CN100334558C - 监控仿真芯片内部eeprom的方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种监控仿真芯片内部EEPROM的方法，当仿真芯片检测到其内部的EEPROM执行页写入操作时，向仿真器发出告知信号，并将当前操作的EEPROM页地址存入寄存器中；仿真器收到该告知信号后，立即查询仿真芯片内的寄存器，得出当前写入页的地址，并把此次写入操作和对应的页地址添加到累计EEPROM各页写入次数的记录中；通过监控该记录，仿真器实现对EEPROM的监控。应用本发明，仿真器能随时提供EEPROM各页的累计写入次数信息，监控目标程序对EEPROM的写操作，发现目标程序中错误的EEPROM写入操作，并在接近EEPROM寿命极限时提醒更换仿真芯片。本发明可用于使用仿真器进行仿真、测试目标程序的过程中。

Description

监控仿真芯片内部EEPROM的方法
技术领域
本发明涉及仿真开发技术，尤其涉及一种实现监控仿真芯片内部EEPROM的方法。
背景技术
随着集成电路技术的飞速发展，以及应用要求的日益增加，微处理器产品的集成度也越来越高。为了满足实际应用的具体要求，在新型微处理器中除了包含传统的程序存储器(ROM)和数据存储器(RAM)以外，还增加了较大容量的片内EEPROM。这部分EEPROM可以作为非易失性存储器由目标程序写入并存放需要保存的数据。
在微处理器技术发展的同时，也要求与之相配套的仿真器技术的同步发展。为了达到仿真效果的真实性，一般仿真器内都使用与要求仿真的目标微处理器结构、特性等都非常接近的仿真芯片，仿真芯片是仿真器仿真、调试功能、性能的根本基础。相对于目标微处理器而言，由于技术复杂、产量较少等原因，仿真芯片的价格一般也比较昂贵。
从仿真芯片内各种存储器的工艺角度来看，易失性存储器，例如RAM、SRAM等，由于不需要在掉电以后继续保存数据，有着非常长的读、写寿命。而非易失性存储器，例如EEPROM、Flash等，一般以页为最小单位进行写入操作，且需要在掉电以后继续保存数据，实现的工艺与易失性存储器完全不同。它们的特点是读的寿命非常长，而每个存储页面写的寿命一般在10万次以内。
使用仿真器仿真、调试目标程序的过程是一个不可预知的过程，在调试的过程中，目标程序中的一个没有被察觉的循环写仿真芯片内EEPROM的错误在全速仿真运行过程中，可能在很短的时间内就对仿真芯片内的EEPROM的某个页面进行了成千上万次的写入操作。如果累计写入次数超过了寿命，仿真芯片内EEPROM的该页就发生了损坏，由于损坏的仅仅是该页，其他页仍能正常工作，且该损坏又没有任何的征兆或警示，调试工程师不可能发现仿真芯片内EEPROM的某个页已经发生了损坏。如果在随后的目标程序的其它部分又确实需要用到这个已经损坏的页，对调试的工程师而言是很难发现是由于仿真芯片内EEPROM的损坏，还是目标程序本身的错误，导致了程序执行的错误或不正常。
目前，在各种微处理器仿真器的设计中，都没有考虑到这些问题。因此，需要开发设计一种新的仿真器功能，解决这一问题。
发明内容
本发明解决的技术问题是提供一种监控仿真芯片内部EEPROM的方法，它能随时提供仿真芯片内EEPROM各个页的累计写入次数信息，了解目标程序对EEPROM的写入操作执行信息，并在接近EEPROM寿命极限时发出提示信息。
为解决上述技术问题，本发明监控仿真芯片内部EEPROM的方法，仿真芯片通过一个告知信号线与仿真器连接，当仿真芯片检测出其内部的EEPROM开始执行页写入操作时，向仿真器发出告知信号，同时把当前操作的EEPROM页地址存入仿真芯片内的寄存器中，仿真器通过通信接口访问该寄存器；仿真器内设有一个存放所述EEPROM各页累计写入次数的记录，在仿真调试过程中，每一次EEPROM页的写入操作都被对应保存到累计写入次数的记录中，并可以随时察看该记录；仿真器可以随时监控EEPROM各页累计写入次数的记录，当发现EEPROM的任意页执行写入操作的次数超过第一门限值时发出提示信息；仿真器在执行某一段程序前后监控片内EEPROM所有页的累计写入次数的变化，当发现执行该段程序前后，仿真芯片内EEPROM任一页或指定页执行写入操作的次数超过第二门限值时，发出提示信息。
