CN100384551C - 光耦筛选装置 - Google Patents

Abstract

一种光耦筛选装置，用于对光耦隔离芯片进行分类，包括光耦输入单元、模拟开关单元、模数转换单元、微处理器CPU及结果输出单元。通过光耦输入单元给预分类的光耦隔离芯片的原边提供原边电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元；模拟开关单元在CPU的控制下将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出至模数转换电路；模数转换单元：将接收到的每一隔离放大通路的输出电压与光耦分类表确定的N路基准电压分别进行比较，进而获得N位数字信号，并将之发送至CPU，CPU根据输入的N位数字信号，获知所述光耦隔离芯片的类别后通过结果输出单元输出分类结果。

Description

光耦筛选装置

技术领域

本发明涉及电子器件，主要涉及实现光耦隔离芯片进行分类的装置。

背景技术

光电耦合器件具有体积小、使用寿命长、工作温度范围宽、抗干扰性能强、及具有信号隔离等特点，因而在各种电子设备上得到广泛的应用，比如可用于隔离电路、负载接口及各种家用电器等电路中。

现今，光耦隔离芯片(如TLP521系列)主要的功能是对电压信号的放大输出以及信号隔离，这些光耦隔离芯片广泛应用于各种网络、通信等领域的电子设备中。另外，这些光耦隔离芯片存在若干隔离放大通路，隔离放大通路通常存在一放大倍数。根据每一隔离放大通路的放大倍数可以确定光耦隔离芯片的类别。不同类别的光耦隔离芯片的隔离放大通路的放大倍数是不同的，因此在不同类别的光耦隔离芯片上设置相同阻值的上拉电阻时，输出的电压是不同的。并且，若使用者在不清楚光耦隔离芯片所在的类别，而选择其中一通路输出电压时，很有可能存在输出电压不在下一环节的输入点的门限电压范围之内，由此导致“误输入”的后果。

为此，生产光耦隔离芯片的工厂需要进行光耦分类工作，即通过计算光耦隔离芯片的隔离放大通路的放大倍数，后根据放大倍数进行分类，以便为不同放大倍数的光耦配上特定的上拉电阻，进而使得输出电压在下一环节的输入点的门限电压范围之内。这种过程通常称为对光耦隔离芯片的筛选。

目前，对光耦隔离芯片的筛选主要通过人工的方式来进行。光耦隔离芯片TLP521-4共有四路隔离放大通路，现以该光耦隔离芯片的一路隔离放大通路为例，来说明如何获得其放大倍数。

(1)计算隔离放大通路的输入电流I₁

首先将稳压电源的输出电压串联固定电阻R₁和该隔离放大通路的输入端形成回路，然后调节输出电压值，并通过高精度的万用表读取在固定电阻上的压降U₁，最后，通过I₁＝U₁/I₁来确定预要求的初级电流；

(2)计算隔离放大通路的输出电流I₂

首先在次级提供一隔离的固定电压，然后利用另一固定电阻R₂和该隔离放大通路的输出端形成回路，随后，通过高精度的万用表读取固定电阻上的压降U2，最后通过I₂＝U₂/R₂来计算出次级电流；

(3)根据I₂/I₁计算出该通路的放大倍数。

以下特举个实例来说明光耦隔离芯片分类筛选功能的原理。请参阅图1，其为光耦隔离芯片分类筛选的功能原理图。首先将稳压电源的输出电压5V串联固定电阻R₁＝2.2KΩ和光耦的原边形成回路，回路电流为I₁，通过高精度万用表检测原边电阻的压降，要求压降为3.83V，可以保证原边回路电流为1.741mA；此时光耦处于导通状态，副边+8V电压通过固定电阻为1KΩ副边电阻和光耦的副边形成回路；通过高精度万用表测量副边电阻的压降Vj，则此时的放大倍数为：

$\mathrm{\β}=\frac{\mathrm{Vj}/1K}{1.741\×{10}^{-3}}$

根据β来查找光耦分类表，即可确定光耦隔离芯片所属的类别。另外，可以利用上述方法测得其他三通路的放大倍数，以便根据四路隔离放大通路的放大倍数β确定所述光耦隔离芯片是否合格，比如依据四通路的放大倍数β分别查找光耦分类表，是否属于同一类别来确定光耦隔离芯片是否合格。

