CH315512A - Process for the production of semiconductor crystals and semiconductor crystal produced by this process - Google Patents

Process for the production of semiconductor crystals and semiconductor crystal produced by this process

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CH315512A
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Buehler Ernest
Kidd Teal Gordon
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Western Electric Co
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Description

  

  Verfahren zur Herstellung von Halbleiter-Kristallen und nach diesem Verfahren  hergestellter Halbleiter-Kristall    Das hauptpatent bezieht sich auf ein Ver  fahren zur Herstellung von Halbleiter-Kri  stallen, wie sie z. B. in Transistor- oder  Gleiehriehteranordnungen benützt werden,  und kennzeichnet sich dadurch, dass man eine  Halbleitermasse schmilzt, die     geschmolzene     Masse auf einer Temperatur hält, die etwas  über ihrem     Schmelzpunkt    liegt, das untere       Ende    eines Kristallkeimes aus Halbleitermate  rial in die Masse teilweise eintaueht und den  Kristallkeim aus der Masse mit einer Ge  schwindigkeit aufwärtsbewegt, die nicht grö  sser ist als die Geschwindigkeit, mit der sieh  das vom Kristallkeim angehobene Halbleiter  material verfestigt.  



  Diese Halbleiter, beispielsweise aus Ger  manium oder Silizium, können in Stäben von  verschiedenen Querschnitten hergestellt wer  den, sie können polykristallin sein oder aus       einem    Einkristall bestehen, sie können von  konstanter Leitfähigkeit sein und verunreini  gende Zugaben in beliebiger Konzentration  über bestimmte Teile der gesamten Länge be  sitzen, sie können ferner an beliebigen Stellen  längs oder quer gerichtete p-n-Verbindungen  enthalten mit beliebigen elektrischen     Eigen-          scliaften,    ebenso können n-p-n-Verbindungen  an beliebigen Stellen und mit vorbestimmten  elektrischen Eigrensehaften vorhanden sein.  



  Es ist, bereits im Hauptpatent vorgeschla  gen worden, Germaniumkristalle aus einer    Schmelze zu ziehen unter Anwendung einer  konstanten Ziehgeschwindigkeit. Es wurde  jedoch festgestellt, dass für fast alle wichtigen  Verunreinigungen des Germaniums die Leit  fähigkeit des festen Körpers während des Bil  dungsprozesses eines     Kristalles        n    nimmt, was  auf ein     #    hinweist, das kleiner als 1 ist für  diese Fremdstoffe (wobei     #    = Quotient der  Konzentrationen des Fremdstoffes im festen  Körper und in der Schmelze).

   Das heisst, dass  sich das kristallisierte Material der normalen  Erstarrungskurve der Legierung aus Germa  nium und der betreffenden Verunreinigung       nähert.    Ein Beispiel einer solchen Erstar  rungskurve für Antimon und Germanium ist  angegeben in  The Physieal Review , Vol. 77,  <B>15.</B> März 1950, Seiten 809 bis 813 von     Pearson.,          Struthers    und     Theurer        (Fig.    3).  



  Beim Verfahren gemäss der vorliegenden  zusätzlichen Erfindung wird ein Kristall aus  einer Schmelze eines halbleitenden Materials       .gezogen,    indem ein Keim eines     Kristalles    in  die Schmelze eingetaucht wird; das Verfahren  zeichnet sich dadurch aus, dass man den  Keim mit veränderlicher Geschwindigkeit aus  der Schmelze zieht.

   Dadurch lässt sich     errei-          ehen,    dass die     Zwischenschieht    zwischen  Schmelze und Kristall ein thermisches Gleich  gewicht erreicht, und man zieht. den     Kristall          init    solcher     Gesehwindigkeit    aus der Schmelze,  dass das geschmolzene     Material    am Keim kri-      stalliniert.

   Zweckmässigerweise wird der sieh  bildende Kristall während des Herausziehens  gedreht, dass der Kristall einen     symmetri-          sehen    Querschnitt erhält, wobei man die  Ziehgeschwindigkeit und Temperatur der  Schmelze so verändert, dass in jedem Punkt  der sieh bildenden Masse die gewünsehte Kon  zentration von Verunreinigungen vorhanden  ist. Ferner können Art und Grösse der Leit  fähigkeit verändert werden durch     Zugabe    von  entsprechenden Mengen von Fremdstoffen und  durch W ärrnebehandlung während der gan  zen Dauer des Ziehprozesses.  



  Die Annäherung an die normale Erstar  rungskurve wird also durch Variation der  Ziehgeschwindigkeit vermieden. Das Prinzip  besteht allgemein darin, bei Kristallen mit  einem     #    kleiner als 1 (was der Fall ist für  alle bisher betrachteten Fremdstoffe) und  wenn eine Zone konstanter Leitfähigkeit ge  wünscht wird, die Ziehgeschwindigkeit lang  sam zu verzögern, so dass     immer    weniger des  Fremdstoffes eingeschlossen wird, wodurch  der natürlichen Tendenz des Kristalles, seiner  Erstarrungskurve zu folgen, entgegengewirkt  wird.  



  Wenn die Ziehgeschwindigkeit die einzige  Variable wäre in diesem Kristallisationsprozess,  so würde sieh der Querschnitt der Kristalle  vergrössern mit kleiner werdender Ziehge  schwindigkeit. Uni dieser Tendenz entgegen  zuwirken und einen konstanten Querschnitt  zu erreichen längs der Zone konstanter Leit  fähigkeit, wird die abnehmende Ziehgeschwin  digkeit ausgeglichen durch eine zunehmende  Temperatur der Schmelze. Dies vermindert  die Kristallisationsgeschwindigkeit, und der       Vorgang    wird so gesteuert, dass die Neigung  zur Vergrösserung des Querschnittes genau       ausgeglichen    wird.  



