NL2009489C2 - Identificatiesysteem voor rfid labels. - Google Patents

Description

P89644NL00

Titel: Identificatiesysteem voor RFID labels.

De uitvinding heeft betrekking op een identificatiesysteem voor het identificeren van RFID-labels voorzien van tenminste een RFID-lezer voor het genereren van een elektromagnetisch ondervraagveld en voor het ontvangen van een door een RFID-label uitgezonden elektromagnetische 5 respondersignaal in reactie op het ondervraagveld waarbij het respondersignaal een identificatiecode omvat, waarbij de RFID-lezer verder is ingericht van het registreren van de identificatiecode het het ontvangen respondersignaal.

Een dergelijk identificatiesysteem is op zich bekend uit het 10 Nederlands octrooi 1032074. Het is een bekend probleem dat dergelijke identificatiesystemen RFID labels niet of soms niet goed kunnen detecteren en identificeren. Onderzoek heeft uitgewezen dat dit veelal als oorzaak heeft dat de RFID labels na verloop van tijd minder goed gaan functioneren. In gebruik, kunnen RFID labels beschadigd raken door bijvoorbeeld stoten of 15 inwerking van vocht. Dit is met name het geval wanneer het RFID systeem op de boerderij wordt gebruikt voor het identificeren van dieren die van een RFID label zijn voorzien bijvoorbeeld in de vorm van een oorknop. Ook komt het voor dat de RFID lezer wordt gebruikt voor het identificeren van RFID labels die door een derde worden gemaakt en geleverd. Door het grote 20 aanbod van RFID labels is er een grote diversiteit in kwaliteit van deze

labels. Het niet goed kunnen identificeren van dergelijke labels wordt echter vaak ten onrechte toegeschreven aan het niet goed functioneren van de RFID lezer. Daarom bestaat er een behoefte om de kwaliteit van de RFID labels te kunnen controleren. Uit US 7,221,278 is een apparaat bekend om 25 de kwaliteit van de RFID labels te kunnen testen. In gebruik, wordt met het testapparaat geanalyseerd hoe sterk het respondersignaal is in reactie op een ondervraagveld. Indien het respondersignaal te zwak is kan het RFID

2 label als minder goed werkend of defect worden gekwalificeerd en eventueel worden vervangen door een goedwerkend RIFD label. Een nadeel van dit systeem is dat het testen van FID labels vaak niet wordt uitgevoerd omdat de RFID labels niet altijd voorhanden zijn om te worden getest. Ook kan het 5 voorkomen dat RFID labels die bijvoorbeeld op een boerderij worden gebruikt en aan een dier zijn bevestigd in dermate grote aantallen aanwezig zijn dat het testen van elk van die labels te veel tijd kost. Bovendien is een dergelijk testapparaat relatief kostbaar.

De uitvinding beoogt een oplossing te verschaffen voor 10 bovengenoemde problemen.

Overeenkomstig de uitvinding geldt dat de RFID-lezer verder is voorzien van analysemiddelen om aan de hand van het ontvangen respondersignaal tenminste één parameter te meten die een maat is voor de kwaliteit van het RFID-label. Doordat volgens de uitvinding de RFID lezer 15 zowel geschikt is voor het registreren van de identificatiecode uit het ontvangen ondervraagveld als ook voor het bepalen van de tenminste ene parameter, kan het onderzoeken van de kwaliteit van het RFID label tijdens het normale gebruik van de RFID lezer voor het uitlezen van RFID labels worden uitgevoerd. Bovendien kan een RFID lezer met de aanvullende 20 functie om de kwaliteit van een label bepalen relatief voordelig worden vervaardigd ten opzichte van een separaat testapparaat. Praktisch gezien komt het er op neer dat wanneer een RFID label in het elektromagnetisch ondervraagveld wordt gebracht, niet alleen de identificatiecode van het label wordt uitgelezen maar ook de tenminste ene parameter wordt vastgesteld 25 die een maat is voor de kwaliteit van het RFID label. Meer in het bijzonder geldt dat de analysemiddelen zijn ingericht aan de hand van een door de RFID-lezer gedemoduleerd respondersignaal, meer in het bijzonder aan de hand van een door de RFID-lezer geregistreerde identificatiecode de tenminste ene parameter te meten. Door de ontvangen identificatiecode te 3 analyseren is niet alleen de identificatiecode zelf bekend maar ook de tenminste ene parameter.

