CN100351637C - 有机发光二极管光电特性的量测设备及方法 - Google Patents

有机发光二极管光电特性的量测设备及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN100351637C
CN100351637C CNB2003101006755A CN200310100675A CN100351637C CN 100351637 C CN100351637 C CN 100351637C CN B2003101006755 A CNB2003101006755 A CN B2003101006755A CN 200310100675 A CN200310100675 A CN 200310100675A CN 100351637 C CN100351637 C CN 100351637C
Authority
CN
China
Prior art keywords
light emitting
emitting diode
organic light
measurement
photoelectric characteristic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CNB2003101006755A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1605880A (zh
Inventor
王彦琳
陈汝中
林树新
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RiTdisplay Corp
Original Assignee
RiTdisplay Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RiTdisplay Corp filed Critical RiTdisplay Corp
Priority to CNB2003101006755A priority Critical patent/CN100351637C/zh
Publication of CN1605880A publication Critical patent/CN1605880A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100351637C publication Critical patent/CN100351637C/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

一种有机发光二极管光电特性的量测设备，包括一平台；一测角器，配置在平台一端，其中一待测有机发光二极管产品固定在测角器上；一三轴移动装置，配置在平台另一端；一光学量测装置，配置在三轴移动装置上，且光学量测装置朝向固定在测角器上的有机发光二极管产品；以及一电脑，此电脑与测角器、三轴移动装置以及光学量测装置连线。