上述筛选需要工人通过大量的电子器件、以及如万用表等的测量仪器才能进行光耦的筛选，不仅接线繁琐而且需要占用大量的仪器设备，由此导致光耦筛选的速率慢且光耦筛选的成本高，并且采用人为方式进行筛选，容易存在以下一些情况：读取万用表电压值的出现误差、接线时出现错误等，从而造成筛选的精度差的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用以进行光耦隔离芯片筛选的光耦筛选装置，以解决现有技术中仅有人工进行光耦隔离芯片筛选而未有专门用于光耦隔离芯片筛选的装置，而采用人工方式进行光耦隔离芯片筛选速度慢、效率低且精度差的技术问题。

为解决上述问题，本发明公开了一种光耦筛选装置，用于对光耦隔离芯片进行分类，包括光耦输入单元、模拟开关单元、模数转换单元、微处理器CPU及结果输出单元，其中：光耦输入单元：连接模拟开关单元，用于给预分类的光耦隔离芯片的原边提供原边电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元；模拟开关单元：连接CPU，用于在CPU的控制下将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出至模数转换电路；模数转换单元：连接模拟开关单元，用于将接收到的每一隔离放大通路的输出电压与光耦分类表确定的N路基准电压分别进行比较，进而获得N位数字信号，并将之发送至CPU，其中，N为基准电压的个数；CPU：包括模拟开关控制子单元及输出控制子单元，其中：模拟开关控制子单元，用以控制模拟开关单元将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出；输出控制子单元，用于接收模数转换电路输入的N位数字信号，并获知所述光耦隔离芯片的类别后通过结果输出单元输出分类结果。

本装置还包括电平转换单元，设置在模数转换单元和CPU之间，用于将模数转换单元输出的数字信号的电平转换至CPU可接受电平的数字信号，并将之发送至CPU。

所述模数转换单元进一步包括：电压跟随电路：用以提高带负载能力；8路电压比较电路：连接电压跟随电路，用于将隔离放大通路的输出电压与光耦分类表确定的8路基准电压分别进行比较，进而获得8位数字信号，其中，与所述输出电压比较的8路基准电压是从小到大或从大到小排序的，每一位数字信号表示对应其中一路基准电压与所述输出电压的比较结果。

所述跟随电路包括运算放大器，用以将隔离放大通路的输出电压跟随放大后共同输出至8路电压比较电路。

每一路电压比较电路包括一比较器，所述比较器的同相输入端连接接收跟随电路的输出端，负相输入端用以输入本路电压比较电路的所述基准电压，其输出端连接至电平转换单元。

光耦输入单元进一步包括信号输入电路、用以插接待分类的光耦隔离芯片的光耦接入接口及信号输出电路，其中：信号输入电路，连接光耦接入接口，用于给接入光耦接入接口的所述光耦隔离芯片的原边提供电流；信号输出电路，连接光耦接入接口，用于给接入光耦接入接口的所述光耦隔离芯片的副边提供电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元。

本发明还包括电源单元，用以给所述装置的各个组成单元提供电力。所述CPU采用AT89系列单片机。所述模拟开关单元采用多路模拟开关MC14051。电平转换单元采用光耦隔离芯片TLP521进行电平转换。

本发明还公开了一种光耦筛选装置，用于对光耦隔离芯片进行分类，包括光耦输入单元、模拟开关单元、模数转换单元、微处理器CPU及结果输出单元，其中：光耦输入单元：连接模拟开关单元，用于给预分类的光耦隔离芯片的原边提供原边电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元；模拟开关单元：连接CPU，用于在CPU的控制下将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出至模数转换电路；模数转换单元：连接模拟开关单元，用于将接收到的每一隔离放大通路的输出电压转换成数字信号输出至CPU；CPU：包括模拟开关控制子单元、比较单元及输出控制子单元，其中：模拟开关控制子单元，用以控制模拟开关单元将将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出；比较子单元，用于接收模数拟转换单元发送的数字信号，并将所述数字信号与光耦分类表确定的N路基准电压值分别进行比较，由此确定光耦隔离芯片的类别；输出控制子单元，连接所述比较单元，用以通过结果输出单元输出，以便检测者获知所述光耦隔离芯片的类别。

