CN101008719A - 显示装置、液晶显示面板组件及显示装置的测试方法 - Google Patents

显示装置、液晶显示面板组件及显示装置的测试方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种具有传感单元的显示装置。该显示装置包括：第一基底，具有多个测试分隔件；第二基底，具有分别面向测试分隔件的多条传感单元测试线。传感单元测试线的表面高度互不相同。测试分隔件的高度基本相同。第二基底还包括形成在传感单元测试线下方的多个高度差部分，对于不同的传感单元测试线，形成在传感单元测试线下方的高度差部分的数量不同。

Description

显示装置、液晶显示面板组件及显示装置的测试方法
本申请要求于2006年1月23日提交的第10-2006-0006733号韩国专利申请的优先权，该申请的全部内容通过引用包含于此。
技术领域
本发明涉及一种显示装置、一种液晶面板组件和一种该显示装置的测试方法。更具体地讲，本发明涉及一种具有传感器单元的显示装置、一种液晶面板组件和一种该显示装置的传感器单元的测试方法。
背景技术
液晶显示器(LCD)包括一对设置有像素电极和共电极的面板及置于面板之间的具有介电各向异性的液晶层。像素电极以矩阵布置，并连接到开关元件(例如，薄膜晶体管(TFT))，从而像素电极逐行地接收图像数据电压。共电极覆盖这两个面板之一的整个表面，并被提供有共电压。像素电极和共电极的对应的部分与液晶层的对应部分形成液晶电容器，液晶电容器和与之连接的开关元件是像素的基本元件。
LCD通过向像素电极和共电极施加电压产生电场，并且改变电场的强度来调整穿过液晶层的光的透射率，从而显示图像。触摸屏面板通过用手指、触摸笔或触笔(stylus)触摸显示面板来写字或画图，或者通过操作图标来执行设备(例如计算机等)的期望操作。附于触摸屏面板的LCD确定是否在显示面板上发生触摸和在显示面板上发生触摸的位置。然而，由于所附的触摸屏面板导致LCD的制造成本增加。此外，由于增加了使触摸屏面板附于LCD的工艺，导致LCD的成品率下降、亮度减弱且厚度增大。
为了解决上述问题，将多个传感单元(用TFT来实现)集成到LCD上。传感单元感测通过用户手指等的触摸而入射在显示面板上的光的变化，以确定是否发生触摸和发生触摸的位置。
为了测试集成在LCD上的传感单元的操作，在通过从外部施加压力等来操作传感单元之后，通过使测试装置的测试针接触每个测试焊盘而将测试信号施加到传感单元，从而测试LCD的工作状态。
因此，由于诸如使测试针接触小尺寸的测试焊盘的困难，导致需要大量的测试时间，因而测试被认为是一项棘手的工作。
发明内容
本发明通过提供一种具有传感器单元的显示装置、一种液晶显示面板组件和一种该显示装置的测试方法来解决上述传统技术的问题，其中，通过显示装置的像素来确定传感器的测试结果。
根据本发明示例性实施例的一种显示装置包括：第一基底，具有多个测试分隔件；第二基底，具有分别面向所述测试分隔件的多条传感单元测试线。所述传感单元测试线的表面高度可互不相同。所述测试分隔件的高度可以相同。
所述第二基底还可包括形成在所述传感单元测试线下方的多个高度差部分，对于不同的传感单元测试线，形成在所述传感单元测试线下方的高度差部分的数量可以不同。所述测试分隔件可包括第一测试分隔件、第二测试分隔件和第三测试分隔件，所述传感单元测试线可包括面向所述第一测试分隔件的第一传感单元测试线、面向所述第二测试分隔件的第二传感单元测试线和面向所述第三测试分隔件的第三传感单元测试线，所述高度差部分可包括第一高度差部分、第二高度差部分和第三高度差部分，所述第一高度差部分可形成在所述第一传感单元测试线下方，所述第一高度差部分和所述第二高度差部分可形成在所述第二传感单元测试线下方，所述第一高度差部分、所述第二高度差部分和所述第三高度差部分可形成在所述第三传感单元测试线下方。
所述第一基底还可包括形成在所述测试分隔件上的导体，形成在所述第一测试分隔件上的导体的表面和所述第一传感单元测试线的表面之间的距离可大于0。形成在所述第二测试分隔件上的导体的表面和所述第二传感单元测试线的表面之间的距离，以及形成在所述第三测试分隔件上的导体的表面和所述第三传感单元测试线的表面之间的距离可基本为0。
所述第一基底还可包括与所述测试分隔件相邻形成的接触传感突出，所述第二基底还可包括面向所述接触传感突出的传感数据线，所述传感数据线的表面高度可以与所述传感单元测试线的表面高度之一基本相同。所述传感数据线的表面高度可以与所述第一传感单元测试线的表面高度基本相同。
所述第二基底还可包括形成在所述传感数据线下方的第四高度差部分，所述第四高度差部分可以与所述第一高度差部分形成在所述第二基底的同一层上。
所述接触传感突出的高度可以与所述测试分隔件的高度相同。
所述第二基底还可包括：多条图像扫描线；绝缘层，形成在所述图像扫描线和所述第一高度差部分上；半导体层，形成在所述绝缘层上；多条图像数据线，位于所述半导体层上；钝化层，形成在所述图像数据线、所述第三高度差部分、所述第二高度差部分的暴露部分和所述绝缘层的暴露部分上。
所述第一高度差部分可以与所述图像扫描线形成在所述第二基底的同一层上，所述第二高度差部分可以与所述半导体层形成在所述第二基底的同一层上，所述第三高度差部分可以与所述图像数据线形成在所述第二基底的同一层上。
形成在第一传感单元测试线、所述第二传感单元测试线和所述第三传感单元测试线下方的钝化层的厚度可以基本相等。
所述第二基底还可包括形成在所述第二高度差部分上的第四高度差部分和形成在所述半导体层上的欧姆接触，所述第四高度差部分和所述欧姆接触可形成在所述第二基底的同一层内。所述第四高度差部分和所述第三高度差部分可具有相同的边界。
所述第二基底还可包括：多个信号传输单元，分别连接到所述传感单元测试线；信号输入线，被提供有来自外部装置的控制所述信号传输单元的控制信号；多条像素测试线，分别连接到所述信号传输单元。所述显示装置还可包括连接到所述像素测试线的多个像素。
呈现相同颜色的像素可连接到同一像素测试线。所述信号输入线可包括输入所述控制信号的第一焊盘，所述像素测试线可分别包括输入来自外部装置的像素测试信号的第二测试焊盘。
根据本发明另一示例性实施例的一种液晶面板组件，包括：多个测试分隔件；多条传感单元测试线，面向对应的测试分隔件；多个信号传输单元，分别连接到所述传感单元测试线；信号输入线，被提供有来自外部装置的控制所述信号传输单元的控制信号；多条像素测试线，分别连接到所述信号传输单元；多个像素，连接到所述像素测试线。所述传感单元测试线的表面高度可以互不相同。
所述测试分隔件的高度可以相同。
所述液晶面板组件还可包括形成在所述传感单元测试线下方的多个高度差部分。对于不同的传感单元测试线，形成在所述传感单元测试线下方的高度差部分的数量可以不同。
所述测试分隔件可包括第一测试分隔件、第二测试分隔件和第三测试分隔件，所述传感单元测试线可包括面向所述第一测试分隔件的第一传感单元测试线、面向所述第二测试分隔件的第二传感单元测试线和面向所述第三测试分隔件的第三传感单元测试线，所述高度差部分可包括第一高度差部分、第二高度差部分和第三高度差部分，所述第一高度差部分可形成在所述第一传感单元测试线下方，所述第一高度差部分和所述第二高度差部分可形成在所述第二传感单元测试线下方，所述第一高度差部分、所述第二高度差部分和所述第三高度差部分可形成在所述第三传感单元测试线下方。