  In der beiliegenden Zeichnung zeigen:  Fig. 1 ein Ausführungsbeispiel einer Vor  richtung zur Durchführung des Verfahrens  in Ansicht,  Fig. 2 bis 5 Einzelheiten der Vorriehtung  nach Fig. 1.  



  Fig. 6A und 6B sind graphische Darstel  lungen der Leitfähigkeit längs Kristallen,    die unter verschiedenen Betriebsbedingungen  entstanden sind.  



  Fig. 7l und 7B sind graphische Darstel  lungen für die Variation der Konzentration  von Fremdstoffen längs der Kristalle.  



  Fig. 8 ist eine graphische Darstellung des  Widerstandsverlaufes längs eines Kristallen.  Der Apparat nach Fit. 1 wird folgender  massen benützt:  Ein Quantum des halbleitenden Materials  wird in den Graphitselmelztiegel 1 gegeben,  und ein Kristallkeim des gleiehen Materials  wird im Halter 3 befestigt. Die     Sehmelzein-          richtung    4, auf der der Schmelztiegel l montiert  ist, wird in den unterm Teil des Quarzkolbens  5 eingeführt. Die Einrichtung wird gespült,  indem Stickstoff durch die Zuführung 6 ein  gelassen wird, der durch den Kolben 5 strömt  und denselben über den Auslass 7 v erlässt.

    Nach dem Spülen mit Stickstoff     wird    Was  serstoff oder ein anderes Gas, das minimalen  Einfluss auf die     Zusammensetzung    des sieh  bildenden Kristallen hat, eingelassen und  während des ganzen Kristallisationsprozesses  auf dem gleiehen Weg durch die Anordnung  geblasen. Ein in der Zeiehnung nicht angege  bener Hochfrequenzgenerator wird dann ein  gesehaltet, so dass ein Strom     durch    die In  duktionsspule 8 fliesst, uni den Tiegel 1 zti  heizen. Wenn dessen Füllung ganz geschmol  zen ist, wird die Spindel 9, an der der Keim     ''          befestigt        ist,    gesenkt, bis der Keim die       Se-hmelze    gerade berührt.

   Der     Vibrator    10  und der     Rotator    11 werden dann eingeschal  tet.     Näeh    der     gewünschten        Wartezeit.    wird  der Motor 12 eingeschaltet, der die Seheibe  13 antreibt. Diese zieht durch das Kabel     1-1     die Spindel 9 auf und hebt damit den     Keim     2 aus der     Schmelze    heraus. Die Ziehgeschwin  digkeit kann durch das Getriebe 15 gesteuert  werden.  



       -\Vünseht    man einen     Germanium-Einkri-          stall,    so lässt man diesen Prozess fortschreiten  unter Variation der Ziehgeschwindigkeit, bis  die ganze Schmelze aufgebraucht. ist. Gleich  zeitig     -wird    die Temperatur der     Schmelze    ver  ändert, wie weiter unten beschrieben.

   Wünscht  man durch Beimischen     gasförmiger    Fremd-      stoffe eine p-n-Grenze zu erzeugen, so werden  im geeigneten Zeitpunkt die Ventile 16 und  17 geöffnet und das Ventil 18 geschlossen, so  dass Wasserstoff durch die Röhre 19 einströ  men kann und durch das Reservoir mit dem  flüssigen 20 und gasförmigen 21 Beimi  schungsstoff geführt wird, wodurch der     gas-          förnige    Fremdstoff 21 durch den Durchfluss  messer 22 in den Kolben 5 eintritt. Diese gas  förmige Beimischung kann auch durch die  Schmelzeinrichtung 4 durch ein Loch im  S eliiielztieoel (nicht eingezeichnet) oder       durch    die Zuführungsröhre 23 eingeführt  werden.  



  In gewissen Fällen ist es erwünscht, die  Beimiselungen in Form einer festen Pille bei  zugeben. In diesem Falle kann die notwen  dige Folge und Zahl der Pillen im Magazin  '4 eingelegt werden. Im gewünschten Zeit  punkt wird der Motor 25 eingeschaltet. Dieser  Motor ist direkt verbunden mit dem Verteiler  26, der eine Öffnung enthält, die unter eine  Zelle des Magazins 24 gebracht wird und  eine Pille durch die Röhre 23 in die Schmelze  fallen lässt. Während des ganzen Prozesses  wird Kühlwasser durch die Kühlhülle ge  führt, die den Tiegel 1 umgibt, ein- und     aus-          mtrömend    durch die Anschlüsse 4A bzw. 4B.  Der obere Teil des Quarzkolbens wird eben  falls gekühlt durch Wasser, das durch 4C  ein- und durch 4D ausfliesst. Die Schalter l,  R und C steuern Rotation bzw.

   Vibration  bzw. die Beigabe fester Fremdstoffe. Das  Ventil D reguliert den Gaszufluss zu 6.  



  Fig. 2 ist eine Detailzeichnung des     Vibra-          tors    10. Der Exzenter 27, der auf der Achse  des Motors 28 sitzt, verursacht im Kabel  14 eine Vibration durch Vermittlung des  Hebels 29.  



  Fig. 3 ist eine Detailansicht der Schmelz  anordnung. Es ist daraus der Aufbau der  Grundplatte 4 und des Schmelztiegels 1 er  sichtlich. Die Temperatur, die im Tiegel und  in der     Schmelze    durch die Spule 8 erzeugt  wird, wird geregelt durch einen elektrischen  Steuerkreis (nicht eingezeichnet) in     Verbin-          dun    g mit dem Thermoelement 30.  



