CH523488A - Vorrichtung zur Messung der Lage eines Leiters in einem durch die Vorrichtung geführten Messobjekt - Google Patents

Vorrichtung zur Messung der Lage eines Leiters in einem durch die Vorrichtung geführten Messobjekt

Info

Publication number
CH523488A
CH523488A CH622370A CH622370A CH523488A CH 523488 A CH523488 A CH 523488A CH 622370 A CH622370 A CH 622370A CH 622370 A CH622370 A CH 622370A CH 523488 A CH523488 A CH 523488A
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
measuring
conductor
object guided
measuring object
guided
Prior art date
Application number
CH622370A
Other languages
English (en)
Inventor
Brunner Mathias
Original Assignee
Zumbach Electronic Automatic F
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE19691920709 external-priority patent/DE1920709C/de
Application filed by Zumbach Electronic Automatic F filed Critical Zumbach Electronic Automatic F
Publication of CH523488A publication Critical patent/CH523488A/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G01B7/105Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/30Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
    • G01B7/31Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes
    • G01B7/312Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes for testing the alignment of axes for measuring eccentricity, i.e. lateral shift between two parallel axes
CH622370A 1969-04-23 1970-04-21 Vorrichtung zur Messung der Lage eines Leiters in einem durch die Vorrichtung geführten Messobjekt CH523488A (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19691920709 DE1920709C (de) 1969-04-23 Verfahren zum Abgleichen eines Dicken messgerates und Einrichtung zur Durchfuh rung dieses Verfahrens

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CH523488A true CH523488A (de) 1972-05-31

Family

ID=5732101

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH622370A CH523488A (de) 1969-04-23 1970-04-21 Vorrichtung zur Messung der Lage eines Leiters in einem durch die Vorrichtung geführten Messobjekt
CH622470A CH523489A (de) 1969-04-23 1970-04-21 Verfahren zum Abgleichen eines Schichtdickenmessgerätes und Einrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CH622470A CH523489A (de) 1969-04-23 1970-04-21 Verfahren zum Abgleichen eines Schichtdickenmessgerätes und Einrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens

Country Status (8)

Country Link
US (1) US3757208A (de)
JP (1) JPS569646B1 (de)
AT (1) AT334103B (de)
BE (1) BE749361A (de)
CH (2) CH523488A (de)
FR (2) FR2046443A5 (de)
GB (2) GB1305091A (de)
SE (2) SE359643B (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1749638A1 (de) 2005-08-03 2007-02-07 Zumbach Electronic Ag Vorrichtung zur Wanddickenbestimmung extrudierter Stränge

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH588682A5 (de) * 1975-09-11 1977-06-15 Semperit Ag
CH615503A5 (de) * 1977-02-08 1980-01-31 Zumbach Electronic Ag
FR2422928A1 (fr) * 1978-04-14 1979-11-09 Var Sa Centreur electronique de roues
NZ205098A (en) * 1982-08-06 1997-01-29 Australian Wire Ind Pty Wire, conductive coating on magnetic substrate: thickness determination
JPS5967405A (ja) * 1982-09-30 1984-04-17 Sumitomo Metal Ind Ltd ライナ厚測定方法
DE3404720A1 (de) * 1984-02-10 1985-08-14 Karl Deutsch Prüf- und Meßgerätebau GmbH + Co KG, 5600 Wuppertal Verfahren und vorrichtung zur schichtdickenmessung
FR2619903B1 (fr) * 1987-08-11 1990-12-21 Alquier Pierre Dispositif de detection de la concentricite d'un enrobage isolant avec un fil metallique
DE3739190A1 (de) * 1987-11-19 1989-06-01 Foerster Inst Dr Friedrich Rotierkopf zum abtasten der oberflaeche zylindrischer pruefteile
US4875007A (en) * 1988-02-17 1989-10-17 The Indikon Company, Inc. Eddy current proximity system
JPH0244238U (de) * 1988-09-20 1990-03-27
JPH0244237U (de) * 1988-09-20 1990-03-27
JPH0244236U (de) * 1988-09-20 1990-03-27
DE4314274C2 (de) 1993-04-30 1995-11-30 Foerster Inst Dr Friedrich Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Durchmesserverstellung von an einem rotierend angetriebenen Prüfkopf vorgesehenen Gebern von Meß- und/oder Prüfeinrichtungen
CN100381778C (zh) * 2006-04-27 2008-04-16 扬州大学 柱形金属薄膜厚度测量仪
CN103292665B (zh) * 2013-06-24 2015-09-30 国家电网公司 一种测量电缆绝缘厚度和偏心度的方法及相应测量装置
CN108492930B (zh) * 2018-03-15 2023-08-25 上海电气集团腾恩驰科技(苏州)有限公司 一种转向导轮组
CN111879227B (zh) * 2020-07-31 2022-01-11 广东益诚自动化科技有限公司 一种马达检查修正自动机的马达端子脚长度自动检测机构
CN112504861B (zh) * 2020-12-25 2022-01-11 优之科技(深圳)有限公司 一种橡胶拉伸智能测试装置及其测试方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1749638A1 (de) 2005-08-03 2007-02-07 Zumbach Electronic Ag Vorrichtung zur Wanddickenbestimmung extrudierter Stränge

