CN100562881C - 具有等级分级的rfid检验器系统 - Google Patents

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Abstract

一种RFID检验器包括发送信号强度指示器(TSSI)和接收信号强度指示器(RSSI)。使用TSSI，RFID检验器可以确定照射被询问的RFID标识的功率值。同样地，使用RSSI，RFID检验器可以确定通过RFID标识返回到RFID检验器的功率值。通过用传递函数处理反射的功率和亮度，RFID检验器可以提供用于询问的RFID标识的独立的质量指示。

Description

具有等级分级的RFID检验器系统
发明领域
本发明一般涉及RFID应用。更具体而言，本发明涉及一种RFID阅读器或询问器，其配置为可以对RFID发射机应答器操作进行检验。
背景
射频识别(RFID)系统表示由惯用的条形码方案开始的自动识别方法中的下一个步骤。然而条形码系统需要在扫描仪和被识别的条形码之间的视线(LOS)接触，RFID方法不需要LOS接触。这是关键性的区别，因为条形码系统必须经常人工干预以确保在条形码标记和条形码扫描器之间的LOS接触。在鲜明的对照中，RFID系统无需在RFID标识和RFID阅读器或询问器之间人工定位，从而保持少的劳务成本。另外，条形码标记在运输中可能变得污染，使它们变得不能读取。因为RFID标识是使用RF传输而不是光的透射读取，这样污垢无须从不能读的RFID标识分离。此外，RFID标识可以以一次写入或多次写入的方式被写入，然而一旦条形码标记已经被印刷，进一步的修改是不可能的。尽管RFID标识同印刷的条形码标记比较起来具有较高的成本，RFID系统的这些优点导致这个技术迅速的生长。
虽然RFID系统具有优于条形码方案的确定的优点，它们同样共同拥有许多问题。举例来说，条形码扫描器仅仅可以读取条形码标记；它们不能提供质量测量。因为边缘的条形码可以被一个扫描仪而不是另一个扫描仪读取，使用者没办法可靠地检测使用传统条形码扫描器的边缘的条形码。因此，条形码检验器用来测量条形码质量度量，例如对比度，平均线条偏差，和有关的质量标记。从而边缘的条形码标记通过条形码检验器识别，从而保证使用者可靠地识别它们的物品。我们同样关心RFID标识的质量。然而，通常用于从无源RFID标识读取信息的后向散射调制使RFID检验过程变得复杂。在后向散射调制中，询问RF波束本身提供用于RFID标识的电力以做出响应。这样一个给定的RFID标识如何吸收RF能量并且将该能量转发到RFID阅读器将是一个检验量度。但是RF能量被RFID标识环境中的许多物体所吸收。传统的RFID阅读器没办法确定是否是标识吸收了RF能量或是否由于环境效应发生吸收。相反的，传统的RFID阅读器仅仅可以确定来源于无源RFID标识的反向散射信号的信噪比(SNR)。边缘的RFID标识可能被误操作，但是用充足的RF能量照射，其反向散射信号提供足够的SNR以致RFID标识信号可以被正确地解码。前述边缘的RFID标识在不纯净的RF环境中可能不能被读取。如果RFID标识可以被检验为一种已知的标准，这样边缘的RFID标识可以被检测并替换。
其它RFID系统的性质增剧了检验RFID标识为一种已知标准的需要。举例来说，RFID标识不是所见即所得(WYSIWYG)，而是一种条形码标记。换句话说，条形码标记附着的是什么类型物品没有关系，因为标签的可读性不被例如该物品的颜色影响。然而，RFID标识的可读性可能受它处的环境的强烈影响。从而，创造一种极好的标准而不考虑RFID标识的背景或环境是不可能的。此外，因为RFID标识可能在运输中物理上或电学上受损，RFID系统需要找到用于该RFID标识的安全的位置，因而系统变得复杂化。由于标识的环境对RF的吸收，改变RFID标识位置是一场硬仗。最终，RFID标识的可编程性要求在RFID阅读器和被询问的RFID标识之间的RF链路的保真度必须是相对无瑕疵的。因此，技术上必须提供一种RFID检验器，其可以更精确地使用上下文相关的质量标准检验RFID标识的操作。