所述液晶面板组件还可包括形成在所述测试分隔件上的导体，形成在所述第一测试分隔件上的导体的表面和所述第一传感单元测试线的表面之间的距离可大于0。形成在所述第二测试分隔件上的导体的表面和所述第二传感单元测试线的表面之间的距离，以及形成在所述第三测试分隔件上的导体的表面和所述第三传感单元测试线的表面之间的距离可基本为0。
所述液晶面板组件还可包括：接触传感突出，与所述测试分隔件相邻地形成；传感数据线，面向所述接触传感突出，所述传感数据线的表面高度可以与所述传感单元测试线的表面高度之一基本相同。所述传感数据线的表面高度可以与所述第一传感单元测试线的表面高度基本相同。
所述液晶面板组件还可包括形成在所述传感数据线下方的第四高度差部分。所述第四高度差部分可以与所述第一高度差部分形成在所述液晶面板组件的同一层上。所述接触传感突出的高度可以与所述测试分隔件的高度相同。
呈现相同颜色的像素可连接到同一像素测试线。
所述信号输入线可包括输入所述控制信号的第一焊盘，所述像素测试线可分别包括输入来自外部装置的像素测试信号的第二测试焊盘，所述第一焊盘和所述第二焊盘可形成在所述液晶面板组件的暴露区域上。
所述传感单元测试线和所述信号传输单元可形成在所述液晶面板组件的边缘区域上。所述信号传输单元可以为开关元件。所述液晶面板组件还可包括使所述像素和所述像素测试线之间的连接分开的切割线。
根据又一示例性实施例的一种测试方法为显示装置的测试方法，所述显示装置具有：多个测试分隔件；多条传感单元测试线，分别面向所述测试分隔件，并具有互不相同的表面高度；多个开关元件，分别连接到所述传感单元测试线；信号输入线，被提供有来自外部装置以控制所述开关元件的控制信号；多条像素测试线，连接到所述开关元件；多个像素，连接到所述像素测试线。所述方法包括以下步骤：向所述信号输入线施加断开所述开关元件的信号；向所述像素测试线施加第一测试信号，以测试所述像素；停止施加所述第一测试信号并向所述信号输入线施加接通所述开关元件的信号；测试所述像素；切割所述像素和所述像素测试线之间的连接。
附图说明
通过参照附图描述本发明的示例性实施例，本发明的特点和优点将变得明白，在附图中：
图1是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的框图；
图2是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的一个像素的等效电路图；
图3是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的示例性传感单元的框图；
图4是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的示例性压力传感器的等效电路图；
图5是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的示意图；
图6是根据本发明示例性实施例的用于测试像素和压力传感器的具有多条导线和多个开关元件的示例性液晶面板组件的一部分的示意图；
图7是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的示例性TFT阵列面板的布局图；
图8是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的示例性共电极面板的布局图；
图9是具有图7和图8中所示的示例性面板的示例性LCD的布局图；
图10是沿着X-X线截取的图9中所示的示例性LCD的剖视图；
图11是沿着XI-XI线截取的图9中所示的示例性LCD的剖视图；
图12是沿着XII-XII线截取的图6中所示的示例性液晶面板组件的剖视图。
具体实施方式
在下文中，将参照附图更充分地描述本发明，在附图中示出了本发明的示例性实施例。然而，本发明可以以许多不同的形式来实施，而不应该被理解为局限于在这里阐述的实施例。当然，提供这些实施例使得本公开是彻底且完全的，这些实施例将本发明的范围充分地传达给本领域的技术人员。
在附图中，为了清晰起见，夸大了层、膜、面板和区域等的厚度。在整个说明书中，相同的标号表示相同的元件。
应该理解，当元件(例如层、膜、区域或基底)被称作在另一元件“上”时，该元件可直接在另一元件上，或者也可存在中间元件。相反，当元件被称作“直接在另一元件上”时，不存在中间元件。如这里所用的，术语“和/或”包括相关的所列项的一个或多个的任意组合和全部组合。
应该理解，尽管在这里会用术语第一、第二、第三等来描述不同的元件、组件、区域、层和/或部分，但是这些元件、组件、区域、层和/或部分不应被这些术语所限制。这些术语仅用来将一个元件、组件、区域、层或部分与另一元件、组件、区域、层或部分区别开来。因此，在不脱离本发明教导的情况下，下面讨论的第一元件、组件、区域、层或部分可被称为第二元件、组件、区域、层或部分。
这里所用的术语仅是为了描述具体的实施例，而不意图来限制本发明。如这里所用的，除非上下文明确地指明，否则单数形式也意图包括复数形式。还应该理解，术语“包含”和/或“包括”用在本说明书中时说明存在所述特征、区域、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但不排除一个或多个其它特征、区域、整体、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组的存在或添加。
为了易于描述如图中示出的一个元件或特征与其它元件或特征的关系，在这里可使用诸如“在…之下”、“在…下方”、“下面的”、“在…上方”、“上面的”等空间相对术语。应该理解，空间相对术语意在包含除了附图中描述的方位之外的装置在使用或操作中的不同方位。例如，如果将图中的装置翻转，则被描述为在其它元件或特征“下方”或“下面”的元件将随后会位于其它元件或特征“上方”。因此，示例性术语“在…下方”可包含“在…上方”和“在…下方”两种方位。该装置可被另外定位(旋转90度或在其它方位)并相应地解释这里使用的空间相对描述符。
除非另有定义，否则这里所用的所有术语(包括技术和科学术语)具有与本发明所属领域的普通技术人员所通常理解的意思相同的意思。应该进一步理解，除非这里明确定义，否则术语例如在通用的词典中定义的术语应被解释为与相关领域的上下文中它们的意思相一致的意思，而不是理想地或过于正式地解释它们的意思。
在这里参照剖视图来描述本发明的实施例，剖视图是本发明的理想化实施例的示意性图示。这样，预计会出现例如由制造技术和/或公差的变化引起的示例的形状变化。因此，本发明的实施例不应被理解为局限于这里图示的区域的特定形状，而是包括例如由制造所造成的形状上的偏差。例如，示出或描述为平坦的区域通常可具有粗糙和/或非线性特征。另外，示出的锐角可能为倒圆角。因而，图中示出的区域实质上是示意性的，它们的形状并不意图说明区域的精确形状，也不意图限制本发明的范围。
现在，将参照附图来详细描述作为根据本发明的显示装置的示例性实施例的LCD。
图1是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的框图，图2是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的一个像素的等效电路图。图3是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的示例性传感单元的框图，图4是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的示例性压力传感器的等效电路图。图5是根据本发明示例性实施例的示例性LCD的示意图。