  Eine Modifikation der Schmelzanordnung    ist in Fig. 4 gezeigt. Diese Ausführung er  laubt, in die Schmelze feste Pillen einzufüh  ren. Dazu wird die Pille 31 in das Loch 32  gebracht, wo sie vom Quarzstab 33 gehalten  wird, der durch Betätigung des Stahlstabes  34 gehoben werden kann. Bei dieser Methode  wird die Pille 31 gleichzeitig mit den übrigen  Material der Schmelze geschmolzen, so dass  diese Beigabe nicht in festem Zustande, son  dern als geschmolzene Legierung zugegeben  werden kann.  



  Auf eine     weitere    Art werden bei der An  ordnung nach Fig. 5 die Beigaben zugeführt.  Hier wird die Pille 31 in eine Vertiefung im  Rand des Schmelztiegels     gelegt.    Nachdem  diese Pille geschmolzen ist, kann sie im rich  tigen Zeitpunkt durch den Hebel 32, der z. B.       aus    Quarz oder Kohle bestehen kann, mit  einer Schwenkbewegung in die Schmelze ge  stossen werden.  



  In den     Fig.        6E1    und     6B    ist. der spezifi  sche -Widerstand in Funktion der Distanz  aufgetragen, wie er mit zwei Spitzenelektro  den längs     eines        Gerinanium-Einkrist.alles    ge  messen werden     kann,    der ohne Beigaben  nach dem beschriebenen Verfahren hergestellt  wurde. Wie aus     Fig.    6A hervorgeht, fällt  der spezifische Widerstand im ersten Teil  des     Kristalles    von Punkt. 35 -auf 36, während  der Durchmesser des     Kristalles    zunimmt.

   Der  Teil der Kurve     zwischen    den Punkten 36 und  3 7 stellt die gewünschte Zone     konstanten     Widerstandes dar, die erzeugt wurde durch  Steuerung von Ziehgeschwindigkeit und Tem  peratur,     wie    weiter unten beschrieben. Nach  dem die     Ziehgeschwindigkeit    beim Punkt 37  Null geworden ist, so dass kein Kristall vom       Widerstand    36-37 mehr gezogen werden  kann, lässt man den     Widerstand,    auf einen       Wert    38     abfallen    durch eine plötzliche Ver  grösserung der Ziehgeschwindigkeit.

   Dann  werden Temperatur und Ziehgeschwindigkeit  erneut gesteuert, so     da.ss    der flache Teil 38-39  entsteht.. Nachdem dabei die Ziehgeschwin  digkeit von neuem     zum    Stillstand gekommen  ist, wird mit konstanter Ziehgeschwindigkeit  der Rest der     Schmelze    aufgebraucht, wo  bei die normale     Erstarrungskurve        39-40         entsteht. Fig. 6B ist ähnlich wie Fig. 6A,  stellt jedoch einen Kristall mit einem einzi  gen Gebiet konstanten Widerstandes dar.  Vergrösserungen der Ziehgeschwindigkeit und  Erniedrigung der Temperatur, so dass der  Querschnitt konstant blieb, ergaben den Ab  fall 41-42. Die Zone 42-43 entstand bei  normaler Steuerung von Temperatur und  Ziehgeschwindigkeit, wie oben erwähnt.

   Der  Teil 43-44 stellt wieder die normale Erstar  rungskurve dar, gewonnen bei konstanter  Ziehgesehwindigkeit mit dem Rest der  Schmelze.  



  In Fig. 7i und 7B sind graphische Dar  stellungen gezeigt, welche Kristalle betreffen,  die mit Beigaben versehen wurden. Auf der  Ordinate ist der Logarithmus des Überschus  ses an Fremdstoff, ausgedrückt in Anzahl  Atome pro cm3, aufgetragen, während auf  der Abszisse die Kristallänge in cm aufge  tragen ist. Die negative Riehtung der Ordi  nate stellt Leitfähigkeit vom p-Typ dar mit  abnehmendem spezifischem Widerstand und  vier positive Teil der Ordinate stellt n-Typ  Leitfähigkeit dar.

   Der spezifische Widerstand  kann aus der Konzentration der Verunreini  gung gewonnen werden durch Anwendung  der Gleichung:       #    = 1/(ne )  wobei     #    den spezifischen Widerstand in  Olm ³ cm, n die Überschusskonzentration in  Atomen pro em3 und   die     Elektronenbeweg-          liehkeit    oder Bewegliehkeit der Lochstellen  in cm2/Volt sec bedeuten.  



  Die Kurve A in Fig. 7A gilt für einen  Kristall, bei dem die Beigabe entweder     dureh     eine     grosse    Pille oder durch einen plötzlichen  Zustrom von die entsprechenden Atome ent  haltendem Gas eingeführt wurde. Die Zone  45-46 dieser Figur stellt ein Gebiet konstan  ter Leitfähigkeit dar, erreicht durch Steue  rung von Temperatur und Ziehgeschwindig  keit. Beim Punkt 46 wurde eine Pille in die  Schmelze fallen gelassen, wodurch eine plötz  liche Änderung im Leitfähigkeitstyp entstand  (46-47), das Stück 47-48 stellt denjenigen  Teil des Kristalles dar, der aus dem Rest der    Schmelze gebildet wurde.

