CN100407327C - 光学记录介质的缺陷检测电路与方法 - Google Patents

Abstract

一种用于光学记录介质的缺陷检测电路，包括：缺陷信号产生电路用于依据一光学记录介质的至少一个表面缺陷产生对应的至少一个缺陷信号、一第一同步信号产生器用于产生一第一同步信号、一缺陷信号定位电路、一延迟信号产生电路以及一或门。缺陷信号对应于表面缺陷包含至少一个脉冲，并且脉冲的脉冲宽度是对应于表面缺陷的实际宽度，延迟信号产生电路是在当两相邻脉冲的信号间距小于一预设值时产生对应于各脉冲的一延迟信号，该延迟信号将与缺陷信号脉冲进行一或运算以产生一缺陷延伸信号。通过第一同步信号与一用于分隔光学记录介质各数据记录区段的第二同步信号，表面缺陷的宽度与地址将可以顺利地被检测到。

Description

光学记录介质的缺陷检测电路与方法

技术领域

本发明涉及一种用于光学记录介质的缺陷检测电路与方法，尤其涉及一种利用同步信号来计算光学记录介质的表面缺陷的宽度与地址，并在两相邻表面缺陷距离小于一预定值时，配合一延迟信号的加入，以减少光学介质记录装置的固件负担的缺陷检测电路与方法。

背景技术

不论是一般的光学记录介质(如CD)或是可复写式光学记录介质(如CD-RW)，均可能在使用过程中因与其它粗糙表面物体摩擦的缘故，而有表面刮伤的情况发生。一旦这些光学记录介质因刮伤而产生表面缺陷，其在进行记录数据动作时，光学介质记录装置必须首先获知该光学记录介质在哪个区块的哪个地址有因为刮伤或其它原因所产生的表面缺陷，这样一来尽管待刻录的数据仍会记录在发生这些表面缺陷的地址，但也另外将这些数据复制储存在另一备用数据区(spare data area)地址上，以防在稍后需要读取这些数据时，因为表面缺陷的存在而导致无法完整读取所刻录数据的结果。

为了获知表面缺陷的宽度与地址的相关信息，光学介质记录装置通常以新增硬件的方式来实现，除此之外，同样可以通过预先设定文件系统来获得同样的结果，然而相对于前者而言，后者却显得相当复杂。另外，与光学介质记录装置相比较，一般的光学介质读取装置(如无数据记录功能的CD-ROM)对于盘片表面缺陷的问题始终不能解决，一些著名的大公司如Compaq、Sony、Philips以及微软因该组成了雷尼尔山联盟(Mt.Rainier group)试图先在盘片、播放机以及作业系统内采用雷尼尔山标准，增加其相容性与表面缺陷管理的功能以解决当光学记录介质发生表面缺陷时所可能碰到的一些非预期情况。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种用于光学记录介质的缺陷检测电路与方法。凭借硬件电路的一些改变，使得位于该光学记录介质表面的缺陷的宽度与地址能在记录数据到该光学记录介质的同时被顺利地检测到，而为了日后可被顺利读取的考虑将所要写入到这些表面缺陷地址上的数据，首先复制到一备份数据区。此外，本发明的另一目的，在于解决当两相邻表面缺陷的距离过短时，通过输入一延迟信号以等同于加长整个表面缺陷的宽度，使得光学介质记录装置不需要对每个表面缺陷进行地址以及宽度的检测，以减小固件过程的负担。

为了实现上述目的，本发明提供一种用于光学记录介质的缺陷检测电路，包括：缺陷信号产生电路，用于依据光学记录介质的至少一个表面缺陷产生对应的缺陷信号，该缺陷信号包含至少一个脉冲并且该脉冲的脉冲宽度对应于该表面缺陷的实际宽度；缺陷信号定位电路；以及第一同步信号产生器，用于产生第一同步信号并将该第一同步信号传送到所述缺陷信号定位电路；其中所述光学记录介质包含有复数个数据记录区段，各所述数据记录区段以第二同步信号进行分隔，所述第二同步信号同样输入到所述缺陷信号定位电路，以与所述第一同步信号配合以检测所述表面缺陷在所述数据记录区段的地址与所述表面缺陷实际宽度。

