CH540493A - Vorrichtung zum Messen der Freiwerdezeit von Halbleiterventilen - Google Patents

Vorrichtung zum Messen der Freiwerdezeit von Halbleiterventilen

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CH540493A
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valves
semiconductor
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CH6271A
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Lawatsch Herbert
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Bbc Brown Boveri & Cie
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    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/263—Circuits therefor for testing thyristors

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DE1614037B1 (de) * 1967-02-16 1970-06-04 Licentia Gmbh Anordnung zum Messen der Freiwerdezeit von Halbleiterventilen

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