CN100401367C - 具有查找表和内插电路的数据转换电路和数据转换方法 - Google Patents
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Abstract
所要解决的问题是,提供了数据转换电路和数据转换方法,其能够保持转换数据的连续性,同时减少所需的存储容量。用于解决问题的手段是,示例性转换电路,包括LUT,其存储代表性校正值;和内插电路,其通过针对对应于输入信号电平组合的地址周围的LUT单元中存储的代表性校正值进行内插,生成转换数据。当地址周围的单元包括沿LUT的对角线两侧配置的相邻单元对时,内插电路将代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,该替换代表性校正值指出了同存储在该相邻单元对中的代表性校正值中的另一个所指出的相反的校正方向和相同的校正量,并且然后生成转换数据。
Description
技术领域
本发明涉及数据转换电路,其通过对输出自查找表(LUT)的输出值进行内插生成转换数据,该查找表仅存储对应于输入数据集的代表性电平组合的数据。本发明还涉及利用内插的数据转换的方法。
背景技术
在利用LUT的数据转换电路中,对应于输入数据集的组合的输出数据存储在LUT的每个地址中。通过提供对应于输入数据集的地址,LUT输出存储在该地址中的输出数据。因此,输入数据集被转换为对应于输入该数据集的输出数据。
在数据转换电路中,对应于输入数据全部组合的全部输出数据并不是都存储在LUT中。即,为了减少所需的存储容量,仅存储了对应于输入数据集的代表性电平组合的输出数据,例如,每四个电平存储一个。由对应于输入数据的电平附近的代表性电平组合的输出数据的内插,生成了对应于未存储在LUT中的组合的输出数据。
作为利用LUT的数据转换电路的示例,将解释一种根据日本公开专利公报No.10-39837(参考文献1)的液晶显示(LCD)装置。
在参考文献1中公开的LCD显示装置中,为了改善液晶显示面板的响应,使用LUT转换有待提供给LCD面板的像素驱动信号,由此信号电平(强度)是过驱动的。
为了在LCD面板上显示视频图像,以固定的间隔连续地提供图像数据,其包括用于驱动构成帧的像素的信号。当像素驱动信号的电平从先前帧中的开始电平变化为当前帧中的目标电平时,由于液晶分子的取向不能迅速变化,因此在当前帧期间,像素的亮度并未达到对应于目标电平的值。结果,特别是在显示移动的图像时,显示图像的质量是低的。
为了改善图像的质量,使用了过驱动技术。假设液晶显示面板的像素驱动信号具有8比特的分辨率,或者256个信号电平,并且像素驱动信号的电平从先前帧中的10变化为当前帧中的100。在该情况中,例如,提供了具有150而非100的信号电平的、经转换的或经校正的像素驱动信号。因此,改善了液晶显示面板的响应和显示在面板上的图像的质量。
发明内容
所要解决的问题
为了生成校正数据,提供了一种LUT,其存储了对应于当前帧和先前帧的像素驱动信号的信号电平多种组合的校正值。包括当前帧像素驱动信号电平的第一数据和包括先前帧像素驱动信号电平的第二数据输入到LUT。然后,LUT输出对应于信号电平的特定组合的校正值或多个校正值。具体地,LUT将校正值存储在2维配置的单元中,并且输入数据信号电平的组合被用作访问LUT的地址,由此LUT输出存储在对应于该地址的单元中的校正值。
当用于驱动当前帧中像素的信号电平与用于驱动先前帧中同一像素的信号电平相同时,不需要像素驱动信号的转换或校正。例如,当先前帧和当前帧的信号电平均为100时,具有电平100的未校正的信号应提供给像素。因此,指出未进行校正的校正值存储在配置于对角线上的单元(对角单元)中,其对应于当前帧数据和先前帧数据的电平是相同的组合。例如,0作为校正值存储在对角单元(diagonal cell)中。
另一方面,指出正方向校正(即,信号电平的增加)的校正值存储在配置于对角线一侧的区域中的单元中。在上文解释的示例中,当像素驱动信号的电平从先前帧中的10增加到当前帧中的100时,信号电平被校正为150。即,进行了具有电平量50的正方向校正。为了实现该结果,例如,校正值50存储在对应于地址(10,100)的单元中。
而且,指出负方向校正(即,信号电平的下降)的校正值存储在配置于对角线另一侧的区域中的单元中。然而,由于液晶显示面板的非线性响应,负方向校正量没有必要同正方向校正量相同,即使是在输入信号电平朝向具有相同电平的相反方向变化的时候。
例如,当信号电平从先前帧中的100下降至当前帧中的10时,负方向校正量没有必要等于50。因此,存储在对应于地址(100,10)的单元中的校正值没有必要是-50。换言之,存储在对应于地址(100,10)的单元中的校正值没有必要具有同存储在对应于地址(10,100)的单元中的校正值相同的绝对值。或者,更一般地,由存储在对称配置于对角线两侧的单元对中的校正值对指出的校正量没有必要是相同的。
当LUT仅存储对应于代表性电平组合的代表性校正值时,LUT输出对应于信号电平组合的地址周围的单元中存储的代表性校正值。然后,通过对该代表性校正值进行内插,生成关于信号电平组合的校正值。即使在该情况中,在当前帧的信号电平和先前帧的信号电平是相同的时,或者当该信号电平之间的差是小的时候,校正量应是小的,以便于维持校正信号的连续性。
然而,实际上,当输入数据集的至少一个信号电平不等于任何代表性电平并且信号电平之间的差是小的时候,周围单元包括沿对角线两侧对称配置的单元对中的一个单元对。因此,通过使用存储在沿对角线两侧配置的单元对中的代表性校正值,通过内插生成了校正值。
然而,如上文所指出的,存储在对称配置于对角线两侧的单元对中的代表性校正值有可能指出具有不同量的朝向相反方向的校正。因此,通过内插生成的校正值可能不是适当的。即,生成的校正值可能指出相对大的校正量,即使是在先前帧和当前帧的信号电平之间的差是小的时候。结果,转换数据可能丧失连续性并且显示质量劣化。
本发明的目的在于提供数据转换电路和数据转换方法,其能够保持转换数据的连续性,同时减少所需用于提供LUT的存储容量。
用于解决问题的手段