De RFID lezer kan op zich bekende wijze dusdanig zijn ingericht dat deze zowel geschikt is voor het uitlezen van een HDX label als een FDX 5 label. Voor het detecteren van HDX labels wordt het elektromagnetisch ondervraagveld door de RFID-lezer een aantal malen per seconde aan- en uitgeschakeld, bijvoorbeeld 50 miliseconden aan en 20 mihseconden uit. Tijdens het zenden (de aan-fase) wordt het HDX label van energie voorzien en tijdens de uit-fase wordt de code van de HDX responder door de 10 ontvanger van de RFID lezer gelezen. Bij een FDX label zendt het FDX label een response uit terwijl het elektromagnetisch ondervraagveld wordt gegenereerd. Een ontvanger van de RFID lezer moet dan in staat zijn het zwakke respondersignaal te scheiden van het elektromagnetisch ondervraagveld. Volgens de uitvinding geldt in het bijzonder dat de 15 analysemiddelen zijn ingericht om te herkennen of het label een HDX label of een FDX label is waarbij wanneer is herkend dat het label een HDX label is door de analysemiddelen tenminste een parameter van het herkende label wordt bepaald volgens tenminste een eerste methode en wanneer is herkend dat het label een FDX label is door de analysemiddelen tenminste een 20 parameter van het herkende label wordt bepaald volgens tenminste een tweede methode. Op deze wijze is de RFID lezer geschikt om tenminste een parameter van een HDX label te bepalen en tenminste een parameter van een FDX label te bepalen. Beide typen labels kunnen door de RFID lezer dus worden geanalyseerd op hun kwaliteit. Afhankelijk van welk type label 25 wordt getest, kan ook een bepaald type parameter worden bepaald. Zo is het in geval van een HDX label bijvoorbeeld mogelijk dat de analysemiddelen zijn ingericht om de frequentie van O’en T in het respondersignaal te meten als de tenminste ene parameter of als tenminste een van de parameters.

Ook is het in het geval van een HDX label mogelijk dat de analysemiddelen 30 zijn ingericht om een maat voor de daling van een grootte van het 4 respondersignaal te meten waarbij de maat voor de daling de tenminste ene parameter is of tenminste een van de parameters is. Ook is het in het geval van een HDX label mogelijk dat de analysemiddelen zijn ingericht om de opslingerfactor van een resonantiekring van het RFID label te meten als de 5 tenminste ene parameter of als tenminste een van de parameters.

Bovendien is het bij een HDX label mogelijk dat de analysemiddelen zijn ingericht om een bittiming van de identificatiecode te meten als de tenminste ene parameter of als tenminste een van de parameters. Dit zijn allemaal methodes die kunnen worden toegepast om een parameter of een 10 veelvoud van parameters te bepalen die een kwaliteitsaanduiding representeren van het HDX label. In geval dat het label een FDX label is, is het bijvoorbeeld mogelijk dat de analysemiddelen zijn ingericht om een meting van de fasehoek van het respondersignaal uit te voeren waarbij de fasehoek de tenminste ene parameter is of tenminste een van de parameters 15 is. Ook is het mogelijk dat het RFID-label van een type is dat een respondersignaal afwisselend uitzendt op een hoge retourfrequentie en een lage retourfrequentie waarbij de analysemiddelen zijn ingericht om de opslingerfactor van een resonantiekring te bepalen uit een verhouding tusseneen gemeten amplitude van het respondersignaal op de hoge 20 retourfrequentie en een gemeten amphtude van het respondersignaal op de lage retourfrequentie waarbij de opslingerfactor de tenminste ene parameters is of tenminste een van de parameters is. Bovendien is het in geval van een FDIX label mogelijk dat de analysemiddelen zijn ingericht om een timing van de uitgezonden identificatiecode te meten waarbij het meten 25 van de timing het meten van de totale tijdsduur voor het uitzenden van de identificatiecode inhoudt en waarbij genoemde timing de tenminste ene parameter is of tenminste een van de parameters is. Onafhankelijk van het feit of het label een HDX label of een FDX label is, kan gelden dat de analysemiddelen zijn ingericht om een meting van de amphtude van het 30 respondersignaal uit te voeren als de tenminste ene parameter f als 5 tenminste een van de parameters. Deze test om de kwaliteit van een label te bepalen kan dus zowel bij HDX labels als bij FDX labels worden toegepast.

In het bijzonder geldt voorts dat de analysemiddelen zijn ingericht om een identificatiecode van de RFID-label op te slaan in een lijst met 5 defecte labels wanneer een bepaalde parameter van het RFID label afwijkt van een vooraf bepaalde standaard voor de bepaalde parameter. De uitvinding heeft tevens betrekking op een werkwijze voor het identificeren van een RFID label waarbij gebruik wordt gemaakt van tenminste een RFID-lezer voor het genereren van een elektromagnetisch ondervraagveld 10 en voor het ontvangen van door een RFID-label uitgezonden elektromagnetische respondersignaal in reactie op het ondervraagveld waarbij het respondersignaal een identificatiecode omvat waarbij de RFID-lezer verder is ingericht van het registreren van de identificatiecode het het ontvangen respondersignaal, Volgens de uitvinding wordt de werkwijze 15 gekenmerkt in dat door de RFID-lezer verder een analyse wordt uitgevoerd waarbij aan de hand van het met de RFID-lezer ontvangen respondersignaal tenminste één parameter wordt gemeten die wordt gebruikt als een maat voor de kwaliteit van het RFID-label. De uitvinding zal thans nader worden toegelicht aan de hand van de tekening. Hierin 20 toont:

Fig. 1 een eerste uitvoeringsvorm van een identificatiesysteem volgens de uitvinding;

Fig. 2 een tweede uitvoeringsvorm van een identificatiesysteem volgens de uitvinding; en 25 Fig. 3 een verband tussen amplitude en de frequentie van een respondersignaal van een RFID label dat goed werkt en van een RFID label dat niet goed werkt.

