CN100462935C - 链接控制卡测试系统及方法 - Google Patents
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Abstract
一种链接控制卡测试系统,包括一主机、一中间板及一复位开关。所述中间板的一端与一链接控制卡相连接,其另一端与一测试装置阵列相连接。所述主机与所述测试装置阵列连接以发送测试命令及接收测试结果。所述复位开关控制所述链接控制输出一复位信号,并经所述中间板传送给所述测试装置阵列。所述测试装置阵列由若干个测试装置组成,每一测试装置包括:一微控制器;一与所述微控制器连接的接口连接器,其通过所述中间板与所述链接控制卡相连接;一与所述微控制器相连接的地址设定单元,用于设定每一测试装置在所述链接控制卡测试系统中地址;一与所述微控制器相连接的第一接口,通过所述第一接口将测试结果传出。本发明还提供链接控制卡测试方法。
Description
【技术领域】
本发明涉及一种链接控制卡测试系统及方法。
【背景技术】
随着信息技术的发展,磁盘阵列被越来越多地使用到企业的每一种应用系统中。它开始只是简单地作为某台主机或服务器的附加外置存储设备,主要用于扩展单台主机或服务器的永久存储空间,一般通过SCSI(Small ComputerSystem Interface,小型计算机系统接口)或其他接口与主机直接相连;后来随着光纤通道(Fibre Channel)技术的发展,磁盘阵列通过光纤通道接口接入到SAN(Storage Area Network,存储区域网)中,为多台主机提供共享的存储空间。光纤磁盘阵列指该磁盘阵列采用光纤通道技术,其对外即对主机使用光纤通道接口连接方式,其内部采用光纤通道技术来连接其内部的每一个磁盘。
现有机架型光纤通道存储设备通常由两片链接控制卡、中间板、磁盘阵列、及电源组成。所述链接控制卡一般用于控制经所述中间板传送给所述磁盘阵列的信号。在光纤通道存储设备的实际生产测试流程中,主机通过发送测试命令给磁盘阵列,并以复位开关控制所述链接控制卡,通过对磁盘阵列测试,记录测试结果,从而间接验证链接控制卡的硬件复位特性。但上述测试方法需要大量的光纤通道接口磁盘,磁盘的价格很高,在长期测试中需要经常更换,且磁盘也容易在受到震动时损坏。
【发明内容】
有鉴于此,有必要提供一种无需使用硬盘的链接控制卡测试系统及方法。
一种链接控制卡测试系统,包括一主机、一中间板及一复位开关,所述中间板的一端与一链接控制卡相连接,所述复位开关用于复位所述链接控制卡,所述中间板的另一端与一测试装置阵列相连接,所述主机与所述测试装置阵列连接以发送测试命令及接收测试结果,所述复位开关控制所述链接控制卡输出一复位信号,并经所述中间板传送给所述测试装置阵列,所述测试装置阵列由若干个测试装置组成,每一测试装置包括:一微控制器;一与所述微控制器连接的接口连接器,其通过所述中间板与所述链接控制卡相连接;一与所述微控制器相连接的地址设定单元,用于设定每一测试装置在所述链接控制卡测试系统中的地址;一与所述微控制器相连接的第一接口,通过所述第一接口将测试结果传出。
一种链接控制卡测试方法,包括以下步骤:
设定一测试装置阵列中每一测试装置的地址;
侦测每一测试装置所设定的地址,并保存在对应测试装置的微控制器中;
一主机发送一测试命令至所述测试装置阵列中的一测试装置,所述测试命令包括一测试链接控制卡硬件复位时序命令、一预设的标准硬件复位时序及一预设置地址;
所述测试装置侦测所述测试命令中所包含的地址与其所保存的地址是否一致;
若一致,则开启一复位开关,所述复位开关控制一链接控制卡输出一复位信号,通过一中间板将所述复位信号传送给所述测试装置;及
所述测试装置的微控制器将所述测试命令中所包含的标准硬件复位时序保存,并侦测所述链接控制卡的硬件复位时序,然后与保存的标准硬件复位时序比较是否一致,并将测试结果传给主机。
相较现有技术,在链接控制卡的测试流程中使用测试装置阵列来替代磁盘阵列,通过对链接控制卡进行硬件复位测试,确保链接控制卡工作正常,采用所述链接控制卡测试系统及方法,测试过程快速高效。
【附图说明】
下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细说明。
图1是本发明链接控制卡测试系统的较佳实施方式的方框图。
图2是本发明链接控制卡测试系统的较佳实施方式中每一测试装置的原理框图。