参照图1至图3，根据本发明示例性实施例的LCD包括：液晶(LC)面板组件300；图像扫描驱动器400，连接到液晶面板组件300；图像数据驱动器500；传感信号处理器800；灰度电压发生器550，连接到图像数据驱动器500；接触确定器700，连接到传感信号处理器800；信号控制器600，控制上述元件。
参照图1至图4，液晶面板组件300包括：多条显示信号线G1-Gn和D1-Dm；多个像素PX，连接到多条显示信号线并大致以矩阵形状布置；多条传感信号线SY1-SYN和SX1-SXM；多个传感器SU，连接到多条传感信号线，并且也大致以矩阵形状布置。另外，参照图2和图5，液晶面板组件300包括：TFT阵列面板100和共电极面板200，彼此相对；液晶层3，置于这两个面板之间；分隔件(未示出)，保持这两个显示面板100和200之间的间隙，并可通过受压而在一定程度上变形。
显示信号线G1-Gn和D1-Dm包括：多条图像扫描线G1-Gn，也称为栅极线，传输图像扫描信号；多条图像数据线D1-Dm，传输图像数据信号。传感信号线SY1-SYN和SX1-SXM包括传输传感数据信号的多条垂直传感数据线SX1-SXM和多条水平传感数据线SY1-SYN。
图像扫描线G1-Gn和水平传感数据线SY1-SYN大致在行方向(第一方向)上延伸并几乎相互平行，图像数据线D1-Dm和垂直传感数据线SX1-SXM大致在列方向(第二方向)上延伸并几乎相互平行。第一方向可基本垂直于第二方向。
像素PX中的每个包括：开关元件Q，连接到显示信号线G1-Gn和D1-Dm；存储电容器Cst和液晶电容器Clc，连接到开关元件Q。在可选的实施例中，如果必要，则可省略存储电容器Cst。
开关元件Q是设置在TFT阵列面板100上的三端子元件(例如TFT)，开关元件Q的控制端(例如栅电极)连接到图像扫描线G1-Gn，开关元件Q的输入端(例如源电极)连接到图像数据线D1-Dm，开关元件Q的输出端(例如漏电极)连接到液晶电容器Clc和存储电容器Cst。TFT还包含非晶硅(α-Si)或多晶硅。
液晶电容器Clc包括作为两个端子的TFT阵列面板100的像素电极191和共电极面板200的共电极270，以及起介电材料作用的位于这两个电极191和270之间的液晶层3。像素电极191连接到开关元件Q，共电极270形成在共电极面板200的整个表面上或基本整个表面上，并接收共电压Vcom。
在可选的实施例中，共电极270可设置在TFT阵列面板100上，在这种情况下，这两个电极191和270中的至少一个可以以线状或条状形成。
作为液晶电容器Clc的辅助件的存储电容器Cst形成有单独的信号线(未示出)和设置在TFT阵列面板内的像素电极191的叠置，其中，在单独的信号线和像素电极191之间设置有绝缘体，并向单独的信号线施加预定电压(例如共电压Vcom)。然而，存储电容器Cst可以形成有像素电极191和通过绝缘体直接位于电极191上的前一(previous)图像扫描线的叠置。
为了呈现颜色显示，通过使各像素PX固有地(inherently)显示一组颜色(例如原色)中的一种颜色(空间划分)，或者依次显示这组颜色中的颜色(时间划分)，用颜色的空间和与时间和识别期望的颜色。一组颜色的示例包括红色、绿色和蓝色。图2示出了空间划分的示例，其中，设置各像素PX且用于显示颜色之一的滤色器230位于共电极面板200的对应于像素电极191的区域内。可选择地，滤色器230可形成在TFT阵列面板100的像素电极191上或形成在像素电极191下。
用于使光偏振的至少一个偏振器(未示出)附于液晶面板组件300的外表面上。例如，第一偏振膜和第二偏振膜可分别位于TFT阵列面板100和共电极面板200上。第一偏振膜和第二偏振膜可根据液晶层3的配向方向分别调整外部提供到TFT阵列面板100和共电极面板200上的光的透射方向。第一偏振膜和第二偏振膜可分别具有彼此基本垂直的第一偏振轴和第二偏振轴。在反射式LCD中，可除去第一偏振膜和第二偏振膜中的一个。
传感器SU可具有图4中示出的结构。图4中示出的传感器SU为包括开关SWT的压力传感器，开关SWT连接到水平传感数据线和垂直传感数据线SL(在下文中，称作“传感数据线”)。
开关SWT具有作为两个端子的共电极面板200的共电极270和TFT阵列面板100的传感数据线SL，这两个端子中的至少一个突出，从而用户使这两个端子彼此物理地且电连接。因此，来自共电极270的共电压Vcom作为传感数据信号被输出到传感数据线SL。
图3示意性地示出了通过如4中所示的共电极面板200和TFT阵列面板100的构造形成的传感器SU。
接触确定器700通过分析由水平传感数据线SY1-SYN传输的水平传感数据信号确定接触点的Y坐标，通过分析由垂直传感数据线SX1-SXM传输的垂直传感数据信号确定接触点的X坐标。
各压力传感器SU设置在两个相邻的像素PX之间。例如，一对传感器SU的密度可以为点密度的大约1/4，其中，一对传感器中的每个连接到水平传感数据线SY1-SYN和垂直传感数据线SX1-SXM，并相邻地设置在它们的交叉区域中。这里，一个点例如包括三个像素，这三个像素彼此平行地布置并显示三种颜色(例如红色、绿色和蓝色)。一个点显示一种色调(color)，并成为显示LCD的分辨率的基本单元。然而，一个点可以由至少四个像素PX组成，在这种情况下，每个像素PX可显示三种颜色之一和一种白色。
一对传感器SU的密度为点密度的1/4的示例包括一对传感器SU的水平分辨率和垂直分辨率分别为LCD的水平分辨率和垂直分辨率的1/2的情况。在这种情况下，会存在没有传感器SU的像素行和像素列。
如果以这种程度设置传感器SU的密度和点密度，则LCD可应用于需要高精度的应用领域(例如字符识别)。在可选的实施例中，传感器SU的分辨率可以按需要更高或更低。
再参照图1和图3，灰度电压发生器550产生与像素PX的透射率有关的两个灰度电压组(或基准灰度电压组)。这两组中的一组相对于共电极Vcom具有正值，另一组具有负值。
图像扫描驱动器400连接到液晶面板组件300的图像扫描线G1-Gn，以向图像扫描线G1-Gn施加图像扫描信号，图像扫描信号包括用于接通开关元件Q的栅极导通电压Von和用于断开开关元件Q的栅极截止电压Voff的组合。
图像数据驱动器500连接到液晶面板组件300的图像数据线D1-Dm，图像数据驱动器500从灰度电压发生器550选择灰度电压，并将该电压作为图像数据信号施加到图像数据线D1-Dm。然而，当灰度电压发生器550没有提供对于所有灰度的电压，而仅提供预定数量的基准灰度电压时，图像数据驱动器500划分基准灰度电压，产生对于所有灰度的电压，并从这些电压中选择图像数据信号。
传感信号处理器800连接到液晶面板组件300的传感数据线SY1-SYN和SX1-SXM，以接收通过传感数据线SY1-SYN和SX1-SXM输出的传感数据信号，并执行信号处理和数字传感信号DSN的产生。
接触确定器700可由中央处理器单元(CPU)等组成，接触确定器700从传感信号处理器800接收数字传感信号DSN以确定压力传感器SU的接触位置。
信号控制器600控制图像扫描驱动器400、图像数据驱动器500、灰度电压发生器550、传感信号处理器800等的操作。
驱动器件400、500、550、600、700和800中的每个可以以至少一个集成电路(IC)芯片的形式直接安装在液晶面板组件300上，以带载封装(TCP)的形式安装在将要附于液晶面板组件300的柔性印刷电路(FPC)膜(未示出)上，或者安装在单独的印刷电路板(PCB)(未示出)上。可选择地，驱动器件400、500、550、600、700和800、信号线G1-Gn、D1-Dm、SY1-SYN和SX1-SXM，以及TFTQ等可以与液晶面板组件300集成在一起。