所述模数转换单元采用A/D转换器。

所述CPU采用AT89系列单片机。

与现有技术相比，本发明具有以下优点：

第一：本申请人发明了一种用于光耦隔离芯片进行分类的光耦筛选装置，通过模数转换电路的比较或者是CPU的比较，即可获知等测光耦隔离电路所属的类别，从而避免采用人工方式来进行光耦隔离芯片的分类，由此提高了筛选效率及分类的精确度，并且降低了光耦筛选时的大量人工成本；

第二：本发明发明的光耦筛选装置一次可以筛选若干块光耦隔离芯片，由此提高了筛选效率；

第三：本发明的光耦筛选装置可以通过标准接口方便插接光耦隔离芯片，即插即测，并且直接并直观获得筛选结果，为测试人员提供了筛选便利。

总之，本申请人做出一项划时代的发明创造，为生产光耦的工厂在工厂原材料检验岗位大量的光耦分类工作，大幅度提高了工作效率，并大量减少大量人力。

附图说明

图1为光耦隔离芯片分类筛选的功能原理图；

图2为本发明公开的一种光耦筛选装置的结构示意图；

图3为图2的一实施例的结构示意图；

图4为图3的一应用例；

图5为本发明公开的另一种光耦筛选装置的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图，具体说明本发明。

本申请人发明了一种用于光耦隔离芯片进行分类的装置：光耦筛选装置。它主要用以解决采用人工方式进行光耦隔离芯片筛选速度慢、效率低且精度差的技术问题。

请参阅图2，其为本发明公开的一种光耦筛选装置的结构示意图。它包括光耦输入单元11、模拟开关单元12、模数转换单元13、微处理器CPU14及结果输出单元15，其中：

光耦输入单元11：连接模拟开关单元12，用于给预分类的光耦隔离芯片的原边提供原边电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元12；

模拟开关单元12：连接CPU14，用于在CPU14的控制下将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出至模数转换电路13；

模数转换单元13：连接模拟开关单元12，用于将接收到的每一隔离放大通路的输出电压与光耦分类表确定的N路基准电压分别进行比较，进而获得N位数字信号，并将之发送至CPU14，其中，N为基准电压的个数；

CPU14：包括模拟开关控制子单元141及输出控制子单元142，其中：

模拟开关控制子单元141，连接模拟开关单元12，用以控制模拟开关单元12将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出，比如：模拟开关单元12有8个输入口(IN0、IN1、IN2…IN7)，同时接收模拟信号，则模拟开关控制子单元141控制模拟开关单元12依照输入口的序列分别输出对应的模拟信号，即可将多路模拟输入变成不同时间一路输出；

输出控制子单元142，用于接收模数转换电路13输入的N位数字信号，并通过结果输出单元输出，以便检测者获知所述光耦隔离芯片的类别。

在上述模数转换单元13中，主要是将分类表的基准电压从小到大或从大到小进行排序后，每一基准电压分别与隔离放大通路的输出电压进行比较，比较结果只有两种：大于等于或小于。假设比较结果为“大于等于”对应输出的是一位数字信号“1”，比较结果为“小于”对应输出的是一位数字信号“0”。很显然，经常模数转换单元13后，得到的是N位的数字信号，由此可以判断所述隔离放大通路的放大倍数所属的类别，从而确定光耦隔离芯片所属的类别。

比如：一通路输出的模拟电压为3.2V，若分类表有8个类别，分类表每一类对应的参考电压分别为1V、2V、3V、4V、5V、6V、7V、8V。则经过上述模数转换单元输出的8位数字信号为“00011111”，即可获知所述通路对应的放大倍数所属的类别是4类，从而确定光耦隔离芯片所属的类别为4类。

对于CPU而言，通过上述方式可以获知光耦隔离芯片每一放大隔离通路所属的类别，并判断每一放大隔离通路所属的类别是否属于同一类，若是，则通过结果输出单元15输出所述光耦隔离芯片所属的类别，否则，通过结果输出单元15输出所述光耦隔离芯片不合格信息。

若模数转换单元13输出信号的电平不在CPU14可接受的电平范围，则还需要进行电平转换。为此，本发明还包括电平转换单元，设置在模数转换单元13和CPU14之间，用于将模数转换单元13输出的数字信号的电平转换至CPU14可接受电平的数字信号，并将之发送至CPU14。

