CN100573467C - 测试板及测试系统 - Google Patents

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Abstract

本发明揭示了一种测试板，用以测试一主板所产生的一驱动电压，其包括，第一、第二及第三分压单元、比较单元以及第一发光单元。第一分压单元提供一上限电压。第二分压单元提供一下限电压。下限电压小于上限电压。第三分压单元将驱动电压转换成预设电压。比较单元将上限电压和下限电压与预设电压比较并且输出一第一控制信号。当预设电压大于上限电压或是小于下限电压时，则第一控制信号为致能状态。当第一控制信号为致能状态时，则第一发光单元显示第一颜色。

Description

测试板及测试系统
技术领域
本发明是有关于一种测试板，特别是有关于一种用以测试主板的电源及信号的测试板。
背景技术
一般主板具有许多芯片。每一芯片是利用总线连接彼此，用以传递芯片间的数据。图1显示主板的示意图。主板10包括了系统芯片及数据通路芯片，一般分别称为北桥(North Bridge)12与南桥(South Bridge)13，称之为“桥”的由来是其将多个不同总线连接在一起。
北桥12是作为中央处理器11、存储模块14、绘图控制器15以及南桥13的连接点。北桥12将CPU总线122转接到存储总线124、AGP绘图总线126，以及与南桥130之间的专属互连通道128。
南桥13简单地说整合了许多输出入(简称I/O)控制器，提供不同外围装置和总线的接口，并且透过专属互连通道128与北桥12之间进行数据的移转。举例来说，南桥130提供了IDE接口17、USB接口18。基本输出入系统(basicinput-output system；BIOS)16可直接地连接到南桥130。
图1所示的每一装置均需专有的电源及驱动信号，方能正常运作。然而，不同的装置可能需要不同的电源，因此，主板10具有许多不同的电源及驱动信号。
为了确保主板10上的各装置能够正常运作，厂商会在主板出厂前，测试各电源及驱动信号。由于厂商需测试许多电源及驱动信号，因此，需要花费较长的测试时间。
发明内容
本发明提供一种测试板，用以测试一主板所产生的一驱动电压，其包括，第一、第二及第三分压单元、比较单元以及第一发光单元。第一分压单元提供一上限电压。第二分压单元提供一下限电压。下限电压小于上限电压。第三分压单元将驱动电压转换成预设电压。比较单元将上限电压和下限电压与预设电压比较并且输出一第一控制信号。当预设电压大于上限电压或是小于下限电压时，则第一控制信号为致能状态。当第一控制信号为致能状态时，则第一发光单元显示第一颜色。
本发明亦提供一种测试系统，包括一主板以及一测试板。主板用以产生驱动电压以及驱动信号。测试板包括，第一、第二及第三分压单元、比较单元以及第一发光单元。第一分压单元提供一上限电压。第二分压单元提供一下限电压。下限电压小于上限电压。第三分压单元将驱动电压转换成预设电压。比较单元将上限电压和下限电压与预设电压比较并且输出一第一控制信号。当预设电压大于上限电压或是小于下限电压时，则第一控制信号为致能状态。当第一控制信号为致能状态时，则第一发光单元显示第一颜色。
附图说明
图1显示主板的示意图。
图2显示本发明的测试系统。
图3显示本发明的测试板的一可能实施例。
具体实施方式
图2显示本发明的测试系统。如图所示，测试系统20包括，主板21以及测试板22。测试板22除了可测试主板21的驱动电压Sp，亦可测试主板21的驱动信号Ss。主板21具有一连接接口(未显示)，用以插入测试板22。
图3显示本发明的测试板的一可能实施例。如图所示，测试板22包括，分压单元31~33、比较单元34以及发光单元35。分压单元31提供上限电压V1。分压单元32提供下限电压V2。下限电压V2小于上限电压V1。分压单元33将驱动电压Sp转换成预设电压Vp。
比较单元34将上限电压V1和下限电压V2与预设电压Vp比较，并且输出控制信号Sc1。当预设电压Vp大于上限电压V1时，或是预设电压Vp小于下限电压V2时，则控制信号Sc1为致能状态。当控制信号Sc1为致能状态时，则发光单元35显示第一颜色。