参照图5，液晶面板组件300分为显示区P1、边缘区P2和暴露区P3。大部分像素PX、传感器SU和信号线G1-Gn、D1-Dm、SY1-SYN和SX1-SXM位于显示区P1中。共电极面板200包括光阻挡构件220，如图8中所示，光阻挡构件220覆盖边缘区P2的大部分，以阻挡来自外部的光。共电极面板200小于TFT阵列面板100，由此暴露TFT阵列面板的一部分，从而形成暴露区P3。单个芯片610安装在暴露区P3内，FPC板620附于暴露区P3。
单个芯片610包括用于驱动LCD的驱动器件，即，包括图像扫描驱动器400、图像数据驱动器500、灰度电压发生器550、信号控制器600、接触确定器700和传感信号处理器800。通过将驱动器件400、500、550、600、700和800集成在单个芯片610上，可减小单个芯片610的安装面积，并降低功耗。如果需要，则驱动器件中的至少一个或构成驱动器件中的至少一个的至少一个电路元件可设置在单个芯片610外部。
图像信号线G1-Gn和D1-Dm及传感数据线SY1-SYN和SX1-SXM一直延伸到暴露区P3，以连接到对应的驱动器件400、500和800。
FPC板620接收来自外部装置的信号并将该信号传输到单个芯片610或液晶面板组件300，为了容易地连接到外部设备，FPC板620的末端(end tip)由连接器(未示出)构成。
图6是根据本发明示例性实施例的用于测试像素和压力传感器的具有多条导线和多个开关元件的液晶面板组件的一部分的示意图。
如图6中所示，多条信号线521-523、192-194和531(例如检测线、测试线和信号输入线)以及多个开关元件Q1-Q3形成在LC面板组件300上，所述多个开关元件Q1-Q3用于测试像素PX、测试分隔件241、242、243和压力传感器SU。
现在将详细描述信号线521-523、192-194和531及开关元件Q1-Q3的构造。
如图6中所示，如上所述，单个芯片610安装在位于LC面板组件300的前部或后部的暴露区P3上。
多条视觉检测(VI)线521-523形成在单个芯片610的下方。VI线521-523分别通过接触部分CP连接到与多列红色像素(RP)、多列绿色像素(GP)和多列蓝色像素(BP)连接的图像数据线LD。
如所示出的，VI线521连接到红色像素列以测试红色像素RP，VI线522连接到绿色像素列以测试绿色像素GP，VI线523连接到蓝色像素列以测试蓝色像素BP。然而，VI线521-523与像素BP、GP和BP之间的连接可以变化。
VI线521-523彼此平行地布置，VI线521-523中的每条主要在水平方向(第一方向)上延伸，然后VI线521-523中的每条的一端在纵向方向(例如在向下的方向或在指示远离显示区P1的第二方向)上延伸。各条VI线521-523具有连接到各自的端部的测试焊盘VP1-VP3。
每条VI线521-523的另一端在相对于对应的端部以相反方向延伸，例如在向上的方向上延伸，以到达边缘区P2。
测试信号输入线531形成在暴露区P3内。测试信号输入线531具有在其一端形成的测试焊盘SP，并在纵向方向上延伸，例如在向上的方向上或在指向边缘区P2的第二方向上延伸，以到达边缘区P2。
开关元件Q1-Q3(例如具有三端子的TFT)形成在边缘区P2内。开关元件Q1-Q3的输出端(例如漏电极)连接到从暴露区P3延伸到边缘区P2的各VI线521-523的端部，开关元件Q1-Q3的控制端(例如栅电极)连接到测试信号输入线531。开关元件Q1-Q3的输入端(例如源电极)连接到形成在边缘区P2中的压力传感器测试线192-194。
开关元件Q1-Q3与像素X的开关元件Q一起形成，开关元件Q1-Q3可以为α-Si TFT或多晶硅TFT。
测试分隔件241、242和243可以与共电极面板200一起形成，这将在下面进一步描述。
接下来，将参照图7至图12来描述根据本发明示例性实施例的包括TFT阵列面板100和共电极面板200的LCD。
图7是用于根据本发明示例性实施例的示例性LCD的示例性TFT阵列面板的布局图，图8是用于根据本发明示例性实施例的示例性LCD的示例性共电极面板的布局图。图9是根据本发明示例性实施例的包括图7中示出的示例性TFT阵列面板和图8中示出的示例性共电极面板的示例性LCD的布局图。
图10是沿着X-X线截取的图9中示出的包括示例性TFT阵列面板和示例性共电极面板的示例性LCD的剖视图，图11是沿着XI-XI线截取的图9中示出的包括示例性TFT阵列面板和示例性共电极面板的示例性LCD的剖视图。图12是沿着XII-XII线截取的图6中示出的示例性液晶面板组件的剖视图。
首先，将参照图7及图9至图12来详细描述根据本发明示例性实施例的TFT阵列面板100。
多条图像扫描线121、多条存储电极线131及第一高度差部分128a和128b形成在绝缘基底110上，绝缘基底110由诸如透明玻璃或塑料的材料制成，但不限于这些材料。
图像扫描线121传输图像扫描信号，并基本上在横向方向(例如第一方向)上延伸。图像扫描线121中的每条包括：多个栅电极124，朝着相邻的图像扫描线121向下突起；端部129，具有用来与另外的层或外部驱动电路接触的大面积。用来产生图像扫描信号的图像扫描驱动电路(例如图像扫描驱动器400)可安装在FPC膜(未示出)上，FPC膜可附于基底110、直接安装在基底110上或与基底110集成在一起。图像扫描线121可延伸至与驱动电路连接，该驱动电路可与基底110集成在一起。
存储电极线131被提供有预定电压，存储电极线131中的每条包括：干线(stem)，基本上平行于图像扫描线121延伸；多对第一存储电极133a和第二存储电极133b，从干线分支。存储电极线131中的每条设置在两条相邻的图像扫描线121之间，存储电极线131中的每条的干线靠近于两条相邻的图像扫描线121中的一条设置。存储电极133a和133b中的每个具有连接到干线的固定端部和与之相对设置的自由端部。第一存储电极133a的固定端部具有大面积，第一存储电极133a的自由端部分叉为线性分支和弯曲分支。然而，存储电极线131可具有不同的形状和布置。
第一高度差部分128a可形成在边缘区P2内，而第一高度差部分128b可形成在显示区P1内。
图像扫描线121、存储电极线131及第一高度差部分128a和128b可优选地由以下材料制成：诸如Al和Al合金的含铝(Al)金属、诸如Ag和Ag合金的含银(Ag)金属、诸如Cu和Cu合金的含铜(Cu)金属、诸如含Mo和Mo合金的含钼(Mo)金属、铬(Cr)、钽(Ta)或钛(Ti)。然而，图像扫描线121、存储电极线131及第一高度差部分128a和128b可具有包括两种不同物理特性的导电膜(未示出)的多层结构。在这种多层结构中，这两层膜中的一层可由低电阻率金属(例如含Al金属、含Ag金属和含Cu金属)制成以减少信号延迟或减小压降，而另一层膜可由具有良好的物理特性、化学特性及与诸如氧化铟锡(ITO)或氧化铟锌(IZO)的其它材料具有良好的电接触特性的材料(例如含Mo金属、Cr、Ta或Ti)制成。这两层膜的组合的优良示例包括下Cr膜和上Al(合金)膜以及下Al(合金)膜和上Mo(合金)膜。然而，虽然已经描述了具体的示例，但是图像扫描线121、存储电极线131及第一高度差部分128a和128b可以由不同的金属或导体制成。