为了解决上文提及的问题,根据本发明的多种示例性实施例提供了一种用于由输入数据集生成转换数据的数据转换电路。每个输入数据集包括,选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平。该转换电路包括查找表(LUT),其将输出数据存储在二维或三维配置的单元中,该输出数据包括代表性校正值,该代表性校正值对应于输入数据集的代表性电平的组合。该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对。每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置。该数据转换电路进一步包括内插电路,其通过内插,从所述LUT的在与输入数据集的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成转换数据。存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行转换,并且存储于相邻单元对中至少一个相邻单元对中的代表性校正值具有互为相反的正负号和不同的绝对值。而且,当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,内插电路将该相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且然后使用该替换代表性校正值生成转换数据,该替换代表性校正值具有同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个相反的正负号和相同的绝对值。该数据转换电路可以进一步包括地址检测电路,其检测该地址距离LUT对角线是否处于使得该地址周围的单元包括相邻单元对中一个相邻单元对的范围,并且在地址检测电路检测到地址处于该范围中时,内插电路可以替换代表性校正值中的一个。
根据多种其他的示例性实施例,该数据转换电路可以进一步包括地址转换电路,其由输入数据集的信号电平生成地址。
根据多种其他的示例性实施例,LUT可以是二维LUT,并且内插电路通过针对四个代表性校正值进行线性内插,可以生成转换数据,其中所述的四个代表性校正值对应于同每个输入数据集的信号电平相邻的代表性电平中的两个的组合。
为了解决上文提及的问题,根据本发明的多种示例性实施例提供了一种用于由输入数据集生成转换数据的数据转换电路。该数据转换电路包括查找表(LUT),其将输出数据存储在二维或三维配置的单元中,该输出数据包括代表性校正值,该代表性校正值表示对应于输入数据集的代表性电平组合的校正方向和校正量。该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对。每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置。该数据转换电路进一步包括内插电路,其通过内插,从所述LUT的在与输入数据集的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成转换数据。存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行校正,并且存储于相邻单元对中的至少一个相邻单元对中的代表性校正值表示互为相反的校正方向和不同的校正量。而且,当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,内插电路将相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且然后使用该替换代表性校正值生成转换数据,该替换代表性校正值表示同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个所表示的相反的校正方向和相同的校正量。该数据转换电路进一步包括地址检测电路,其检测该地址距离LUT对角线是否处于使得该地址周围的单元包括相邻单元对中一个相邻单元对的范围。其中,在地址检测电路检测到地址处于该范围中时,内插电路替换代表性校正值中的一个。
根据多种示例性实施例,存储在对角单元中的代表性校正值可以是0,并且替换代表性校正值和存储在相邻单元对中的代表性校正值中的另一个可以具有互为相反的正负号和相同的绝对值。根据多种其他的示例性实施例,存储在对角单元中的代表性校正值可以等于输入数据集中的一个的代表性电平中各自对应的代表性电平,并且替换代表性校正值同输入数据集中的该一个的代表性电平中的第一对应代表性电平之间的第一差值与存储在相邻单元对中的代表性校正值中的另一个代表性校正值同输入数据集中的该一个的代表性电平中的第二对应代表性电平之间的第二差值具有互为相反的正负号和相同的绝对值。
为了解决上文提及的问题,根据本发明的多种示例性实施例提供了一种包括用于接收当前输入数据的输入终端的数据转换电路。该输入数据具有选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平。该数据转换电路进一步包括:存储器,用于存储当前输入数据,并且用于输出先前输入数据;和查找表(LUT),其将代表性校正值存储在二维配置的单元中,该代表性校正值表示对应于当前输入数据和先前输入数据的代表性电平组合的校正方向和校正量。该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对。每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置。该数据转换电路仍然进一步包括内插电路,其通过内插,从所述LUT的在与当前输入数据和先前输入数据的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成对应于该当前输入数据和先前输入数据的信号电平组合的校正值。存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行校正,并且存储于相邻单元对中的至少一个相邻单元对中的代表性校正值表示互为相反的校正方向和不同的校正量。而且,当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,内插电路将相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且然后使用该替换代表性校正值生成校正值,该替换代表性校正值表示同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个所表示的相反的校正方向和相同的校正量。该数据转换电路进一步包括地址检测电路,其检测该地址距离LUT对角线是否处于使得该地址周围的单元包括相邻单元对中一个相邻单元对的范围。其中,在地址检测电路检测到地址处于该范围中时,内插电路替换代表性校正值中的一个。