并且，本发明还包括电源单元，用以给所述装置的各个组成单元提供电力。

以下就举个实施例来说明上述光耦筛选装置是如何实现的。请参阅图3、其为本发明光耦筛选装置的一种实施例的结构示意图。它包括光耦输入单元11、模拟开关单元12、模数转换单元13、CPU14、电平转换单元16、结果输出单元15及电源单元(图中未绘示)。其中：

光耦输入单元11进一步包括信号输入电路111、用以插接待分类的光耦隔离芯片的光耦接入接口112及信号输出电路113，其中：

光耦接入接口112，用于插接光耦隔离芯片。所述光耦接入接口112采用通用接口，以便方便插拨待分类的光耦隔离芯片；

信号输入电路111，连接光耦接入接口12，用于给插入光耦接入接口12的所述光耦隔离芯片的原边提供电流。比如，通过原边电阻、输入电压与原边形成一回路。通过调整输入电压的电压值，达到给原边提供一特定电流值的电流；

信号输出电路113，连接光耦接入接口112，用于给插接在光耦接入接口112的所述光耦隔离芯片的副边提供电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元12；所述信号输出电路113可以将输入电压、副边电阻及光耦隔离芯片的副边形成一回路，并获取每一通路的输出电压。

模拟开关单元12可以采用如MC14051等的多路模拟开关，将接收到的多通路的输出电压在不同时间一路输出。

所述模数转换单元13进一步包括：电压跟随电路131和8路电压比较电路132。其中：

电压跟随电路131：用以提高带负载能力，电压跟随电路131包括运算放大器，用以将隔离放大通路的输出电压跟随放大后共同输出至8路电压比较电路。

8路电压比较电路132：连接电压跟随电路131，用于将隔离放大通路12的输出电压与光耦分类表确定的8路基准电压分别进行比较，进而获得8位数字信号，其中，与所述输出电压比较的8路基准电压是从小到大或从大到小排序的，每一位数字信号表示对应其中一路基准电压与所述输出电压的比较结果。每一路电压比较电路132包括一比较器，所述比较器的同相输入端连接接收电压跟随电路131的输出端，负相输入端用以输入本路电压比较电路的基准电压，其输出端连接至电平转换单元。

CPU14可以采用AT89系列的单片机，但并非局限于此。

结果输出单元15包括显示单元和声音输出单元。比如：显示单元可以采用共阳级8段数码管来显示光耦隔离芯片所属的类别。CPU保存每一类别对应的提示声音，可以通过如扬声器等声音输出单元输出光耦隔离芯片所属的类别。当CPU检测到待分类的光耦隔离芯片的几路放大隔离通路不属于同一类别时，可以通过结果输出单元15输出“本光耦隔离芯片不合格信息”给检测者。

当检测的光耦隔离芯片为TLP521系列时，它输出的电平在8V左右，而CPU可接受的电平在5V左右，为此需要设置一电平转换单元16。比如，电平转换单元采用两个光耦隔离芯片完成电平转换。由于电平转换单元16的实现电路很多，在此就不再赘述。

请参阅图4，其为上述实施例的应用例的电路图。其中，图4A是本实施例光耦筛选装置的整体电路图；图4B为光耦输入单元的电路图；图4C为模拟开关单元的电路图；图4C为模数转换单元的电路图；图4D为电平转换单元的电路图；图4E为电平转换单元的电路图，图4F为CPU及一结果输出单元的电路图；图4G为电源单元的电路图。

本应用例的光耦筛选装置能够一次筛选5块光耦隔离芯片。将5块光耦隔离芯片同时插接在光耦接入接口，每块光耦隔离芯片分别有4路隔离放大通路。

在光耦输入单元11中，电压+8V通过电位器W6(W10、W11、W12、W13)和电阻Rp5(Rp8、Rp9、Rp12、Rp14)与光耦原边组成回路，Rp5(Rp8、Rp9、Rp12、Rp14)的电阻值为2.2k，调节电位器W6使Rp5上的压降为3.83V组成如图1的原边输入，每一路输入电流为1.741mA；初始化接上光耦后，在20路原边不间断输入的条件下从1NO1到5NO4共20路的输出点采集电压。并将20路输出电压输出至三块模拟开关芯片MC14051(U7、U13、U14)的输入端。三块模拟开关芯片在CPU的控制下将20路电压以一路在不同时间输出。