另外，测试板22更包括电压转换器36，用以将直流电压Vdc转换成参考电压Vref。分压单元31包括电阻311、312，用以将参考电压Vref转换成上限电压V1。在本实施例中，上限电压V1是为预设电压Vp的105％。分压单元32包括电阻321、322，用以将参考电压Vref转换成下限电压V2。在本实施例中，下限电压V2是为预设电压Vp的95％。分压单元33包括电阻331、332，用以将驱动电压Sp转换成预设电压Vp。
由于主板21具有许多驱动电压(例如3V、2.5V、5V)，若将电阻331及332的阻值固定时，则预设电压Vp将随着驱动电压Sp而变化。由于上限电压V1是为预设电压Vp的105％，而下限电压V2是为预设电压Vp的95％，因此，当预设电压Vp将随着驱动电压Sp而变化时，则上限电压V1与下限电压V2亦需随着变化。但是当电阻311、312、321及322的阻值固定时，上限电压V1与下限电压V2便无法改变，故需改变电压转换器36的种类，使其根据驱动电压Sp而提供相对应的参考电压Vref。
当主板21的驱动电压愈多时，则测试板22便需愈多的电压转换器36，因而使得硬件成本增加。为解决此问题，本发明藉由调整电阻311、312、321、322、331及332阻值，用以固定上限电压V1、下限电压V2以及预设电压Vp。在本实施例中，预设电压Vp是设定为1.2V，上限电压V1是设定为1.26V，下限电压V2是设定为1.14V。
比较单元34包括，比较器341、342以及逻辑电路343。比较器341的正相输入端接收预设电压Vp，其反相输入端接收上限电压V1，用以比较上限电压V1及预设电压Vp。比较器342的正相输入端接收下限电压V2，其反相输入端接收预设电压Vp，用以比较下限电压V2及预设电压Vp。逻辑电路343耦接比较器341及342的输出端。在本实施例中，逻辑电路343是为一OR闸。
当预设电压Vp大于上限电压V1时，则比较器341输出高逻辑位准，而比较器342输出低逻辑位准。因此逻辑电路343输出的控制信号Sc1为致能状态。当预设电压Vp小于下限电压V2时，则比较器341输出低逻辑位准，而比较器342输出高逻辑位准。因此逻辑电路343输出的控制信号Sc1为致能状态。然而，当预设电压Vp小于上限电压V1并大于下限电压V2时，比较器341及342均输出低逻辑位准，使得逻辑电路343输出的控制信号Sc1为失能状态。
发光单元35具有电阻351及352、晶体管353及354以及发光组件355及356。发光组件355显示红色光，而发光组件356显示绿色光。当控制信号Sc1为致能状态时，则导通晶体管353，截止晶体管354。因此，发光组件355会被点亮，表示驱动电压Sp为异常状态。当控制信号Sc1为失能状态时，则导通晶体管354，截止晶体管353。因此，发光组件356会被点亮，表示驱动电压Sp为正常状态。
本发明的测试板22除了可测试主板的驱动电压，亦可测试主板的驱动信号。为了测试驱动信号，测试板22更包括，逻辑单元37以及发光组件38。逻辑单元37接收驱动电压Sp及驱动信号Ss，并输出控制信号Sc2，当主板产生驱动电压Sp并且驱动信号Ss为致能状态时，则控制信号Sc2为致能状态。在本实施例中，逻辑单元37是为一AND闸。
当控制信号Sc2为致能状态时，则点亮发光单元38。在本实施例中，发光单元38是为一发光二极管381。发光二极管381的阳极耦接AND闸的输出端，其阴极耦接一低电压位准。
当发光单元38被点亮时，表示主板21已产生驱动电压Sp以及驱动信号Ss。然而当发光单元38未被点亮时，则表示主板21未产生驱动电压Sp或驱动信号Ss。因此，需再判断发光单元35所呈现的颜色。若发光单元35呈现绿色时，则表示主板21已产生驱动电压Sp，但未产生驱动信号Ss，因而可判断出主板21未产生正确地驱动电压Sp。
另外，当多个逻辑单元37与发光单元38串联时，则可测量多组驱动信号，并判断其产生的先后顺序是否正确。因此，本发明的测试板可测量主板所产生的电压及信号，故可节省测量主板的时间，提高效率。

Claims (17)