   Obwohl dieser Teil  der Kurve flaeher erscheint als der entspre  chende Teil in den Fig. 61 und 6B, ist der  Verlauf der Kurve doch     ungefähr    der Blei  ehe, wenn beide im gleichen Koordinaten  system (spezifiseher Widerstand-Abstand)  gezeichnet würden und der Teil 47-48 ent  spricht dcr normalen Erstarrungskurv e der  Schmelze wie der Kurventeil 39-40 in  Fig. 6A.  



  Die Kurve B in Fig. M ist     eharakteri-          stiseh    für einen Kristall mit einer     p-n-Ver-          bindung,    der wie bei A mit Beigaben gewon  nen wurde, nur dass hier das Zuführen der  Fremdstoffe anders gesteuert wurde, ent  weder durch mehrere Pillen oder durch Rege  lung des Gasflusses. Das Übergangsgebiet  wurde dadurch von 51-52 auseinanderge  zogen. Die Zone 49-50 mit konstanter Leit  fähigkeit wurde wieder mit dem normalen  Steuerprozess, wie weiter unten erklärt, ge  bildet und eine erste Beigabe einer Pille oder  eines Gasstromes resultierte in dem Abfall  50-51.

   Der Abfall 52-53 wurde auf     ähn-          liehe    Weise mit einer Pille oder einem Gas  strom vom entgegengesetzten Verunreini  gungstyp erzeugt, während 53-54 die nor  male Erstarrungskurve ist für den Rest, der  Sehmelze. Die Kurve C in der gleichen Figur  gilt für ein Kristall, der gebildet wurde durch  gleichmässiges Zufügen von Fremdstoffen  entweder durch einen Gasstrom oder durch  eine Vielzahl von Pillen; es entstand dabei  eine Kurve 55-56 mit konstanter Neigung.  



  In Fis. 7B sind drei Kurven angegeben  für Kristalle, denen während des Ziehpro  zesses     Fremdstoffe    so     zugefügt    wurden, dass  drei v     erseliiedene    Typen von     ii-p-,ii-Verbin-          dungen    entstanden. Der Teil 57-58 der  Kurve     .1    stellt die Zone konstanter Leitfähig  keit dar, wie in den andern Fällen beschrie  ben, während 58-59 erreicht. wurde durch  Zugabe     einer    einzigen Pille.

   Die Zone 60-61  entspricht. der Beigabe einer Pille     aus    einem  den entgegengesetzten     Leitungstyp    erzeugen  den Material, so dass der Kristall in das       n-Gebiet        zui,üekcebraelit    wurde. Der Punkt  61 braucht nicht höher     zti    liegen als die-     Zone         57-58, in diesem speziellen Fall wurde der  Kristall jedoch auf einen höheren n-Pegel ge  bracht an diesem Punkt, um, wie das bei  einem guten Emitter wünschenswert ist, einen  grösseren Übersehuss an n-Fremdstoff zu  laben. Der Teil 61-62 kann wieder die     nor-          nale    Erstarrungskurve des Kristalles dar  stellen.

   Die Breite d des p-Gebietes ist be  stimmt durch das Zeitintervall, das zwischen  den Stufen 58-59 und 60-61 verstreicht.  



  Die Kurve B der Fig. 7B ist ähnlich wie  die Kurve B in 7A, ausser dass, nachdem der  Kristall in das p-Gebiet gebracht wurde, ein  Fremdstoff des entgegengesetzten Typus den  Kristall durch einen ähnlichen Prozess wieder  ins n-iebiet zurückbringt. Das Gebiet 63-64  stellt dabei wieder die Zone konstanter Leit  fähigkeit dar, 64-65 die Zugabe einer ersten  Pille oder plötzliches Einleiten eines Gasstro  mes. Der Konzentrationsverlauf 65-66 wurde       erreicht        durch    eine allmähliche,     besteuerte          Beigabe    von Fremdstoffen mittels Pillen oder  eines Gasstromes, so dass die Übergangszone  entstand.

   Der Kurventeil 66-67 wurde durch  eine grosse Pille oder Einleitung eines     Gas-          strones    erzielt. Nach Ablauf des Intervalles  @, das fnit variabler Ziehgeschwindigkeit her  gestellt werden kann, wird ein den     entgegen-          gcsetzten    Leitungstyp erzeugender Fremd  stoff zugeführt, um den Kristall auf     Punkt     69 zurüclzubringen. Längs des Kurvenstückes  69-70 wurde die Beimisehung von Pillen  oder der Fluss des Gases gesteuert und im  Punkt 70-71 nochmals eine den entgegenge  setzten Leitungstyp als bei 64-65 erzeugende  Pille zugegeben; der Teil 71-72 kann wieder  die normale Erstarrungskurve darstellen.  



  Beim Kristall von Kurve C in Fig. 7B  wurden die Fremdstoffe durch Gas oder       durch    eine Vielzahl von Pillen allmählich  beigefügt, wobei der Kristall von Punkt 73  nacl 74 gebracht wurde. Während der Strecke  74-75 wurden keine Fremdstoffe hinzugege  ben. Je nach Bedarf kann in dieser Zone der  spezifische Widerstand konstant gehalten wer  den oder nicht. Die Zone 75-76 ist das Ge  genteil der Zone 73-74, hier wurde ein den  entgegengesetzten Leitungstyp erzeugender    Fremdstoff entweder durch Pillen oder durch  Gas allmählich beigefügt.  



