制部20具有的照明控制器23使第一照明源41a接通。当第一照明源41a被接通时,实施步骤S113,由中央控制部10设定照明调整命令值的范围。调整命令值的输入可以使用键盘(图中未示出)等的输入装置,当使用者输入调整命令值范围的信息时,由中央控制部10进行识别来设定调整命令值的范围。当调整命令值的范围被设定时,实施步骤S114,根据由中央控制部10设定的照明调整命令值控制照明控制器23来调整第一照明源41a的亮度。
当第一照明源41a的亮度被调整时,实施步骤S120,由中央控制部10通过驱动模块控制部20具有的光栅移送装置42的光栅控制器22使光栅装置43移送N次,每一次移送由摄影机70进行摄影并通过图像获取部30获得校准目标64的图像。当校准目标64的图像被获得时,实施步骤S130,通过中央控制部10具有的接口板13和图像处理板12分别接收该图像并对图像进行平均处理以算出平均图像。平均图像处理是获得平均图像的处理,即在获得校准目标64的图像时使光栅装置43移送N次,从每一次移送时由摄影机70进行摄影而获得的N个图像中去除光栅形状,从而获得去除光栅形状的平均图像。在本发明中,至少移送四次来获得图像,然后对平均图像进行处理。
当相对于校准目标64的平均图像被算出时,实施步骤S140,由中央控制部10对算出的平均图像的代表亮度值作为相应调整命令值的照明的亮度进行设定。当相对于各照明调整命令值的照明的亮度被设定时,实施步骤S150,由中央控制部10确认照明调整命令值是否为最大。确认照明调整命令值是否为最大的目的是,在照明调整命令值的设定范围中,如果照明调整命令值最大,则中央控制部10判断为第一照明源41a的亮度调整作业结束。
如果照明调整命令值为最大,则实施步骤S160,由中央控制部10定义与各调整命令值相适合的照明的亮度。当与各调整命令值相适合的照明的亮度被定义时,实施步骤S170,由中央控制部10将与调整命令值相适合的照明的亮度创建成照明索引表。照明索引表为定义根据各照明调整命令值的照明的亮度的表,通过使用照明索引表可以使用第一照明源41a来线性地调整板62和裸板63的三维形状测量时的照明的亮度,可以改善测量质量。
在第一照明源41a如图1中实线和虚线所示具有多个的情况下,定义与调整命令值相适合的照明的亮度的步骤S160实施由中央控制部10确认第一照明源41a是否为多个的步骤S161。在第一照明源41a为多个的情况下,实施步骤S162,使多个第一照明源41a中的某一个第一照明源41a断开,使其他的第一照明源41a接通。如果多个第一照明源41a中的某一个第一照明源41a为图1中实线所示的第一照明源41a,则其他的第一照明源41a表示图1中以虚线示出的第一照明源41a。
当其他的第一照明源41a接通时,实施步骤S163,确认该第一照明源41a的调整命令值是否为最大。如果其他的第一照明源41a的调整命令值为最大,则实施步骤S164,由中央控制部10对一个第一照明源41a和其他第一照明源41a与各调整命令值相适合的照明的亮度值进行比较,然后选择照明亮度值小的作为与各调整命令值相适合的照明的亮度的值进行计算。当与各调整命令值相适合的照明的亮度的值被算出时,实施步骤S165,由中央控制部10定义与第一照明源的各调整命令值相适合的照明的亮度的值,然后将定义成各调整命令值的照明的亮度值创建为照明索引表。
当第一照明源41a的亮度测量结束时,实施步骤S200,由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30以测量将相位变换成高度的因数,实施步骤S210,该过程如图1至图3和图5所示,通过由中央控制部10选择的调整命令值控制模块控制部20的照明控制器23来调节第一照明源41a的亮度。
为了调节第一照明源41a的亮度,实施步骤S211,通过驱动台移送装置60的台控制器21来驱动X-Y台61使校准目标64移送到测量位置。当校准目标被移送到测量位置时,实施步骤S212,通过照明控制器23使第一照明源41a接通。当第一照明源41a被接通时,实施步骤S213,由中央控制部10选择调整命令值。当调整命令值被选择时,实施步骤S214,由中央控制部10以与选择的调整命令值相适合的照明的亮度控制照明控制器23以调节第一照明源41a的亮度。
当第一照明源41a的亮度被调节时,实施步骤S220,由中央控制部10确认校准目标64的测量部分是否为平面64a。校准目标64的测量部分是否为平面64a的确认是在使第二照明源50接通的状态下使用由摄影机70拍摄的图像由中央控制部10进行确认,当不是平面64a时,中央控制部10驱动台移送装置60使校准目标64的平面64a移送到摄影机70的焦点位置或者操作者通过手动作业移送。
如果测量部分是平面64a,则实施步骤S230,由中央控制部10将校准目标64的平面64a设定为检查区域。当平面64a被设定为检查区域时,实施步骤S240,通过驱动光栅移送装置42的光栅控制器22使光栅装置43移送N次,同时每一次移送将光栅图案照明照射到平面64a上,当反射的图像被摄影机70拍摄时由图像获取部30获得该平面64a的图像。当平面64a的图像被图像获取部30获得时,实施步骤S250,由中央控制部10将获得的图像利用N-相移算法获得平面64a的相位图后以第一基准面m的相位图进行存储。第一基准面的相位图那样的信息使用与中央控制部10具有的控制板11连接的硬盘等的存储装置(图中未示出)进行存储。
当平面64a的第一基准面m的相位图被存储时,再次实施步骤S220,确认测量部分是否为平面64a,当不是平面64a时,实施步骤S260,由中央控制部10将校准目标64的台阶64b设定为检查区域。当台阶64b被设定为检查区域时,实施步骤S270,通过驱动光栅移送装置42的光栅控制器22使光栅装置43移送N次,同时每一次移送时将光栅图案照明照射到台阶64b上,当反射的图像被摄影机70拍摄时由图像获取部30获得该台阶64b的图像。当台阶64b的图像被图像获取部30获得时,实施步骤S280,由中央控制部10将获得的图像利用N-相移算法获得台阶64b的相位图。
在获得并存储平面64a的第一基准面的相位图的步骤S250和获得台阶64b的相位图的步骤S260中分别获得平面64a和台阶64b的相位图时,实施步骤S290,使用该相位图算出并存储将各像素的相位变换成高度的因数。当使用相移算法算出各点的相位、使用算出的相位算出该点的高度值时,将相位变换成高度值时需要将相位变换成高度的因数。在摄影机70的特性上,将图像的各像素每一相位变换成高度的因数被适用,为了算出将各像素的相位变换成高度的因数,中央控制部10使用与第一基准面m相对的相位信息和台阶64b部分的相位图算出与第一基准面m相对的台阶64b部分的相对高度相位。当台阶64b部分的相对高度相位被算出时,中央控制部10使用算出的台阶64b部分的相对高度相位和台阶64b部分的图案周期信息以及预知的校准目标64的台阶64b的高度信息算出将相位变换成高度的因数。
在第一照明源41a如图1中实线和虚线所示具有多个的情况下,分别对各第一照明源41a实施算出并存储将相对于各像素的相位变换成高度的因数的步骤S290。在具有多个第一照明源41a的情况下,首先,实施步骤S291,使用通过由第一照明源41a的照明产生的光栅图案照明所获得的相位图算出将各像素的相位变换成高度的因数。
当将各像素的相位变换成高度的因数被算出时,实施步骤S292,由中央控制部10确认第一照明源41a是否为多个。当根据一个第一照明源41a的将各像素的相位变换成高度的因数被算出时,实施步骤S293,由中央控制部10控制模央控制部20的照明控制器23使将相位变换成高度的因数被算出的该一个第一照明源41a断开,使其他的第一照明源41a接通。