图3是本发明链接控制卡测试系统的较佳实施方式中每一测试装置的地址设定单元的电路图。
图4是本发明链接控制卡测试系统的较佳实施方式中第一个测试装置的硬件复位测试示意图。
图5是本发明链接控制卡测试方法的流程图。
【具体实施方式】
请参考图1,其为本发明链接控制卡测试系统的较佳实施方式的方框图。所述链接控制卡测试系统包括一主机100、一由15个测试装置10顺序串联的测试装置阵列200、一中间板30、一第一链接控制卡40、一第二链接控制卡50、一第一电源60、一第二电源70及一复位开关44。所述中间板30的第一端与所述第一链接控制卡40、第二链接控制卡50的第一端连接,所述中间板30的第二端与所述测试装置阵列200相连接。所述主机100通过一接口102与所述测试装置阵列200相连接,用于发送测试命令及接收测试结果。本实施方式中用所述测试装置阵列200中的15个测试装置10取代现有技术中的15个硬盘。所述第一电源60及所述第二电源70均与所述中间板30相连接,为整个链接控制卡测试系统供电。所述中间板30用于为所述测试装置阵列200分配信号和能量。所述复位开关为现有技术中光纤通道存储设备外围的部件地址(EnclosureAddress)开关。所述复位开关44控制所述第一链接控制卡40或所述第二链接控制卡50输出一复位信号,并经所述中间板30传送给所述15个测试装置10。所述第一链接控制卡40及所述第二链接控制卡50用于控制经所述中间板30传送给所述测试装置阵列200的信号。
请一并参考图2,其为本发明链接控制卡测试系统中每一测试装置10的原理框图,每一测试装置10包括一微控制器12、一接口连接器14、一地址设定单元16、一第一接口18及一第二接口20。
所述微控制器12采用PIC18F6520芯片,其内部存储一固件(Firmware),用于控制周边器件的工作,可支持两个RS232串口。所述接口连接器14与所述微控制器12连接,满足光纤通道硬盘接口SFF-8045规范,并具热插拔功能。所述测试装置阵列200的每一测试装置10均通过所述接口连接器12与所述中间板30的第二端相连接。所述地址设定单元16与所述微控制器12连接。所述第一接口18与所述微控制器12相连接,其为RS232串口,用于将测试结果传出。所述第二接口20与所述微控制器12相连接,亦为RS232串口,用于与相邻的测试装置10相连接。
本实施例中所述主机100通过所述接口102与所述测试装置阵列200的连接方式如下:所述主机100通过所述接口102与第一个测试装置10的第一接口18相连,第一个测试装置10的第二接口20与第二个测试装置10的第一接口18相连,第二个测试装置10的第二接口20与第三个测试装置10的第一接口18相连,依此方法所述测试装置阵列200中的其他测试装置10均顺序串接,不再重述。本实施例中所述主机100通过所述接口102亦可与所述第二个测试装置10的第一接口18相连接,亦可与所述测试装置阵列200中的其它测试装置10相连接。
请一并参考图3,其为本发明链接控制卡测试系统的较佳实施方式中每一测试装置10的地址设定单元的电路图。每一测试装置10的地址设定单元16与所述微控制器12连接,所述地址设定单元16通过四个双向开关J0、J1、J2及J3设置每一测试装置10的四位地址A0、A1、A2、A3。当J0拨向脚位1时,A0设定为逻辑“1”;当J0拨向脚位3时,A0设定为逻辑“0”,所述J2、J3、J4的设置方法与J1一致,故不再重述,则地址输入值依次可选取“0000”、“0001”、“0010”、“0011”、“0100”、“0101”、“0110”、“0111”、“1000”、“1001”、“1010”、“1011”、“1100”、“1101”、“1110”,即每一测试装置10可设定地址范围为0至14。
图4为本发明链接控制卡测试系统的较佳实施方式中第一个测试装置的硬件复位测试示意图。以第一个测试装置10进行硬件复位测试为例作说明,通过开启所述复位开关44,所述第一链接控制卡40或所述第二链接控制卡50输出DEV_CTRL_CODE[0...2]硬件复位信号,则第一个测试装置10中通过所述接口连接器14将DEV_CTRL_CODE[0...2]硬件复位信号传至所述微控制器12,所述微控制器12侦测所述第一链接控制卡40或所述第二链接控制卡50的硬件复位时序。所述测试装置阵列200中的其它测试装置10进行硬件复位测试的工作原理与此相同,不再重述。