Also Published As

Publication number Publication date
JPS569646B1 (de) 1981-03-03
BE749361A (fr) 1970-10-01
CH523489A (de) 1972-05-31
DE1920709A1 (de) 1971-01-21
US3757208A (en) 1973-09-04
GB1305091A (de) 1973-01-31
SE361939B (de) 1973-11-19
DE1920709B2 (de) 1971-05-13
SE359643B (de) 1973-09-03
AT334103B (de) 1976-12-27
FR2039413A1 (de) 1971-01-15
ATA343170A (de) 1976-04-15
FR2046443A5 (de) 1971-03-05
GB1305092A (de) 1973-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CH523488A (de) Vorrichtung zur Messung der Lage eines Leiters in einem durch die Vorrichtung geführten Messobjekt
CH535958A (de) Vorrichtung zur optisch-elektronischen Abstandsmessung
CH488999A (de) Vorrichtung zur Stellwegmessung bei einer mit einem Druckmedium beaufschlagten Kolben-Zylinder-Einheit
CH518543A (de) Durchflusskammer an einem automatischen Mess- und Zählgerät für die Teilchen einer Dispersion
CH484414A (de) Messgerät zur Bestimmung der Abmessungen eines Werkstückes
AT289038B (de) Vorrichtung zur Aufrechterhaltung der Konzentrationsgradienten gelöster Stoffe in einem Flüssigkeitsstrom
AT286669B (de) Verfahren und Vorrichtung zur Ortung der Trennflächen verschiedenartiger Stoffe
CH525466A (de) Verfahren zur kontinuierlichen Messung der Verschiebung eines Objektpunktes
CH502580A (de) Vorrichtung mit einer Photozellenanordnung zur Bestimmung der Lage eines äquidistant geteilten Massstabes
CH478408A (de) Vorrichtung zum Messen der Häufigkeit von in einem Gas enthaltenen Ionen
CH443724A (de) Verfahren zur kontinuierlichen Messung der Ionenkonzentration in einer Flüssigkeit
AT301236B (de) Vorrichtung zur elektronischen Messung der Körnermenge eines Mähdreschers
CH514916A (de) Einrichtung zur Ermittlung der Flussverteilung in einem Kernreaktor
CH514849A (de) Messeinrichtung zur Winkel- und Distanzmessung
AT295890B (de) Verfahren zur Messung einer die Dielektrizitätskonstante beeinflussenden Eigenschaft eines Prüfgegenstandes und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens
CH502593A (de) Vorrichtung zur Druckmessung
CH519625A (de) Vorrichtung zur Messung der Lage eines Gleises
CH534306A (de) Vorrichtung zur Aufhängung eines Kleinmotors in einem Gehäuseteil
AT330328B (de) Vorrichtung zur zufuhrung eines fadens oder eines ahnlichen gebildes
AT254552B (de) Verfahren und Vorrichtung zur photometrischen Messung
CH510905A (de) Vorrichtung zur Verstellung eines Anzeigeringes in einem Uhrwerk
CH486686A (de) Vorrichtung zur Ermittlung örtlicher Dickenänderungen an einem durch die Vorrichtung hindurch bewegten Werkstoff
DE1937516B2 (de) Vorrichtung zur kontinuierlichen messung der konzentration von oxiden in einem fluessigmetall
CH527411A (de) Vorrichtung zum Bestimmen mindestens eines Koordinatenwertes eines Punktes in einem Koordinatennetz
AT280662B (de) Vorrichtung zur Messung der Dichte

Legal Events

Date Code Title Description
PL Patent ceased