当其他的第一照明源41a被接通时,实施步骤S294,由中央控制部10确认将与由其他的第一照明源41a的照明产生的光栅图案照明相应的各像素的相位变换成高度的因数是否被算出。当将与由其他的第一照明源41a的照明产生的光栅图案照明相应的各像素的相位变换成高度的因数被算出时,实施步骤S295,由中央控制部10存储将与多个第一照明源41a相应的各像素的相位变换成高度的因数。
在确认将与由其他的第一照明源41a的照明产生的光栅图案照明相应的各像素的相位变换成高度的因数是否被算出的步骤294中,当将各像素的相位变换成高度的因数未被算出时,返回到步骤S210,由中央控制部10根据选择的调整命令值控制模块控制部20的照明控制器23来调节第一照明源的亮度。
当照明索引表和将相位变换成高度的因数被算出时,实施步骤S400,测量与正常检查模式相应的板的目标对象物的三维形状。测量与正常检查模式相应的板的目标对象物的三维形状的步骤S400如图1至图3、图6A和图6B所示地通过驱动台移送装置60的台控制器21来驱动X-Y台61,以实施步骤S410,将板62移送到测量位置。
当板62被移送到测量位置时,实施步骤S420,通过选择的调整命令值由中央控制部10控制照明控制器23来调节第一照明源41a的亮度。当第一照明源41a的亮度被调节时,实施步骤S430,由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30来获得板62的相位图以算出相对于第一基准面m的相对高度相位。当相对于第一基准面m的相对高度相位被算出时,实施步骤S440,由中央控制部10使用该相位算出相位柱状图、使用该相位柱状图算出板62的目标对象物的三维形状。
使用该相位算出相位柱状图、使用该相位柱状图算出板62的目标对象物的三维形状的步骤S440,在由如图1实线和虚线分别所示的第一照明源41a中的任一个第一照明源41a构成的情况下、相对于与由第一照明源41a产生的光栅图案照明相应的板62的第一基准面m的相对高度相位被算出时,实施步骤S442,由中央控制部10使用该相位算出相位柱状图。当相位柱状图被算出时,实施步骤S443,由中央控制部10从算出的相位柱状图中分离第二基准面n和焊料62e,算出第二基准面n和焊料62e的重量中心。
算出第二基准面n和焊料62e的重量中心的方法由中央控制部10使用预先存储的板62的尺寸信息对第二基准面n和焊料62e进行分离。当第二基准面n和焊料62e被分离时,由中央控制部10使用重量中心法分别算出第二基准面n和焊料62e的重量中心。
当第二基准面n和焊料62e的重量中心被算出时,实施步骤S444,由中央控制部10使用第二基准面n和焊料62e的重量中心算出焊料62e的代表高度。当焊料62e的代表高度被算出时,实施步骤S445,使用该高度由中央控制部10算出焊料62e的体积、高度分布和位置偏移(positional offset)。
以下是在图1中实线和虚线分别所示的第一照明源41a均具备、第一照明源41a为多个的情况下,算出相对于第一基准面m的相对高度相位和相位柱状图并使用该相位柱状图算出板62的三维形状的步骤S440。
在具备多个第一照明源41a的情况下,当相对于与由多个第一照明源41a中任一个第一照明源41a产生的光栅图案照明相应的板62的第一基准面m的相对高度相位和相对于与由其他的第一照明源41a产生的光栅图案照明相应的板62的第一基准面m的相对高度相位分别被算出时,实施步骤S441,由中央控制部10算出并存储在相对于各第一基准面m的相对高度相位中去除了噪音的综合高度相位。
当综合高度相位被存储时,实施步骤S442,如只具有一个第一照明源41a的情况那样,由中央控制部10使用存储的综合高度相位算出相位柱状图,并实施步骤S443,由中央控制部10从算出的相位柱状图中分离第二基准面n和焊料62e来算出第二基准面n和焊料62e的重量中心。然后,实施步骤S444,由中央控制部10使用算出的第二基准面n和焊料62e的重量中心算出焊料62e的代表高度,当焊料62e的代表高度被算出时,实施步骤S445,使用该代表高度由中央控制部10算出焊料62e的体积、高度分布和位置偏移。
焊料62e的高度分布的计算是以第二基准面n作为基准进行计算,焊料62e体积的计算是对于各像素预先算出的将相位变换成高度的因数和焊料62e的高度信息即相位差相乘后将其全部相加来计算。此外,焊料62e的位置偏移的计算是使用焊料62的体积、使用算出的焊料62e的整体重量中心和各高度的位置偏移信息且使用焊料62e脱离导电衬垫62d的中心多远的位置来计算,从而判别板62有没有不良。
在确认有没有裸板信息的步骤S500中,在没有裸板信息的情况下,实施步骤S600,由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30来实施裸板学习。
实施裸板学习的步骤S600如图1至图3、图7A、图7B所示,为了将裸板63移送到测量位置,实施步骤S610,通过驱动台移送装置60的台控制器21来驱动X-Y台61,使裸板63移送到测量位置。为了与板62相区别,裸板63包括基板62a、导电图62b、焊接掩模62c和导电衬垫62d。
当裸板63被移送到测量位置时,实施步骤S620,通过选择的调整命令值由中央控制部10控制照明控制器23来调节第一照明源41a的亮度。当第一照明源41a的亮度被调节时,实施步骤S630,由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30以获得裸板63的相位图算出相对于第一基准面m的相对高度相位。第一基准面m表示裸板63的基板62a,中央控制部10使用预先输入的裸板信息算出第一基准面m的高度。
当相对于第一基准面m的相对高度相位被算出时,实施步骤S640,由中央控制部10使用算出的相对于第一基准面m的相对高度相位和第二照明源50产生的照明被反射后由摄影机70拍摄的裸板的图像将算出的相对于裸板特定部分的位置信息和图像信息作为裸板信息存储到DB80中。
将相对于裸板特殊形状的位置信息作为裸板信息存储到DB80中的步骤S640,由于只具有一个第一照明源41a的情况与具有多个的情况其详细的过程不同,因此,首先列举只具有一个第一照明源41a的情况作为例子进行说明如下。
当相对于第一基准面m的相对高度相位被算出时,实施步骤S642,由中央控制部10将算出的相对于第一基准面m的相对高度相位作为裸板63的高度相位信息进行存储。当高度相位信息被存储时,实施步骤S643,由中央控制部10确认裸板63的全部区域的学习是否结束。当全部区域的学习结束时,实施步骤S644,由中央控制部10控制模块控制部20具有的照明控制器23使第一照明源41a断开而使第二照明源50接通。当第二照明源50被接通时,实施步骤S645,由中央控制部10控制图像获取部30通过摄影机70获得相对于裸板63的特殊形状的图像并存储,使用存储的图像和高度相位信息算出相对于裸板63的特殊形状的位置信息并作为裸板信息存储到DB80中。
在将相当于裸板的特殊形状的位置信息作为裸板信息存储到DB80的步骤S640中,在第一照明源41a为多个的情况下,首先,当相对于与多个第一照明源41a中的任一个第一照明源41a相应的裸板63的第一基准面m的相对高度相位和相对于与其他的第一照明源41a相应的裸板63的第一基准面m的相对高度相位分别被算出时,实施步骤S641,由中央控制部10在相对于各第一基准面m的相对高度相位中去除噪音来算出综合高度相位。当综合高度相位被算出时后面与第一照明源41a为一个的情况相同。即,当综合高度相位被算出时,实施步骤S642,由中央控制部10将该综合高度相位作为高度相位信息进行存储。
当高度相位信息被存储时,实施步骤S643,由中央控制部10确认裸板63的全部区域的学习是否结束。当全部区域的学习结束时,实施步骤S644,由中央控制部10控制模块控制部20具有的照明控制器23使第一照明源41a断开而使第二照明源50接通。当第二照明源50被接通时,实施步骤S644,由中央控制部10控制图像获取部30通过摄影机70获得相对于裸板63的特殊形状的图像并进行存储,使用存储的图像和高度相位信息算出相对于裸板特定部分的位置信息和图像信息并作为裸板信息存储到DB80中,裸板学习结束。