  In Fig. 8 ist der spezifische Widerstand  in Funktion des Abstandes dargestellt für  einen Germaniumkristall mit zwei Zonen kon  stanter Leitfähigkeit 78-79 und 80-81, ähn  lich wie beim Kristall von Fig. 6A, jedoch  mit zwei n-p-n-Verbindungen 79-80 und  81-82, die thermisch und ohne Zusatz irgend  welcher Fremdstoffe erzeugt wurden.    Theoretisch sollte die einfache Variation  von     Ziehgeschwindigkeit    und Temperatur der  Schmelze einen Stab mit Kreisquerschnitt  und glatter Oberfläche ergeben mit gleich  mässigen elektrischen Eigenschaften; prak  tisch zeigt sich jedoch, dass dies nicht zutrifft  wegen eines Temperaturgradienten entlang  der Oberfläche der     Schmelze.    Die     Kristallisa-          tionsgesehwindigkeit    ist. infolgedessen nicht.

    gleich gross an verschiedenen Stellen des sieh  bildenden Stabes. Es bildet, sich dabei nicht  nur eine unregelmässige     Oberfläche    des Sta  bes, sondern auch die     elektrischen    Eigenschaf  ten des     Germaniums    variierten und dies sogar  innerhalb eines und desselben Querschnittes.  Es     zeigte    sich, dass diese Schwierigkeit über  wunden werden kann durch eine Rotation des  sich bildenden     Kristalles.        Umdrehungszahlen     von 50 bis '5000 pro Minute erwiesen sieh als  wirksam und eine     Rotationsgeschwindigkeit     von einigen     Hundert,    z.

   B. 200 bis 500 Um:       drehungen    pro Minute ist besonders vorteil  haft.  



  Obwohl durch diese Rotation die     Schmelze     <B>a</B><I>e</I>     nü-end    umgerührt wurde., um einen Stab  <B>C,</B>     zn     mit     kreisförmigem        Querschnitt    zu erzeugen,  wurde festgestellt, dass sieh auf der Ober  fläche des Stabes ringförmige Unregelmässig  keiten     ausbildeten,    besonders bei kleinen     Ro-          tationsgeschwindigkeiten.    Dies wies darauf  hin, dass der Temperaturgradient, wenn auch  in geringerem     Masse,    immer noch vorhanden  war.

   Es zeigte. sieh,     dass    diese Unregelmässig  keiten vermieden. werden konnten, wenn  durch einen schwingenden Hebel das Kabel,  an dem der Kristall hängt, periodisch ver  kürzt und verlängert wird. Sehwingungsfre-      quenzen von 10 Hz mit einer Amplitude von  etwa 0,25 rum bis 500 Hz bei einer Amplitude  von etwa 0,02 rn erwiesen sieh als befriedi  gend, obwohl hier, wie auch bei der Rotations  bewegung die angegebenen Werte nur     Rieht-          werte    sind und keine absoluten Grenzen dar  stellen. Es besteht kein Grund zur Annahme,  dass diese Werte nicht in beiden Richtungen  überschritten werden können. Beide Bewe  gungsgeschwindigkeiten sind nach unten  durch ihre Unwirksamkeit und nach oben  durch konstruktive Gegebenheiten der Appa  ratur begrenzt.  



  Die Germaniumbarren, aus denen die Kri  stalle hergestellt werden können, werden, un  den Gehalt an Fremdstoffen möglichst gering  zu halten, vorteilhaft so gebildet, dass vom  Barren der zuletzt gebildete Teil abgeselnitten  wird, der Barren erneut geschmolzen, abge  kühlt und abgeschnitten wird, so oft, his die  gewünschte Reinheit erreicht ist. Verände  rungen dieser anfängliehen Schmelze beein  flussen natürlich die elektrischen Eigenschaf  ten des Kaistalles.  



  Die üblicherw eise verwendeten Ziehge  schwindigkeiten variieren von 0,00025 bis  0,015 cm/s. Bei Geschwindigkeiten über  0,015 cm/s und unter gewissen Bedingungen  schon bei dieser     Geschwindigkeit    entstehen im  Kristall Torsionsspannungen, die eine     Ver-          zwillingung    zur Folge haben, was im allge  meinen bei Einkristallen unerwünscht ist.       Aus    dieseln Grunde zieht man es vor, eine  Geschwindigkeit von 0,0075 em/s nicht zu  überschreiten.  



  Bei der Variation der Ziehgesehwindigkeit  ist es, wie oben dargelegt, notwendig, auch  die Temperatur der Schmelze zu verändern,  wenn man den Querschnitt des sieh bildenden  Stabes konstant halten will. Typisch sind  z. B. folgende Werte:  
EMI0006.0007     
  
    Ziehgeschwindigkeit <SEP> Temperatur
<tb>  cm/s <SEP>   <SEP> C
<tb>  0,005 <SEP> 950
<tb>  0,0025 <SEP> 965
<tb>  0,00025 <SEP> 980       Obwohl diese Steuerung von Hand v     orge-          nonmen    werden kann, ist es zweckmässig, eine  automatische Programrsteuerung zu verwen  den, wie sie in chemischen Produktionsbetrie  ben in verschiedenen     Ausführungen    bekannt  sind.

   Ein solches Gerät wird so eingestellt,  dass     Ziehgeschwindigkeit    und Temperatur  nach dem     oben        angegebenen    Plan variiert  werden. Es sei darauf hingewiesen, dass die  tabellierten Temperaturen an der Wand des  Tiegels gemessen wurden. Es ist ein gewisser  Zeitverzug zu erwarten von der     Wandung     des Tiegels zur Schmelze.  