为了解决上文提及的问题,根据本发明的多种示例性实施例,提供了一种包括接收输入数据集的数据转换方法。每个输入数据集包括,选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平。该方法进一步包括:提供查找表(LUT),其将输出数据存储在二维或三维配置的单元中,该输出数据包括代表性校正值,该代表性校正值对应于输入数据集的代表性电平的组合。该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对。每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置。该方法进一步包括:通过内插,从所述LUT的在与输入数据集的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成转换数据。存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行转换,并且存储于相邻单元对中至少一个相邻单元对中的代表性校正值具有互为相反的正负号和不同的绝对值。而且,生成转换数据的步骤包括:当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,将该相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且使用该替换代表性校正值执行内插,该替换代表性校正值具有同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个相反的正负号和相同的绝对值。
为了解决上文提及的问题,根据本发明的多种示例性实施例,提供了一种包括接收输入数据集的数据转换方法。每个输入数据集包括,选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平。该方法进一步包括:提供查找表(LUT),其将输出数据存储在二维或三维配置的单元中,该输出数据包括代表性校正值,该代表性校正值表示对应于输入数据集的代表性电平组合的校正方向和校正量。该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对。每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置。该方法进一步包括:通过内插,从所述LUT的在与输入数据集的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成转换数据。存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行校正,并且存储于相邻单元对中的至少一个相邻单元对中的代表性校正值表示互为相反的校正方向和不同的校正量。而且,生成转换数据的步骤包括:当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,将相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且使用该替换代表性校正值执行内插,该替换代表性校正值表示同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个所表示的相反的校正方向和相同的校正量。
为了解决上文提及的问题,根据本发明的多种示例性实施例,提供了一种数据转换方法,其包括,接收当前输入数据,该输入数据具有选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平,将当前输入数据存储在存储器中并由存储器输出先前输入数据。该方法进一步包括:提供查找表(LUT),其将代表性校正值存储在二维配置的单元中,该代表性校正值表示对应于当前输入数据和先前输入数据的代表性电平组合的校正方向和校正量。该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对。每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置。该方法进一步包括:通过内插,从所述LUT的在与当前输入数据和先前输入数据的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成对应于当前输入数据和先前输入数据的信号电平组合的校正值。存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行校正,并且存储于相邻单元对中的至少一个相邻单元对中的代表性校正值表示互为相反的校正方向和不同的校正量。而且,生成校正数据的步骤包括:当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,将相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且然后使用该替换代表性校正值执行内插,该替换代表性校正值表示同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个所表示的相反的校正方向和相同的校正量。
发明的效果
根据本发明的多种示例性实施例,当输入数据集的电平之间的差是小的时候,替换在沿LUT对角线两侧对称配置的单元对中的一个单元对中存储的代表性校正值中的一个。该替换代表性校正值指出了同该单元对中存储的代表性校正值中的另一个所指出的相反的校正方向和相同的校正量。然后,通过使用该替换代表性校正值进行内插,生成了校正值。因此,在信号电平之间的差是小的时候,可以生成适当的校正值。因此,可以维持校正数据的连续性,并且可以改善显示质量。
附图说明
图1是根据本发明的示例性数据转换电路的示意图;
图2示出了LUT的示例性结构;
图3是用于解释示例性内插过程的图示;
图4示出了用于根据本发明的示例性数据转换电路中的示例性LUT;
图5是用于解释使用图4中示出的LUT执行的示例性内插过程的图示;
图6是用于解释使用图4中示出的LUT的传统内插过程的图示;
图7是用于解释根据本发明使用图4中示出的LUT执行的示例性内插过程的图示;
图8示出了用于根据本发明的示例性数据转换电路中的另一示例性LUT;
图9是用于解释根据本发明使用图8中示出的LUT执行的示例性内插过程的图示。
参考数字
10~数据转换电路
12~帧存储器
14~地址转换电路
16、26~LUT
18~地址检测电路
20~内插电路
具体实施方式
现将通过参考附图描述根据本发明的多种示例性实施例的数据转换电路。
图1是根据本发明实施例的示例性数据转换电路的示意图。图1中示出的数据转换电路10用作液晶显示装置的一部分。该数据转换电路10由像素驱动信号的当前帧和先前帧的信号电平生成校正值,该校正值校正用于驱动液晶显示面板的像素驱动信号的电平。并且,转换电路10输出所生成的校正值,作为转换数据。
校正电路10包括存储器12、地址转换电路14、LUT16、地址检测电路18和内插电路20。
数据转换电路10接收当前帧的像素驱动信号作为输入数据,并且将接收到的信号提供给存储器12和地址转换电路14。例如,针对每个像素输入R、G、B信号,每个具有8比特的分辨率(256个电平)。换言之,每个信号可能采用256个可允许电平中的一个。在下面的描述中,为了简化,假设为每个像素输入了具有8比特分辨率的信号。