发明概述
根据本发明的一个方面，提供一种RFID检验器。该RFID检验器包括：收发器，可用于用一种询问信号询问RFID标识并且读取从被询问的RFID标识产生的信号；发送信号强度指示器，可用于测量询问信号功率；接收信号强度指示器，可用于测量来源于被询问的RFID标识的信号功率；和处理器，可用于比较测量的询问信号功率和RFID标识信号功率以获得被询问的RFID标识的质量测量，该处理器被配置为根据预先决定的质量的绝对度量将质量测量分级。有利地，这个RFID检验器允许使用者创建上下文相关的标准。如果RFID检验器和条形码打印机结合起来，该RFID检验器可以使用这些上下文相关的标准以仅仅允许通过标准的标识具有印刷的条形码标记，无需备份和加粗RFID标识。
根据本发明的另一个方面，提供一种RFID标识鉴定方法，其包括步骤：确定第一位置，质量的绝对度量可以由第一位置从第一RFID标识计算；从第二位置：确定对于第一RFID标识的质量测量以建立在第二位置的质量测量和第一位置的质量绝对度量之间的传递函数；用询问RFID信号询问第二RFID标识；测量询问的RF信号的功率；从第二被询问的RFID标识接收调制的RF信号；从第二被询问的RFID标识测量接收的调制RF信号的功率；并且用传递函数处理来源于被询问的第二RFID标识的实测功率以提供对于被询问的第二RFID标识的质量的绝对度量。然后基于质量的绝对度量，被询问的第二RFID标识可以被分级为接受或者取舍。
根据本发明的另一方面，提供一种系统包括：条形码标记打印机；和RFID检验器，该RFID检验器包括收发器，用于用询问信号询问RFID标识并且接收从被询问的RFID标识产生的反向散射信号；发送信号强度指示器，可用于测量询问信号功率；接收信号强度指示器，可用于测量来源于被询问的RFID标识的信号功率；和处理器，可用于比较测量的询问信号功率和RFID标识信号功率以获得对于被询问的RFID标识的质量测量，该处理器被配置为根据预先决定的质量的绝对度量分级质量测量，其中被询问的RFID标识与物品相联系，如果质量测量被区分为可接受的质量等级，本系统被配置为可以将来源于打印机的条形码标记应用到物品上。
附图简介
图1是根据本发明的一个实施例的RFID检验器的方框图。
图2是用于图1的RFID检验器的RF收发器的示意图。
图3说明了根据本发明的一个方面，关于由RFID检验器方位扫描的RFID标识天线发射图样。
图4是信号强度作为范围的函数的图表。
图5说明了具有定位基准的检验器显示器，从而检验器可以位于一个来源于RFID标识天线瞄准线的预先决定的角位移中。
图6说明了图5具有定位基准的检验器显示器，从而检验器可以位于另一预先决定的角位移中。
图7是一个信号强度轮廓的图，其与由在图5和6的角位移之间的扫描产生的角位移有关。
图8是根据本发明的一个实施例的RFID检验器的方框图。
图9说明了根据本发明的实施例，具有与条形码打印机连接的检验器的一个系统。
图10说明了具有或者弓形接线天线或者偶极天线的RFID标识的波束强度模式。
具体实施方式详述
现在考虑附图，一个示范的RFID检验器100的方框图在图1中示出。RFID检验器100包括RF收发器和处理器105。如同在RFID技术中已知的那样，收发器发射RF信号110以提供电力给无源RFID标识120。这样具有了提供的能量，无源RFID标识调制RF信号110并且后向散射编码的RFID信号125至RF收发器105。收发器105包括单独的RF天线130，一个用于发射RF信号110，另一个用于接收编码的RFID信号125。然而，可以理解，RF收发器105的其它实施例可以使用单天线用于传输和接收。