1.一种测试板，用以测试一主板所产生的一驱动电压，该测试板，其特征在于：包括
一第一分压单元，用以提供一上限电压；
一第二分压单元，用以提供一下限电压，且该下限电压小于该上限电压；
一第三分压单元用以将该驱动电压转换成一预设电压；
一比较单元，用以将该上限电压和该下限电压与该预设电压比较并且输出一第一控制信号，当该预设电压大于该上限电压或该预设电压小于该下限电压时，则该第一控制信号为致能状态；
一第一发光单元，当该第一控制信号为致能状态时，则该第一发光单元显示一第一颜色；
一逻辑单元，接收该驱动电压及该主板的一驱动信号，并输出一第二控制信号，当该主板产生该驱动电压并且该驱动信号为致能状态时，则该第二控制信号为致能状态；以及
一第二发光单元，当该第二控制信号为致能状态时，则点亮该第二发光单元。
2.根据权利要求1所述的一种测试板，其特征在于：该预设电压小于该上限电压且大于该下限电压时，则该第一控制信号为失能状态。
3.根据权利要求2所述的一种测试板，其特征在于：当该第一控制信号为失能状态时，则该第一发光单元显示一第二颜色。
4.根据权利要求1所述的一种测试板，其特征在于：该第一、第二及第三分压单元均是由电阻所组成。
5.根据权利要求1所述的一种测试板，其特征在于：该比较单元，包括
一第一比较器，用以比较该上限电压及该预设电压；
一第二比较器，用以比较该下限电压及该预设电压；
一逻辑电路，分别接收该第一比较器和该第二比较器的输出，当该预设电压大于该上限电压或是该预设电压小于该下限电压时，则输出上述第一控制信号为致能状态，当该预设电压小于该上限电压并大于该下限电压时，则上述第一控制信号为失能状态。
6.根据权利要求5所述的一种测试板，其特征在于：该逻辑电路是为一OR闸。
7.根据权利要求1所述的一种测试板，其特征在于：该逻辑单元是为一AND闸。
8.根据权利要求7所述的一种测试板，其特征在于：该第二发光单元是为一发光二极管，其阳极耦接该AND闸的输出端，其阴极耦接一低电压位准。
9.一种测试系统，其特征在于：包括
一主板，用以产生一驱动电压以及一驱动信号；
一测试板，包括：
一第一分压单元，用以提供一上限电压；
一第二分压单元，用以提供一下限电压，且该下限电压小于该上限电压；
一第三分压单元，用以将该驱动电压转换成一预设电压；
一比较单元，用以将该上限电压和该下限电压与该预设电压比较并且输出一第一控制信号，当该预设电压大于该上限电压或该预设电压小于该下限电压时，则该第一控制信号为致能状态；
一第一发光单元，当该第一控制信号为致能状态时，则该第一发光单元显示一第一颜色；
一逻辑单元，接收该驱动电压及该驱动信号，并输出一第二控制信号，当该主板产生该驱动电压并且该驱动信号为致能状态时，则该第二控制信号为致能状态；以及
一第二发光单元，当该第二控制信号为致能状态时，则点亮该第二发光单元。
10.根据权利要求9所述的一种测试系统，其特征在于：该预设电压小于该上限电压且大于该下限电压时，则该第一控制信号为禁能状态。
11.根据权利要求10所述的一种测试系统，其特征在于：当该第一控制信号为禁能状态时，则该第一发光单元显示一第二颜色。
12.根据权利要求9所述的一种测试系统，其特征在于：该第一、第二及第三分压单元均是由电阻所组成。
13.根据权利要求9所述的一种测试系统，其特征在于：该比较单元，包括：
一第一比较器，用以比较该上限电压及该预设电压；
一第二比较器，用以比较该下限电压及该预设电压；
一逻辑电路，分别接收该第一比较器和该第二比较器的输出，当该预设电压大于该上限电压或是该预设电压小于该下限电压时，则上述第一控制信号为致能状态，当该预设电压小于该上限电压并大于该下限电压时，则上述第一控制信号为失能状态。
14.根据权利要求13所述的一种测试系统，其特征在于：该逻辑电路是为一OR闸。
15.根据权利要求9所述的一种测试系统，其特征在于：该逻辑单元是为一AND闸。
16.根据权利要求15所述的一种测试系统，其特征在于：该第二发光单元是为一发光二极管，其阳极耦接该AND闸的输出端，其阴极耦接一低电压位准。
17.根据权利要求9所述的一种测试系统，其特征在于：该主板更包括连接接口，用以插入该测试板。
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