  Um die Lebensdauer der Lochstellen und  der     Leitungselektronen        möglichst    gross zu  machen, ist es zweckmässig, den Stab, nach  dem er gebildet wurde, so rasch wie möglich  zu kühlen. Dies wird bewerkstelligt mittels  wasserdurchflossener Kühlsehlangen und  eines konstanten Durchflusses von Kühlgas  durch den Kolben. Jedes Gas reit guter  Wärmeleitfähigkeit, das nicht oxydierend  wirkt oder sonstwie chemisch reagiert, ist für  den Zweck geeignet. Wasserstoff, Helium  und Stickstoff haben sich in diesem Fall als  geeignet erwiesen.  



  Von besonderer Bedeutung ist die Her  stellung halbleitender Übergangszonen. Diese       können    auf zweierlei Arten     erzeugt    werden.  Die     wichtigste    besteht darin, Fremdstoffe in  fester oder     gasförmiger    Form     beizufügen,     und zwar derart, dass eine genügende Menge  des bestimmten Fremdstoffes vorhanden ist,  um das Material in den entgegengesetzten  Leitungstyp überzuführen. Zu einer Schmelze  von etwa 50 g wurden feste Beigaben in Forin  von Pillen von 1 bis 50     mg    verwendet.

   Diese  Beigaben bestehen aus einer     Legierung    voll       Germanium    mit dem     gew-ünseliten    Fremdstoff  oder aus     irgeildeiner        Verbindluig    des Fremd  stoffes, aus der dieser in die Schmelze abge  geben wird.  



  Die     wichtigsten    verwendeten Fremdele  mente sind     Gallilini    und Bor für einen     Über-          gang    von     n,-    zu     p-Leitfähigkeit    und Arsen  und     Antirn.on    für den L     bergan-    von p- zu       u-Leitfähigkeit,    Verwendet man feste Bei-      gaben, so können die Fremdstoffe entweder  rein oder als Legierung oder Verbindung,  die den Fremdstoff an die Schmelze abgibt,  verwendet werden.

   Beispiele dafür sind die  Oxyde und die Germaniumlegierungen.     Tri-          chloride    haben sieh als günstig erwiesen,  wenn die Fremdstoffe in gasförmigem Zu  stand beigegeben werden sollen. Die Mengen  der verwendeten Fremdstoffe, sei es als Gas  oder als fester Stoff, sind     abhängig'    von  der Grösse lnd Reinheit der anfänglichen  Schmelze, von der Menge der noch v     orhande-          nen    Schmelze und vom gewünschten Resultat.

    Wie angegeben, können Pillen entweder in  festem Zustand oder in geschmolzener Form  verwendet werden. p-n- oder     n-p-n-Verbin-          dungen    können nach jeder gewünschten Cha  rakteristik hergestellt werden, indem beim  Zufügen der festen Stoffe die Grösse, die Zu  sammensetzung und die zeitliche Folge der  Pillen entsprechend gewählt werden. Arbeitet  man mit Gasen, so kann man die Geschwin  digkeit variieren, mit der das Gas mit der  Schmelze in Kontakt kommt. In allen Fällen  können die Verbindungen noch modifiziert  werden, indem Ziehgeschwindigkeit und Tem  peratur zusätzlich verändert werden.  



  Eine andere Methode, p-n- und     n-p-n-Ver-          bindungen    herzustellen, ohne dass Fremd  stoffe verwendet werden, besteht in der  gleiehzeitigen Veränderung von     Ziehgesehwin-          digkeit    und Temperatur. Dabei ist es notwen  dig, ein solches Ausgangsmaterial zu wählen,  dass die Wärmebehandlung bei etwa 980  C  einen W echsel von n- zu p-Leitfähigkeit er  zeugt. Als Beispiel für ein solches Material  sei Germanium mit einem spezifischen Wider  stand von mindestens 10 Ohm ³ cm erwähnt.  



  Es sei hier darauf hingewiesen, dass eine  Zwillingsgrenzfläehe erzeugt werden kann,  entweder durch Verwendung von zwei neben  einanderliegenden Kristallkeimen oder indem  schon ein Keim mit einer Zwillingsfläehe ver  wendet     wird.     



  Soll die grösstmögliche Menge von Mate  rial mit konstantem spezifischem Widerstand  hergestellt werden, so kann, nachdem der  Ziehvorgang praktisch zum Stillstand gekom-    men ist, im gleichen Kristall eine zweite Zone  konstanten spezifischen Widerstandes erzeugt  werden. Allerdings hat dann diese Zone einen  geringeren spezifischen Widerstand. Man er  reicht dies, indem man die Ziehgeschwindig  keit plötzlich auf einen laximalwert steigert  und dann wieder, wie bei der ersten Zone,  langsam, unter Regelung der Temperatur  vermindert. Die normale Erstarrungskurve,  dargestellt durch den spezifischen Widerstand  in Abhängigkeit von der Länge, ändert in  diesem Gebiet im allgemeinen ihre Neigung.  Es hat sich daher als vorteilhaft eiwiesen,  die Ziehgeschwindigkeit in diesem Gebiet  rascher zu vermindern als im ersten Teil.  



  Kristalle können zwar erzeugt werden mit  beliebiger Orientierung' des Kristallkeimes,  jedoch hat es sich als vorteilhaft erwiesen,  den Keim entweder in einer solchen Lage  zu befestigen oder so zu schleifen, dass sich  die Kristallisationsricltung (100) oder (111)  ergibt.  



  Im folgenden wird das typische Herstel  lungsverfahren eines     Germanium-Einkristalles     mit zwei Zonen konstanten spezifischen Wi  derstandes dargelegt. Der Kristallkeim, aus  geschnitten aus einem nach dem gleichen Ver  fahren hergestellten Stab, wird zunächst ge  reinigt und am Kristallhalter der Spindel be  festigt. Die Fühlung des Tiegels besteht aus  einem     Germaniumbarren    von 100 g. So  gefüllt wird der Tiegel und die ganze  Schmelzeinrichtung eingesetzt. Die Induk  tionsspule wird eingeschaltet und das     Germa-          nium    bei einer Temperatur von etwa 980      C     geschmolzen.