在验证期间，最好是RFID检验器100位于用于询问RFID标识的最佳位置。举例来说，RFID标识120可以包括一个在视轴方向140具有最大增益的偶极天线。为了得到对于RFID标识120的质量测量，检验器100应该被定位，这样以致于天线130的最大增益也在视轴方向140中。如果检验器100没有用这种方式定位，换句话说可接受的RFID标识120可以简单地被认为是劣质的，因为天线120和130没有被定位以发送和接收最大可达到的RF能量。在验证条形码标记期间必须安排一个相似的方向，因为如果条形码检验器没有正常地指向条形码标记，产生的偏斜影响条形码译码的质量。可以理解，RFID标识120具有基准，因此熟练的技术人员将理解怎样在根据标识的基准在最佳朝向人工地定位RFID检验器105。
举例来说，为了消除对理解这点的熟练的技术人员的需要，如果标识的天线是偶极天线，怎样根据这个偶极的瞄准点适当地定位RFID检验器100，为了做到这点，RFID检验器100的实施例将包括帮助特有方向中的操作符的导引瞄准信号。举例来说，RFID检验器100可以包括与透镜组155和显示器160连接的图像处理机150。依据检验器100要求的方向，图像处理机150将在显示器160上定位基准165，因此RFID标识120的图像在这个基准165内的中心。换句话说，如同在这里进一步解释的，检验器100可以包括GPS部件(未说明)以便在检验器100的特有的方向上实施帮助。
为了提供标识质量的指示，检验器100包括接收信号强度指示器(RSSI)170和发送信号强度指示器(TSSI)175。不用使用相关的指示例如SNR或比特差错率，RSSI 170应该被配置成提供接收信号强度的校准的指示。用这种方式，处理器105可以将被看作由TSSI 175提供的RF信号110的传输功率与编码的RFID信号125的接收功率进行比较。举例来说，基于这个比较，RFID标识可以被分为″A″级，″B″级，和″C″级等级。有利地，这个比较可以用于在生产安置中的包装上的RFID标识。然后边缘的RFID标识可以根据需要被立即检测并替换。
现在考虑图2，一个用于超外差收发器105的示范的实施例的示意图被示出。然而可以理解，基带或零差结构也可以被执行。低噪声放大器(LNA)200放大接收的表示为RFin(图1中的信号125)的RF信号，以提供到RF多路复用器(MUX)205的输入。在经由RF MUX205耦合之后，放大的接收RF信号响应局部振荡器(LO)信号在混合器210中被下变频到IF。然后来源于混合器210的下变频模拟IF信号可以在模数转换器(ADC)215中被数字化以提供数字IF信号。数字收发器250解码数字IF以标识被询问的RF标识。另外这个解码可以用来提供质量的其它指示例如比特差错率(BER)。
如同在背景部分讨论的一样，基于接收的RF信号相关变量，例如SNR，的验证是容易产生误差的，因为产生的RFID检验器已经不能区别，举例来说，定位在RF吸收环境内的另外的-可接受的RFID标识与位于纯净的RF环境的不能接受的RFID标识。为了提供精确的接收信号强度指示，与LNA200匹配的LNA220放大来源于基准振荡器225的基准信号，来为RF MUX 205提供放大的基准信号。由此，经由RF MUX 205的操作，放大的基准信号或者放大的接收RF信号在混合器210中被下变频然后在ADC 215中被数字化。基准振荡器225被校准，因此如果MUX 205选择放大的基准信号，因为LNA 220的增益已知，也就知道产生的数字化IF基准信号的功率。用这种方法，数字化的IF接收信号可以与已知功率的数字化的参考IF信号相比，因此数字化的IF接收信号的绝对功率值可以经由该比较获得。