为了实现上述目的，本发明还提供一种用于光学记录介质的缺陷检测电路。该缺陷检测电路包含有一缺陷信号产生电路，用于依据该光学记录介质的表面缺陷(如果存在)产生对应的一缺陷信号、一缺陷信号定位电路、以及一第一同步信号产生器，用于产生第一同步信号并将第一同步信号传送到缺陷信号定位电路。缺陷信号包含有至少一对应于单一表面缺陷的脉冲且脉冲的宽度也对应于表面缺陷的实际宽度。此外，光学记录介质可被视为包含有复数个数据记录区段，各数据记录区段是以一第二同步信号进行分隔，该第二同步信号同样输入到缺陷信号定位电路，以与第一同步信号配合来检测表面缺陷在数据记录区段中的地址与实际宽度。当两相邻表面缺陷的距离小于一预设值时，本发明的电路还包含有一延迟信号产生电路，用于产生一延迟信号，以及用于使该延迟信号与缺陷信号脉冲进行或运算的或门，目的是等同延伸表面缺陷的宽度，使得要记录在这些数据记录区段的数据都能被复制到备份数据区。因此，光学介质记录装置将不需要去检测每个表面缺陷的确实地址与宽度而不至于增加本身的固件运算负担。

本发明还提供一种光学记录介质表面缺陷的检测方法，包括下列步骤：(1)对于包含至少一个表面缺陷的数据记录区段，利用一缺陷信号产生电路产生对应的缺陷信号，缺陷信号包括至少一个脉冲，脉冲的脉冲宽度是对应到表面缺陷的实际宽度；(2)将缺陷信号输入到一缺陷信号定位电路，缺陷信号定位电路是用于检测表面缺陷在数据记录区段上的地址与表面缺陷的实际宽度；(3)输入第一同步信号到缺陷信号定位电路；(4)输入第二同步信号到缺陷信号定位电路；以及(5)利用第一同步信号与第二同步信号计算表面缺陷地址以及表面缺陷实际长度。其中每两相邻的数据记录区段是以第二同步信号为间隔，且当两脉冲的信号间距小于一预设值时，还包括步骤(6)产生一延迟信号，其中延迟信号的信号波长大于相邻两脉冲的信号间距。该延迟信号将与缺陷信号的脉冲进行一或运算，并在完成或运算后以第一同步信号为单位直接计算缺陷延伸信号所包含的第一同步信号的数目，并于计算完毕后减去延迟信号所对应的第一同步信号的数目，以得到缺陷信号的实际长度。

与现有技术相比，本发明的检测光学记录介质表面缺陷的方法，是在当两相邻表面缺陷距离小于一预定值情况下，通过加入一延迟信号与原先的缺陷信号进行一或运算，以产生一缺陷延伸信号。该缺陷延伸信号可能含跨超过一个的数据记录区段，记录到这些缺陷延伸信号对应的这些数据记录区段地址的数据都会复制到备份数据区，以用于日后正常读取数据。当表面缺陷的距离太小时，本发明的方法将不就每一个表面缺陷的实际宽度与位置进行计算，而是在完成原始缺陷信号与延迟信号的或运算后，再减去该延迟信号相等的计数时钟脉冲个数，同样能达到正确获得表面缺陷的实际宽度与地址的结果，此外，还能减小光学介质记录装置的固件负担。