存储器12是帧存储器。该存储器12存储当前帧的信号电平,并且输出已提前存储的先前帧信号电平。这样,如图1所示,地址转换电路14接收两个输入数据,即,包括当前帧信号电平的第一输入数据和包括先前帧的信号电平的第二输入数据。
地址转换电路14由这两个输入数据生成地址,并且将生成的地址提供给LUT16和地址检测电路18。例如,连接两个8比特的数据(每一个表示当前帧或先前帧的信号电平),以生成16比特的地址。
LUT16是二维LUT。即,LUT16存储对应于包括当前帧信号电平和先前帧信号电平的两个输入数据的校正值,作为输出数据。
图2示出了LUT16的示例性结构。LUT16存储校正值D0,其对应于输入数据集的信号电平(即,当前帧信号电平a0和先前帧的信号电平b0)的组合。具体地,在示例性LUT16中,仅存储对应于输入数据的代表性电平组合的代表性校正值。
在本申请文件中,用于存储校正值D0的LUT16的每个位置被称为“单元”(cell)。这些单元以二维方式、相关于输入数据电平a0和b0配置在LUT16中。因此,通过使用输入数据电平a0和b0的组合作为地址,存储在单元中的每个校正值D0是可访问的。
在实践中,LUT16可以使用诸如静态随机存取存储器(SRAM)块的存储器块进行构建。构建为SRAM块的LUT16的物理结构可以不同于如图2的结构。但是,校正值D0是相关于两个输入数据电平a0和b0存储在SRAM块中。因此,构建在SRAM块中的LUT16具有二维逻辑结构,如图2示意性示出的。
当LUT16构建为SRAM块时,每个校正值D0可以存储在SRAM块的字中,通过SRAM块中的地址,其是可访问的。注意到,SRAM块中字的地址不必与LUT16中单元的地址相同。但是,这些地址是相关的,由此通过使用输入数据电平a0和b0的组合,存储在SRAM块的字中的校正值D0是可访问的。
存储在LUT16中的校正值D0可以是待添加到当前帧信号电平中的值,以生成校正的或转换的信号电平。可替换地,LUT可以存储校正的或转换的信号电平,作为校正值D0。
配置于LUT16对角线上的单元中存储的输出数据(其对应于输入数据集的相互相等的代表性电平组合(a0=b0))指出了未进行数据转换。而且,沿对角线两侧对称安置的单元对(相邻单元)中存储的至少某些输出数据对指出了具有不同量的朝向相反方向的校正。
例如,当LUT16存储了待添加到当前帧信号电平的代表性校正值时,配置在对角线上的单元中存储的每个代表性校正值是0。而且,存储在相邻单元对中的至少一个代表性校正值对具有互为相反的正负号和不同的绝对值。
当由地址转换电路14提供的地址对应于输入数据的代表性电平组合中的一个时,LUT16输出存储在对应于该地址的单元中的输出数据(代表性校正值)。在其他情况下,LUT16输出多个输出数据,该多个输出数据对应于同这两个输入数据信号电平相邻的代表性电平的组合。换言之,LUT16输出代表性校正值,该代表性校正值存储在对应于输入数据电平a0和b0组合的地址周围的单元中。例如,对于每个输入数据,LUT16输出代表性校正值,该代表性校正值存储在对应于输入信号电平两侧的两个代表性电平组合的四个单元中存储。
自LUT16输出的输出数据输入到内插电路20。
地址检测电路18检测输出自地址转换电路14的地址是否位于LUT16的对角线上或其附近。输出自地址检测电路18的检测信号输入到内插电路20。
通过例如,比较由地址转换电路14提供的地址的两个部分,每个部分对应于输入数据的信号电平和对应于输出自存储器12的信号电平,进行地址检测电路18的检测。适当地确定被检测为LUT16对角线附近的地址的范围。例如,当地址处于周围单元包括相邻单元对中的一个相邻单元对的范围中时,该地址可被确定为在对角线附近。
内插电路20生成校正值,用于校正待提供给液晶面板的像素驱动信号的电平。该校正值是通过使用由LUT16提供的输出数据(代表性校正值)和由地址检测电路18输出的检测信号进行内插而生成的。
当地址对应于输入数据的代表性电平组合中的一个时,内插电路20不执行内插。即,内插电路仅输出由LUT16提供的输出数据作为校正值,该输出数据是存储在LUT16的对应单元中的代表性校正值。该校正值被用于校正待提供给液晶面板的像素驱动信号的电平。
地址检测电路18还可以检测地址是否对应于输入数据的代表性电平组合中的一个,并且输出指出了检测结果的检测信号。然后,内插电路20可以取决于由地址检测电路18提供的检测信号,改变其操作。
当检测信号指出地址未对应于任何代表性电平组合、并且指出该地址未处于对角线上或其附近时,内插电路20通过内插生成校正值。
图3解释了内插的示例性过程。输入数据信号电平是a0和b0。首先,内插电路20接收代表性校正值,该代表性校正值存储在对应于输入数据电平a0和b0的组合的地址周围的LUT 16的单元中。如图3所示,信号电平a0处于输入数据中的一个的代表性电平a1和a2之间。信号电平b0处于输入数据中的另一个代表性电平b1和b2之间。因此,内插电路20接收分别对应于代表性电平组合(a1,b1)、(a1,b2)、(a2,b1)和(a2,b2)的代表性校正值D1、D2、D3和D4。
在接收到代表性校正值后,内插电路20通过对自LUT16接收的代表性校正值进行内插,生成对应于输入信号电平a0和b0的组合的校正值。如图3所示,由这些代表性电平所包围的矩形被对应于信号电平a0和b0的水平线和垂直线分为四个矩形。包括点(a1,b1)、(a1,b2)、(a2,b1)和(a2,b2)作为角的矩形区域分别是S1、S2、S3和S4。对应于组合(a0,b0)的校正值D0可使用下式(1)计算。
D0=(D4·S1+D3·S2+D2·S3+D1·S4)/(S1+S2+S3+S4)(1)
另一方面,当检测信号指出地址未对应于任何代表性电平组合并且该地址处于对角线上或其附近时,内插电路20使用下列过程生成校正值。
首先,内插电路20将存储在相邻单元对中的一个相邻单元对中的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值。该替换代表性校正值指出了存储在相邻单元对中的代表性校正值中的另一个所指出的相反的校正方向和相同的校正量。然后,用于校正待提供给液晶面板的像素驱动信号电平的校正值通过使用例如,式(1)进行内插而生成。
因此,内插电路20可以在地址处于对角线上或其附近时生成适当的校正值。
例如,当LUT16存储了待添加到当前帧信号电平中的代表性校正值时,替换代表性校正值可以是具有同相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个相反的正负号和相同的绝对值的值。