图5为本发明链接控制卡硬件复位测试方法的流程图,其具体步骤如下:
设定所述测试装置阵列200中15个测试装置10的地址(步骤80),每一测试装置10分别对应一唯一地址,所述唯一地址均通过每一测试装置10的地址设定单元16进行,即第一个测试装置10设定的地址是“0000”,第二个测试装置10设定的地址是“0001”,其它测试装置10设定的地址如下表1所示。
表1 每一测试装置10与其设定的地址对应关系表
编号 | 地址 | 编号 | 地址 | 编号 | 地址 |
第一个测试装置10 | 0000 | 第二个测试装置10 | 0001 | 第三个测试装置10 | 0010 |
第四个测试装置10 | 0011 | 第五个测试装置10 | 0100 | 第六个测试装置10 | 0101 |
第七个测试装置10 | 0110 | 第八个测试装置10 | 0111 | 第九个测试装置10 | 1000 |
第十个测试装置10 | 1001 | 第十一个测试装置10 | 1010 | 第十二个测试装置10 | 1011 |
第十三个测试装置10 | 1100 | 第十四个测试装置10 | 1101 | 第十五个测试装置10 | 1110 |
所述测试装置阵列200在上电时均侦测步骤S1所设定的15个地址,并将所述15个地址保存在对应测试装置10的微控制器12中(步骤81)。如上表2所示,即第一个测试装置10将地址“0000”保存在其微控制器12中,第二个测试装置10将地址“0001”保存在其微控制器12中,第三个测试装置10将地址“0010”保存在其微控制器12中,同理其它测试装置10均将对应的地址保存在其微控制器12中。
所述主机100通过所述接口102发送一测试命令至所述测试装置阵列200中的一测试装置10(步骤82)。所述测试命令包含一测试所述第一链接控制卡40的硬件复位时序命令、一预设的标准硬件复位时序及一预设置地址,该预设置地址为“0000”至“1110”中的任何一个地址。
所述测试装置10的第一接口18接收到上述测试命令,侦测该命令中的地址与其所保存的地址是否一致(步骤83)。
若不一致,则将所述测试命令传至另一测试装置10;则所述另一测试装置10继续侦测所述命令中的地址与其所保存的地址是否一致(步骤85)。若一致,则进行步骤84;若不一致,则继续进行步骤85;依此所述测试装置阵列200中的其它测试装置10逐一进行侦测;当一致时,所述测试装置10直接进行步骤84。
步骤84:所述主机100显示可开启所述复位开关44的信息,则开启所述复位开关44,所述复位开关44产生的控制信号使所述链接控制卡40输出一复位信号,通过所述中间板30将所述复位信号传送给所述测试装置10。
步骤86:所述测试装置10的微控制器12将所述测试命令中所包含的标准硬件复位时序保存,并侦测所述第一链接控制卡40的硬件复位时序,然后与保存的标准硬件复位时序比较是否一致。若一致,则所述第一链接控制卡40与所述测试装置10通信正常;若不一致,则所述第一链接控制卡40与所述测试装置10通信不正常,所述测试装置10将测试结果传给所述主机200。
在步骤86中,所述测试结果经由最先接收测试命令的测试装置10传给所述主机100。当硬件复位测试是由最先接收测试命令的测试装置10完成时,则测试结果是直接通过所述最先接收测试命令的测试装置10传给所述主机100;若测试结果不是由所述最先接收测试命令的测试装置10完成时,则由完成所述测试结果的测试装置10将所述测试结果传送到所述最先接收测试命令的测试装置10,再由所述最先接收测试命令的测试装置10传给所述主机100。
比如第三个测试装置10在测试所述第一链接控制卡40时,测试结果是通过第三个测试装置10的第一接口18传给与其相邻的第二个测试装置10的第二接口20,第二个测试装置10通过其第一接口18再传给与其相邻的第一个测试装置10的第二接口20,最后第一个测试装置10通过其第一接口18将测试结果传给所述主机100,所述主机100通过所述接口102读取测试结果。
上述以测试第一链接控制卡40的硬件复位特性为例来作说明,测试所述第二链接控制卡50的硬件复位特性的流程与其相同,不再重述。在测试所述第一链接控制卡40时,若所述主机100读到15个测试装置10的测试结果都正确,表明所述第一链接控制卡40可与所述15个测试装置10正常通信。若其中有一个测试装置10的测试结果不正确,则表明所述第一链接控制卡40与所述测试装置10通信不正常。