图像扫描线121和存储电极线131的侧面相对于基底110的表面倾斜，它们的倾斜角在大约30度至大约80度的范围内。与图12不同，第一高度差部分128a和128b也可相对于基底110的表面倾斜，它们的倾斜角可以在大约30至大约80度的范围内。
优选地由氮化硅(SiNx)或氧化硅(SiOx)制成的绝缘层140形成在图像扫描线121、存储电极线131及第一高度差部分128a和128b上，也形成在绝缘基底110的暴露部分上。
优选地由氢化α-Si或多晶硅制成的多个半导体带151和第二高度差部分158形成在绝缘层140上。
半导体带151基本上在纵向方向上延伸，并在图像扫描线121和存储电极线131的附近变宽，从而半导体带151覆盖大面积的图像扫描线121和存储电极线131。半导体带151中的每个包括朝着栅电极124向外分支的多个突起154。
第二高度差部分158形成在边缘区P2内。第二高度差部分158可与第一高度差部分128a叠置。
多个欧姆接触带161和欧姆接触岛165及第三高度差部分168形成在半导体带151和第二高度差部分158上。欧姆接触带161和欧姆接触岛165优选地由用N型杂质(例如含磷的)重掺杂的n+氢化α-Si制成，或者可以由硅化物制成。欧姆接触带161中的每个包括多个突起163，突起163和欧姆接触岛165成对地位于半导体带151的突起154上。
第三高度差部分168形成在边缘区P2内。第三高度差部分168可与第一高度差部分128a和第二高度差部分158叠置。
半导体带151及欧姆接触161和165的侧面相对于基底110的表面倾斜，它们的倾斜角优选地在大约30度至大约80度的范围内。第三高度差部分168的侧面也可相对于基底110的表面倾斜，其倾斜角在大约30度至大约80度的范围内。
多条图像数据线171、多个漏电极175和第四高度差部分178形成在欧姆接触161和165、第三高度差部分168及暴露的绝缘层140上。
图像数据线171传输数据信号，并基本上在纵向方向(第二方向)上延伸，以与图像扫描线121交叉。图像数据线171中的每条还与存储电极线131交叉，并在相邻的存储电极133a和133b对之间延伸(run)。图像数据线171中的每条包括：多个源电极173，朝着栅电极124突出并象字符C一样弯曲；端部179，具有与另外的层或外部驱动电路接触的大面积。用来产生图像数据信号的图像数据驱动电路(例如图像数据驱动器500)可安装在FPC膜(未示出)上，其中，FPC膜可附于基底110、直接安装在基底110上或者与基底110集成在一起。图像数据线171可延伸至与驱动电路连接，该驱动电路可与基底110集成在一起。
漏电极175与图像数据线171分开，并关于栅电极124与源电极173相对地设置。漏电极175中的每个包括宽端部和窄端部。宽端部与存储电极线131叠置，窄端部被源电极173部分地包围。
栅电极124、源电极173和漏电极175与半导体带151的突起154一起形成具有沟道的TFT，该沟道形成在位于源电极173和漏电极175之间的突起154内。
第四高度差部分178可形成在边缘区P2内，并可与第一高度差部分128a、第二高度差部分158和第三高度差部分168叠置。
图像数据线171、漏电极175和第四高度差部分178可由诸如Cr、Mo、Ta、Ti或它们的合金的难熔金属制成。然而，图像数据线171、漏电极175和第四高度差部分178可具有包括难熔金属膜(未示出)和低电阻率膜(未示出)的多层结构。多层结构的优良示例包括具有下Cr/Mo(合金)膜和上Al(合金)膜的双层结构，以及下Mo(合金)膜、中间Al(合金)膜和上Mo(合金)膜的三层结构。然而，虽然已经描述了具体示例，但是图像数据线171、漏电极175和第四高度差部分178可由不同的金属或导体制成。
图像数据线171和漏电极175具有倾斜的边缘轮廓，它们的倾斜角在大约30度至大约80度的范围内。第四高度差部分178的侧面也可相对于基底110的表面倾斜，其倾斜角在大约30度至大约80度的范围内。
欧姆接触161和165及第三高度差部分168仅置于下伏半导体带151和第二高度差部分158与位于其上的上覆半导体171、175和第四高度差部分178之间，并减小下伏半导体带151和第二高度差部分158与上覆半导体171、175和第四高度差部分178之间的接触电阻。尽管半导体带151在多数位置比图像数据线171窄，但是如上所述，半导体带151的宽度在图像数据线121和存储电极线131的附近变大，以使表面的轮廓平滑，从而防止图像数据线171的断开。半导体带151可具有与图像数据线171和漏电极175以及下伏欧姆接触161和165的形状几乎相同的平面形状。然而，半导体带151包括没有被图像数据线171和漏电极175覆盖的一些暴露部分，例如位于源电极173和漏电极175之间的部分，该部分形成了TFT的沟道部分。
钝化层180形成在图像数据线171、漏电极175、第四高度差部分178、半导体带151的暴露部分和第二高度差158的暴露部分上，并且还可形成在绝缘层140的暴露部分上。钝化层180可由无机绝缘体或有机绝缘体制成，钝化层180在显示区P1内具有基本平坦的顶表面。钝化层180可在边缘区P2内包括阶梯状部分，这将在下面进行进一步描述。无机绝缘体的示例包括氮化硅和氧化硅。有机绝缘体可具有感光性(photosensitivity)和小于大约4.0的介电常数。钝化层180可包括无机绝缘体的下膜和有机绝缘体的上膜，从而钝化层180具有无机绝缘体的优良的绝缘特性，同时防止半导体带151的暴露部分被有机绝缘体损坏。
钝化层180具有暴露图像数据线171的端部179的多个接触孔182和暴露漏电极175的多个接触孔185。钝化层180和栅极绝缘层140具有：多个接触孔181，暴露图像扫描线121的端部129；多个接触孔183a，暴露存储电极线131的靠近第一存储电极133a的固定端部的部分；多个接触孔183b，暴露第一存储电极133a的自由端部的线性分支。
多个像素电极191、多个跨桥(overpass)83及多个接触辅助件81和82形成在钝化层180上。多个压力传感器测试线192-194和传感数据线195也形成在钝化层180上。它们可由诸如ITO或IZO的透明导体制成，或者可由诸如Ag、Al、Cr或它们的合金的反射导体制成。
像素电极191通过接触孔185物理地且电连接到漏电极175，从而像素电极191接收来自漏电极175的图像数据电压。被提供有图像数据电压的像素电极191与被提供有共电压的相对的共电极面板200的共电极270合作产生电场，该电场确定位于两个面板100和200之间的液晶层3的液晶分子(未示出)的取向。像素电极191和共电极270形成液晶电容器，该液晶电容器在TFT截止之后存储施加的电压。
像素电极191和与其连接的漏电极175与包括存储电极133a和133b的存储电极线131叠置，像素电极191的左侧和右侧与图像数据线171相邻，而不是与存储电极133a和133b相邻。像素电极191和与其电连接的漏电极175与存储电极线131形成存储电容器，该存储电容器提高液晶电容器的电压存储容量。
接触辅助件81通过接触孔181连接到扫描图像线121的端部129，接触辅助件82通过接触孔182连接到图像数据线171的端部179。接触辅助件81和82保护端部129和179，并增强端部129和179与外部装置之间的粘附力。
跨桥83跨过图像扫描线121，通过接触孔183a连接到存储电极线131的暴露部分并通过接触孔183b连接到存储电极133b的自由端部的暴露的线性分支，其中，接触孔183a和183b关于图像扫描线121彼此相对地设置。包括存储电极133a和133b的存储电极线131与跨桥83一起可用来修复图像扫描线121、图像数据线171或TFT中的缺陷。