模数转换单元的U1将接收到的电压跟随放大共同输出到8路电压比较电路，8路电压比较电路由8路比较电路构成，根据β值的分类表确定各路比较的基准电压，按放大倍数从大到小排列，最后输出高电平为+8V的8位数字信号。

+8V的数字信号输入到电平转化电路，通过电平转换电路U4、U5的2片TLP521-4芯片的电平转换输出高电平为+5V的数字信号，输出至CPU。

CPU判断将当前被测光耦隔离芯片的分类情况，并通过结果输出单元输出分类结果。

在筛选过程中由CPU控制20路光耦隔离电路以0.2秒为周期切换，整个20路信号的测量过程在5秒钟之内完成。

请参阅图5，其为本发明公开的另一种光耦筛选装置的结构示意图。它包括光耦输入单元21、模拟开关单元22、模数转换单元23、微处理器CPU24及结果输出单元25，其中：

光耦输入单元21：连接模拟开关单元22，用于给预分类的光耦隔离芯片的原边提供原边电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元22；

模拟开关单元：连接CPU24，用于在CPU24的控制下将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出至模数转换电路23；

模数转换单元23：连接模拟开关单元22，用于将接收到的每一隔离放大通路的输出电压转换成数字信号输出至CPU24；

CPU24：包括模拟开关控制子单元241、比较单元242及输出控制子单元243，其中：

模拟开关控制子单元241，用以控制模拟开关单元将将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出；

比较单元242，用于接收模数拟转换单元发送的数字信号，并将所述数字信号与光耦分类表确定的N路基准电压值分别进行比较，由此确定光耦隔离芯片的类别；

输出控制子单元243，连接所述比较单元，用以通过结果输出单元输出，以便检测者获知所述光耦隔离芯片的类别。

上述的模数转换单元采用A/D转换器。

若模数转换单元输出信号的电平不在CPU可接受的电平范围，则还需要进行电平转换。为此，本发明还包括电平转换单元，设置在模数转换单元和CPU之间，用于将模数转换单元输出的数字信号的电平转换至CPU可接受电平的数字信号，并将之发送至CPU。

并且，本发明还包括电源单元，用以给所述装置的各个组成单元提供电力。

另外，光耦输入单元21进一步包括信号输入电路、用以插接待分类的光耦隔离芯片的光耦接入接口及信号输出电路，其中：

光耦接入接口用于插接光耦隔离芯片。所述光耦接入接口采用通用接口，以便方便插拨待分类的光耦隔离芯片；

信号输入电路，连接光耦接入接口，用于给插入光耦接入接口的所述光耦隔离芯片的原边提供电流。比如，通过原边电阻、输入电压与原边形成一回路。通过调整输入电压的电压值，达到给原边提供一特定电流值的电流；

信号输出电路，连接光耦接入接口，用于给插接在光耦接入接口的所述光耦隔离芯片的副边提供电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元；所述信号输出电路可以将输入电压、副边电阻及光耦隔离芯片的副边形成一回路，并获取每一通路的输出电压。

另外，在本光耦筛选装置也可以设置若干接口，以便将本CPU与外控制设备(如CPU)等相连接，以便能在外部用户的控制下完成各种类型光耦隔离芯片的筛选。

以上公开的仅为本发明的几个具体实施例，但本发明并非局限于此，任何本领域的人员能思之的变化，都应落在本发明的保护范围内。

Claims (14)

1.一种光耦筛选装置，用于对光耦隔离芯片进行分类，其特征在于，包括光耦输入单元、模拟开关单元、模数转换单元、微处理器CPU及结果输出单元，其中：

光耦输入单元：连接模拟开关单元，用于给预分类的光耦隔离芯片的原边提供原边电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元；

模拟开关单元：连接CPU，用于在CPU的控制下将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出至模数转换电路；

模数转换单元：连接模拟开关单元，用于将接收到的每一隔离放大通路的输出电压与光耦分类表确定的N路基准电压分别进行比较，进而获得N位数字信号，并将之发送至CPU，其中，N为基准电压的个数；