附图说明

图1A为本发明的检测光学记录介质表面缺陷的电路方框图。

图1B为图1A的缺陷信号的示意图。

图2A为本发明的光学记录介质缺陷检测电路的另一实施例的电路方框图。

图2B为一光学记录介质、图2A的缺陷信号、延迟信号、缺陷延伸信号与第二同步信号的示意图。

图3为本发明的检测光学记录介质表面缺陷的方法流程图。

附图的符号说明

10、100检测光学记录介质表面缺陷电路

12、102缺陷产生电路

14、104缺陷信号定位电路

15、112缺陷信号脉冲

16、109第一同步信号

17、115第二同步信号

30、130光学记录介质

32、132数据记录区段

34、134表面缺陷

36脉冲宽度

105第一同步信号产生器

106延迟信号产生电路

108或门

113延迟信号

114缺陷延伸信号

116延迟信号所包含的第一同步信号数目

136相邻脉冲信号间距

137延迟信号波长

具体实施方式

为了进一步了解本发明实现预定目的所采取的技术、手段及效果，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而所附附图仅提供参考与说明，并非用于对本发明加以限制。

请参阅图1A，图1A为本发明的光学记录介质表面缺陷检测电路10的电路方框图。缺陷检测电路10包含有一缺陷信号产生电路12以及一缺陷信号定位电路14。缺陷信号产生电路12是用于依据光学记录介质每一数据记录区段的至少一表面缺陷(图1A未示出)产生对应的一缺陷信号15，缺陷信号15包含有至少一个脉冲，并且脉冲的脉冲宽度是对应于表面缺陷的实际宽度。该缺陷信号15将与第一同步信号16(最好是一个八转十四编码帧信号)以及第二同步信号17(最好是一绝对时间沟槽同步信号或是一子码同步信号)，一同输入到缺陷信号定位电路14，以获得该表面缺陷在数据记录区段的地址与该表面缺陷的实际宽度。请继续参阅图1B，图1B为图1A的缺陷信号15的示意图。光学记录介质30可被视为包含有复数个数据记录区段32(每两个第二同步信号17之间即代表一个数据记录区段32)，而每个数据记录区段32可能包含有至少一个表面缺陷34。由于图1A的缺陷信号产生电路12所产生的缺陷信号15包含有复数个脉冲，这些脉冲除了对应每个表面缺陷34产生之外，其脉冲宽度36是与表面缺陷实际宽度相对应。换句话说，从缺陷信号15的脉冲个数以及单一脉冲的脉冲宽度36，即可获知该光学记录介质的缺陷分布以及其宽度大小。通过计算每一脉冲所包含的第一同步信号16的数目，即可推知对应的表面缺陷实际宽度，而第二同步信号17则是用于界定每一数据记录区段32的起点(或终点)，由此，才能获知光学记录介质的表面缺陷宽度以及地址。

请参阅图2A，图2A为本发明的光学记录介质缺陷检测电路的另一实施例100的电路方框图。光学记录介质检测电路100包含有一缺陷信号产生电路102、一缺陷信号定位电路104、一第一同步信号产生器105、一延迟信号产生电路106、一或门108。

缺陷信号产生电路102是用于依据光学记录介质的至少一个表面缺陷产生对应的至少一个缺陷信号112，缺陷信号包含有至少一个脉冲，且该脉冲的脉冲宽度是对应于该表面缺陷的实际宽度。第一同步信号产生器105是用于产生第一同步信号109，并将该第一同步信号109传送到缺陷信号定位电路104与延迟信号产生电路106。延迟信号产生电路106是用于产生对应于各脉冲的延迟信号113，而该或门108则是用于对缺陷信号112以及延迟信号113进行一或运算(OR operation)，以产生一缺陷延伸信号114。缺陷延伸信号114是与第一同步信号109(最好是一个八转十四编码帧信号)以及第二同步信号115(最好是绝对时间沟槽同步信号或子码信号)一起输入到缺陷信号定位电路104，以检测表面缺陷的实际宽度与地址。光学记录介质包含有复数个数据记录区段(如图1B的32)，每一数据记录区段以第二同步信号115进行分隔。第一同步信号109同样输入到延迟信号产生电路106，用于计算延迟信号产生电路106产生的延迟信号113所包含第一同步信号109的数目116。这个数目116将于稍后计算缺陷延伸信号114所包含的第一同步信号109的数目中被减去，以确切获得表面缺陷真正实际宽度的信息。与上述图1A与图1B的说明相同，第一同步信号109是用于计算表面缺陷的实际宽度，而第二同步信号115则是用于计算这些表面缺陷的发生地址。