在确认有没有裸板信息的步骤S500中,在有裸板信息的情况下,使用附图1至图3、图8A、图8B测量与学习检查模式相应的板62的三维形状的步骤S700说明如下。
测量与学习检查模式相应的板62的目标对象物的三维形状的步骤S700,首先实施步骤S710,在DB80中检索与板62适合的裸板信息并读取一致的裸板信息。当与板62适合的裸板信息被读取时,实施步骤S720,由中央控制部10控制模块控制部20具有的照明控制器23,如果第二照明源50处于接通状态则使第二照明源50断开。当第二照明源50被断开时,实施步骤S730,由中央控制部10通过驱动台移送装置60的台控制器21来驱动X-Y台61使板62移送到测量位置。
当板62被移送到测量位置时,实施步骤S740,通过选择的调整命令值由中央控制部10控制照明控制器23来调节第一照明源41a的亮度。当第一照明源41a的亮度被调节时,实施步骤S750,由中央控制部10控制模块控制部20和图像获取部30以获得板62的相位图并算出相对于第一基准面m的相对高度相位。当相对于第一基准面m的相对高度相位被算出时,实施步骤S760,由中央控制部10使用该相对高度相位算出相位柱状图并算出相对于板62的特定部分的三维形状。
使用相对于第一基准面m的相对高度相位算出相位柱状图并算出板62的三维形状的步骤S760存在只具有一个第一照明源41a的情况和具有多个的情况。
在只具有一个第一照明源41a的情况下,使用相对于第一基准面m的相对高度相位算出相位柱状图并算出板62的三维形状的步骤S760,当相对于与由第一照明源41a产生的光栅图案照明相应的板62的第一基准面m的相对高度相位被算出时,实施步骤S762,由中央控制部10将算出的相对于第一基准面m的相对高度相位作为板62的高度相位信息进行存储。当高度相位信息被存储时,实施步骤S763,由中央控制部10使用学习并存储在DB80中的裸板63的高度相位信息和步骤S762中存储的板62的高度相位信息,分离焊料62e的高度相位信息。当在该检查位置焊料62e的高度相位信息被分离时,中央控制部10从算出的焊料62e的高度相位信息中算出实际高度,使用该实际高度算出焊料62e的体积、高度分布和位置偏移。为此,当焊料62e的高度相位信息被分离时,实施步骤S764,由中央控制部10从分离的焊料62e的高度相位信息中算出实际高度信息,算出焊料62e的体积、高度分布和位置偏移。
在具有多个第一照明源41a的情况下使用相对于第一基准面m的相对高度相位算出相位柱状图并算出板62的三维形状的步骤S760首先,当相对于与多个第一照明源41a中的任一个第一照明源41a相应的板62的第一基准面m的相对高度相位和相对于与其他的第一照明源41a相应的板62的第一基准面m的相对高度相位分别被算出时,实施步骤S761,由中央控制部10在算出的相对于各第一基准面m的相对高度相位中去除噪音来算出综合高度相位。以后的过程与只具有一个第一照明源41a的情况相同,其余的过程大致说明如下。
当综合高度相位被算出时,实施步骤S762,由中央控制部10将综合高度相位作为高度相位信息进行存储。当高度相位信息被存储时,则实施步骤S763,由中央控制部10使用学习并存储在DB80中的裸板63的高度相位信息和步骤S762中存储的板62的高度相位信息,分离焊料62e的高度相位信息。当焊料62e的高度相位信息被分离时,则实施步骤S764,由中央控制部10从分离的焊料62e的高度相位信息中算出实际高度信息,算出焊料62e的体积、高度分布和位置偏移。
使用附图6A至图8B对在测量三维形状的方法中按照可以判别板62有没有不良的方式调节第一照明源41a亮度的步骤S420、S620、S740更详细地说明如下。
调节第一照明源41a亮度的步骤S420、S620、S740根据第一照明源41a为一个的情况和为多个的情况不同而不同,在第一照明源41a为一个的情况下,使用附图6A、图7A和图8A对调节第一照明源41a亮度的步骤S420、S620、S740说明如下。
调节第一照明源41a亮度的步骤S420、S620、S740分别首先实施步骤S422、S622、S742,由中央控制部10控制照明控制器23使第一照明源41a接通。当第一照明源41a被接通时,实施步骤S423、S623、S743,由中央控制部10选择预先输入的调整命令值。当调整命令值被选择时,实施步骤S424、S624、S744,由中央控制部10控制照明控制器23以与选择的调整命令值相应的照明亮度对第一照明源41a的亮度进行调节,从而调节第一照明源41a的亮度。
在第一照明源41a为多个的情况下,使用附图6B、图7B和图8B对调节第一照明源41a亮度的步骤S420、S620、S740说明如下。
在第一照明源41a为多个的情况下,调节第一照明源41a亮度的步骤S420、S620、S740分别首先实施步骤S421、S621、S741,由中央控制部10确认多个第一照明源41a中的任一个第一照明源41a是否被选择。当确认一个第一照明源41a被选择时,实施步骤S422、S622、S742,由中央控制部10控制照明控制器23使被选择的一个第一照明源41a接通。当该一个第一照明源41a被接通时,实施步骤S423、S623、S743,由中央控制部10选择预先输入的调整命令值。当调整命令值被选择时,实施步骤S424、S624、S744,由中央控制部10控制照明控制器23以与选择的调整命令值相应的照明亮度对该一个第一照明源41a的亮度进行调节。
当确认该一个第一照明源41a是否被选择的结果是该一个第一照明源41a未被选择时,实施步骤S425、S625、S745,由中央控制部10控制照明控制器23使该其他的第一照明源41a接通。当该其他的第一照明源41a被接通时,实施步骤S426、S626、S746,由中央控制部10选择预先输入的调整命令值。当调整命令值被选择时,实施步骤S427、S627、S747,由中央控制部10控制照明控制器23以与选择的调整命令值相应的照明亮度对该其他的第一照明源41a的亮度进行调节。
当第一照明源41a的亮度被调节时,分别实施步骤S430、S630、S750,算出相对于第一基准面m的相对高度相位。算出相对于第一基准面m的相对高度相位的步骤S430、S630、S750根据第一照明源41a为一个的情况和为多个的情况不同而不同,在第一照明源41a为一个的情况下,使用附图6A、图7A和图8A对算出相对于第一基准面m的相对高度相位的步骤S430、S630、S750说明如下。
当第一照明源41a的亮度被调节时,实施步骤S431、S631、S751,通过驱动光栅移送装置42的光栅控制器22使光栅装置43移送N次,同时当每一次移送时照射与由第一照明源41a产生的照明相应的光栅图案照明而被反射的图像由摄影机70拍摄时,由图像获取部30获得该图像。在图像获取部30获得图像时,为了扩展检查区域而反复实施图像获取部30获得图像的步骤S431、S631、S751,实施扩展设定的检查区域的步骤S432、S632、S752。如图2A所示,扩展检查区域的概念适用于为了在由形成于基板62a上的导电图62b、焊接掩模62c、导电衬垫62d和焊料62e构成的板62中以第二基准面n为基准来求解焊料62e的高度。第二基准面n表示从板的底面至焊接掩模62c和导电衬垫62d的高度,即与从第一基准面m至焊接掩模62c和导电衬垫62d的重量中心适合的高度。此外,如图2A和图2B所示,在板62和裸板63中,当A区域被设定为检查区域而检查开始时,为了算出第二基准面n的高度需要将检查区域扩展至B区域。