根据多种其他的示例性转换电路,输入数据(当前帧输入数据)和输出自存储器12的数据(先前帧输入数据)可以直接提供给LUT16。即,地址转换电路14可以被省略,由此LUT直接接收输入数据集。相似地,地址检测电路18可以直接接收输入数据集,并且通过使用输入数据集的信号电平,而非使用由地址转换电路14生成的地址,执行检测。
下一步,通过参考图4进一步详细解释示例性数据转换电路。
图4示出了示例性LUT16,其存储对应于当前帧像素信号的代表性电平a0和先前帧像素信号的代表性电平b0的组合的输出数据(代表性校正值)。
示例性LUT16的最左侧的列示出了输入数据集中的一个的代表性电平或者当前帧像素信号的代表性电平a0。LUT最下侧的行示出了输入数据集中的另一个的代表性电平或者先前帧的像素信号的代表性电平b0。为了简化,假设这些输入数据具有0至32的电平。每4个电平中的一个,即,电平0、4、8、...32适于作为代表性电平。
LUT16的剩余部分,即,从左侧起的第二至第十列和从顶侧起的第一至第九行,示出了对应于输入数据集代表性值的组合的输出数据。
在LUT16中示出的输出数据包括待应用于输入数据的代表性校正值。具体地,该值将添加到当前帧像素信号的电平中,以生成校正信号。
在配置于LUT16的对角线上的单元中,其中先前帧的信号电平和当前帧的信号电平是相同的,存储了意味着未进行校正的0值。在配置于对角线上侧区域中的单元中存储了正的值,并且在配置于对角线下侧区域中的单元中存储了负的值。正的值指出了正方向的校正,或者指出了当前帧信号的电平应增加以生成校正信号。负的值指出了负方向的校正,或者指出了当前帧信号的电平应减少以生成校正信号。
在示例性LUT16中,使用影线标记的沿对角线两侧对称配置的单元对中的一个单元对(从左侧起第五列和从顶侧起第五行中的单元,和从左侧起第六列和从顶侧第六行中的单元)分别存储值4和-4。该对值具有不同的正负号和相同的绝对值,其指出了互为相反的校正方向和相同的校正量。
沿对角线两侧对称安置的其他单元对中的每一个(相邻单元且用阴影表示)存储具有互为相反的正负号和不同的绝对值的值。这些校正值对的每一个指出了互为相反的校正方向和不同的校正量。
将解释由示例性数据转换电路10执行的用于生成转换数据的示例性过程。
首先,将考虑其中当前帧像素信号电平a0=19和先前帧信号电平b0=9的示例性情况。这些信号电平不是代表性电平。而且,对应于输入电平组合的地址未处于对角线上或其附近。因此,内插电路20接收存储在该地址周围的LUT16单元中的代表性校正值。然后,内插电路通过图5中解释的过程生成校正值。
如图4和5所示,存储在周围单元中的代表性校正值分别是D1=4、D2=4、D3=6、D4=8。然后,内插电路20使用下式(2)生成校正值D0。
D0=(D4·S1+D3·S2+D2·S3+D1·S4)/(S1+S2+S3+S4)
=(8×3+6×9+4×1+4×3)/(3+9+1+3)
=5.9
(2)
下一步,将考虑其中当前帧像素信号电平a0=10和先前帧信号电平b0=10的另一示例性情况。对应于该输入信号电平的组合的地址处于LUT的对角线上。然而,这些信号电平不是代表性电平。因此,内插电路20通过针对存储在对应于该信号电平组合的地址周围的单元中的代表性校正值进行内插,生成校正值。
现将通过参考图6解释传统的内插过程。如图4和6所示,存储在周围单元中的代表性校正值分别是D1=0、D2=-5、D3=2、D4=0。传统的内插电路使用下式(3)生成校正值D0。
D0=(D4·S1+D3·S2+D2·S3+D1·S4)/(S1+S2+S3+S4)
=(0×4+2×4+(-5)×4+0×4)/(4+4+4+4)
=-0.8
(3)
在该示例中,输入数据集的信号电平是彼此相同的(a0=b0=10)。因此,不需要用于改善LCD面板响应的校正,或者校正值应是0。然而,如式(3)所示,传统的转换电路生成了不同于0的校正值。这是因为,用于内插的代表性校正值包括具有相反正负号和不同绝对值的值(D2=-5和D3=2),其存储在沿对角线两侧对称配置的单元对中的一个单元对中。
换言之,尽管这些值存储在沿对角线两侧对称配置的单元对中,但是由于用于内插的代表性校正值对不是对称的,结果,通过线性内插计算的校正值不等于0。
另一方面,在根据本发明的示例性转换电路10中,通过图7所示的过程生成校正值D0。
即,地址检测电路18检测对应于输入数据信号电平a0=10和b0=10的组合的地址处于LUT16的对角线上。然后,内插电路20将存储在沿对角线两侧对称配置的单元对中的一个单元(相邻单元)对中的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值。该替换代表性校正值指出了同存储在该相邻单元对中的该代表性校正值中的另一个所指出的相反的校正方向和相同的校正量。
在图7所示的示例中,存储在相邻单元对中的代表性校正值是D2=-5和D3=2。值-5由值-2替换,其具有同存储在该相邻单元对中的该代表性校正值中的另一个相反的正负号和相同的绝对值。然后,内插电路20使用下式(4)生成校正值D0。
D0=(D4·S1+D3·S2+(-D3)·S3+D1·S4)/(S1+S2+S3+S4)
=(0×4+2×4+(-2)×4+0×4)/(4+4+4+4)
=0(4)
根据图7所示的示例性过程,对应于输入信号电平组合的地址处于LUT16的对角线上。内插电路20将存储在沿对角线两侧安置的单元(相邻单元)对中的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,该替换代表性校正值具有同存储在该相邻单元对中的该代表性校正值中的另一个相反的正负号和相同的绝对值。结果,内插电路20通过使用替换代表性校正值和三个其他的代表性校正值进行内插,生成了D0=0的适当校正值。
因此,可以维持校正数据的连续性,或者校正信号电平的连续性,并且可以改善显示质量。
当对应于输入信号电平组合的地址未处于对角线上而是处于对角线附近时,可以应用相同的过程。即,根据传统的转换电路,当地址距离对角线处于使得该地址周围的单元包括沿对角线两侧对称安置的单元对中的一个单元(相邻单元)对的范围时,则可能出现丧失校正数据连续性的相同问题。
同样在该情况中,将存储在相邻单元对中的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,该替换代表性校正值具有同存储在该相邻单元对中的代表性校正值中的另一个相反的正负号和相同的绝对值。然后,使用相同的式(4),内插电路20正确地计算校正值D0。因此,可以维持输出数据的连续性,或者校正信号电平的连续性,并且可以改善显示质量。
即使当对应于输入信号电平组合的地址周围的单元包括相邻单元对中的一个相邻单元对时,也不必总是替换存储在该相邻单元对中的代表性校正值中的一个。即,仅在存储在该地址周围的相邻单元对中的代表性校正值指出了不同校正量时,才需要进行替换。