请参阅图2B，图2B为一光学记录介质130、图2A的缺陷信号112、延迟信号113、缺陷延伸信号114与第二同步信号115的示意图。光学记录介质130包含有复数个数据记录区段132，每一数据记录区段132可能包含至少一个表面缺陷134，并且每一数据记录区段132是以第二同步信号115进行间隔。缺陷信号112包含复数个脉冲，这些脉冲对应于表面缺陷134产生，其脉冲宽度与相邻脉冲的信号间距是分别对应于表面缺陷实际宽度以及两相邻表面缺陷的距离。延迟信号113是在缺陷信号112的脉冲下降沿被触发产生，并且缺陷信号112与延迟信号113同样输入到图2A的或门108，以产生该缺陷延伸信号114。

使用延迟信号113的原因是当两相邻表面缺陷134的距离，也就是两缺陷信号112脉冲的信号间距136小于一预设值时，为了降低光学介质记录装置的固件负担，使其不需要在该情况下检测每一表面缺陷134的实际宽度与地址而设计的。最好是，当两缺陷信号112脉冲的信号间距136小于108个单一八转十四编码帧信号长度时，光学介质记录装置将选择不全部处理这些表面缺陷134，而是通过加入一延迟信号113，并将该延迟信号113与缺陷信号112进行一或运算后得到一个缺陷延伸信号114，该延迟信号113的信号波长137大于缺陷信号112的信号间距136。最好是，该延迟信号信号波长137等于108个八转十四编码帧信号，需要注意的是图2B所示的只是为了表现延迟信号波长137大于两相邻缺陷信号112的信号间距136，两信号在附图上并不具有任何比例上的意义。根据一同输入到图2A的缺陷信号定位电路104的第一同步信号109与第二同步信号115，即可计算出缺陷延伸信号114所包含的第一同步信号116的数目，该计算结果还减去延迟信号113所包含的第一同步信号数目，以进一步获得正确的表面缺陷宽度。

由于数据是以散布(scatter)的方式储存在光学记录介质上，当某一数据记忆区段有很多表面缺陷存在时，可能会在数据读取操作进行时发生无法读取等错误情况，而又为了避免光学介质记录装置的固件负荷过重，所以在表面缺陷的距离过近时不检测所有的表面缺陷，而使用一延迟信号直接计算与该延迟信号完成或运算后的缺陷延伸信号的宽度与地址，之后再减去该延迟信号所包含的第一同步信号数目，从而得到正确的各个表面缺陷宽度与地址。

请参阅图3，图3为本发明的光学记录介质检测表面缺陷的方法流程图。本发明的方法包含有下列步骤：

步骤210：开始；

步骤202：对于包含有至少一个表面缺陷的数据记录区段，利用缺陷信号产生电路产生对应的缺陷信号，缺陷信号包含有至少一个脉冲，脉冲的脉冲宽度是对应到表面缺陷的实际宽度；