一个相似的测量被用于RF信号(表示为RFout)其与发射天线130(图1)连在一起以提供被发射的RF信号110。为提供RFout，收发器100产生数字的IF信号229，其在数模转换器(DAC)230中变为模拟形式。可以理解，基准振荡器225以相似的方式形成：产生参考的数字IF信号然后根据参考的RF信号上变频。数字IF信号229响应LO信号在混合器235中向上变为RF。功率放大器240放大产生的RF信号以提供RFout。可以理解发射天线130具有内部损失因此发射的RF信号110的功率小于RFout中的功率。然而可取的是，精确地知道发射的RF信号110的功率以适当地检验RFID标识。由此，TSSI 175接收到功率放大器240的输入和它的输出。因为已知功率放大器240的增益，TSSI 175能因此计算发射的RF信号110的功率，从而解释由发射天线130引起的任一损失。
可以理解许多的处理体系结构可用来处理接收的数字IF信号并且产生发射的数字IF信号。举例来说，收发器250包括数字滤波器，I/Q解调器，和可以用来处理并且产生这些信号的数字信号处理器。高级功能将在微处理器260内执行。输入/输出和用户接口模块270允许使用者与微处理器260相互作用。无论执行的具体的结构，通过利用RSSI 170和TSSI 175能够精确的验证RFID标识。
在验证RFID标识之前，在标识和检验器100之间的最佳范围应该被确定。这个最佳范围可以由被检验的RFID标识的生产商提供。检验器100的使用者可以通过在变化的范围在RFID标识120的视轴方向120测量接收信号强度来执行实验测定。
这些范围变化的测量根据图3中示出的RFID标识偶极天线的代表性的天线发射图样可以被更好的解释。从发射图样可以知道，从天线发射的RF能量因为在视轴方向140的角位移而减少，其表示为图3中的理想读取通路。举例来说，在角位移做出的测量表示为方位角1和方位角2，不表示传输信号强度。然而，在视轴方向140做出的测量将测量来源于RFID天线的强烈的发射。沿着视轴方向140做出的测量的示范的图型在图4中被示出。能够看出来源于RFID标识的传输信号强度在理想读取位置A达到峰值。如果测量出现在任一比位置A更接近RFID标识120的位置，近场效应减少传输信号的强度。同样地，如果测量出现在比从RFID标识120到位置A更远的范围，远场效应减少传输信号的强度。用于理想的读取位置A的典型值是大约3米。然而，可以理解，用于给出的RFID标识的理想的读取位置将取决于在给出的RFID标识内使用的天线的类型。
确定了理想的读取位置后，从RFID标识120到检验器100的最短超越射距可以用作尺寸基准165，这样使用者可以容易地在特有的范围通过用RFID标识120对准基准165人工地定位检验器100。可以理解，检验器100可以配置为相应于被检验的RFID标识变化类型而变化的基准165。依据被检验的具体的RFID标识，使用者可以，举例来说，从下拉项目单中选择适当的基准165。
用适当的基准165配置之后，使用者可以人工地定位检验器100，这样RFID标识120在基准165内的中心，从而保证了检验器100位于距RFID标识120的理想读取位置A的范围内。通过对基准165适当的偏斜，从视轴方向140要求的角位移可以被实现。可以理解，根据RFID标识的物理界标，例如标记线对基准165进行调准。如果RFID标识天线被假设为以精确的方式对准标识的物理界标，那么基准165与RFID标识的物理界标的调准产生了对应的与RFID标识天线的调准。在这种情况下，基准165可以通过用被检验的RFID标识的物理界标对准它们而被定位，使用者将在理想读取位置A定位检验器100。然而，RFID标识天线的调准根据物理界标可能偏斜或未知。在这种情况下，检验器100可以在显示器160内对定位基准165，因此使用者将从RFID标识120交叉扫描发射的RF波束以发现最大天线增益方向140。然后检验器100可以适当地定位基准165以便使用者在最大天线增益方向140对准检验器100。因为理想范围已经被预先决定并且在基准165的范围内被说明，于是检验器100将处于根据图3讨论的理想读取位置A。