在边缘区P1内，压力传感器测试线192形成在TFT阵列面板100的部分，其中，第一至第四高度差部分128a、158、168和178、绝缘层140及钝化层180均形成在该部分上。压力传感器测试线193形成在其上形成有第一高度差部分128a、第二高度差部分158、绝缘层140和钝化层180的部分上。压力传感器测试线194形成在其上形成有第一高度差部分128a、绝缘层140和钝化层180的部分上。
在显示区P1内，传感数据线195形成在其上形成有第一高度差部分128b、绝缘层140和钝化层180的部分上。
形成在压力传感器测试线192-194下方的钝化层180的厚度与形成在传感数据线195下方的钝化层的厚度基本相同。然而，从基底110的表面到各压力传感器测试线192-194的距离和到传感数据线195的距离互不相同。即，这些距离根据是否形成高度差部分128a、158、168和178而不同。例如，从其下形成有第一至第四高度差部分128a、158、168和178的压力传感测试线192到基底110的表面的距离最大，从其下仅形成有第一高度差部分128a的压力传感器测试线194到基底110的表面的距离最小。从传感数据线195的至少一部分到基底110的距离可以与从压力传感器测试线194到基底110的距离大约相同。
现在，将参照图8至图12来描述共电极面板200。
用来防止光泄漏的称作黑矩阵的光阻挡构件220形成在绝缘基底210上，绝缘基底210由例如透明玻璃或塑料的材料制成，但不限于这些材料。
光阻挡构件220具有多个面向像素电极191的开口225，每个开口具有与像素电极191的形状基本相同的平面形状。光阻挡构件220防止像素电极191之间的光泄漏。
多个滤色器230也形成在基底210上，这些滤色器基本设置在由光阻挡构件220包围的区域内。滤色器230可以沿着像素电极191基本在纵向方向上延伸。各滤色器230代表一组颜色(例如红色、绿色和蓝色)中的一种颜色。
保护层250形成在滤色器230和光阻挡构件220上。保护层250优选地由(有机)绝缘体制成，保护层250防止暴露滤色器230并提供平坦的表面。在可选的实施例中，可省略保护层250。
多个测试分隔件241-243和多个接触传感突出240形成在保护层250上。测试分隔件241-243的高度与接触传感突出240的高度基本相同。多个测试分隔件241-243和多个接触传感突出240可以由有机材料等制成。
测试分隔件241面向压力传感器测试线192，测试分隔件242面向压力传感器测试线193，测试分隔件243面向压力传感器测试线194。接触传感突出240面向对应的传感数据线195。
共电极270形成在测试分隔件241-243、接触传感突出240和暴露的保护层250上。共电极270可由诸如ITO或IZO的透明导电材料制成。
形成在测试分隔件243和接触传感突出240上的共电极270与分别相对于测试分隔件243和接触传感突出240的压力传感测试线194和传感数据线195隔开预定的距离“d”。
形成在接触传感突出240上的共电极270与相对的传感数据线195一起形成开关SWT，如前面关于图4所描述的。
通过调整形成在测试分隔件243上的共电极270和面向共电极270的压力传感器测试线194之间的距离，来限定接触传感突出240和传感数据线195之间容许的最小距离。即，一直到形成在测试分隔件243上的共电极270和压力传感器测试线194之间的距离变为大约“0”时，或者换言之，一直到形成在测试分隔件243上的共电极270和压力传感器测试线194之间不再有空间时，确定形成在接触传感突出240上的共电极270和传感数据线195之间的距离在允许的范围内。然而，由于第二高度差部分150的高度，使得形成在测试分隔件242上的共电极270和面向分隔件242的压力传感器测试线1 93之间的距离减小，该距离基本变为“0”，或者换言之，形成在测试分隔件242上的共电极和压力传感器测试线193之间没有空间。从而，共电极270和压力传感器测试线193没有外部压力就保持接触状态。
这时，通过调整测试分隔件242上的共电极270和压力传感器测试线193之间的距离，来限定接触传感突出240上的共电极270和传感数据线195之间的最佳距离。即，当测试分隔件242上的共电极270和压力传感器测试线193之间的距离基本为“0”时，第一高度差部分128a、128b和第二高度差部分158的高度被认为用来保持接触传感突出140和传感数据线195之间的最佳距离。
由于第二高度差部分158、第三高度差部分168和第四高度差部分178的高度，使测试分隔件241上的共电极270和相对的压力传感器测试线192之间的距离减小。从而，测试分隔件241上的共电极270和压力传感器测试线192之间的距离小于测试分隔件241的高度，从而，测试分隔件241上的共电极270和压力传感器测试线192相接触。然而，由于共电极270和压力传感器测试线192之间的空间不足，导致测试分隔件241上的共电极270拼命地挤压压力传感器测试线192。
这时，通过调整测试分隔件241上的共电极270和相对的压力传感器测试线192之间的距离，来限定接触传感突出240和传感数据线195之间的最大容许距离。即，随着测试分隔件241上的共电极270压力传感器测试线192之间的距离变大，一直到它们之间的距离释放为止，确定接触传感突出240上的共电极270和传感数据线195之间的距离保持在允许的范围内。
用来使液晶层3中的液晶分子取向的取向层(未示出)涂覆在显示面板100和200的内表面上。取向层可以是垂直取向层。偏振器(未示出)形成在显示面板100和200的外表面上。在反射式LCD中，可省略偏振器中的至少一个。
根据本发明示例性实施例的LCD还可以包括用于LC层3的相位补偿的相位延迟膜(未示出)。LCD还可包括背光单元(未示出)，背光单元用来为显示面板100和200之间的LC层3、偏振器及相位延迟膜提供光。
为了根据本发明的示例性实施例利用VI线521-523测试压力传感器SU，对于LCD的显示区P1内的各压力传感器，或者对于预定数量的压力传感器，可形成这样的压力传感器测试单元，其包括测试分隔件241-243、开关元件Q1-Q3、连接到开关元件的压力传感器测试线192-193及高度差部分128a、128b、158、168和178等。如图6和图12中所示，在LCD的边缘区P2内多个压力传感器测试单元可与压力传感器SU相邻地形成。在这种情况下，部分压力传感器SU可形成在边缘区P2上。考虑到测试的可靠性可调节压力传感器SU的数量。
现在，将详细描述上述LCD的显示和传感操作。
从外部图形控制器(未示出)向信号控制器600提供输入图像信号R、G、B和用来控制输入图像信号显示的输入控制信号。输入图像信号R、G、和B包含像素PX的亮度信息，亮度具有预定数量的灰度，例如具有1024(＝210)、256(＝28)或64(＝26)个灰度。输入控制信号的示例包括垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、主时钟信号MCLK和数据使能信号DE。
基于输入控制信号和输入图像信号R、G、B，信号控制器600产生图像扫描控制信号CONT1和图像数据控制信号CONT2，并将图像信号R、G、B处理成适于面板组件300和图像数据驱动器500的操作。信号控制器600将图像扫描控制信号CONT1发送到图像扫描驱动器400，将处理的图像信号DAT和图像控制信号CONT2发送到图像数据驱动器500。