步骤203：两相邻脉冲的信号间距是否小于一预设值，如果为否，则进行到步骤204，如果为是则进行到步骤205；

步骤204：将该缺陷信号与第一、第二同步信号输入到一缺陷信号定位电路，完成后进行到步骤208；

步骤205：加入一延迟信号，将该延迟信号与缺陷信号进行一或运算；

步骤206：将完成或运算所产生的缺陷延伸信号以及延迟信号所包含的第一同步信号数目输入到缺陷信号定位电路；

步骤207：减去该延迟信号所包含的第一同步信号数目；

步骤208：利用第一同步信号与第二同步信号到该缺陷信号定位电路，以计算表面缺陷的实际宽度与地址；以及

步骤209：结束。

本发明的光学记录介质表面缺陷检测方法包含有判断两相邻表面缺陷的距离(也就是缺陷信号脉冲的信号间距)的步骤203，当该脉冲的信号间距小于一预设值(如108个八转十四编码帧信号)时，另外加入一延迟信号(该延迟信号的信号波长与该缺陷信号进行一或运算，如步骤205所示，以产生一缺陷延伸信号)。该缺陷延伸信号等于包含的第一同步信号的数目将在步骤207中减去延迟信号所包含的第一同步信号的数目，才能正确地计算出表面缺陷的实际宽度与地址。这样一来，采用本发明的方法的光学介质记录装置在相邻表面缺陷的地址过近时，不需要计算检测到的每一表面缺陷的实际宽度与地址，从而减小整个光学介质记录装置的固件负担。而在加入一延迟信号以产生该缺陷延伸信号后，当记录数据在该缺陷延伸信号所对应的数据记录区段中(可能超过至少一个)时，为了以后能顺利完成读取，同样地将这些要储存的数据复制到备份数据区。由于每一个光学记录介质的表面缺陷均对应到缺陷信号中的一个脉冲，而各脉冲宽度可能彼此不同，由对应到不同的表面缺陷实际宽度决定，所以，当利用第一同步信号(最好是一八转十四编码帧信号)与第二同步信号(最好是一绝对时间沟槽同步信号或是一子码同步信号)来计算缺陷信号，或是已完成减去延迟信号的缺陷延伸信号时，即是等于计算表面缺陷的实际宽度与地址。

与现有技术相比，本发明的检测光学记录介质表面缺陷的方法，是在当两相邻表面缺陷距离小于一预定值情况下，通过加入一延迟信号与原先的缺陷信号进行一或运算，以产生一缺陷延伸信号。该缺陷延伸信号可能含跨超过一个的数据记录区段，记录到这些缺陷延伸信号对应的这些数据记录区段地址的数据都会复制到备份数据区，以用于日后正常读取数据。当表面缺陷的距离太小时，本发明的方法将不就每一个表面缺陷的实际宽度与位置进行计算，而是在完成原始缺陷信号与延迟信号的或运算后，再减去该延迟信号相等的计数时钟脉冲个数，同样能达到正确获得表面缺陷的实际宽度与地址的结果，此外，还能减小光学介质记录装置的固件负担。

以上所述只是本发明的较佳实施例，凡是依据本发明权利要求所做的等同修改与变化，都应该属于本发明专利的涵盖范围。

Claims (23)

1.一种用于光学记录介质的缺陷检测电路，包括：

缺陷信号产生电路，用于依据光学记录介质的至少一个表面缺陷产生对应的缺陷信号，该缺陷信号包含至少一个脉冲并且该脉冲的脉冲宽度对应于该表面缺陷的实际宽度；

缺陷信号定位电路；以及

第一同步信号产生器，用于产生第一同步信号并将该第一同步信号传送到所述缺陷信号定位电路；

其中所述光学记录介质包含有复数个数据记录区段，各所述数据记录区段以第二同步信号进行分隔，所述第二同步信号同样输入到所述缺陷信号定位电路，以与所述第一同步信号配合以检测所述表面缺陷在所述数据记录区段的地址与所述表面缺陷实际宽度。

2.如权利要求1所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述第一同步信号为一个八转十四编码帧信号。

3.如权利要求1所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述第二同步信号为一个子码同步信号。

4.如权利要求1所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述第二同步信号为一绝对时间沟槽同步信号。

5.如权利要求1所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，还包括延迟信号产生电路，用于依据所述缺陷信号的各所述脉冲产生对应的延迟信号。

6.如权利要求5所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述延迟信号的信号波长大于所述两相邻脉冲的信号间距。

7.如权利要求5所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述延迟信号在所述缺陷信号定位电路检测所述缺陷信号地址与所述缺陷信号实际长度时被减去。