根据图5和6，可以更透彻地理解这些扫描程序。图5示出了在显示器160内基准165的示范的排列，因此当RFID标识物理界标500在基准165内被对准，检验器100偏离最大天线增益方向140。举例来说，如图3所示，基准165可以被安排以使检验器100被转移到读取位置方位角1。当接收信号强度在读取位置方位角1被测量之后，如图6所示基准165可以在显示器160内被对准，这样以致于使用者将不得不交叉扫描天线波束到另一个读取位置，例如在图3内用于方位角2的读取位置。因为使用者交叉扫描天线波束，检验器100连续采样天线波束以测量接收信号强度。用这种方法，如图7所示接收信号功率的模式轮廓可以被预期。为了形成这些模式轮廓，当每个测量时间之时检验器100监视在显示器160内物理界标500的位置。举例来说，如果使用者在第一扫描部分内慢慢地扫描，然后在第二扫描部分内更快速地扫描，该模式轮廓反映第一个部分内的测量点比第二扫描部分内的测量点间距更小。通过将每个测量的时间与在每个测量时间显示器160内的物理界标500的位置联系起来，每个测量可以被定位于如图7所示的正确的角位移。然后检验器100可以分析该模式轮廓以确定最大天线增益方向140。定位最大天线增益方向140后，检验器可以在显示器160内定位基准165以使使用者确定检验器100在理想读取位置A。然后如同在这里讨论的可以进行RFID标识120的验证。
在供选择的实施例内，不使用如同刚才讨论的目视定向方法，检验器100可以被配置为具有如图8所示的全球定位系统(GPS)800。为了执行天线波束扫描，使用者可以首先测量RFID标识120的坐标。知道了这些坐标，如同根据图3讨论的那样，检验器100然后可以计算在方位角1和2的读取位置的坐标。使用者将被指导适当地移动检验器100以使它交叉扫描天线波束以形成如同图7讨论的模式轮廓。
无论根据图3讨论的理想读取位置怎样被确定，检验器然后可以被定位于这些理想位置。这类似根据条形码标记表面正规地定位条形码标记检验器。可以理解如果已经找到理想读取位置，位于这个理想读取位置的检验器无须被配置为包括任一如同图5，6，和7讨论的图像性能。代之以，仅仅具有根据图2讨论的TSSI和RSSI性能的检验器是足够的了。但是因为这个检验器位于最佳读取位置，它确定的对于被询问的RFID标识的质量测量是对于被询问标记的质量的绝对度量。换句话说，质量的绝对度量不受变量例如被定位的来源于被询问的RFID标识的断开-波束的影响。这个质量的绝对度量然后可以如下用作分级RFID标识。
在生产环境中，在最佳读取位置安装检验器经常是不可能的或不实际的。在这样的环境中，检验器必须经常位于次最佳位置这样它从被询问的RFID标识处获得质量的测量受变量例如定位的断开-波束的影响。由于对到最佳读取位置关系没有别的认识，该次最佳定位的RFID检验器将没办法知道是否被询问的RFID标识因为该标记本身是有缺陷的而提供了一个弱信号，或是否该被询问的RFID标识是好的除了仅仅询问太远-波束以至于不能接收满足要求的信号。本发明的实施例通过提供知道质量测量之间关系的RFID检验器解决这个难题，该质量测量在它的当前位置基于在最佳读取位置获得的质量绝对度量可以被预期。这个关系可以被认为是传递函数。
为了获得该传递函数，RFID检验器，例如图1的RFID 100可用来在生产环境中测量被检验的具体类型的RFID标识的质量绝对度量。然后″生产″RFID检验器可以装在它的实际-世界的位置上。如同讨论的根据从最佳读取位置随后读取的标识，位于次最佳读取位置的生产RFID检验器无须被配置为包括任一如同图5，6，和7讨论的图像性能。代之以，举例来说，仅仅具有根据图2讨论的TSSI和RSSI性能的检验器是足够的了。为了获得该传递函数，生产RFID检验器可以询问RFID标识谁的质量绝对水平已经从最佳读取位置被检验。举例来说，被询问的标记质量的绝对水平可以是″A″级。然而，从次最佳位置，生产RFID检验器测量同样的标记具有″B″级质量。由此，对于这个例子，该从次最佳位置测量质量的传递函数必须被增加一个等级。有利地，用于该被询问标识的质量绝对水平可以通过生产RFID检验器被确定。