CPU：包括模拟开关控制子单元及输出控制子单元，其中：

模拟开关控制子单元，用以控制模拟开关单元将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出；

输出控制子单元，用于接收模数转换电路输入的N位数字信号，并获知所述光耦隔离芯片的类别后通过结果输出单元输出分类结果。

2.根据权利要求1所述的光耦筛选装置，其特征在于，还包括电平转换单元，设置在模数转换单元和CPU之间，用于将模数转换单元输出的数字信号的电平转换至CPU可接受电平的数字信号，并将之发送至CPU。

3.根据权利要求1或2所述的光耦筛选装置，其特征在于，所述模数转换单元进一步包括：

电压跟随电路：用以提高带负载能力；

8路电压比较电路：连接电压跟随电路，用于将隔离放大通路的输出电压与光耦分类表确定的8路基准电压分别进行比较，进而获得8位数字信号，其中，与所述输出电压比较的8路基准电压是从小到大或从大到小排序的，每一位数字信号表示对应其中一路基准电压与所述输出电压的比较结果。

4.根据权利要求3所述的光耦筛选装置，其特征在于，所述跟随电路包括运算放大器，用以将隔离放大通路的输出电压跟随放大后共同输出至8路电压比较电路。

5.根据权利要求3所述的光耦筛选装置，其特征在于，每一路电压比较电路包括一比较器，所述比较器的同相输入端连接接收跟随电路的输出端，负相输入端用以输入本路电压比较电路的所述基准电压，其输出端连接至电平转换单元。

6.根据权利要求4所述的光耦筛选装置，其特征在于，每一路电压比较电路包括一比较器，所述比较器的同相输入端连接接收跟随电路的输出端，负相输入端用以输入本路电压比较电路的所述基准电压，其输出端连接至电平转换单元。

7.根据权利要求1或2所述的光耦筛选装置，其特征在于，光耦输入单元进一步包括信号输入电路、用以插接待分类的光耦隔离芯片的光耦接入接口及信号输出电路，其中：

信号输入电路，连接光耦接入接口，用于给接入光耦接入接口的所述光耦隔离芯片的原边提供电流；

信号输出电路，连接光耦接入接口，用于给接入光耦接入接口的所述光耦隔离芯片的副边提供电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元。

8.根据权利要求1或2所述的光耦筛选装置，其特征在于，还包括电源单元，用以给所述装置的各个组成单元提供电力。

9.根据权利要求1或2所述的光耦筛选装置，其特征在于，所述CPU采用AT89系列单片机。

10.根据权利要求1或2所述的光耦筛选装置，其特征在于，所述模拟开关单元采用多路模拟开关MC14051。

11.根据权利要求2所述的光耦筛选装置，其特征在于，电平转换单元采用光耦隔离芯片TLP521进行电平转换。

12.一种光耦筛选装置，用于对光耦隔离芯片进行分类，其特征在于，包括光耦输入单元、模拟开关单元、模数转换单元、微处理器CPU及结果输出单元，其中：

光耦输入单元：连接模拟开关单元，用于给预分类的光耦隔离芯片的原边提供原边电流，并采集所述光耦隔离芯片的各个隔离放大通路的输出电压，后将之输出至所述模拟开关单元；

模拟开关单元：连接CPU，用于在CPU的控制下将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出至模数转换电路；

模数转换单元：连接模拟开关单元，用于将接收到的每一隔离放大通路的输出电压转换成数字信号输出至CPU；

CPU：包括模拟开关控制子单元、比较单元及输出控制子单元，其中：

模拟开关控制子单元，用以控制模拟开关单元将将接收到的多路输入的各个隔离放大通路的输出电压于不同时间一路输出；

比较子单元，用于接收模数拟转换单元发送的数字信号，并将所述数字信号与光耦分类表确定的N路基准电压值分别进行比较，由此确定光耦隔离芯片的类别；

输出控制子单元，连接所述比较单元，用以通过结果输出单元输出，以便检测者获知所述光耦隔离芯片的类别。

13.根据权利要求12所述的光耦筛选装置，其特征在于，所述模数转换单元采用A/D转换器。

14.根据权利要求12所述的光耦筛选装置，其特征在于，所述CPU采用AT89系列单片机。

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