In figuur 1 is met referentienummer 1 een identificatiesysteem voor het identificeren van RFID labels aangeduid. Het identificatiesysteem 30 is voorzien van tenminste een RFID lezer 2 voor het genereren van een 6 elektromagnetisch ondervraagveld 4. De RFID lezer is hiertoe voorzien van een zender 6 die met een antenne 8 is verbonden. De RFID lezer is voorts voorzien van een ontvanger 10 voor het ontvangen van door een RFID label 12 uitgezonden elektromagnetisch respondersignaal in reactie op het 5 ondervraagveld 4. Het RFID label is hiertoe voorzien van een op zich bekend resonant circuit 14 dat reageert wanneer het in het elektromagnetisch ondervraagveld wordt gebracht. Het elektromagnetisch ondervraagveld heeft hiertoe een frequentie f0 waarbij het resonante circuit is afgestemd op de frequentie f0. Het label 12 is in dit voorbeeld voorts voorzien van een 10 geheugen 16 waarin een identificatiecode is opgeslagen. Het resonante circuit 14 wordt gemoduleerd met de identificatiecode die in het geheugen 16 is opgeslagen zodat een elektromagnetisch respondersignaal wordt uitgezonden dat is gemoduleerd met de identificatiecode van het label 12.

Dit respondersignaal wordt met behulp van de antenne 8 en de ontvanger 15 10 ontvangen. De ontvanger 10 demoduleert op, op zich bekende wijze het respondersignaal voor het verkrijgen van de identificatiecode. De aldus geregistreerde identificatiecode kan bijvoorbeeld worden afgebeeld op een display 15 van de RFID-lezer 2 of via een leiding 17 en een communicatieve verbinding 19 aan een centrale computer 24 worden toegevoerd voor 20 bijvoorbeeld opslag tezamen met informatie door welke RFID-lezer de identificatiecode is geregistreerd en wanneer. De RFID-lezer kan hiertoe zijn voorzien van een controle-eenheid 20 die een klok en een identificatiecode van de lezer zelf omvat waarbij het tijdstip van het detecteren van een identificatiecode van een label tezamen met de 25 identificatiecode van de RFID-lezer via een leiding 21 en de communicatieve verbinding 19 aan de computer 24 wordt toegevoerd.

Het gedemoduleerde respondersignaal wordt in dit voorbeeld ook aan analysemiddelen 18 van de RFID lezer toegevoerd. De analysemiddelen 18 van de RFID lezer 2 zijn ingericht om aan de hand van het geregistreerde 30 respondersignaal tenminste een parameter te meten die een maat is voor de 7 kwaliteit van het RFID label. Het geregistreerde respondersignaal, meer in het bijzonder het gedemoduleerde respondersignaal wordt hiertoe in dit voorbeeld door de ontvanger 10 aan de analysemiddelen 18 toegevoerd.