采用本发明的方法，在仿真调试过程中，每一次仿真芯片内EEPROM页的写入操作信息都会被保存到仿真器设置的记录中。调试工程师可以随时察看这一记录，了解EEPROM各页的累计写入次数。当仿真器发现EEPROM某一页的累计写入次数达到预先设定的第一门限值时，可以向调试工程师发出提示或警告信息，由调试工程师判断是否需要更换仿真芯片。在调试目标程序的过程中，执行某一段程序前后，仿真器如果发现仿真芯片内EEPROM某一页或指定页执行写入操作的次数超过预先设定的第二门限值时，可以发出提示信息，帮助调试工程师发现目标程序中错误的EEPROM循环写入操作。防止程序执行错误或不正常情况发生。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细的说明：
附图是本发明仿真器与仿真芯片之间的信号传输示意图。
具体实施方式
如图所示，本发明监控仿真芯片内部EEPROM的方法，仿真芯片通过一个告知信号线与仿真器连接，并提供配套的寄存器。在使用仿真器进行仿真、调试过程中，当仿真芯片发现其内部的EEPROM开始执行页写入操作时，在告知信号线上向仿真器发出告知信号，同时把当前操作的EEPROM页地址存入仿真芯片内一个寄存器中。供仿真器查询执行此次写入操作的是EEPROM的哪一页。在本实施例中，采用两个8位的页地址寄存器，最多可对应寄存64K EEPROM的页。仿真芯片和仿真器之间存在一个通信接口，通过它仿真器可以访问仿真芯片内的寄存器。
仿真器内设有一个存放所述EEPROM各页累计写入次数的记录，该记录可以存放在仿真器的硬件存储器中，也可以以文件形式存放在仿真器的上位机，例如PC机中。在更换新的仿真芯片后，所述仿真器内的记录必须被清空。仿真器在接收到来自仿真芯片的告知信号后，立即通过通信接口查询仿真芯片内的EEPROM页地址寄存器，获得正在写入页的地址。然后，把此次写入操作和对应的页地址信息添加到累计的EEPROM各页写入次数的记录中去。
在仿真调试过程中，每一次仿真芯片内EEPROM页写入操作都会执行上述操作过程，相应的操作信息会被保存到仿真器的记录中去。调试工程师可以随时察看该记录信息，了解仿真芯片内EEPROM各页的累计写入次数情况。
仿真器随时监控其内部所述记录的信息，当发现仿真芯片内EEPROM的任意页的累计写入次数达到第一门限值时，可以发出提示或警告信息，由调试工程师判断是否需要更换仿真芯片。所述第一门限值可以根据所采用的仿真芯片的EEPROM写入次数的额定值进行设置。例如，仿真芯片内EEPROM写入次数的额定值是10万次，就可以设置EEPROM的任意页超过累计8万次写操作时，发出提示信息。
调试目标程序的过程中，还可以要求仿真器在执行某一段程序前后，监控其内部的记录。如果仿真器发现执行该段程序前后，仿真芯片内EEPROM任一页或者指定页执行写入操作的次数超过第二门限值时，发出提示信息，及时发现目标程序中错误的EEPROM写入操作。所述第二门限值根据待调试的程序段预期的将执行EEPROM写入操作的次数设置。监控的页地址可以是EEPROM所有的页，也可以是任意指定的一个或若干个页。
所述指定页可以是一页也可以是若干页，页地址可根据待调试的程序段预期的将执行EEPROM写入操作的页的地址设置。
在本发明的方法中，仿真芯片内的EEPROM可以使用其它非易失性存储器代替，例如Flash。