当在由图像获取部30获得图像的步骤S431、S631、S751和设定的扩展检查区域的步骤S432、S632、S752中图像获取部30分别获得图像时,实施步骤S433、S633、S753,由中央控制部10使用N-相移算法算出相位图进行存储。当相位图被算出并被存储时,实施步骤S434、S634、S754,使用预先存储的第一基准面m的相位图与存储于中央控制部10的相位图的差算出在该检查位置相对于第一基准面m的相对高度相位。
在第一照明源41a为多个的情况下,使用附图6B、图7B和图8B对算出相对于第一基准面m的相对高度相位的步骤S430、S630、S750说明如下。
当多个第一照明源41a中的任一个第一照明源41a的亮度被调节时,实施步骤S431、S631、S751,通过驱动光栅移送装置42的光栅控制器22使光栅装置43移送N次,同时当每一次移送时照射与由该一个第一照明源41a产生的照明相应的光栅图案照明而反射的图像由摄影机70拍摄时,由图像获取部30获得该图像。在图像获取部30获得图像时,为了扩展检查区域而反复实施图像获取部30获得图像的步骤S431、S631、S751,实施扩展设定的检查区域的步骤S432、S632、S752。当在由图像获取部30获得图像的步骤S431、S631、S751和设定的扩展检查区域的步骤S432、S632、S752中图像获取部30分别获得图像时,实施步骤S433、S633、S753,由中央控制部10使用N-相移算法算出相位图进行存储。当相位图被算出时,实施步骤S434、S634、S754,使用预先存储的第一基准面m的相位图与存储于中央控制部10的相位图的差算出在该检查位置相对于第一基准面m的相对高度相位。
当多个第一照明源41a中其他的第一照明源41a的亮度被调节时,实施步骤S435、S635、S755,通过驱动光栅移送装置42的光栅控制器22使光栅装置43移送N次,同时当每一次移送时照射与由该其他的第一照明源41a产生的照明相应的光栅图案照明而反射的图像由摄影机70拍摄时,由图像获取部30获得该图像。当图像获取部30获得与该其他的第一照明源41a相应的图像时,实施对设定的检查区域进行扩展的步骤S436、S636、S756、使用N-相移算法算出相位图并进行存储的步骤S437、S637、S757,和算出相对于第一基准面m的相对高度相位的步骤S438、S638、S758,从而算出与该其他的第一照明源41a相应的相对高度相位。
当对于在三维形状测量系统中设置一个第一照明源41a的情况和设置多个第一照明源41a的情况被计算出各个相对高度相位时,使用该相对高度相位来测量板62的目标对象物的三维形状,使用测量的结果可以判别板62的焊料62e是否存在不良。
如以上所说明,本发明的三维形状测量方法具有以下优点,在检查对象物处于正常检查模式时可以测量与正常检查模式相应的板的三维形状,在不处于正常检查模式时通过DB检索与板一致的裸板信息或者当检查对象物为由没有裸扳信息的供应厂商供应的板时通过学习模式来测量板的三维形状,由此可以改善三维形状测量作业的生产率。
本发明的另一目的在于提供以下优点,即在不同阶段使三维形状测量时使用的照明源的亮度恒定地维持来测量三维形状,由此可以改善三维形状的测量质量。
Claims (21)
1.三维形状测量方法,包括下述步骤:
由中央控制部控制模块控制部和图像获取部,以测量第一照明源的亮度;
当所述第一照明源的亮度测量结束时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部,以测量将相位变换为高度的因数;
当所述第一照明源的亮度和将所述相位变换为高度的因数被测量时,由中央控制部确认测量作业是否为正常检查模式;
当在确认是否为所述正常检查模式的步骤中确认为正常检查模式时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部,以测量基于正常检查模式的板的目标对象物的三维形状;
当在确认是否为所述正常检查模式的步骤中确认为不是正常检查模式时,由中央控制部检索数据库以确认是否存在相对于板的裸板信息;
在确认是否存在所述裸板信息的步骤中,当不存在裸板信息时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部,实施裸板学习;
在确认是否存在所述裸板信息的步骤中,当存在裸板信息时或者当实施裸板学习的步骤产生裸板学习信息时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部,以测量基于学习检查模式的板的三维形状;
当在测量基于所述正常检查模式的板的三维形状的步骤中和在测量基于所述学习检查模式的板的目标对象物的三维形状的步骤中板的目标对象物的三维形状被分别测量时,中央控制部利用所测量的三维形状信息分析板是否为正常。
2.根据权利要求1所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述测量第一照明源的亮度的步骤包括:
通过中央控制部设定调整命令值的范围以后,根据各设定的调整命令值,并通过模块控制部具有的照明控制器的控制,来调节第一照明源的亮度;
当所述第一照明源的亮度被调节时,由中央控制部通过驱动模块控制部具有的光栅移送装置的光栅控制器使光栅装置移送N次,每次移送时由摄影机进行摄影,并通过图像获取部获得校准目标的图像;
将所述获得的图像分别通过中央控制部具有的接口板和图像处理板进行接收,对图像进行平均处理,算出平均图像;
当所述平均图像被算出时,由中央控制部将算出的平均图像的代表亮度设定为相应调整命令值的照明的亮度;
当对于所述各调整命令值的照明亮度被设定时,由中央控制部确认调整命令值是否为最大;
当所述调整命令值为最大时,由中央控制部定义相应于各调整命令值的照明的亮度;
当定义了相应于各调整命令值的照明的亮度时,由中央控制部将各调整命令值的相应照明的亮度创建为照明索引表。
3.根据权利要求2所述的三维形状测量方法,其特征在于,在设定调整命令值的范围后,通过各设定的调整命令值来调节第一照明源的亮度的步骤包括:
通过模块控制部具有的对台移送装置进行驱动的台控制器对X-Y台进行驱动,以将校准目标移送到测量位置;
当所述校准目标被移送到测量位置时,通过模块控制部具有的照明控制器使第一照明源接通;
当所述第一照明源被接通时,由中央控制部设定照明调整命令值的范围;
当设定了所述照明调整命令值的范围时,由中央控制部通过设定的调整命令值控制照明控制器来调节第一照明源的亮度。
4.根据权利要求2所述的三维形状测量方法,其特征在于,定义相应于所述调整命令值的照明的亮度的步骤包括:
由中央控制部确认第一照明源是否为多个;
当所述第一照明源为多个时,使多个第一照明源中的任一个第一照明源断开,使其它的第一照明源接通;
当所述其它的第一照明源被接通时,确认该第一照明源的调整命令值是否为最大;
当所述其它的第一照明源的调整命令值为最大时,由中央控制部对与一个第一照明源的调整命令值相应的照明亮度和与其它的第一照明源的调整命令值相应的照明亮度进行比较,然后选择照明亮度小的作为相应于各调整命令值的照明亮度来计算;
当相应于各调整命令值的照明亮度被算出时,由中央控制部定义相应于第一照明源的各调整命令值的照明亮度。
5.根据权利要求1所述的三维形状测量方法,其特征在于,测量将所述相位变换为高度的因数的步骤包括:
由中央控制部根据所选择的调整命令值,控制模块控制部的照明控制器来调节第一照明源的亮度;
当所述第一照明源的亮度被调节时,由中央控制部确认校准目标的测量部分是否为平面;
如果所述测量部分为平面,则由中央控制部将校准目标的平面设定为检查区域;
当所述平面设定为检查区域时,通过驱动光栅移送装置的光栅控制器使光栅装置移送N次,同时在每次移送时将光栅图案照明照射到平面,当反射的图像被摄影机摄影时,由图像获取部获得所述平面的图像;