图像扫描控制信号CONT1包括：扫描起始信号STV，用于指示开始扫描；至少一个时钟信号，用于控制栅极导通电压Von的输出时间段。图像扫描控制信号CONT1可包括用于限定栅极导通电压Von的持续时间的输出使能信号OE。
图像数据控制信号CONT2包括：水平同步起始信号STH，用于通知对像素PX的行的数据传输的开始；加载信号LOAD，用于指示将图像数据电压施加到图像数据线D1-Dm；数据时钟信号HCLK。图像数据控制信号CONT2还可包括反向信号RVS，用于使图像数据电压的极性(相对于共电压Vcom)反转。
响应来自信号控制器600的图像数据控制信号CONT2，图像数据驱动器500从信号控制器600接收用于像素PX的行的数字图像信号DAT的包，将数字图像信号DAT转换成选自于灰度电压的模拟图像数据电压，将模拟图像数据电压施加到图像数据线D1-Dm。
图像扫描驱动器400响应来自信号控制器600的扫描控制信号CONT1将栅极导通电压Von施加到图像扫描线G1-Gn，从而导通连接到图像扫描线G1-Gn的开关晶体管Q。然后，将施加到图像数据线D1-Dm的图像数据电压通过激活的开关晶体管Q提供给像素PX。
施加到像素PX的图像数据电压的电压和共电压Vcom之间的差表示为像素PX的LC电容器Clc两端的电压，称作像素电压。LC电容器Clc中的LC分子具有取决于像素电压的大小的取向，该分子取向决定穿过LC层3的光的偏振。偏振器将光偏振转换为光透射，使得像素PX具有由图像数据电压的灰度表示的亮度。
通过以水平周期(也称作“1H”，且等于水平同步信号Hsync和数据使能信号DE的一个周期)为单位重复这个过程，顺序地向所有的图像扫描线G1-Gn提供栅极导通电压Von，从而将图像数据电压施加到所有的像素PX，以显示一帧的图像。
当一帧结束后下一帧开始时，控制施加到图像数据驱动器500的反向信号RVS，使图像数据电压的极性反转(称作“帧反转”)。还可控制反向信号RVS，使得图像数据线D1-Dm内流动的图像数据电压的极性在一帧内周期性地反转(例如行反转和点反转)，或者使一包内的图像数据电压的极性反转(例如列反转和点反转)。
传感信号处理器800通过处理(例如放大、过滤等)流经传感数据线SY1-SYN和SX1-SxM的传感数据信号，产生对应于压力传感器SU的X轴接触位置和Y轴接触位置的数据传感信号DSN，其中，压力传感器SU连接到传感数据线的SY1-SYN和SX1-SXM。然后，传感信号处理器800将信号DSN传输到接触确定器700。
接触确定器700接收数字传感信号DSN，并通过利用数字传感信号DSN确定压力传感器SU的接触位置。然后，接触确定器700可控制对应于由用户选择的命令、菜单或另外的任务的操作。
现在，将描述在示例性LCD中的压力传感器的示例性VI测试方法。
首先，参照图6，检查员将测试信号分别通过测试焊盘VP1-VP3施加到VI线521-523，从而测试红色像素RP、绿色像素GP和蓝色像素BP的状态。此时，将断开开关元件Q1-Q3的信号通过连接到测试信号输入线531的测试焊盘SP施加到开关元件Q1-Q3，用来防止由于开关元件Q1-Q3造成的干扰，从而稳定地操作像素Px的VI测试。
即，利用单独的测试装置(未示出)将各自具有预定大小的测试信号电压施加到测试焊盘VP1-VP3，从而将测试信号分别传输到连接到VI线521-523的红色像素RP、绿色像素GP和蓝色像素BP的图像数据线。此时，通过单独的测试焊盘(未示出)将图像扫描信号施加到图像扫描线G1-Gn。
从而，红色像素RP、绿色像素GP和蓝色像素BP工作，检查员检查显示状态(例如各像素PX的明度(brightenss))，以确定像素RP、GP和BP的工作状态、对应的图像数据线LD的断开等。
接下来，检查员停止向测试焊盘VP1-VP3施加测试信号，从而测试焊盘VP1-VP3处于浮置状态。
然后，检查员通过测试焊盘SP经测试信号输入线531施加用来导通开关元件Q1-Q3的信号，并检查像素RP、GP和BP的非工作状态。此时，通过单独的测试焊盘(未示出)向图像扫描线G1-Gn施加图像扫描信号，向形成在测试分隔件241-243上的共电极270提供共电压Vcom。
当连接到VI线522的绿色像素GP和连接到VI线523的蓝色像素BP呈现对应的颜色时，检查员确定接触测试突出240和传感数据线195之间的距离保持在容许范围内。从而，检查员确定压力传感器SU正常。
然而，当所有连接到VI线521-523的红色像素RP、绿色像素GP和蓝色像素BP不工作时，检查员确定接触测试突出240和传感数据线195之间的距离超出了通过释放测试分隔件241和测试线192之间的接触而容许的最大范围。从而，检查员确定压力传感器SU异常。
当所有的红色像素RP、绿色像素GP和蓝色像素BP工作时，检查员确定测试分隔件243接触测试线194，从而接触传感突出240和传感数据线195之间的距离超出容许的最大范围。从而，检查员确定压力传感器异常。
如上所述，当完成压力传感器的测试时，利用例如激光微调装置(lasertrimming device)沿着切割线L切割连接到VI线521-523的图像数据线LD。此时，当安装单个芯片610时，切割图像数据线LD的位于单个芯片610下方的部分。
利用不需要其他工艺而是与像素PX一起形成的高度差部分128a、128b、158、168和178、绝缘层140及钝化层180，通过调整接触测试突出240和传感数据线195之间的距离d调整为容许范围，来确定压力传感器SU的工作状态。
由于为了测试像素RP、GP和BP的工作，通过已形成的VI线521、522和523来输出测试压力传感器SU的信号，所以没有必要另外形成用于测试压力传感器SU的单独的测试线。此外，像素RP、GP和BP用来检查压力传感器SU而无需单独的测试装置。
在示例性实施例中，通过将VI线521-523经过开关元件Q1-Q3连接到图像数据线LD来检查压力传感器SU，但是也可通过将连接到图像扫描线G1-Gn的测试线连接到开关元件Q1-Q3来检查压力传感器SU。
在本发明的示例性实施例中，将LCD描述为显示装置的一个示例，但是上面的描述也可应用于其它显示装置，例如等离子体显示装置、有机发光二极管(OLED)显示器等。
根据本发明的示例性实施例，通过像素确定压力传感器的测试结果，从而不需要单独的用来确定压力传感器的测试结果的装置。因此，测试成本降低，并且测试操作变得比较容易。
当制造TFT阵列面板时，通过形成多个高度差部分来限定接触传感突出和传感数据线之间的容许距离，所以没有增加制造成本，并且无需另外的制造工艺。
虽然已结合目前认为是实用的示例性实施例描述了该发明，但是要明白，本发明不局限于公开的实施例，而本发明旨在覆盖包括在权利要求的精神和范围内的各种修改和等同排列。

Claims (40)

1、一种显示装置，包括：
第一基底，具有多个测试分隔件；
第二基底，具有分别面向所述测试分隔件的多条传感单元测试线，
其中，所述传感单元测试线的表面高度互不相同。
2、如权利要求1所述的显示装置，其中，所述测试分隔件具有彼此相同的高度。
3、如权利要求1所述的显示装置，其中，所述第二基底还包括形成在所述传感单元测试线下方的多个高度差部分，对于不同的传感单元测试线，形成在所述传感单元测试线下方的高度差部分的数量不同。
4、如权利要求3所述的显示装置，其中，所述测试分隔件包括第一测试分隔件、第二测试分隔件和第三测试分隔件，
所述传感单元测试线包括面向所述第一测试分隔件的第一传感单元测试线、面向所述第二测试分隔件的第二传感单元测试线和面向所述第三测试分隔件的第三传感单元测试线，