Description

有机发光二极管光电特性的量测设备及方法
技术领域
本发明是有关于一种光电特性的量测设备及方法，且特别是有关于一种有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)光电特性的量测设备及方法。
背景技术
有机发光二极管是一种可将电能转换成光能且具有高转换效率的平面显示器元件，常见的用途为手机、PDA以及光源的各种平面显示器元件等等。由于有机发光二极管产品元件具备一些特性，如无视角、制程简易、低成本、高应答速度、使用温度范围广泛与全彩化等，符合多媒体时代显示器特性的要求，近年来已成为研究的热潮。
而通常有机发光二极管产品于制作完成后，都会进行其光电特性的测试。意即对有机发光二极管产品进行其亮度、色度、视角、均匀性、对比以及反应时间的量测。而公知有机发光二极管产品光电特性的量测方法如下所述：
首先将一有机发光二极管产品放置在一简易夹制具上固定，接著由外部的一电源供应器(Topmard 6306D直流电源供应器)提供电源给有机发光二极管产品。之后，再利用人工方式将一光学量测仪器(SR-2)定位后，再用此光学量测仪器来量测有机发光二极管产品的亮度值，并且以人工方式记录所测得的数据，再以人工方式输入电脑作资料整理、绘图以及统计等等。而关于有机发光二极管产品视角的量测，是利用手动的方式将用来固定有机发光二极管产品的制具转动角度(旋转10度)，之后再利用上述光学量测仪器量测其亮度值，且每旋转10度量测一次。另外，对于有机发光二极管产品均匀度的量测，是利用手动的方式将制具移动位置，之后利用肉眼以及上述的光学仪器量测其亮度值。再者，对于有机发光二极管产品对比的量测，是利用一亮度量测仪器(Lux Meter)量测室内环境亮度，之后再以此亮度量测仪器量测有机发光二极管产品亮暗的比值。而上述数种光电特性的量测所得到的数据都是利用人工方式记录，再以人工方式输入电脑，以进行资料的处理、绘图以及统计。而且上述数种光电特性的量测都必须重复10次，且整个过程工作人员都不能离开。
因此，公知有机发光二极管产品光电特性的量测方法由于是利用人工方式以调整角度与位置，因此量测过程中的装卸、对位与校正所需耗费的时间较长，而且还需一片一片由人工进行量测。另外，以人眼对位方式的准确度较差，且人为调整量测仪器与制具的位置与旋转角度的误差值也较大，因此容易影响量测的正确性。而且，公知量测的方法并无法量测有机发光二极管产品的反应时间。
发明内容
本发明的目的在于提供一种有机发光二极管的光电特性的量测设备及方法，以提高量测结果的正确性。
本发明的另一目的在于提供一种有机发光二极管的光电特性的量测设备及方法，以减少量测所需耗费的人力与时间。
本发明的再一目的在于提供一种有机发光二极管的光电特性的量测设备及方法，以改善公知无法量测反应时间的缺点。
本发明提供的有机发光二极管的光电特性的量测设备及方法，此设备包括：
一平台；
一测角器，配置在该平台一端，其中一待测的有机发光二极管产品固定在该测角器上；
一三轴移动装置，配置在该平台另一端；
一光学量测装置，配置在该三轴移动装置上，且该光学量测装置朝向固定在该测角器上的该有机发光二极管产品；
一电脑，该电脑与该测角器、该三轴移动装置以及该光学量测装置连接；以及
一电源供应器，与该电脑连线，并用以驱动该有机发光二极管产品。
该测角器具有倾斜以及旋转的功能。
该三轴移动装置具有一前后移动(X方向)、一上下移动(Y方向)以及一左右移动(Z方向)的三轴移动功能。
该电脑控制该三轴移动装置的位置以及该测角器的旋转与倾斜角度，且该电脑还记录该光学量测装置所量测到的数据。
该光学量测装置包括一亮度量测装置，用以量测该有机发光二极管产品的亮度、色度、视角以及均匀度。
该设备还包括一积分球装置，配置在该三轴移动装置上，以提供一均匀的环境亮度，以量测该有机发光二极管产品的对比。
还包括一电流驱动装置，该电流驱动装置与该电源供应器连接，由电脑控制，以在一特定条件下驱动该有机发光二极管产品，以量测其反应时间。
而利用本发明的有机发光二极管的光电特性的量测设备以进行的量测方法，其中该光学量测装置包括一亮度量测装置，该量测方法包括：
利用该电脑以控制该电源供应器驱动该有机发光二极管产品，并遥控该光学量测装置连结；
利用该电脑控制该三轴移动装置至一特定位置，并控制该测角器倾斜并旋转的一特定角度；
利用该亮度量测装置量测该有机发光二极管产品的一光电特性；以及
该光学量测装置所量测到的一数据将自动记录在该电脑中。
该电脑还包括自动将该光学量测仪器所量测到的数据进行一资料处理步骤、一绘图步骤以及一统计步骤。
该有机发光二极管产品的该光电特性包括该有机发光二极管产品的亮度、该有机发光二极管产品的色度、该有机发光二极管产品的视角以及该有机发光二极管产品的均匀性。
该有机发光二极管的光电特性的量测设备还包括一积分球装置，而该量测方法在利用该亮度量测装置量测该有机发光二极管产品的该光电特性之前及/或同时，还包括利用该积分球装置提供一均匀的环境亮度，且该有机发光二极管产品的该光电特性包括该有机发光二极管产品的对比。
该有机发光二极管的光电特性的量测设备还包括一电流驱动装置，与该电源供应器连接，而该量测方法在利用该亮度量测装置量测该有机发光二极管产品的该光电特性之前及/或同时，还包括在一特定条件下驱动该有机发光二极管产品，且该有机发光二极管产品的该光电特性包括该有机发光二极管产品的反应时间。
由于本发明的有机发光二极管光电特性的量测设备及方法完全是利用电脑控制角度及位置，因此量测结果的正确性较高而较具参考价值。