当平面图像被所述图像获取部获得时,由中央控制部对所获得的图像利用N-相移算法获得平面相位图,并作为第一基准面的相位图进行存储;
当在确认所述测量部分是否为平面的步骤中确认为不是平面时,由中央控制部将校准目标的台阶设定为检查区域;
当台阶被设定为检查区域时,通过驱动光栅移送装置的光栅控制器使光栅装置移送N次,同时在每次移送时将光栅图案照明照射到台阶,当反射的图像被摄影机摄影时,由图像获取部获得所述台阶的图像;
当台阶图像被所述图像获取部获得时,由中央控制部利用N-相移算法获得台阶的相位图;
当在获得所述平面的第一基准面的相位图并进行存储的步骤中和在获得所述台阶的相位图的步骤中分别获得了平面和台阶相位图时,利用所述相位图算出将各像素的相位变换为高度的因数并进行存储。
6.根据权利要求5所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述由中央控制部根据所选择的调整命令值控制模块控制部的照明控制器来调节第一照明源的亮度的步骤包括:
通过用于驱动台移送装置的台控制器驱动X-Y台,以使校准目标移送到测量位置;
当所述校准目标被移送到测量位置时,通过照明控制器使第一照明源接通;
当所述第一照明源被接通时,由中央控制部选择调整命令值;
当选择了调整命令值时,由中央控制部以相应于所选择的调整命令值的照明亮度控制照明控制器,来调节第一照明源的亮度。
7.根据权利要求5所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述利用所述相位图算出将各像素的相位变换为高度的因数并进行存储的步骤包括:
使用通过由第一照明源的照明产生的光栅图案照明所获得的相位图,算出将各像素的相位变换成高度的因数;
当所述将各像素的相位变换成高度的因数被算出时,由中央控制部确认第一照明源是否为多个;
如果所述第一照明源为多个,则由中央控制部确认将与由多个第一照明源中的任一个第一照明源的照明产生的光栅图案照明相应的各像素的相位变换成高度的因数是否被算出;
当将与由所述一个第一照明源的照明产生的光栅图案照明相应的各像素的相位变换成高度的因数被算出时,由中央控制部控制模块控制部的照明控制器,使将相位变换为高度的因数被算出的一个第一照明源断开,使其他的第一照明源接通;
当所述其他的第一照明源被接通时,由中央控制部确认将与由其他的第一照明源的照明产生的光栅图案照明相应的各像素的相位变换成高度的因数是否被算出;
当所述将与由其他的第一照明源的照明产生的光栅图案照明相应的各像素的相位变换成高度的因数被算出时,由中央控制部存储与多个第一照明源相应的将各像素的相位变换成高度的因数;
在所述由中央控制部确认将与由所述一个第一照明源的照明产生的光栅图案照明相应的各像素的相位变换成高度的因数是否被算出的步骤中和在确认将与由其他的第一照明源的照明产生的光栅图案照明相应的各像素的相位变换成高度的因数是否被算出的步骤中,当将各像素的相位变换成高度的因数未被算出时,由中央控制部根据选择的调整命令值控制模块控制部的照明控制器,来调节第一照明源的亮度。
8.根据权利要求1所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述检索数据库以确认是否存在相对于板的裸板信息的步骤包括:
通过驱动台移送装置的台控制器控制X-Y台以使板移送到测量位置;
当所述板被移送到测量位置时,由中央控制部控制照明控制器使第二照明源接通;
当所述第二照明源被接通时,由摄影机进行摄影,当图像由图像获取部获得时使用所述图像由中央控制部算出与板的特定部分相应的位置信息和图像信息;
当所述与板的特殊部分相应的位置信息被算出时,由中央控制部在数据库中检索算出的板的特定部分相应的位置信息和与图像信息一致的裸板信息;和
由中央控制部确认在数据库中是否存在检索结果的裸板信息。
9.根据权利要求1所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述测量基于正常检查模式的板的目标对象物的三维形状的步骤包括:
通过驱动台移送装置的台控制器控制X-Y台以使板移送到测量位置;
当所述板被移送到测量位置时,通过选择的调整命令值,由中央控制部控制照明控制器来调节第一照明源;
当第一照明源的亮度被调节时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部来获得板的相位图,以算出相对于第一基准面的相对高度相位;
当相对于第一基准面的相对高度相位被算出时,由中央控制部使用所述相对高度相位算出相位柱状图,使用所述相位柱状图算出板的目标对象物的三维形状。
10.根据权利要求9所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述算出相对于第一基准面的相对高度相位和相位柱状图,使用所述相位柱状图算出板的目标对象物的三维形状的步骤包括:
当相对于与由第一照明源产生的光栅图案照明相应的板的第一基准面的相对高度相位被算出时,由中央控制部使用所述相对高度相位算出相位柱状图;
当所述相位柱状图被算出时,由中央控制部从算出的相位柱状图中分离第二基准面和焊料,算出第二基准面和焊料的重量中心;
当第二基准面和焊料的重量中心被算出时,由中央控制部使用第二基准面和焊料的重量中心算出焊料的代表高度;
当焊料的代表高度被算出时,使用所述代表高度由中央控制部算出焊料的体积、高度分布和位置偏移。
11.根据权利要求9所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述算出相对于第一基准面的相对高度相位和相位柱状图,使用所述相位柱状图算出板的目标对象物的三维形状的步骤包括:
当相对于与由多个第一照明源中任一个第一照明源产生的光栅图案照明相应的板的第一基准面的相对高度相位和相对于与由其他的第一照明源产生的光栅图案照明相应的板的第一基准面的相对高度相位分别被算出时,由中央控制部算出在相对于各第一基准面的相对高度相位中去除了噪音的综合高度相位并进行存储;
当存储了综合高度相位时,由中央控制部使用存储的综合高度相位算出相位柱状图;
当所述相位柱状图被算出时,由中央控制部从算出的相位柱状图中分离第二基准面和焊料,算出第二基准面和焊料的重量中心;
当所述第二基准面和焊料的重量中心被算出时,由中央控制部使用第二基准面和焊料的重量中心算出焊料的代表高度;
当所述焊料的代表高度被算出时,使用所述代表高度由中央控制部算出焊料的体积、高度分布和位置偏移。
12.根据权利要求1所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述实施裸板学习的步骤包括:
通过驱动台移送装置的台控制器控制X-Y台以使裸板移送到测量位置;
当所述裸板被移送到测量位置时,通过选择的调整命令值由中央控制部控制照明控制器来调节第一照明源;
当所述第一照明源的亮度被调节时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部来获得裸板的相位图,以算出相对于第一基准面的相对高度相位;
当相对于所述第一基准面的相对高度相位被算出时,由中央控制部使用算出的相对于第一基准面的相对高度相位和第二照明源产生的照明被反射后由摄影机拍摄的裸板图像,将算出的相对于裸板特定部分的位置信息和图像信息作为裸板信息存储到数据库中。
13.根据权利要求12所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述将算出的相对于裸板特定部分的位置信息作为裸板信息存储到数据库中的步骤包括:
当所述相对于第一基准面的相对高度相位被算出时,由中央控制部将算出的相对于第一基准面的相对高度相位作为裸板的高度相位信息进行存储;
当所述高度相位信息被存储时,由中央控制部确认裸板的全部区域的学习是否结束;