   Der Keim wird bis     mi    einer  Tiefe von etwa 0,125 mm in die Schmelze ein  getaucht und genügend lange in dieser     Stel-          hing    gelassen, dass ein thermisches Gleichge  wicht entstellt an der Grenzfläche.

   Dafür hat  sieh ein     Zeitintervall    von etwa 5     -Minuten     als genügend     ei-wiesen.    Bei einer anfänglichen  Ziehgeschwindigkeit. von etwa 0,0075     cm!s     werden     der        Rotationsmechanismus    und der  V     ibrator        eingeschaltet.    Die Temperatur wird       auf    935  C     erniedrigt.    und die Ziehgeschwin  digkeit für etwa. 3 Minuten     konstant    gehalten.

    In dieser Zeitspanne von 3 Minuten hat sich      der     Durchmesser    des     Kristalles    auf etwa  2,2 ein vergrössert. Wird nun ein Kristall von  gleichmässigem Querschnitt gewünscht, so  werden Ziehgeschvindigkeit und     Tenpera-          llr    folgendermassen gesteuert:  
EMI0008.0005     
  
    Ziehgeschwindigkeit <SEP> Temperatur
<tb>  vermindert <SEP> auf <SEP> erhöht <SEP> auf
<tb>  (cm/s) <SEP> (  <SEP> C)
<tb>  0,005 <SEP> 942
<tb>  0,0025 <SEP> 970
<tb>  0,00025 <SEP> 980       Es wird sieh dabei eine etwa 3,75 cm lange  Zone mit einem konstanten spezifischen Wi  derstand von etwa 10 Ohm ³ en ergeben.

   Ist  der Zielvorgang praktisch zum Stillstand ge  kommen, so wird der spezifische W iderstand  auf etwa die Hälfte reduziert, indem die     Zieh-          gesehwindigkeit    plötzlich auf 0,0075 cm/s  gesteigert wird. Während der Bildung der  zweiten Zone werden Ziehgesclwindigkeit und  Temperatur in der gleichen Weise gesteuert  wie für die erste Zone, mit dem Unterschied,  dass die Geschwindigkeit etwa doppelt so  rasch vermindert wird. Die Ziehgeschwindig  keit wird dann auf einen beliebigen Wert ge  steigert und so belassen, bis der Rest der  Schmelze aufgebraucht ist.  



  Wenn während der Bildung des Kristalles  in irgendeinem Zeitpunkt die     Erzeugung     einer p-n- oder n-p-n-Grenzfläehe gewünscht  wird, so kann dies erfolgen durch Zuoabe  von Fremdstoffen mittels Pillen oder Gasen,  nach einer der hier beschriebenen Methoden.  Typische Beispiele von p-n- und     n-p-n-Ver-          bindungen,    die so hergestellt werden können,  lass sie bestimmte Bedingungen erfüllen, in  dem Grösse und Folge der Pillen entsprechend  gewählt werden oder indem der Gasfluss ge  eignet reguliert wird, oder/und durch Wärme  behandlung, sind nachstehend in den Beispie  len 3-9 angegeben.  



  Im folgenden sind neun verschiedene Bei  spiele angegeben, wie Kristalle mit Charakte  ristiken wie in Fig. 6A, 6B, 7A, 7B und 8 er  zeugt werden können:    Beispiel 1  Der Kristallkeim wird befestigt, die La  dung von 100 p Germanium mit der Schmelz  anordnung eingeführt, wie oben angegeben.  Nach erfolotem Schmelzen cler Ladung wird  der Keim etwa 0,12'5 mn in die Schmelze  eingetauelt, und nachdem er etwa während  5 Minuten in dieser Lage geblieben ist, wird  der Apparat in Betrieb gesetzt. Die anfäng  liche Ziehgeschwindigkeit beträgt 0,0075 cm/s  bei einer Anfangstemperatur von etwa 9S0  C,  die innert etwa 10 Sekunden auf etwa 935  C  gesenkt wird. Diese Ziehgeschwindigkeit bleibt  konstant für etwa 3 Minuten, und in dieser  Zeit steigt der Durchmesser des Kristalles auf  2,2 en.

   Ziehgeschwindigkeit und Temperatur  werden dann gesteuert, wie in der allgemei  nen Erklärung der Methode dargelegt. Nach  dem die Ziehgeschwindigkeit praktisch Null  geworden ist, wird sie plötzlich auf 0,0075  cmls erhöht und dann wieder nach dem all  gegebenen     Programm,    jedoch doppelt so  schnell, verzögert. Der Rest der Schmelze wird  dann bei einer Ziehgeschwindigkeit von 0,0075  cm/s aufgebraucht. Ein so hergestellter Kri  stall soll hier als zweistufiger Kristall     bezeicl-          net    werden. Dieses spezielle Muster hat zwei  Zonen konstanten spezifischen Widerstandes,  die eine mit etwa 10 Ohm ³ en hatte eine  Länge von 3,75 en und die zweite mit etwa  5 Ohm ³ en eine Länge von 1,9 en.

   Will man  Halbleitermaterial mit konstantem spezifi  schen Widerstand erzeugen und können beide  Widerstandswerte verwendet werden, dann ist  dieses Vorgehen am wirtseliaftliehsten.         Beispiel        .?     Der Kristall von     Fig.    6B ist ein einstufi  ger     Kristall    mit     einem    grossen Widerstands  gradienten und einer einzigen Zone     kolistan-          t.en    spezifischen Widerstandes.