Meer in het bijzonder geldt dat de identificatiecode die in het 5 gedemoduleerde respondersignaal aanwezig is aan de analysemiddelen 18 wordt toegevoerd. De RFID lezer is dus in staat om in gebruik, dat wil zeggen terwijl de identificatiecode van het label door de RFID lezer wordt bepaald voor de reguliere uitlezing van labels ook de tenminste ene parameter te meten. Dit heeft als voordeel dat zodra het label 12 zich in het 10 ondervraagveld 4 bevindt, het label niet alleen kan worden uitgelezen maar tegelijkertijd door de RFID lezer ook de kwaliteit van het label wordt bepaald. In dit voorbeeld geldt dat de RFID lezer is ingericht om HDX labels en FDX labels uit te lezen. Hiertoe is de RFID lezer voorzien van de controle eenheid 20 die de zender 6 een aantal malen per seconde aan- en 15 uitschakelt, bijvoorbeeld 50 milliseconde aan en 20 milhseconden uit. In dit voorbeeld is het label 12 een HDX label. Dit betekent dat tijdens het zenden (de aan-fase) het HDX label 12 van energie wordt voorzien door het elektromagnetisch ondervraagveld. Wanneer het elektromagnetisch ondervraagveld 50 milliseconden heeft aan gestaan wordt het vervolgens 20 20 milhseconden uitgeschakeld. Gedurende deze 20 milliseconden waarin de zender 6 is uitgeschakeld wordt door het HDX label 12 het elektromagnetisch respondersignaal uitgezonden en ontvangen met behulp van de ontvanger 10 van de lezer 2. In dit voorbeeld geldt dat de lezer 2 ook geschikt is om FDX labels uit te lezen. In dit voorbeeld is een dergelijk FDX 25 label in figuur 1 met referentienummer 22 aangeduid. Ook het label 22 is voorzien van een resonant circuit 14 en een geheugen 16 waarin een identificatiecode is opgeslagen. Het FDX label 22 heeft echter de eigenschap dat deze reageert met het uitzenden van het elektromagnetisch respondersignaal gedurende de periode waarin het elektromagnetisch 30 ondervraagveld wordt uitgezonden. Anders gezegd, het elektromagnetisch 8 ondervraagveld wordt via het resonante circuit 14 van het label 22 gemoduleerd met de identificatiecode. Ook het elektromagnetisch respondersignaal van het FDX label 22 wordt met behulp van de ontvanger 10 ontvangen en gedemoduleerd. Het gedemoduleerde signaal wordt weer 5 aan de analysemiddelen 18 toegevoerd. Indien derhalve een elektromagnetisch respondersignaal wordt ontvangen gedurende een periode waarin de zender 6 uitstaat weet de analyse eenheid 18 dat het gaat om een HDX label. Wordt daarentegen een respondersignaal ontvangen gedurende een periode dat de zender 6 aanstaat weet de analyse eenheid 18 10 dat het gaat om een FDX label. Het timing signaal waarmee de zender 6 door de controle eenheid 20 via een leiding 23 wordt uitgeschakeld wordt hiertoe eveneens aan de analyse eenheid 18 toegevoerd. Als alternatief of aanvullende kan een het zendsignaal zelf aan de analysemiddelen 18 worden toegevoerd via een leiding 25 voor het verkrijgen van informatie 15 over de genoemde timing. Indien het RFID label een HDX label is dat wil zeggen, wanneer een elektromagnetisch respondersignaal wordt ontvangen terwijl de zender 6 uitstaat wordt door de analysemiddelen 18 tenminste een parameter van het herkende label bepaald volgens tenminste een eerste methode. Wanneer echter geldt dat herkend is dat het label een FDX label is 20 wordt door de analyse middelen tenminste een parameter van het herkende label bepaald volgens tenminste een tweede methode. In dit voorbeeld wordt, indien het om een HDX label gaat, echter volgens een aantal eerste methoden parameters bepaald die een maat zijn voor de kwaliteit van het RFID label. In dit voorbeeld geldt bijvoorbeeld dat de analyse middelen zijn 25 ingericht om de frequentie van “0” en “1” als een van de parameters die een maat is voor de kwaliteit van het RFID label. Indien deze frequentie van nullen en enen in het respondersignaal meer dan met een vooraf bepaald percentage afwijkt van een vooraf bepaalde waarde, kan worden geconcludeerd dat het label niet goed functioneert. Tevens zijn de analyse 30 middelen 18 in dit voorbeeld ingericht om bij een HDX label een daling van 9 de grootte van het respondersignaal te meten waarbij de maat van de daling een van de parameters is. De maat voor de daling kan bijvoorbeeld worden uitgedrukt in het verschil in afname van de grootte van het respondersignaal per milliseconde. Deze maat is op zijn beurt weer een 5 maat voor de opslingerfactor van de resonantiekring van het resonant circuit 14. Wanneer deze maat bekend is kan deze weer worden vergeleken met de referentiewaarde om te bepalen of deze voldoet aan de verwachting of wellicht afwijkt. In dit voorbeeld zijn de analyse middelen tevens ingericht om bij een HDX label een bittiming van de identificatiecode te 10 meten als een van de parameters. Ook deze bepaalde bittiming kan weer worden vergeleken met de referentiewaarde om te bepalen of het label goed functioneert of wellicht afwijkt danwel defect is. Voorts zijn de analyse middelen ingericht om een structuur van de identificatiecode van het HDX label te bepalen als één van de parameters. Een identificatiecode wordt door 15 een HDX label volgens een vooraf bepaalde structuur uitgezonden. Dit kan bijvoorbeeld een structuur zijn zoals vastgelegd in ISO 11784. Indien de ontvangen identificatiecode deze structuur niet bbjkt te hebben, kan het label als defect worden aangeduid. Dus door de structuur van de identificatiecode te vergebjken met een referentiestructuur, dat wil zeggen 20 de bepaalde parameter te vergebjken met een referentieparameter, kan worden bepaald of het HDX label 12 defect is.