当所述全部区域的学习结束时,由中央控制部控制模块控制部具有的照明控制器使第一照明源断开而使第二照明源接通;
当第二照明源被接通时,由中央控制部控制图像获取部通过摄影机获得相对于裸板特定部分的图像并进行存储,使用存储的图像和高度相位信息算出相对于裸板特定部分的位置信息并作为裸板信息存储到数据库中。
14.根据权利要求12所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述将算出的相对于裸板特定部分的位置信息作为裸板信息存储到数据库中的步骤包括:
当相对于与多个第一照明源中的任一个第一照明源相应的裸板的第一基准面的相对高度相位和相对于与其他的第一照明源相应的裸板的第一基准面的相对高度相位分别被算出时,由中央控制部在相对于各第一基准面的相对高度相位中去除噪音以算出综合高度相位;
当所述综合高度相位被算出时,由中央控制部将所述综合高度相位作为高度相位信息进行存储;
当所述高度相位信息被存储时,由中央控制部确认裸板的全部区域的学习是否结束;
当所述全部区域的学习结束时,由中央控制部控制模块控制部具有的照明控制器使第一照明源断开而使第二照明源接通;
当第二照明源被接通时,由中央控制部控制图像获取部通过摄影机获得相对于裸板特定部分的图像并进行存储,使用存储的图像和高度相位信息算出相对于裸板特定部分的位置信息,并作为裸板信息存储到数据库中。
15.根据权利要求1所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述测量基于学习检查模式的板的目标对象物的三维形状的步骤包括:
在数据库中检索与板相应的裸板信息并读取一致的裸板信息;
当所述与板相应的裸板信息被读取时,由中央控制部控制模块控制部具有的照明控制器,如果第二照明源处于接通状态则使第二照明源断开;
当所述第二照明源被断开时,由中央控制部通过驱动台移送装置的台控制器来驱动X-Y台以使板移送到测量位置;
当所述板被移送到测量位置时,通过选择的调整命令值由中央控制部控制照明控制器来调节第一照明源的亮度;
当所述第一照明源的亮度被调节时,由中央控制部控制模块控制部和图像获取部以获得板的相位图,并算出相对于第一基准面的相对高度相位;
当所述相对于第一基准面的相对高度相位被算出时,由中央控制部使用所述相对高度相位算出相位柱状图,并算出相对于板的特定部分的三维形状。
16.根据权利要求15所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述算出相对高度相位和相位柱状图并算出相对于板的特定部分的三维形状的步骤包括:
当相对于与由第一照明源产生的光栅图案照明相应的板的第一基准面的相对高度相位被算出时,由中央控制部将算出的相对于第一基准面的相对高度相位作为板的高度相位信息进行存储;
当所述高度相位信息被存储时,由中央控制部使用学习并存储在DB中的裸板的高度相位信息和所述板的高度相位信息,分离焊料的高度相位信息;
当所述焊料的高度相位信息被分离时,由中央控制部从分离的焊料的高度相位信息中算出实际高度,并算出焊料的体积、高度分布和位置偏移。
17.根据权利要求15所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述算出相对高度相位和相位柱状图并算出相对于板的特定部分的三维形状的步骤包括:
当相对于与多个第一照明源中的任一个第一照明源相应的板的第一基准面的相对高度相位和相对于与其他的第一照明源相应的板的第一基准面的相对高度相位分别被算出时,由中央控制部在算出的相对于各第一基准面的相对高度相位中去除噪音以算出综合高度相位;
当所述综合高度相位被算出时,由中央控制部将综合高度相位作为高度相位信息进行存储;
当所述高度相位信息被存储时,由中央控制部使用学习并存储在数据库中的裸板的高度相位信息和所述板的高度相位信息,分离焊料的高度相位信息;
当所述焊料的高度相位信息被分离时,由中央控制部从分离的焊料的高度相位信息中算出实际高度信息,并算出焊料的体积、高度分布和位置偏移。
18.根据权利要求9、12或15所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述调节第一照明源的亮度的步骤包括:
由中央控制部控制照明控制器使第一照明源接通;
当所述第一照明源被接通时,由中央控制部选择预先输入的调整命令值;
当所述调整命令值被选择时,由中央控制部控制照明控制器以与选择的调整命令值相应的照明亮度对第一照明源的亮度进行调节。
19.根据权利要求9、12或15所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述调节第一照明源的亮度的步骤包括:
当具有多个第一照明源时,由中央控制部确认多个第一照明源中的任一个第一照明源是否被选择;
当确认所述一个第一照明源被选择时,由中央控制部控制照明控制器使被选择的一个第一照明源接通;
当所述一个第一照明源被接通时,由中央控制部选择预先输入的调整命令值;
当所述调整命令值被选择时,由中央控制部控制照明控制器以与选择的调整命令值相应的照明亮度对所述一个第一照明源的亮度进行调节;
当确认所述一个第一照明源是否被选择的结果是所述一个第一照明源未被选择时,由中央控制部控制照明控制器使其他的第一照明源接通;
当所述其他的第一照明源被接通时,由中央控制部选择预先输入的调整命令值;
当所述调整命令值被选择时,由中央控制部控制照明控制器以与选择的调整命令值相应的照明亮度对所述其他的第一照明源的亮度进行调节。
20.根据权利要求9、12或15所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述算出相对于第一基准面的相对高度相位的步骤包括:
当第一照明源的亮度被调节时,通过驱动光栅移送装置的光栅控制器使光栅装置移送N次,同时当每一次移送时,由摄影机拍摄通过与由第一照明源产生的照明相应的光栅图案照明而反射的图像,由图像获取部获得所述图像;
当图像被所述图像获取部获得时,扩展检查区域从而扩展设定的检查区域,以反复实施所述图像获取部获得图像的步骤;
当在所述由图像获取部获得图像的步骤和扩展设定的检查区域的步骤中图像分别被图像获取部获得时,由中央控制部使用N-相移算法算出相位图并进行存储;
当所述相位图被算出时,使用预先存储的第一基准面的相位图与存储于中央控制部的相位图的差算出在相应的检查位置相对于第一基准面的相对高度相位。
21.根据权利要求9、12或15所述的三维形状测量方法,其特征在于,所述算出相对于第一基准面的相对高度相位的步骤包括:
当多个第一照明源中的任一个第一照明源的亮度被调节时,通过驱动光栅移送装置的光栅控制器使光栅装置移送N次,同时当每一次移送时,由摄影机拍摄通过与由一个第一照明源产生的照明相应的光栅图案照明而反射的图像,由图像获取部获得所述图像;
当图像被所述图像获取部获得时,扩展检查区域从而扩展设定的检查区域,以反复实施所述图像获取部获得图像的步骤;
当在所述由图像获取部获得图像的步骤和扩展设定的检查区域的步骤中图像分别被图像获取部获得时,由中央控制部使用N-相移算法算出相位图并进行存储;
当所述相位图被算出时,使用预先存储的第一基准面的相位图与存储于中央控制部的相位图的差算出在相应的检查位置相对于第一基准面的相对高度相位;
当其他的第一照明源的亮度被调节时,通过驱动光栅移送装置的光栅控制器使光栅装置移送N次,同时当每一次移送时,由摄影机拍摄通过与由所述其他的第一照明源产生的照明相应的光栅图案照明而反射的图像,由图像获取部获得所述图像;
当图像获取部获得与所述其他的第一照明源相应的图像时,反复实施对设定的检查区域进行扩展的步骤、使用N-相移算法算出相位图并进行存储的步骤、和算出相对于第一基准面的相对高度相位的步骤。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060008480 | 2006-01-26 | ||