8.如权利要求5所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述延迟信号在所述脉冲的一下降沿触发产生。

9.一种用于光学记录介质的缺陷检测电路，包括：

缺陷信号产生电路，用于依据光学记录介质的至少一个表面缺陷产生对应的至少一个缺陷信号，所述缺陷信号对应于所述表面缺陷包含至少一个脉冲，并且所述脉冲的脉冲宽度对应于所述表面缺陷的实际宽度；

缺陷信号定位电路；

第一同步信号产生器，用于产生第一同步信号并将所述第一同步信号传送到所述缺陷信号定位电路；

延迟信号产生电路，用于产生对应于各所述脉冲的延迟信号；以及

或门，用于对所述缺陷信号以及所述延迟信号进行或运算；

其中所述光学记录介质包括复数个数据记录区段，各所述数据记录区段以第二同步信号进行分隔，所述第二同步信号同样输入到所述缺陷信号定位电路，以与所述第一同步信号配合以检测所述表面缺陷在所述数据记录区段上的所述实际宽度和地址。

10.如权利要求9所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述第一同步信号为一个八转十四编码帧信号。

11.如权利要求9所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述第二同步信号为子码同步信号。

12.如权利要求9所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述第二同步信号为绝对时间沟槽同步信号。

13.如权利要求9所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述延迟信号的信号波长大于所述两相邻脉冲的信号间距。

14.如权利要求9所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述延迟信号在所述缺陷信号定位电路检测所述缺陷信号地址与所述缺陷信号实际长度时被减去。

15.如权利要求9所述的用于光学记录介质的缺陷检测电路，其中所述延迟信号在所述脉冲的一下降沿触发产生。

16.一种检测光学记录介质表面缺陷的方法，一种光学记录介质包含有复数个数据记录区段，所述方法包括下列步骤：

(a)对于包括至少一个表面缺陷的所述数据记录区段，利用缺陷信号产生电路产生对应的缺陷信号，所述缺陷信号包括至少一个脉冲，所述脉冲的脉冲宽度是对应于所述表面缺陷的实际宽度；

(b)将所述缺陷信号输入到缺陷信号定位电路，所述缺陷信号定位电路用于检测所述表面缺陷在所述数据记录区段上的地址与所述表面缺陷实际宽度；

(c)输入第一同步信号到所述缺陷信号定位电路；

(d)输入第二同步信号到所述缺陷信号定位电路；以及

(e)利用所述第一同步信号与所述第二同步信号计算所述表面缺陷地址以及所述表面缺陷实际宽度；

其中每两相邻的所述数据记录区段以所述第二同步信号进行分隔。

17.如权利要求16所述的方法，还在两个所述脉冲的信号间距小于预设值时，还包括步骤(f)产生延迟信号，其中所述延迟信号的信号波长大于相邻两所述脉冲的信号间距。

18.如权利要求17所述的方法，还包括步骤(g)对所述缺陷信号以及所述延迟信号执行或运算，以产生缺陷延伸信号，在完成所述或运算后以所述第一同步信号为单位直接计算所述缺陷延伸信号所包含的所述第一同步信号的数目，并在计算完毕后减去所述延迟信号所对应的所述第一同步信号的数目，以得到所述缺陷信号实际长度。

19.如权利要求17所述的方法，其中步骤(f)在所述脉冲的下降沿触发产生所述延迟信号。

20.如权利要求16所述的方法，其中步骤(c)输入的所述第一同步信号为八转十四编码帧信号。

21.如权利要求16所述的方法，其中步骤(d)输入的所述第二同步信号为子码同步信号。

22.如权利要求16所述的方法，其中步骤(d)输入的所述第二同步信号为绝对时间沟槽同步信号。

23.如权利要求16所述的方法，其中步骤(e)计算所述表面缺陷实际宽度相当于计算所述缺陷信号包含有多少所述第一同步信号。

Images