该生产RFID检验器然后可以被集成或连接到条形码打印机。如同在现有技术中知道的，条形码标记通过条形码打印机补充或复制RFID标识信息来印刷。由此一个具有RFID标识的物品可以通过条形码打印机印刷而具有一个条形码标记。然而，因为生产RFID检验器与条形码打印机相连，具有不适合的质量等级的RFID标识的物品可以立即被拒绝。示范的打印机/检验器系统900在图9中示出。具有RFID标识905的物品通过生产RFID 910被连续地传送。因为该生产RFID检验器已经配置有刚才讨论的传递函数，通过当标记经过之时连续地读取标记可以获得标记质量的绝对度量。如同说明的，物品920是唯一的具有被检验的它的RFID标识905的物品。物品925它的标记已经被检验。从而，来源于条形码打印机935的条形码标记930已经应用于物品925。在物品920它的标记被检验之后，物品940可以被传送到理想读取位置，停下来，并且让它的标记被检验，等等。那些RFID标识905的质量不适合的物品将被标识以便它们的RFID标识905可以被替换。
因为生产RFID检验器910当标记被连续地传送通过它的位置之时可以从每个标记获得质量测量，这些质量测量可以用来近似地重构用于该标记的天线的天线波束强度或增益模式轮廓，如同根据图7讨论的那样。然而在生产环境中，天线扫描可能不经由最大天线增益方向140出现。然而，因为传递函数是已知的，好像生产RFID检验器910经由这个方向扫描。可以理解，确定类型的RFID标识可以具有相同的编码但是使用不同的天线。举例来说，一个类型的RFID标识可以以同样方式使用振幅键控编码它的RFID信息，但是产生两个或更多类别的标记，其中执行的天线从剩余的类别中区分每个类别。生产RFID检验器910可以在相同类型的RFID标识内通过检查天线波束扫描来区分并且标识这些类别。通过例如这样的检查，偶极天线辐射模式可以不同于接线天线辐射模式。用这种方法，生产RFID检验器910可以根据它们遵守的天线方向图区分RFID标识的类别。
根据天线类型的RFID标识的分级参照图10可以更透彻地理解。如图10所示，具有弓背形接线天线1005的RFID标识1000和具有偶极天线1015的RFID标识1110被说明。RFID标识1000和1110具有相同的编码和调制方案。由此，传统的RFID阅读器在正常操作期间将不能区分这些标识。然而，生产RFID检验器910(图9)当标记1000和1110被传送通过生产RFID检验器910扫描标记1000和1110时确定对应的波束强度模式。
如同说明的，弓背形接线天线1005产生比偶极天线1015窄的多的天线强度模式。生产RFID检验器910可以配置为存储预期的波束强度模式作为先前讨论的传递函数的一部分。通过比较测量的波束强度模式与存储的传递函数，生产RFID检验器910可以根据它们的天线类型对标记分级。
像刚才描述的一样，检验器910仅仅依据当标记的RF能量被检验时用于被检验的标记它的质量等级。然而，可以理解，这些等级可能同时受其它上下文联系的信息的影响。举例来说，检验器910的使用者可以辨别确定类别的物品它们的RFID标识已经被检验。换句话说，这个辨别可以经由设备读取SKU信息自动完成。给出这个上下文联系信息，检验器910可以适当地改变它的等级。举例来说，对于一个类型的物品同样的检验质量可以被分级为″A″等级，而对于另一个类型的物品同样的检验质量可以被分级为″B″等级。另外，根据它们天线的类型RFID标识的分级也可能受SKU信息的影响。举例来说，一个类型的商品可能适合于宽波束宽度标记，然而另一个的商品可能必须具有窄波束标记。