Wanneer de analysemiddelen 18 een respondersignaal ontvangen terwijl de zender 6 actief is, gaat het zoals gezegd om een FDX label. In dat geval worden de volgende parameters in dit voorbeeld door de analysemiddelen 25 bepaald. Het RFID label 22 is, zoals gezegd, een FDX label en daarmee van een type dat een respondersignaal afwisselend uitzendt op een hoge retourfrequentie en een lage retourfrequentie. Eén en ander is getoond in figuur 3. In figuur 3 toont Gl de frequentiekarakteristiek van een correct werkend FDX label. Hierbij is fD de resonantiefrequentie van het resonant 30 circuit 14 van het label 22 en tevens de frequentie van het 10 elektromagnetisch ondervraagveld. Indien het FDX label 22 dat de karakteristiek G1 heeft, een code "1” wil uitzenden, zendt deze een signaal uit met frequentie f0 +Δί1. Het signaal zal dan de intensiteit II hebben. Indien echter een code ‘O” wordt uitgezonden, wordt een signaal 5 uitgezonden met een frequentie ft) + Δ£2. Het signaal zal dan een sterkte 12 hebben. Er vindt dus een modulatie plaats van het elektromagnetisch ondervraagveld met een modulatiefrequentie Afl of Δί2. De analyse middelen zijn ingericht om de opslingerfactor van de resonantiekring van het resonant circuit 14 van het label 22 te bepalen uit de verhouding tussen 10 de gemeten amplitude 12 van het respondersignaal op de hoge retourfrequentie f0 + Δί2 en de gemeten amplitude II van het respondersignaal op de lage retourfrequentie f0 +Afl. In dit voorbeeld geldt dat II: 12 » 3. Deze grootte van de waarde voor 11:12 toont aan dat het resonant circuit 14 van het FDX label 22 een grote of een hoge 15 opslingerfactor heeft, dat wil zeggen een hoge Q-waarde. Indien daarentegen het label 22 een frequentiekarakteristiek G2 zou hebben blijkt dat de verhouding tussen de gemeten amplitude 14 van het respondersignaal op de hoge retourfrequentie fl) + Δί2 en de gemeten amplitude 13 van het respondersignaal op de lage retourfrequentie fl) +Afl 20 anders is dan hiervoor besproken. In dit voorbeeld geldt dat 13:14» 1.2. Deze lage waarde voor 13:14 toont aan dat het resonant circuit 14 een lage opslingerfactor heeft, dat wil zeggen een lage Q-waarde. Op deze wijze kan de opslingerfactor van het resonant circuit 14 uit de genoemde verhoudingen van de gemeten amplitudes voor het respondersignaal op de 25 hoge retourfrequentie en het respondersignaal op de lage retourfrequentie worden bepaald. Alweer kan aan de hand van deze parameter 11:12 en 14:13 worden bepaald of het resonante circuit aan een bepaalde minimum norm voldoet. Voldoet het niet aan de norm dan kan het label afhankelijk van de gemeten verhouden het label als slecht of defect kwalificeren. In dit 11 voorbeeld geldt voorts dat de analyse middelen zijn ingericht om de timing van de uitgezonden identificatiecode te meten waarbij het meten van de timing het meten van de totale tijdsduur van het uitzenden van de identificatiecode inhoudt en waarbij de genoemde timing een van de 5 parameters is. Omdat een FDX label zelfstandig uitzendt wanneer het ondervraagveld aanwezig is, bepaalt dit label ook zelf zijn timing. Deze timing, dat wil zeggen in dit voorbeeld, de totale tijdsduur van de identificatiecode die wordt uitgezonden ligt vast binnen vooraf bepaalde normen. Indien deze timing aan deze normen voldoet, is het label in orde.

10 Voldoet de timing niet, dan kan bijvoorbeeld worden geconcludeerd dat het label onjuist werkt. In dit voorbeeld is de totale tijdsduur derhalve één van de parameters. Voorts geldt in dit voorbeeld dat de analysemiddelen zijn ingericht om een meting van de fasehoek van het respondersignaal uit te voeren waarbij de fasehoek een van de parameters is. De fasehoek zegt iets 15 over de mate van verstemming ten opzichte van de frequentie f0. Anders gezegd, het gaat om een verdraaiing van het zogenaamde I- en Q-signaal. Normaliter zit bij een label volgens ISO 11785 alle informatie die door het label wordt uitgezonden in het I-signaal. Is de fasehoek gedraaid, dan zit de informatie verspreid over het I- en Q signaal. Door deze fasehoek te meten 20 kan worden geconcludeerd of dan wel in welke mate het label nog aan vooraf bepaalde normen voldoet.

In dit voorbeeld geldt dat zowel voor FDX labels als voor HDX labels de analyse middelen zijn ingericht om een meting van amplitudes van het respondersignaal uit te voeren als één van de parameters. Indien het 25 respondersignaal voldoende krachtig is gaat het om een goed werkend label. Blijkt het respondersignaal een zeer lage intensiteit te hebben dan kan het gaan om een defect label.