KR1020060008479A KR100672818B1 (ko) | 2006-01-26 | 2006-01-26 | 3차원형상 측정방법 |
KR1020060008479 | 2006-01-26 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNA2008101776067A Division CN101592476A (zh) | 2006-01-26 | 2007-01-26 | 三维形状测量方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101029820A true CN101029820A (zh) | 2007-09-05 |
CN100501317C CN100501317C (zh) | 2009-06-17 |
Family
ID=38014502
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNB2007100029103A Active CN100501317C (zh) | 2006-01-26 | 2007-01-26 | 三维形状测量方法 |
CNA2008101776067A Pending CN101592476A (zh) | 2006-01-26 | 2007-01-26 | 三维形状测量方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNA2008101776067A Pending CN101592476A (zh) | 2006-01-26 | 2007-01-26 | 三维形状测量方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100672818B1 (zh) |
CN (2) | CN100501317C (zh) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101893428A (zh) * | 2009-05-21 | 2010-11-24 | 株式会社高永科技 | 形状测量设备和形状测量方法 |
CN102192715A (zh) * | 2010-02-01 | 2011-09-21 | 株式会社高永科技 | 三维形状检查方法 |
CN102252630A (zh) * | 2010-04-26 | 2011-11-23 | 欧姆龙株式会社 | 形状计测装置以及校准方法 |
CN101303223B (zh) * | 2007-05-08 | 2011-12-14 | 株式会社高永科技 | 多方向投影式莫尔干涉仪以及使用该干涉仪的检查方法 |
CN102428344A (zh) * | 2009-05-20 | 2012-04-25 | Snu精度株式会社 | 三维形貌检测方法 |
CN102628678A (zh) * | 2011-02-01 | 2012-08-08 | 索尼公司 | 三维测量装置、三维测量方法及程序 |
CN102822666A (zh) * | 2009-11-30 | 2012-12-12 | 株式会社尼康 | 检查装置、三维形状测定装置、构造物的制造方法 |
US8437533B2 (en) | 2008-10-13 | 2013-05-07 | Koh Young Technology Inc. | Method of measuring a three-dimensional shape |
CN103185549A (zh) * | 2009-07-03 | 2013-07-03 | 株式会社高永科技 | 电路板检查装置及检查方法 |
CN108008687A (zh) * | 2016-10-31 | 2018-05-08 | 欧姆龙株式会社 | 控制系统、其控制方法及计算机可读存储介质 |
CN111566438A (zh) * | 2018-12-19 | 2020-08-21 | 合刃科技(深圳)有限公司 | 图像获取方法及系统 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100939537B1 (ko) * | 2007-12-14 | 2010-02-03 | (주) 인텍플러스 | 표면 형상 측정 시스템 및 그를 이용한 측정 방법 |
KR101241175B1 (ko) * | 2010-02-01 | 2013-03-13 | 주식회사 고영테크놀러지 | 실장기판 검사장치 및 검사방법 |
KR101547218B1 (ko) | 2010-11-19 | 2015-08-25 | 주식회사 고영테크놀러지 | 기판 검사방법 |
US9491441B2 (en) * | 2011-08-30 | 2016-11-08 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Method to extend laser depth map range |
US20130250093A1 (en) * | 2012-03-22 | 2013-09-26 | Jeremy Georges Bertin | Methods for automated image inspection |
KR101462848B1 (ko) | 2013-03-18 | 2014-11-18 | 에스엔유 프리시젼 주식회사 | 색정보를 측정할 수 있는 3차원 형상 측정 장치 |
JP7064404B2 (ja) * | 2018-08-13 | 2022-05-10 | 株式会社キーエンス | 光学式変位計 |
US11029146B2 (en) * | 2018-10-18 | 2021-06-08 | Cyberoptics Corporation | Three-dimensional sensor with counterposed channels |
CN112461141A (zh) * | 2021-02-03 | 2021-03-09 | 嘉兴景焱智能装备技术有限公司 | 结构光3d测高装置及测高方法 |
TWI813095B (zh) * | 2021-12-10 | 2023-08-21 | 財團法人工業技術研究院 | 三維量測系統及其校正方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3525964B2 (ja) * | 1995-07-05 | 2004-05-10 | 株式会社エフ・エフ・シー | 物体の三次元形状計測方法 |
-
2006
- 2006-01-26 KR KR1020060008479A patent/KR100672818B1/ko active IP Right Grant
-
2007
- 2007-01-26 CN CNB2007100029103A patent/CN100501317C/zh active Active
- 2007-01-26 CN CNA2008101776067A patent/CN101592476A/zh active Pending
Cited By (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101303223B (zh) * | 2007-05-08 | 2011-12-14 | 株式会社高永科技 | 多方向投影式莫尔干涉仪以及使用该干涉仪的检查方法 |