所述高度差部分包括第一高度差部分、第二高度差部分和第三高度差部分，
所述第一高度差部分形成在所述第一传感单元测试线下方，
所述第一高度差部分和所述第二高度差部分形成在所述第二传感单元测试线下方，
所述第一高度差部分、所述第二高度差部分和所述第三高度差部分形成在所述第三传感单元测试线下方。
5、如权利要求4所述的显示装置，其中，所述第一基底还包括形成在所述测试分隔件上的导体，形成在所述第一测试分隔件上的导体的表面和所述第一传感单元测试线的表面之间的距离大于0。
6、如权利要求5所述的显示装置，其中，形成在所述第二测试分隔件上的导体的表面和所述第二传感单元测试线的表面之间的距离基本为0。
7、如权利要求5所述的显示装置，其中，形成在所述第三测试分隔件上的导体的表面和所述第三传感单元测试线的表面之间的距离基本为0。
8、如权利要求4所述的显示装置，其中，所述第一基底还包括与所述测试分隔件相邻地形成的接触传感突出，
所述第二基底还包括面向所述接触传感突出的传感数据线，
所述传感数据线的表面高度与所述传感单元测试线的表面高度之一基本相同。
9、如权利要求8所述的显示装置，其中，所述传感数据线的表面高度与所述第一传感单元测试线的表面高度基本相同。
10、如权利要求8所述的显示装置，其中，所述第二基底还包括形成在所述传感数据线下方的第四高度差部分。
11、如权利要求10所述的显示装置，其中，所述第四高度差部分与所述第一高度差部分形成在所述第二基底的同一层上。
12、如权利要求8所述的显示装置，其中，所述接触传感突出的高度与所述测试分隔件的高度相同。
13、如权利要求4所述的显示装置，其中，所述第二基底还包括：
多条图像扫描线；
绝缘层，形成在所述图像扫描线和所述第一高度差部分上；
半导体层，形成在所述绝缘层上；
多条图像数据线，位于所述半导体层上；
钝化层，形成在所述图像数据线、所述第三高度差部分、所述第二高度差部分的暴露部分和所述绝缘层的暴露部分上。
14、如权利要求13所述的显示装置，其中，所述第一高度差部分与所述图像扫描线形成在所述第二基底的同一层上。
15、如权利要求14所述的显示装置，其中，所述第二高度差部分与所述半导体层形成在所述第二基底的同一层上。
16、如权利要求14所述的显示装置，其中，所述第三高度差部分与所述图像数据线形成在所述第二基底的同一层上。
17、如权利要求13所述的显示装置，其中，形成在第一传感单元测试线、所述第二传感单元测试线和所述第三传感单元测试线下方的所述钝化层的厚度基本相等。
18、如权利要求13所述的显示装置，其中，所述第二基底还包括形成在所述第二高度差部分上的第四高度差部分和形成在所述半导体层上的欧姆接触，所述第四高度差部分和所述欧姆接触形成在所述第二基底的同一层内。
19、如权利要求18所述的显示装置，其中，所述第四高度差部分和所述第三高度差部分具有相同的边界。
20、如权利要求1所述的显示装置，其中，所述第二基底还包括：
多个信号传输单元，分别连接到所述传感单元测试线；
信号输入线，被提供有来自外部装置的控制所述信号传输单元的控制信号；
多条像素测试线，分别连接到所述信号传输单元，
其中，所述显示装置还包括连接到所述像素测试线的多个像素。
21、如权利要求20所述的显示装置，其中，呈现相同颜色的像素连接到同一像素测试线。
22、如权利要求20所述的显示装置，其中，所述信号输入线包括输入所述控制信号的第一焊盘，所述像素测试线包括输入来自外部装置的像素测试信号的第二测试焊盘。
23、一种液晶面板组件，包括：
多个测试分隔件；
多条传感单元测试线，面向对应的测试分隔件；
多个信号传输单元，分别连接到所述传感单元测试线；
信号输入线，被提供有来自外部装置的控制所述信号传输单元的控制信号；
多条像素测试线，分别连接到所述信号传输单元；
多个像素，连接到所述像素测试线，
其中，所述传感单元测试线的表面高度互不相同。
24、如权利要求23所述的液晶面板组件，其中，所述测试分隔件具有相同的高度。
25、如权利要求23所述的液晶面板组件，还包括形成在所述传感单元测试线下方的多个高度差部分，其中，对于不同的传感单元测试线，形成在所述传感单元测试线下方的高度差部分的数量不同。
26、如权利要求25所述的液晶面板组件，其中，所述测试分隔件包括第一测试分隔件、第二测试分隔件和第三测试分隔件，
所述传感单元测试线包括面向所述第一测试分隔件的第一传感单元测试线、面向所述第二测试分隔件的第二传感单元测试线和面向所述第三测试分隔件的第三传感单元测试线，
所述高度差部分包括第一高度差部分、第二高度差部分和第三高度差部分，
所述第一高度差部分形成在所述第一传感单元测试线下方，
所述第一高度差部分和所述第二高度差部分形成在所述第二传感单元测试线下方，
所述第一高度差部分、所述第二高度差部分和所述第三高度差部分形成在所述第三传感单元测试线下方。
27、如权利要求26所述的液晶面板组件，其中，所述液晶面板组件还包括形成在所述测试分隔件上的导体，形成在所述第一测试分隔件上的导体的表面和所述第一传感单元测试线的表面之间的距离大于0。
28、如权利要求26所述的液晶面板组件，其中，形成在所述第二测试分隔件上的导体的表面和所述第二传感单元测试线的表面之间的距离基本为0。
29、如权利要求26所述的液晶面板组件，其中，形成在所述第三测试分隔件上的导体的表面和所述第三传感单元测试线的表面之间的距离基本为0。
30、如权利要求26所述的液晶面板组件，还包括：
接触传感突出，与所述测试分隔件相邻地形成；
传感数据线，面向所述接触传感突出；
所述传感数据线的表面高度与所述传感单元测试线的表面高度之一基本相同。
31、如权利要求30所述的液晶面板组件，其中，所述传感数据线的表面高度与所述第一传感单元测试线的表面高度基本相同。
32、如权利要求30所述的液晶面板组件，还包括形成在所述传感数据线下方的第四高度差部分。
33、如权利要求32所述的液晶面板组件，其中，所述第四高度差部分与所述第一高度差部分形成在所述液晶面板组件的同一层上。
34、如权利要求30所述的液晶面板组件，其中，所述接触传感突出的高度与所述测试分隔件的高度相同。
35、如权利要求23所述的液晶面板组件，其中，呈现相同颜色的像素连接到同一像素测试线。
36、如权利要求23所述的液晶面板组件，其中，所述信号输入线包括输入所述控制信号的第一焊盘，
所述像素测试线分别包括输入来自外部装置的像素测试信号的第二测试焊盘，
所述第一焊盘和所述第二焊盘形成在所述液晶面板组件的暴露区域上。
37、如权利要求23所述的液晶面板组件，其中，所述传感单元测试线和所述信号传输单元形成在所述液晶面板组件的边缘区域上。
38、如权利要求23所述的液晶面板组件，其中，所述信号传输单元为开关元件。
39、如权利要求23所述的液晶面板组件，还包括使所述像素和所述像素测试线之间的连接分开的切割线。
40、一种显示装置的测试方法，所述显示装置包括：多个测试分隔件；多条传感单元测试线，分别面向所述测试分隔件，并具有互不相同的表面高度；多个开关元件，分别连接到所述传感单元测试线；信号输入线，被提供有来自外部装置以控制所述开关元件的控制信号；多条像素测试线，连接到所述开关元件；多个像素，连接到所述像素测试线，所述方法包括以下步骤：
向所述信号输入线施加断开所述开关元件的信号；
向所述像素测试线施加第一测试信号，以测试所述像素；
停止施加所述第一测试信号并向所述信号输入线施加接通所述开关元件的信号；
测试所述像素；
切割所述像素和所述像素测试线之间的连接。
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