由于本发明的有机发光二极管光电特性的量测设备及方法只需将有机发光二极管产品对位一次，而且工作人员不需全程在场，因此人力需求少且所耗费的时间少。
本发明的有机发光二极管光电特性的量测设备及方法可以改善公知无法量测有机发光二极管产品反应时间的缺点。
附图说明
为让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂，下面特举一较佳实施例，并配合附图作详细说明如下，其中：
图1是依照本发明一较佳实施例的有机发光二极管光电特性的量测设备示意图；以及
图2是依照本发明一较佳实施例的有机发光二极管光电特性的量测流示意程图。
具体实施方式
实施例
图1所示，其显示是依照本发明一较佳实施例的有机发光二极管光电特性的量测设备示意图。
请参照图1，本实施例的有机发光二极管光电特性的量测设备包括一平台100、一测角器102、一三轴移动装置106、一光学量测装置108以及一电脑110。
其中，测角器102配置在平台100一端，而一待测有机发光二极管产品104固定在测角器102上，此测角器102具有旋转以及倾斜(二轴)的功能，以使固定在测角器102上的有机发光二极管产品104可依照所需而旋转及倾斜至一特定角度。而有机发光二极管产品104还包括与一电源供应器112连接，此电源供应器112用来提供电源给有机发光二极管产品104以驱使其产生放光机制。其中，有机发光二极管产品104例如是一有机发光二极管显示面板。
另外，三轴移动装置106配置在平台100的另一端，而光学量测装置108架设在三轴移动装置106上，且光学量测装置108朝向固定在测角器102上的有机发光二极管产品104。其中，光学量测装置108例如是一亮度量测装置(Light Measure Device，LMD)。而三轴移动装置106可以依照所需而前后移动(X方向移动)、上下移动(Y方向移动)以及左右移动(Z方向移动)，以使架设在三轴移动装置106上的光学量测仪器108能位于一特定位置。如此一来，利用测角器102以及三轴移动装置106五轴控制，便能使光学量测仪器108以及有机发光二极管产品104的相对位置精确的被控制。而且，还能确保有机发光二极管产品104在角度与位置的变换下，仍能量测到相同的量测点，而增加量测结果的参考性。
此外，电脑110与测角器102、三轴移动装置106以及光学量测装置108连接，用以控制测角器102的旋转角度与倾斜角度以及三轴移动装置106的位置，并且使光学量测装置108所量测到的数据能自动输入电脑110中。而且电脑110还会自动将所量测到的数据进行资料处理、绘图以及统计等步骤。
因此，利用本发明的量测设备以进行有机发光二极管产品的量测方法如图2所示，图2为依照本发明一较佳实施例的量测有机发光二极管光电特性的流程示意图。请参照图2，首先利用电脑控制(步骤200)，以控制电源供应器204供应电源，且驱动有机发光二极管产品206，并远端遥控光学量测装置208连结(步骤202)。之后，利用电脑控制三轴移动装置至一特定位置，并控制测角器倾斜及旋转的一特定角度(步骤210)。然后，由光学量测装置量测有机发光二极管产品各种光电特性，而所量测到的数据将会自动记录在电脑中，而且电脑还会自动进行资料处理、绘图以及统计等步骤(步骤212)。
另外，本发明还包括一积分球装置(图中未示)，其设置在三轴移动装置106上，以提供一均匀的环境亮度，如此便可以利用光学量测装置108量测有机发光二极管产品104的亮暗比值，以对有机发光二极管产品104的对比作量测。
此外，本发明还包括一电流驱动装置(图中未示)，其与电源供应器112连接。电脑110在控制电源供应器112供应电源后，通过电流驱动装置，便可以在一特定条件下驱动有机发光二极管产品104，以量测有机发光二极管产品104的反应时间。
以下特举一比较例以说明本发明的设备及方法较公知方法佳。
传统利用人工的方式调整制具以及光学量测仪器的位置，由于其卸妆、对位以及校正的时间约每10片有机发光二极管产品需耗费10分钟。而且由于需不断的装卸、对位以及校正，因此每10片有机发光二极管产品的总量测时间约200分钟，且工作人员必需全程在场。
而利用本发明的量测设备及方法，由于完全是利用电脑控制位置与角度，因此装卸、对位与校正的时间约每10片有机发光二极管产品仅需耗费2分钟。另外，由于系统完全自动量测，因此每10片有机发光二极管产品的总量测时间仅需150分钟，且工作人员仅需少次装卸有机发光二极管产品，而不需全程在场。
由上述比较例可明显的比较出本发明的量测少以及方法可减少许多量测时所需耗费的时间与人力。而且由于本发明完全是利用电脑控制的方式，而能准确的对位及移动以进行各种光电性质的量测，因此利用本发明的方法所量测的结果的正确性较高，而其参考价值也较高。另外，由于本发明完全是利用电脑操控，而不需如公知方法不断的移动光学量测仪器以及装卸并移动有机发光二极管产品面板，因此本发明较不会有人员安全上的问题。
综合以上所述，本发明具有下列优点：
1、由于本发明的有机发光二极管光电特性的量测设备及方法完全是利用电脑控制角度及位置，因此量测结果的正确性较高而较具参考价值。
2、由于本发明的有机发光二极管光电特性的量测设备及方法只需将有机发光二极管产品对位一次，而且工作人员不需全程在场，因此人力的需求少且所耗费的时间少。
3、本发明的有机发光二极管光电特性的量测设备及方法可以改善公知无法量测有机发光二极管产品的反应时间的缺点。
虽然本发明已以较佳实施例描述如上，然其并非用以限定本发明，任何熟习此技术人士，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视申请专利范围所界定为准。