In dit voorbeeld geldt verder dat de analyse middelen zijn ingericht om alle gemeten parameters van een bepaald label, tesamen met de 30 identificatiecode van het label op te slaan. Dit maakt het ook mogelijk om 12 wanneer het label enige tijd later opnieuw wordt gedetecteerd, al deze parameters opnieuw te bepalen en te vergebjken met de eerder opgeslagen parameters. Hierdoor wordt het mogelijk om een verloop in de tijd van de opgeslagen parameters te bepalen en te registreren en te analyseren. Ook is 5 het mogebjk dat elk van de parameters worden vergeleken met een referentiewaarde. Hieruit kan worden geconcludeerd of het label nog steeds voldoet aan de normen danwel een kleine afwijking begint te vertonen danwel een dermate grote afwijking heeft dat deze als defect kan worden aangeduid. Ook is het mogebjk dat elk van de parameters worden 10 vergeleken met een eerste referentieinterval. Valt een parameter buiten het interval dan is deze bijvoorbeeld slecht. Valt een parameter bijvoorbeeld buiten een tweede interval dat groter is dan het eerste interval dan is het label bijvoorbeeld defect. De analyse middelen zijn in dit voorbeeld ook ingericht om een identificatiecode van een RFID label op te slaan in een bjst 15 met defecte decoders wanneer één van de gemeten parameters van het RFID label afwijkt van een vooraf bepaalde referentiestandaard voor de betreffende parameter. Deze standaard kan bijvoorbeeld weer een vooraf bepaalde waarde of tenminste één vooraf bepaald interval zijn. Ook kan dan worden aangeduid voor welke parameter de betreffende afwijking vertoont, 20 dat wil zeggen de reden waarom het label in de lijst met defecte labels wordt opgeslagen. Aldus kan een “levensgeschiedenis” van een label worden bijgehouden aan de hand van één type parameter en bij voorkeur aan de hand van een veelvoud van verschillende typen parameters zoals hierboven beschreven. Deze parameters kunnen telkens wanneer ze zijn bepaald, 25 worden opgeslagen tesamen met de identificatiecode van het betreffende label en tesamen met een tijdstip waarop de betreffende parameters zijn bepaald. Het verloop van de parameters kan worden bij gehouden en op deze wijze kan ook worden geconcludeerd of de kwahteit van een label achteruit gaat. Ook kan op die manier tenminste één van de parameters buiten een 30 vooraf bepaalde norm valt het betreffende label als defect worden 13 gekarakteriseerd en op een betreffende lijst in de RFID lezer worden opgeslagen. In dit voorbeeld geldt voorts nog dat de RFID lezer is verbonden met de centrale computer 24. De gegevens, dat wil zeggen de parameters die door de RFID lezer 2 worden bepaald kunnen ook aan de centrale computer 5 24 worden toegevoerd tesamen met de bijbehorende identificatiecode van het label en het tijdstip (verkregen vanuit de controle-eenheid 20) waarop de parameters worden bepaald voor verdere verwerking door de centrale computer 24.

De analyse middelen 18 zijn in dit voorbeeld voorzien van een 10 digitale signaalprocessor (DSP) 26 voorzien van dezelfde software voor het meten van de genoemde parameters. Het is echter eveneens mogelijk dat in plaats van een DSP 26 de analyse middelen 18 zijn voorzien van pure hardware, dat wil zeggen een processor die is ingericht om de genoemde parameters te bepalen.

15 In figuur 2 wordt een alternatieve uitvoeringsvorm van het systeem volgens figuur 1 gegeven waarbij in figuur 1 en 2 met elkaar overeenkomende onderdelen van dezelfde referentienummers zijn voorzien. In figuur 2 is een RFID lezer 2’ voorzien van een add-on kit die in dit voorbeeld bestaat uit de analysemiddelen 18. De combinatie van de RFID lezer 2’ met de add-on kit 20 18 vormen dan de RFID lezer 2 volgens de uitvinding. De add-on kit 18 kan in de behuizing van de RFID lezer 2’ worden aangebracht. Op deze wijze kunnen bestaande lezers worden uitgebreid met de functionaliteit van de analysemiddelen 18 en de analysemiddelen kunnen gebruik maken van de reeds aanwezige ontvanger 10 van de RFID-lezer. De uitvinding is 25 geenszins beperkt tot de hiervoor geschetste uitvoeringsvormen. Zo kunnen ook voor andersoortige labels andere typen parameters worden bepaald danwel voor andere labels vergelijkbare of dezelfde parameters worden bepaald. In dit voorbeeld gaat het om HDX en FDX labels. Het is echter ook mogelijk om van andere resonante labels parameters zoals hiervoor 30 besproken te bepalen. Uiteraard is het ook mogelijk dat een lezer alleen 14 wordt voorzien van analysemiddelen voor het testen van een HDX label of van analysemiddelen voor het testen van een FDX label. Ook der gelijke varianten worden geacht binnen het kader van de uitvinding te vallen.

Claims (42)

1. Identificatiesysteem voor het identificeren van RFID-labels voorzien van tenminste een RFID-lezer voor het genereren van een elektromagnetisch ondervraagveld en voor het ontvangen van door een RFID-label uitgezonden elektromagnetisch respondersignaal in reactie op 5 het ondervraagveld waarbij het respondersignaal een identificatiecode omvat, waarbij de RFID-lezer verder is ingericht voor het registreren van de identificatiecode van het ontvangen respondersignaal, met het kenmerk, dat de RFID-lezer verder is voorzien van analysemiddelen om aan de hand van het ontvangen respondersignaal tenminste één parameter te meten die een 10 maat is voor de kwaliteit van het RFID-label.

2. Identificatiesysteem volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht aan de hand van een door de RFID-lezer gedemoduleerd respondersignaal, meer in het bijzonder aan de hand van 15 een door de RFID-lezer geregistreerde identificatiecode de tenminste ene parameter te meten.

3. Identificatiesysteem volgens conclusie 1 of 2, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om de frequentie van O’en ‘1’ in het 20 respondersignaal te meten als de tenminste ene parameter of als tenminste een van de parameters.

4. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om een maat voor de 25 daling van een grootte van het respondersignaal te meten waarbij de maat voor de daling de tenminste ene parameter is of tenminste een van de parameters is.

5. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om de opslingerfactor van een resonantiekring van het RFID label te meten als de tenminste ene parameter of als tenminste een van de parameters. 5

6. Identificatiesysteem volgens conclusie 5, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om de opslingerfactor te bepalen uit een door de analysemiddelen gemeten daling van de grootte van het respondersignaal. 10

7. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om een bittiming van de identificatiecode te meten als de tenminste ene parameter of als tenminste een van de parameters. 15

8. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om een structuur van de identificatiecode te bepalen als de tenminste ene parameter of als tenminste een van de parameters. 20

9. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat het RFID-label van een type is dat een respondersignaal afwisselend uitzendt op een hoge retourfrequentie en een lage retourfrequentie waarbij de analysemiddelen zijn ingericht om de 25 opslingerfactor van een resonantiekring van het RFID-label te bepalen uit een verhouding tusseneen gemeten amplitude van het respondersignaal op de hoge retourfrequentie en een gemeten amplitude van het respondersignaal op de lage retourfrequentie waarbij de opslingerfactor de tenminste ene parameters is of tenminste een van de parameters is. 30

10. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om een timing van de uitgezonden identificatiecode te meten waarbij het meten van de timing het meten van de totale tijdsduur voor het uitzenden van de identificatiecode 5 inhoudt en waarbij genoemde timing de tenminste ene parameter is of tenminste een van de parameters is.

11. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om een meting van de 10 fasehoek van het respondersignaal uit te voeren waarbij de fasehoek de tenminste ene parameter is of tenminste een van de parameters is.

12. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om een meting van de 15 amplitude van het respondersignaal uit te voeren als de tenminste ene parameter of als tenminste een van de parameters.

13. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om een verloop in de 20 tijd van de tenminste ene parameter te registreren en/of analyseren en/of dat de analysemiddelen zijn ingericht om de tenminste ene parameter te vergelijken met een referentiestandaard en/of dat de analysemiddelen zijn ingericht om de gemeten parameters tezamen met de bijbehorende identificatiecode en eventueel het tijdstip waarop de parameters zijn 25 gemeten op te slaan.

14. Identificatiesysteem volgens een der conclusies 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 12 of 13, met het kenmerk, dat het RFID-label een HDX label is.

15. Identificatiesysteem volgens een der conclusies 1, 2, 9, 10, 11, 12 of 13, met het kenmerk, dat het RFID-label een FDX label is.

16. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met 5 het kenmerk, dat de analyse middelen zijn ingericht om te herkennen of het label een HDX label of een FDX label is waarbij wanneer is herkend dat het label een HDX label is door de analyse middelen ten minste een paramater van het herkende label wordt bepaald volgens tenminste een eerste methode, meer in het bijzonder volgens tenminste een der conclusies 1, 2, 3, 10 4, 5, 6, 7, 8, 12 of 13 en wanneer is herkend dat het label een FDX label is door de analyse middelen ten minste een paramater van het herkende label wordt bepaald volgens tenminste een tweede methode, meer in het bijzonder volgens tenminste een der conclusies 1, 2, 9, 10, 11, 12 of 13.

17. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn ingericht om een identificatiecode van de RFID-label op te slaan in een lijst met defecte labels wanneer een bepaalde parameter van het RFID label afwijkt van een vooraf bepaalde standaard voor de bepaalde parameter. 20

18. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn voorzien van een DSP voorzien van de benodigde software voor het meten van de tenminste ene parameter.

19. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies 1-16, met het kenmerk, dat de analysemiddelen zijn voorzien van hardware voor het meten van de tenminste ene parameter.

20. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met 30 het kenmerk, dat het systeem verder is voorzien van tenminste een RFID- label.

21. Identificatiesysteem volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat het systeem verder is voorzien van een centrale computer 5 die communicatief is verbonden met de analysemiddelen voor het door de computer ontvangen en eventueel verder verwerken en/of opslaan van de tenminste ene parameter of tenminste een van de parameters waarbij bijvoorkeur het systeem ook is ingericht om een met de RFID-lezer geregistreerde identificatiecode aan de centrale computer eventueel 10 tezamen met een tijdstip waarop de identificatiecode van het RFID label is bepaald en/of een identificatiecode van de RFID-lezer zelf.

22. Werkwijze voor het identificeren van RFID-labels waarbij gebruik wordt gemaakt van tenminste een RFID-lezer voor het genereren van een 15 elektromagnetisch ondervraagveld en voor het ontvangen van door een RFID-label uitgezonden elektromagnetische respondersignaal in reactie op het ondervraagveld waarbij het respondersignaal een identificatiecode omvat waarbij de RFID-lezer verder is ingericht van het registreren van de identificatiecode het het ontvangen respondersignaal, met het kenmerk, dat 20 door de RFID-lezer verder een analyse wordt uitgevoerd waarbij aan de hand van het met de RFID-lezer ontvangen respondersignaal tenminste één parameter wordt gemeten die wordt gebruikt als een maat voor de kwaliteit van het RFID-label.