CN101726262B (zh) * | 2008-10-13 | 2013-07-10 | 株式会社高永科技 | 测量三维形状的方法和设备 |
US8437533B2 (en) | 2008-10-13 | 2013-05-07 | Koh Young Technology Inc. | Method of measuring a three-dimensional shape |
TWI416064B (zh) * | 2008-10-13 | 2013-11-21 | Koh Young Tech Inc | 量測三維形狀之方法 |
CN102428344A (zh) * | 2009-05-20 | 2012-04-25 | Snu精度株式会社 | 三维形貌检测方法 |
CN102428344B (zh) * | 2009-05-20 | 2014-04-16 | Snu精度株式会社 | 三维形貌检测方法 |
US9275292B2 (en) | 2009-05-21 | 2016-03-01 | Koh Young Technology Inc. | Shape measurement apparatus and method |
CN104034280B (zh) * | 2009-05-21 | 2017-09-08 | 株式会社高永科技 | 形状测量设备和形状测量方法 |
CN104034280A (zh) * | 2009-05-21 | 2014-09-10 | 株式会社高永科技 | 形状测量设备和形状测量方法 |
CN101893428A (zh) * | 2009-05-21 | 2010-11-24 | 株式会社高永科技 | 形状测量设备和形状测量方法 |
CN101893428B (zh) * | 2009-05-21 | 2014-07-16 | 株式会社高永科技 | 形状测量设备和形状测量方法 |
CN103185549B (zh) * | 2009-07-03 | 2015-11-18 | 株式会社高永科技 | 电路板检查装置及检查方法 |
CN103185549A (zh) * | 2009-07-03 | 2013-07-03 | 株式会社高永科技 | 电路板检查装置及检查方法 |
CN102822666A (zh) * | 2009-11-30 | 2012-12-12 | 株式会社尼康 | 检查装置、三维形状测定装置、构造物的制造方法 |
CN102192715B (zh) * | 2010-02-01 | 2013-10-30 | 株式会社高永科技 | 三维形状检查方法 |
CN102192715A (zh) * | 2010-02-01 | 2011-09-21 | 株式会社高永科技 | 三维形状检查方法 |
CN102252630B (zh) * | 2010-04-26 | 2016-01-06 | 欧姆龙株式会社 | 形状计测装置以及校准方法 |
CN102252630A (zh) * | 2010-04-26 | 2011-11-23 | 欧姆龙株式会社 | 形状计测装置以及校准方法 |
CN102628678A (zh) * | 2011-02-01 | 2012-08-08 | 索尼公司 | 三维测量装置、三维测量方法及程序 |
CN102628678B (zh) * | 2011-02-01 | 2016-07-06 | 重机自动化系统有限公司 | 三维测量装置、三维测量方法 |
CN108008687A (zh) * | 2016-10-31 | 2018-05-08 | 欧姆龙株式会社 | 控制系统、其控制方法及计算机可读存储介质 |
CN111566438A (zh) * | 2018-12-19 | 2020-08-21 | 合刃科技(深圳)有限公司 | 图像获取方法及系统 |
CN111566438B (zh) * | 2018-12-19 | 2022-03-25 | 合刃科技(深圳)有限公司 | 图像获取方法及系统 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101592476A (zh) | 2009-12-02 |
CN100501317C (zh) | 2009-06-17 |
KR100672818B1 (ko) | 2007-01-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101029820A (zh) | 三维形状测量方法 | |
JP5733923B2 (ja) | 3次元形状測定方法 | |
JP6774793B2 (ja) | 三次元測定装置 | |
CN1768352A (zh) | 投影设备和投影方法 | |
CN1661323A (zh) | 表面状态检查方法、表面状态检查装置和基板检查装置 | |
CN1815350A (zh) | 投影机和曝光调整方法 | |
JP6462823B2 (ja) | 画像検査装置 | |
CN1375053A (zh) | 测量物体凸纹的方法和系统 | |
CN1932635A (zh) | 投影装置、投影方法和记录投影方法的记录介质 | |
CN1534272A (zh) | 非接触三维形状测定方法及装置 | |
CN1934481A (zh) | 根据共焦显微术的基本原理的高速测量设备和方法 | |
CN1888813A (zh) | 图像获取设备 | |
CN1638081A (zh) | 摄像元件测试方法及装置 | |
CN1576934A (zh) | 焦点检测方法、焦点检测机械装置和图像测量设备 | |
US20090067701A1 (en) | System and method for detecting blemishes on surface of object | |
JPH1198370A (ja) | 画像処理方法、画像処理装置及び制御手順を記憶する記憶媒体 | |
CN1211683C (zh) | 图像拾取设备 | |
TW201918439A (zh) | 電子零件搬送裝置及電子零件檢查裝置 | |
US20210025834A1 (en) | Image Capturing Devices and Associated Methods | |
JP6234253B2 (ja) | 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 | |
CN1615426A (zh) | 测量物体二维或三维形状的光学仪器 | |
JP2016051168A (ja) | 画像取得装置およびその制御方法 | |
JP7363892B2 (ja) | 交換レンズ、情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラム | |
JP2002213921A (ja) | 撮影補助装置 | |
CN217132977U (zh) | 一种具有垂直投影的三维检测装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
CP01 | Change in the name or title of a patent holder | ||
CP01 | Change in the name or title of a patent holder |
Address after: Han Guoshouer Patentee after: Gaoying Technology Co.,Ltd. Address before: Han Guoshouer Patentee before: KOH YOUNG TECHNOLOGY Inc. |