因此,可以提供一种检测电路,使得内插电路20仅在该检测电路检测到存储在该地址周围的相邻单元对中的代表性校正值指出不同的校正量时执行替换。也可以在该地址周围的单元包括相邻单元对中的任何一个时替换代表性校正值中的一个,而不检验由存储在该相邻单元对中的代表性校正值所指出的校正量。后者对于缩短处理时间是有利的。
在图7所示的示例性内插过程中,代表性校正值D2由替换代表性校正值-D3所替换。还可以将替换代表性校正值D3替换为替换代表性校正值-D2。
在图4所示的示例性LUT16中,每四个输入数据电平中的一个适于作为代表性输入电平。然而,可以不同方式选择代表性电平。
示例性LUT16可以使用诸如SRAM块的存储器块构建。尽管图4示出了其中示出了输入数据集代表性电平的最左侧的列和最下侧的行,但是在SRAM中仅存储输出数据或代表性校正值。输入数据集的代表性电平组合被用作访问SRAM。
如上文所解释的,示例性地址转换电路14通过将表示当前帧和先前帧的信号电平的两个8比特数据连接起来,可以生成16比特的地址,并且将生成的地址提供给LUT16。然而,由于LUT16仅存储对应于代表性信号电平组合的代表性校正值,因此对于访问SRAM,不需要表示信号电平的所有比特。
例如,当电平0、4、8、12...被用作代表性电平时,对于访问SRAM而言,不需要表示每个信号电平的数据的较低的两个比特。但是,LUT16可以使用较低的比特确定地址是否对应于代表性电平组合中的一个。示例性地址检测电路18和内插电路20也需要该较低的比特。例如,地址检测电路18可以使用该较低的比特,用于检测地址是否对应于代表性电平组合中的一个,或者地址是否位于对角线上或其附近。
在图4所示的示例性LUT16中,存储待添加到当前帧输入信号电平的代表性校正值。在该情况中,尽管在图1中没有示出,但是由内插电路20生成的校正值可以添加到当前帧信号电平中,以生成校正像素驱动信号。该校正像素驱动信号可以转换为模拟像素驱动信号,并且提供给液晶显示面板的驱动器。
还可以提供这样的LUT,其存储经过校正的信号或经过转换的信号的电平作为代表性校正值。
图8示出了示例性LUT26,其存储对应于当前帧输入信号代表性电平a0和先前帧输入信号代表性电平b0的组合的校正信号电平,作为代表性校正值。存储在LUT26的每个单元中的代表性校正值等于当前帧输入信号电平a0与存储在图4所示LUT16的对应单元中的代表性校正值的和。
在配置于LUT26对角线上的单元中,存储了等于对应的当前帧信号代表性电平a0的值,其意味着未进行校正。在配置于对角线上侧区域中的单元中,存储了大于对应的当前帧信号代表性电平a0的值,其意味着进行朝向正方向的校正。在配置于对角线下侧区域中的单元中,存储了小于对应的当前帧信号代表性电平a0的值,其意味着进行朝向负方向的校正。
在示例性LUT26中,由影线标记的沿对角线两侧对称配置的单元对中的一个单元对分别存储值20和8。从左侧起第五列和从顶侧起第五行中的单元中存储的值20比对应的当前帧输入信号电平a0(a0=16)大4。从左侧起第六列和从顶侧起第六行中的单元中存储的值8比对应的当前帧输入信号电平a0(a0=12)小4。该代表性校正值对指出了互为相反的校正方向和相同的校正量。
阴影部分的沿对角线两侧对称配置的其他单元对中的每一个存储指出了互为相反的校正方向和不同的校正量的值。例如,从左侧起第四列和从顶侧起第六行中的单元中存储的值14比对应的当前帧输入信号电平a0(a0=12)大2。该值指出了具有量2的朝向正方向的校正。另一方面,从左侧起第五列和从顶侧起第七行中的单元中存储的值3比对应的当前帧输入信号电平(a0=8)小5。该值指出了具有量5的朝向负方向的校正。
当LUT16由LUT26替换时,相似地,内插电路20可以执行内插。特别地,当对应于输入信号电平组合的地址周围的单元包括沿对角线两侧配置的单元对中的一个单元(相邻单元)对时,替换存储在该相邻单元对中的代表性校正值中的一个,并且然后使用替换代表性校正值进行内插。
将通过参考图9解释使用图8所示的LUT 26的示例性内插过程。例如,当输入数据的电平是a0=10和b0=10时,周围单元包括相邻单元对中的一个相邻单元对,即,从左侧起第四列和上其第六行中的单元和从左侧起第五列和从顶侧起第七行中的单元。在该情况中,内插电路20可以将存储在相邻单元对中的代表性校正值(14和3)中的一个替换为替换代表性校正值。
例如,代表性校正值3可替换为值6,其指出了与由该代表性校正值中另一个所指出的朝向相反方向具有相同量(2)的校正。即,替换代表性校正值(6)同对应的当前帧输入数据代表性电平(a1=8)之间的差是-2,其指出了具有量2的朝向负方向的校正。当存储在相邻单元对中的代表性校正值中的另一个(14)同对应的当前帧输入数据代表性电平(a2=12)之间的差是2,其指出了具有校正量2的朝向正方向的校正。这两个差具有相反的正负号和相同的绝对值。
这样,内插电路20使用下式(5)生成了校正值D0。
D0=(D4·S1+D3·S2+(a1-(D3-a2))·S3+D1·S4)/(S1+S2+S3+S4)
=(12×4+14×4+(8-2)×4+8×4)/(4+4+4+4)
=10
(5)
因此,内插电路20生成了适当的校正值10,其等于当前帧输入信号的电平。
如在图8中可以看到的,示例性LUT26中存储的代表性校正值包括某些负值。当液晶显示面板的驱动器不能接受负的像素驱动信号时,校正信号可以通过限制器提供给驱动器。
可替换地,例如,如美国专利6,853,384的图10中描述的,LUT26中存储的校正值可以是移位了固定的量,由此任何校正值均不会采用负值。在该情况中,配置在对角线上的单元中存储的代表性校正值比对应的当前帧信号电平大移位量。尽管如此,对角线上的单元中存储的校正值指出了未进行用于改善液晶面板的响应的转换或校正。换言之,排除了固定移位的LUT中存储的代表性校正值指出了校正方向和校正量。
在上文描述的示例性实施例中,使用了二维LUT16或26,并且使用式(1)、(2)、(4)和(5)通过线性内插计算了校正值。然而,可以使用多种其他的内插式。在上文描述的示例性实施例中,对于每个输入数据,内插电路由对应于与输入信号电平相邻的两个代表性电平的组合的四个代表性校正值,生成了校正值。然而,对于每个输入数据,内插电路可以使用对应于多于两个代表性值的组合的代表性值,执行内插。
还可以使用三维LUT,其存储了对应于三个输入数据的代表性输入电平组合的代表性校正值。例如,该三维LUT可以存储对应于三个连续帧的代表性信号电平的代表性校正值,或者可以存储对应于三个原色信号的代表性电平的代表性校正值。
当使用三维LUT时,可以基于代表性校正值和由对应于输入信号电平的表面所划分的长方体的体积执行内插。
至此,参考优先实施例,详细解释了示例性数据转换电路和数据转换方法。然而,本发明不限于上述特定的实施例。在本发明的精神下,可以进行多种改进和修改。