Claims (12)

1、一种有机发光二极管的光电特性的量测设备，包括：
一平台；
一测角器，配置在该平台一端，其中一待测的有机发光二极管产品固定在该测角器上；
一三轴移动装置，配置在该平台另一端；
一光学量测装置，配置在该三轴移动装置上，且该光学量测装置朝向固定在该测角器上的该有机发光二极管产品；
一电脑，该电脑与该测角器、该三轴移动装置以及该光学量测装置连接；以及
一电源供应器，与该电脑连线，并用以驱动该有机发光二极管产品。
2、如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的量测设备，其特征在于，该测角器具有倾斜以及旋转的功能。
3、如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的量测设备，其特征在于，该三轴移动装置具有一前后移动、一上下移动以及一左右移动的三轴移动功能。
4、如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的量测设备，其特征在于，该电脑控制该三轴移动装置的位置以及该测角器的旋转与倾斜角度，且该电脑还记录该光学量测装置所量测到的数据。
5、如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的量测设备，其特征在于，该光学量测装置包括一亮度量测装置，用以量测该有机发光二极管产品的亮度、色度、视角以及均匀度。
6、如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的量测设备，其特征在于，该设备还包括一积分球装置，配置在该三轴移动装置上，以提供一均匀的环境亮度，以量测该有机发光二极管产品的对比。
7、如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的量测设备，其特征在于，还包括一电流驱动装置，该电流驱动装置与该电源供应器连接，由电脑控制，以在一特定条件下驱动该有机发光二极管产品，以量测其反应时间。
8、一种利用如权利要求1所述的有机发光二极管的光电特性的量测设备以进行的量测方法，其中该光学量测装置包括一亮度量测装置，该量测方法包括：
利用该电脑以控制该电源供应器驱动该有机发光二极管产品，并遥控该光学量测装置连结；
利用该电脑控制该三轴移动装置至一特定位置，并控制该测角器倾斜并旋转的一特定角度；
利用该亮度量测装置量测该有机发光二极管产品的一光电特性；以及
该光学量测装置所量测到的一数据将自动记录在该电脑中。
9、如权利要求8所述的量测方法，其特征在于，该电脑还包括自动将该光学量测仪器所量测到的数据进行一资料处理步骤、一绘图步骤以及一统计步骤。
10、如权利要求8所述的量测方法，其特征在于，该有机发光二极管产品的该光电特性包括该有机发光二极管产品的亮度、该有机发光二极管产品的色度、该有机发光二极管产品的视角以及该有机发光二极管产品的均匀性。
11、如权利要求8所述的量测方法，其特征在于，该有机发光二极管的光电特性的量测设备还包括一积分球装置，而该量测方法在利用该亮度量测装置量测该有机发光二极管产品的该光电特性之前及/或同时，还包括利用该积分球装置提供一均匀的环境亮度，且该有机发光二极管产品的该光电特性包括该有机发光二极管产品的对比。
12、如权利要求8所述的量测方法，其特征在于，该有机发光二极管的光电特性的量测设备还包括一电流驱动装置，与该电源供应器连接，而该量测方法在利用该亮度量测装置量测该有机发光二极管产品的该光电特性之前及/或同时，还包括在一特定条件下驱动该有机发光二极管产品，且该有机发光二极管产品的该光电特性包括该有机发光二极管产品的反应时间。
CNB2003101006755A 2003-10-10 2003-10-10 有机发光二极管光电特性的量测设备及方法 Expired - Fee Related CN100351637C (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB2003101006755A CN100351637C (zh) 2003-10-10 2003-10-10 有机发光二极管光电特性的量测设备及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB2003101006755A CN100351637C (zh) 2003-10-10 2003-10-10 有机发光二极管光电特性的量测设备及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1605880A CN1605880A (zh) 2005-04-13
CN100351637C true CN100351637C (zh) 2007-11-28