上述在测试链接控制卡的工作特性时,使用测试装置阵列来替代磁盘阵列,通过对链接控制卡进行硬件复位测试,确保链接控制卡的工作可靠性。
Claims (14)
1.一种链接控制卡测试系统,包括一主机、一中间板及一复位开关,听述中间板的一端与一链接控制卡相连接,所述复位开关用于复位所述链接控制卡,其特征在于:所述中间板的另一端与一测试装置阵列相连接,所述主机与所述测试装置阵列连接以发送测试命令及接收测试结果,所述复位开关控制所述链接控制卡输出一复位信号,并经所述中间板传送给所述测试装置阵列,所述测试装置阵列由若干个测试装置组成,每一测试装置包括:一微控制器;一与所述微控制器连接的接口连接器,其通过所述中间板与所述链接控制卡相连接;一与所述微控制器相连接的地址设定单元,用于设定每一测试装置在所述链接控制卡测试系统中的地址;一与所述微控制器相连接的第一接口,通过所述第一接口将测试结果传出。
2.如权利要求1所述的链接控制卡测试系统,其特征在于:所述测试装置阵列包括若干个顺序串行连接的测试装置。
3.如权利要求2所述的链接控制卡测试系统,其特征在于:每一测试装置还包括一与所述微控制器相连接的第二接口,用于与相邻的测试装置相连接。
4.如权利要求3所述的链接控制卡测试系统,其特征在于:每两相邻测试装置中的一测试装置的第二接口与另一测试装置的第一接口相连接。
5.如权利要求1所述的链接控制卡测试系统,其特征在于:所述主机通过一接口与所述测试装置阵列中的一测试装置的第一接口相连接。
6.如权利要求1所述的链接控制卡测试系统,其特征在于:所述中间板还连接另一链接控制卡,所述测试装置阵列均通过所述中间板与所述另一链接控制卡相连接。
7.如权利要求1所述的链接控制卡测试系统,其特征在于:所述地址设定单元包括若干开关。
8.如权利要求7所述的链接控制卡测试系统,其特征在于:所述开关为双向开关,所述地址设定单元包括四个双向开关,其可设定的地址范围是0至14。
9.一种链接控制卡测试方法,包括以下步骤:
设定一测试装置阵列中每一测试装置的地址;
侦测每一测试装置所设定的地址,并保存在对应测试装置的微控制器中;
一主机发送一测试命令至所述测试装置阵列中的一测试装置,所述测试命令包括一测试链接控制卡硬件复位时序命令、一预设的标准硬件复位时序及一预设置地址;
所述测试装置侦测所述测试命令中所包含的地址与其所保存的地址是否一致;
若一致,则开启一复位开关,所述复位开关控制一链接控制卡输出一复位信号,通过一中间板将所述复位信号传送给所述测试装置;及
所述测试装置的微控制器将所述测试命令中所包含的标准硬件复位时序保存,并侦测所述链接控制卡的硬件复位时序,然后与保存的标准硬件复位时序比较是否一致,并将测试结果传给主机。
10.如权利要求9所述的链接控制卡测试方法,其特征在于:所述测试装置阵列包括若干顺序串行连接的测试装置。
11.如权利要求10所述的链接控制卡测试方法,其特征在于:若所述测试命令中所包含的地址与所述测试装置所保存的地址不一致时,则所述测试装置将所述测试命令传至所述测试装置阵列中与所述测试装置串行连接的另一测试装置,所述另一测试装置继续进行判断所述测试命令中所包含的地址与其所保存的地址是否一致的步骤;若不一致,则重复前述步骤,若一致,则开启所述复位开关。
12.如权利要求9所述的链接控制卡测试方法,其特征在于:所述测试装置所侦测的链接控制卡的硬件复位时序与所述标准硬件复位时序一致时,则所述链接控制卡与所述测试装置通信正常。
13.如权利要求9所述的链接控制卡测试方法,其特征在于:所述测试装置所侦测的链接控制卡的硬件复位时序与所述标准硬件复位时序不一致时,则所述链接控制卡与所述测试装置通信不正常。
14.如权利要求11所述的链接控制卡测试方法,其特征在于:所述测试结果是经由所述测试命令中所包含的地址与所保存地址一致的测试装置传至先前接收到主机发送的测试命令的测试装置,由先前接收到主机发送的测试命令的测试装置传给所述主机。
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Granted publication date: 20090218 Termination date: 20131117 |