因为RFID标识的验证与上下文相关，考虑系统900优点，另一检验器可以用来确定用于物品，例如在不同的位置的物品920，的随后的验证的最坏的-情况的方案。举例来说，系统900可以用来在生产环境中检验标识。当该物品被运往海关或中介位置，例如货仓，在这些随后位置的使用者将想要保证先前-检验的RFID标识905仍然是可读的。从生产设备到顾客设备的传递函数可以被测量以能够保证这些。举例来说，传递函数可以是在生产设备是″A″级标识，在海关的货仓的环境变成″B″级标识。同样地，″B″级标识可以在这个传递函数下变成″C″级标识。如果使用者确定在它的货仓仅仅可以接受″B″级标识，那么处于生产设备的系统900将仅仅传递由这个传递函数给出的″A″级标识。
根据图10描述的分级过程可以被概括并且应用于不包括TSSI性能的RFID阅读器/询问器。代之以，一个RFID阅读器仅仅必须被配置为具有期待的波束强度模式和RSSI性能。当这样的RFID阅读器扫描RFID标识之时，如同图10讨论的一样，它可以确定波束强度模式。通过比较测量的波束强度模式与期待的用于不同已知天线类型的波束强度模式，RFID阅读器可以适当地将扫描的RFID标识分级。此外，这样一个RFID阅读器可以配置为在许多频率例如13.56MHz，915MHz，或任一其它适合的RFID频率扫描。然后RFID阅读器可以确定被询问的RFID标识对什么频带做出反应。反过来，RFID阅读器然后可以标识在被询问的标记中执行的调制协议，例如BPSK或ASK。然后最终，该RFID阅读器可以在刚才讨论的被询问的RFID标识中标识执行的天线类型。
可以理解，可以对前面的说明书做出许多修改。举例来说，扫描过程可以自动化。在一个自动化的实施例中，检验器可以可移动地位于机械化的定位器中。检验器将控制该机械化定位器以便执行扫描。所以，虽然本发明已经根据具体的实施例被描述了，这个说明书仅仅是本发明应用的例子并且不应该作为一个限制。因此，本发明的范围在下面权利要求中阐述。

Claims (6)

1.一种RFID检验器，包括：
收发器，用于采用询问信号来询问RFID标识并且接收来自被询问的RFID标识的结果反向散射信号，所述收发器通过至少一个检验器天线来进行询问和接收，所述检验器天线具有最大增益方向；
发送信号强度指示器，用于测量询问信号功率；
接收信号强度指示器，用于测量来源于被询问的RFID标识的信号功率；和
处理器，用于比较测量的询问信号功率和RFID标识信号功率以获得对被询问的RFID标识的质量测量，该处理器被配置为参考预先决定的质量的绝对度量对质量测量分级，所述预先决定的质量的绝对度量是根据从RFID检验器相对于RFID标识的最佳位置对RFID标识的询问而决定的，所述最佳位置定义了RFID检验器和RFID标识之间的最佳距离以及RFID标识和RFID检验器的最佳朝向，其中所述最佳距离使得如果RFID检验器相比起该最佳距离更接近RFID标识时，RFID标识的信号功率将由于近场效应而减少，同时，所述最佳距离也使得如果RFID检验器相比起该最佳距离更远离RFID标识时，RFID标识的信号功率将由于远场效应而减少，其中RFID检验器和RFID标识的最佳朝向使得检验器天线的最大增益方向对准被询问的RFID标识的天线的最大增益方向。
2.如权利要求1所述的RFID检验器，其特征在于，收发器是超外差收发器。
3.如权利要求1所述的RFID检验器，其特征在于，收发器是零差收发器。
4.如权利要求1所述的RFID检验器，其特征在于，来源于被询问的RFID标识的信号功率是反向散射信号功率。
5.如权利要求1所述的RFID检验器，其特征在于，处理器被配置为将被询问的RFID标识分级成为通过等级或未通过等级。
6.如权利要求5所述的RFID检验器，其特征在于，通过等级包括多个通过等级。
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