Family

ID=34756027

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNB2003101006755A Expired - Fee Related CN100351637C (zh) 2003-10-10 2003-10-10 有机发光二极管光电特性的量测设备及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN100351637C (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103630335B (zh) * 2013-11-29 2016-04-27 广州视睿电子科技有限公司 Led发光角度与led接收光角度检测装置

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5243293A (en) * 1989-05-29 1993-09-07 Ngk Insulators, Ltd. System utilizing optical current sensors for detecting fault location in substation
CN1081766A (zh) * 1992-12-05 1994-02-09 西安电子科技大学 半导体光敏管动态特性测试方法
US5359290A (en) * 1993-01-11 1994-10-25 Actron Manufacturing Company Method and apparatus using a pair of test circuits having LED indicators for testing engine sensors and ignition modules in vehicles
CN1365005A (zh) * 2001-07-25 2002-08-21 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 半导体激光器光、电特性综合测量方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5243293A (en) * 1989-05-29 1993-09-07 Ngk Insulators, Ltd. System utilizing optical current sensors for detecting fault location in substation
CN1081766A (zh) * 1992-12-05 1994-02-09 西安电子科技大学 半导体光敏管动态特性测试方法
US5359290A (en) * 1993-01-11 1994-10-25 Actron Manufacturing Company Method and apparatus using a pair of test circuits having LED indicators for testing engine sensors and ignition modules in vehicles
CN1365005A (zh) * 2001-07-25 2002-08-21 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 半导体激光器光、电特性综合测量方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN1605880A (zh) 2005-04-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1183876C (zh) 测量条件设置装置,测量条件设置方法和生物信息测量仪器
CN104483106A (zh) 一种倒装led芯片在线检测装置
CN1648645A (zh) 检查显示面板的设备和方法
CN1841050A (zh) 检查装置、摄像装置以及检查方法
CN1395230A (zh) 图像实时校正的方法和系统
CN102235939A (zh) 镜头杂散光检测装置及镜头杂散光检测方法
CN101050997A (zh) 镜头杂散光检测装置及方法
CN1904576A (zh) 用于检测显示板的装置及其使用方法
CN100351637C (zh) 有机发光二极管光电特性的量测设备及方法
CN105222994A (zh) 一种分布式光度计
CN103954436B (zh) 高精度光谱辐射定标装置
CN110018182A (zh) 激光巴条检测装置
CN110017970A (zh) 激光巴条检测系统
CN201149526Y (zh) 一种分布光度计
TW200921078A (en) Inspection system for planar light emitting object and method thereof
CN1742301A (zh) 有源矩阵显示器电路基板、包括该电路基板的显示器面板、其检查方法以及用于该检查的检查装置
CN108731615B (zh) 曲面玻璃面板的检测用设备及方法
CN1170120C (zh) 可变精度激光电子二维倾角测量方法及其装置
CN2864893Y (zh) 具精密定位单元的平面显示面板检测仪
CN203365814U (zh) 一种用于星载光学遥感器的焦面对接装置
CN207897093U (zh) Ccd/cmos参数检测系统
CN101055351A (zh) 显示器件的校准装置及其方法
CN108076340B (zh) Ccd/cmos参数检测系统
CN1800922A (zh) 液晶显示器检测仪
CN101881660B (zh) 产品的表面亮度的检测治具及检测方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C17 Cessation of patent right
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20071128

Termination date: 20121010