23. Werkwijze volgens conclusie 22, met het kenmerk, dat aan de hand van de geregistreerde identificatiecode de tenminste ene parameter wordt gemeten.

24. Werkwijze volgens conclusie 22 of 23, met het kenmerk, dat de 30 frequentie van O’en ‘1’ in het respondersignaal wordt gemeten als de tenminste ene parameters of als tenminste een van de parameters.

25. Werkwijze volgens een der conclusies 22-24, met het kenmerk, dat een daling van een grootte van het respondersignaal wordt gemeten voor het 5 bepalen van de tenminste ene parameter of tenminste een van de parameters.

26. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-25, met het kenmerk, dat de opslingerfactor van een resonantiekring van het RFID label 10 wordt gemeten als de tenminste ene parameter of tenminste een van de parameters.

27. Werkwijze volgens conclusie 26, met het kenmerk, dat de opslingerfactor wordt bepaald uit een gemeten daling van de grootte van het 15 respondersignaal.

28. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-27, met het kenmerk, dat een bittiming van de identificatiecode wordt gemeten als de tenminste ene parameter of tenminste een van de parameters.

29. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-28, met het kenmerk, dat een structuur van de identificatiecode wordt bepaald als de tenminste ene parameter of tenminste een van de parameters.

30. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-29, met het kenmerk, dat het RFID-label van een type is dat een respondersignaal afwisselend uitzendt op een hoge retourfrequentie en een lage retourfrequentie waarbij de opslingerfactor van een resonantiekring van het RFID-label wordt bepaald uit een verhouding tusseneen gemeten amplitude 30 van het respondersignaal op de hoge retourfrequentie en een gemeten amplitude van het respondersignaal op de lageretour frequentie waarbij de opslingerfactor de tenminste ene parameter of tenminste een van de parameters is.

31. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-30, met het kenmerk, dat een timing van de uitgezonden identificatiecode wordt gemeten waarbij het meten van de timing het meten van de totale tijdsduur voor het uitzenden van de identificatiecode inhoudt en waarbij genoemde timing de tenminste ene parameter of tenminste een van de parameters is. 10

32. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-31, met het kenmerk, dat een meting van de fasehoek van het respondersignaal wordt uitgevoerd waarbij de fasehoek de tenminste ene parameter of tenminste een van de parameters is. 15

33. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-32, met het kenmerk, een meting van de amplitude van het respondersignaal wordt uitgevoerd waarbij de amplitude de tenminste ene parameter of tenminste een van de parameters is. 20

34. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-33, met het kenmerk, dat een verloop in de tijd van de tenminste ene parameter wordt geregistreerd en/of geanalyseerd en/of dat de tenminste ene parameter wordt vergeleken met een referentiestandaard en/of dat de gemeten 25 parameters tezamen met de bijbehorende identificatiecode en eventueel het tijdstip waarop de parameters zijn gemeten worden opgeslagen.

35. Werkwijze volgens een der conclusies 22, 23, 24, 25, 26, 27, 28, 29, 33 of 34, met het kenmerk, dat het RFID-label een HDX label is. 30

36. Werkwijze volgens een der conclusies 22, 23, 30, 31, 32, 33 of 34, met het kenmerk, dat het RFID-label een FDX label is.

37. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-36, met het 5 kenmerk, dat wordt herkend of het label een HDX label of een FDX label is waarbij wanneer is herkend dat het label een HDX label is ten minste een paramater van het herkende label wordt bepaald volgens tenminste een eerste methode, meer in het bijzonder volgens tenminste een der conclusies 22, 23, 24, 25, 26, 27, 28, 29, 33 of 34 en wanneer is herkend dat het label 10 een FDX label is ten minste een paramater van het herkende label wordt bepaald volgens tenminste een tweede methode, meer in het bijzonder volgens tenminste een der conclusies 22, 23, 30, 31, 32, 33 of 34.

38. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-37, met het 15 kenmerk, dat een identificatiecode van de RFID-label wordt opgeslagen in een lijst met defecte labels wanneer een bepaalde parameter van het RFID label afwijkt van een vooraf bepaalde standaard voor de bepaalde parameter.

39. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-38, met het kenmerk, dat de analyses door de RFID-lezer wordt uitgevoerd.

40. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-39, met het kenmerk, dat RFID-lezer wordt voorzien van een DSP voorzien van de 25 benodigde software voor het meten van de tenminste ene parameter.

41. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-39, met het kenmerk, dat de RFID-lezer wordt voorzien van hardware voor het meten van de tenminste ene parameter. 30

42. Werkwijze volgens een der voorgaande conclusies 22-41, met het kenmerk, dat verder gebruik wordt gemaakt van een centrale computer die communicatief is verbonden met de analysemiddelen voor het door de computer ontvangen en eventueel verder verwerken en/of opslaan van de 5 tenminste ene parameter of tenminste een van de parameters waarbij bijvoorkeur een met de RFID-lezer geregistreerde identificatiecode aan de centrale computer wordt toegevoerd, eventueel tezamen met een tijdstip waarop de identificatiecode van het RFID label is bepaald en/of een identificatiecode van de RFID-lezer zelf. 10