Claims (17)
1.一种用于由输入数据集生成转换数据的数据转换电路,每个输入数据集包括选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平,该转换电路包括:
查找表(LUT),其将输出数据存储在二维或三维配置的单元中,该输出数据包括代表性校正值,该代表性校正值对应于输入数据集的代表性电平的组合,该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对,每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置;和
内插电路,其通过内插,从所述LUT的在与输入数据集的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成转换数据,
其中:
存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行转换;
存储于相邻单元对中至少一个相邻单元对中的代表性校正值具有互为相反的正负号和不同的绝对值;和
当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,内插电路将该相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且然后使用该替换代表性校正值生成转换数据,该替换代表性校正值具有同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个相反的正负号和相同的绝对值;该数据转换电路进一步包括:
地址检测电路,其检测该地址距离LUT对角线是否处于使得该地址周围的单元包括相邻单元对中一个相邻单元对的范围,
其中在地址检测电路检测到地址处于该范围中时,内插电路替换代表性校正值中的一个。
2.权利要求1的数据转换电路,进一步包括:
地址转换电路,其由输入数据集的信号电平生成地址。
3.权利要求1~2的任何一个的数据转换电路,其中:
LUT是二维LUT;并且
内插电路通过针对四个代表性校正值进行线性内插,生成转换数据,其中所述的四个代表性校正值对应于同每个输入数据集的信号电平相邻的代表性电平中的两个的组合。
4.一种用于由输入数据集生成转换数据的数据转换电路,每个输入数据集包括选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平,该转换电路包括:
查找表(LUT),其将输出数据存储在二维或三维配置的单元中,该输出数据包括代表性校正值,该代表性校正值表示对应于输入数据集的代表性电平组合的校正方向和校正量,该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对,每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置;和
内插电路,其通过内插,从所述LUT的在与输入数据集的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成转换数据;
其中:
存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行校正;
存储于相邻单元对中的至少一个相邻单元对中的代表性校正值表示互为相反的校正方向和不同的校正量;并且
当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,内插电路将该相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且然后使用该替换代表性校正值生成转换数据,该替换代表性校正值表示同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个所表示的相反的校正方向和相同的校正量;
该数据转换电路进一步包括:
地址检测电路,其检测该地址距离LUT对角线是否处于使得该地址周围的单元包括相邻单元对中一个相邻单元对的范围,
其中在地址检测电路检测到地址处于该范围中时,内插电路替换代表性校正值中的一个。
5.权利要求4的数据转换电路,其中:
存储在对角单元中的代表性校正值是0;并且
替换代表性校正值和存储在相邻单元对中的代表性校正值中的另一个具有互为相反的正负号和相同的绝对值。
6.权利要求4的数据转换电路,其中:
存储在对角单元中的代表性校正值等于输入数据集中的一个的代表性电平中各自对应的代表性电平;并且
替换代表性校正值同输入数据集中的该一个的代表性电平中的第一对应代表性电平之间的第一差值与存储在相邻单元对中的代表性校正值中的另一个代表性校正值同输入数据集中的该一个的代表性电平中的第二对应代表性电平之间的第二差值具有互为相反的正负号和相同的绝对值。
7.一种数据转换电路,包括:
输入终端,用于接收当前输入数据,该输入数据具有选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平;
存储器,用于存储当前输入数据,并且用于输出先前输入数据;
查找表(LUT),其将代表性校正值存储在二维配置的单元中,该代表性校正值表示对应于当前输入数据和先前输入数据的代表性电平组合的校正方向和校正量,该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对,每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置;和
内插电路,其通过内插,从所述LUT的在与当前输入数据和先前输入数据的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成对应于该当前输入数据和先前输入数据的信号电平组合的校正值;
其中:
存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行校正;
存储于相邻单元对中的至少一个相邻单元对中的代表性校正值表示互为相反的校正方向和不同的校正量;并且
当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,内插电路将该相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且然后使用该替换代表性校正值生成校正值,该替换代表性校正值表示同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个所表示的相反的校正方向和相同的校正量;
该数据转换电路进一步包括:
地址检测电路,其检测该地址距离LUT对角线是否处于使得该地址周围的单元包括相邻单元对中一个相邻单元对的范围,
