CH507504A - Verfahren und Einrichtung zum Feinpositionieren von Prüflingen bei der Ermittlung von Abständen an diesem Prüfling - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zum Feinpositionieren von Prüflingen bei der Ermittlung von Abständen an diesem Prüfling

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CH507504A
CH507504A CH1768869A CH1768869A CH507504A CH 507504 A CH507504 A CH 507504A CH 1768869 A CH1768869 A CH 1768869A CH 1768869 A CH1768869 A CH 1768869A CH 507504 A CH507504 A CH 507504A
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CH1768869A
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Heinz Dipl Ing Priplata
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Zeiss Jena Veb Carl
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    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B11/00—Automatic controllers
    • A—HUMAN NECESSITIES
    • A47—FURNITURE; DOMESTIC ARTICLES OR APPLIANCES; COFFEE MILLS; SPICE MILLS; SUCTION CLEANERS IN GENERAL
    • A47B—TABLES; DESKS; OFFICE FURNITURE; CABINETS; DRAWERS; GENERAL DETAILS OF FURNITURE
    • A47B97/00—Furniture or accessories for furniture, not provided for in other groups of this subclass
    • A47B97/04—Easels or stands for blackboards or the like
    • F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F41—WEAPONS
    • F41F—APPARATUS FOR LAUNCHING PROJECTILES OR MISSILES FROM BARRELS, e.g. CANNONS; LAUNCHERS FOR ROCKETS OR TORPEDOES; HARPOON GUNS
    • F41F3/00—Rocket or torpedo launchers
    • F41F3/04—Rocket or torpedo launchers for rockets
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00—Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
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