Claims (6)

1、一种监控仿真芯片内部EEPROM的方法，其特征在于：仿真芯片通过一个告知信号线与仿真器连接，当仿真芯片检测出其内部的EEPROM开始执行页写入操作时，向仿真器发出告知信号，同时把当前操作的EEPROM页地址存入仿真芯片内的寄存器中，仿真器通过通信接口访问该寄存器；仿真器内设有一个存放所述EEPROM各页累计写入次数的记录，在仿真调试过程中，每一次EEPROM页的写入操作都被对应保存到累计写入次数的记录中，并可以随时察看该记录；仿真器可以随时监控EEPROM各页累计写入次数的记录，当发现EEPROM的任意页执行写入操作的次数超过第一门限值时发出提示信息；仿真器在执行某一段程序前后监控片内EEPROM所有页的累计写入次数的变化，当发现执行该段程序前后，仿真芯片内EEPROM任一页或指定页执行写入操作的次数超过第二门限值时，发出提示信息。
2、如权利要求1所述的监控仿真芯片内部EEPROM的方法，其特征在于：所述记录可以存放在仿真器的硬件存储器中或者以文件形式存放在仿真器的上位机中。
3、如权利要求1所述的监控仿真芯片内部EEPROM的方法，其特征在于：所述第一门限值根据所述EEPROM写入次数的额定值设置。
4、如权利要求1所述的监控仿真芯片内部EEPROM的方法，其特征在于：所述第二门限值根据待调试的程序段预期的将执行EEPROM写入操作的次数设置。
5、如权利要求1所述的监控仿真芯片内部EEPROM的方法，其特征在于：所述指定页可以是一页也可以是若干页，页地址可根据待调试的程序段预期的将执行EEPROM写入操作的页的地址设置。
6、如权利要求1所述的监控仿真芯片内部EEPROM的方法，其特征在于：所述EEPROM可用Flash或者其它非易失性存储器替代。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100442901C (zh) * 2005-10-25 2008-12-10 华为技术有限公司 在设备管理中监控和升级软件的方法及装置
CN101329649B (zh) * 2007-06-20 2011-11-02 上海华虹集成电路有限责任公司 仿真器中eeprom的显示装置
CN102765256B (zh) * 2012-06-21 2014-07-16 珠海艾派克微电子有限公司 记录芯片使用状态信息的方法、成像盒的芯片及成像盒
CN103605600B (zh) * 2013-11-25 2016-08-17 Tcl通讯（宁波）有限公司 一种移动终端存储卡存储单元读写次数记录的方法及系统

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1166869A (ja) * 1997-08-20 1999-03-09 Toshiba Corp Ｅｅｐｒｏｍ書換え回数監視回路、及び半導体集積回路装置
EP1100017A1 (en) * 1999-11-09 2001-05-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory access monitoring and debugging device
JP2003058842A (ja) * 2001-08-10 2003-02-28 Denso Corp ページング管理機能付きｉｄタグ
CN1462451A (zh) * 2001-04-25 2003-12-17 皇家菲利浦电子有限公司 具有用于嵌入式非易失性存储器的自测试器件的集成电路及相关测试方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1166869A (ja) * 1997-08-20 1999-03-09 Toshiba Corp Ｅｅｐｒｏｍ書換え回数監視回路、及び半導体集積回路装置
EP1100017A1 (en) * 1999-11-09 2001-05-16 Kabushiki Kaisha Toshiba Memory access monitoring and debugging device
CN1462451A (zh) * 2001-04-25 2003-12-17 皇家菲利浦电子有限公司 具有用于嵌入式非易失性存储器的自测试器件的集成电路及相关测试方法
JP2003058842A (ja) * 2001-08-10 2003-02-28 Denso Corp ページング管理機能付きｉｄタグ

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