其中在地址检测电路检测到地址处于该范围中时,内插电路替换代表性校正值中的一个。
8.权利要求7的数据转换电路,其中:
存储在对角单元中的代表性校正值是0;并且
替换代表性校正值和存储在相邻单元对中的代表性校正值中的另一个具有互为相反的正负号和相同的绝对值。
9.权利要求7的数据转换电路,其中:
存储在对角单元中的代表性校正值等于当前输入数据代表性电平中各自对应的代表性电平;并且
替换代表性校正值同当前输入数据代表性电平中的第一对应代表性电平之间的第一差值与存储在相邻单元对中的代表性校正值中另一个代表性校正值同当前输入数据代表性电平中的第二对应代表性电平之间的第二差值具有互为相反的正负号和相同的绝对值。
10.一种数据转换方法,包括:
接收输入数据集,每个输入数据集包括选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平;
提供查找表(LUT),其将输出数据存储在二维或三维配置的单元中,该输出数据包括代表性校正值,该代表性校正值对应于输入数据集的代表性电平的组合,该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对,每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置;和
通过内插,从所述LUT的在与输入数据集的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成转换数据;
其中:
存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行转换;
存储于相邻单元对中至少一个相邻单元对中的代表性校正值具有互为相反的正负号和不同的绝对值;而且
生成转换数据的步骤包括:当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,将该相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且使用该替换代表性校正值执行内插,该替换代表性校正值具有同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个相反的正负号和相同的绝对值。
11.权利要求10的数据转换方法,其中:
LUT是二维LUT;并且
生成转换数据的步骤包括:通过针对四个代表性校正值执行线性内插,其中所述的四个代表性校正值对应于同每个输入数据集的信号电平相邻的代表性电平中的两个的组合。
12.一种数据转换方法,包括:
接收输入数据集,每个输入数据集包括选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平;
提供查找表(LUT),其将输出数据存储在二维或三维配置的单元中,该输出数据包括代表性校正值,该代表性校正值表示对应于输入数据集的代表性电平组合的校正方向和校正量,该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对,每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置;和
通过内插,从所述LUT的在与输入数据集的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成转换数据;
其中:
存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行校正;
存储于相邻单元对中的至少一个相邻单元对中的代表性校正值表示互为相反的校正方向和不同的校正量;而且,
生成转换数据的步骤包括:当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,将该相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且使用该替换代表性校正值执行内插,该替换代表性校正值表示同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个所表示的相反的校正方向和相同的校正量。
13.权利要求12的数据转换方法,其中:
存储在对角单元中的代表性校正值是0;并且
替换代表性校正值和存储在相邻单元对中的代表性校正值中的另一个具有互为相反的正负号和相同的绝对值。
14.权利要求12的方法,其中:
存储在对角单元中的代表性校正值等于输入数据集中的一个的代表性电平中各自对应的代表性电平;并且
替换代表性校正值同输入数据集中的该一个的代表性电平中的第一对应代表性电平之间的第一差值与存储在相邻单元对中的代表性校正值中的另一个代表性校正值同输入数据集中的该一个的代表性电平中的第二对应代表性电平之间的第二差值具有互为相反的正负号和相同的绝对值。
15.一种数据转换方法,包括:
接收当前输入数据,其具有选自包括代表性电平的多个可允许电平的信号电平;
将当前输入数据存储在存储器中并由存储器输出先前输入数据;
提供查找表(LUT),其将代表性校正值存储在二维配置的单元中,该代表性校正值表示对应于当前输入数据和先前输入数据的代表性电平组合的校正方向和校正量,该单元包括配置在LUT对角线上的对角单元和多个相邻单元对,每个相邻单元对沿对角线两侧对称配置;和
通过内插,从所述LUT的在与当前输入数据和先前输入数据的信号电平组合相对应的地址周围的单元中存储的代表性校正值,生成对应于当前输入数据和先前输入数据的信号电平组合的校正值;
其中:
存储于对角单元中的代表性校正值表示不进行校正;
存储于相邻单元对中的至少一个相邻单元对中的代表性校正值表示互为相反的校正方向和不同的校正量;而且
生成校正数据的步骤包括:当地址周围的单元包括相邻单元对中的该至少一个相邻单元对时,将该相邻单元对中存储的代表性校正值中的一个替换为替换代表性校正值,并且然后使用该替换代表性校正值执行内插,该替换代表性校正值表示同该相邻单元对中存储的代表性校正值中的另一个所表示的相反的校正方向和相同的校正量。
16.权利要求15的数据转换方法,其中:
存储在对角单元中的代表性校正值是0;并且
替换代表性校正值和存储在相邻单元对中的代表性校正值中的另一个具有互为相反的正负号和相同的绝对值。
17.权利要求15的数据转换方法,其中:
存储在对角单元中的代表性校正值等于当前输入数据代表性电平中各自对应的代表性电平;并且
替换代表性校正值同当前输入数据代表性电平中的第一对应代表性电平之间的第一差值与存储在相邻单元对中的代表性校正值中另一个代表性校正值同当前输入数据代表性电平中的第二对应代表性电平之间的第二差值具有互为相反的正负号和相同的绝对值。
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