   Der Prozess  wird begonnen, wie in Beispiel 1 beschrieben       und    der Kristall bildet sieh während einer  Periode von 5     Minuten    bei einer     Zielige-          sehwindigkeit        voll    0,00025 ein 's. Die Geschwin  digkeit wird dann auf 0,0075     en7/s    erhöht,       #:vä.hrend    die     Temperatur    nach     folgendem     Schema abgesenkt wird: .

      
EMI0009.0001     
  
    Ziehgeschwindigkeit <SEP> Temperatur
<tb>  cm/s <SEP>   <SEP> C
<tb>  0,00025 <SEP> 980
<tb>  0,0025 <SEP> 965
<tb>  0,007 <SEP> 950
<tb>  0,0075 <SEP> 935       Bei dem in Fig. 6L angegebenen Beispiel  wurde die Ziehgesehwindigkeit nach diesem  Schema während 2 bis 3 Minuten reguliert.  1ie Ziehgesehwindigkeit wurde dann verklei  nert und die Temperatur vergrössert nach  dem Programn von Beispiel 1. Diese Steuer  periode nahm etwa 15 Minuten in Ansprach  und ergab eine Zone konstanten Widerstan  des von etwa 4,4 en Länge bei 3,5 Ohm ³ en.  Der Rest der Schmelze wurde dann mit     belie-          higer    Geschwindigkeit weggezogen, wobei sieh  die normale Erstarrungskurve 43-44 von  Fig. 6B ergab.

   Die Ziehgeschwindigkeit dieses  Stückes wurde nicht festgelegt, da heute  dieser Teil des Kristalles in keiner Anwen  dung als Transistor oder Gleichriehter ver  wendet werden kann und einfach wieder     ein-          gesehmolzen    wird.    Beispiel 3  Das Einsetzen des Kristallkeimes, das  Sehmelzen der Ladung und die Inbetrieb  nahme des Apparates erfolgten wie oben. Die  Zielgeschwindigkeit wurde vermindert auf  0,0025 en/s, während Geschwindigkeit und  Temperatur nach dem oben angegebenen     Pro-          granm    gesteuert wurden.

   Dann blieb die  Zieh geschwindigkeit während 7 oder S Minu  ten auf diesem Wert und die ganze Menge  des gewünschten Fremdstoffes wurde in       dieser    Periode in     Form    einer Pille     zugegeben.     Um einen Kristall zu erhalten mit den elek  trischen Charakteristiken von Kurve A in  Fig. 7A, wurde in einem einzigen Male eine  solche Menge des Fremdstoffes zugeführt, dass  etwa 1019 Fremdstoffatome pro     Kubikzenti-          meterKristall    dazukamen. Bei einer Schmelze  von etwa 50 g ergibt dies eine Pille mit  etwa 10 in Galliumdioxyd. Eine gleiche  Menge von Bor in Form einer     Germanium-       hätte ebenfalls verwendet werden  können.

   Das Bleiehe Resultat kann auch er  reicht werden mit einem einmaligen Gasstoss  wie Bortrichlorid oder Galliumtrichlorid mit  etwa der doppelten Menge des gewünschten  Fremdstoffes, da nur etwa die Hälfte des  Gases mnit Gier Schmelze in Lösung geht. Die  Ziehgeschwindigkeit wurde dann auf 0,0025  cmls erhöht und so der Rest der Schmelze  weggezogen. Materialien, die auf diese Art er  zeugt wurden, finden Anwendung zur Span  nungsstabilisierung wegen ihrer niedrigen  Sperrspannung.  



  Beispiel 4  Um einen Kristall mit der Charakteristik  von Kurve B in Fig. 7A zu erhalten, wurden  die Fremstoffe in mehreren Pillen oder all  mählich durch einen Gasstrom zugeführt. Der  Beginn des Prozesses verlief genau wie in Bei  spiel 3 und, nachdem die Ziehgeschwindigkeit  während mehreren Minuten auf 0,00025 ens  geblieben war, wurde eine Pille mit, etwa  2 ng Galliun-Germaniumlegierung, enthal  tend etwa 0,35 % Gallium, zugegeben nach  einer der beschriebenen Methoden. Damit  wurde die Überschusskonzentration des Fremd  stoffes auf etwa 102 Atome pro cm3, gebracht.  In Zeitabständen von etwa einer Sekunde       wurden    dann drei Pillen einer Germanium  Galliumlegierung mit etwa 0,05 o Gallium in  die Schmelze gegeben.

   Schliesslich wurde eine  zweite 5-mg-Pille Germanium-Gallium mit  etwa 1,4     o/o    Gallium beigefügt. Der Rest der  Schmelze wurde dann bei einer     Ziehgesehwin-          digkeit    von etwa 0,0025     em!s        aufgebraucht.     Es sei darauf hingewiesen, dass die Breite und  die     elektrischen        Charakteristiken    (z.

   B. die  Sperrspannung) der so erzeugten     p-n-Verbin-          dung    beliebig variiert werden können,     indem     entweder die Grösse der Pillen, die Zusam  mensetzung der Pillen oder     auch    deren An  zahl oder zeitliche Folge oder die     Ziehge-          sehwindigkeit    verändert werden. Man kann       einen    Kristall mit dieser Charakteristik  auch mit dem Verfahren des Gasstromes ge  winnen. Die erste Zugabe des Fremdstoffes  kann durch einen plötzlichen Gasstrom von      etwa. 10 cm-' Wasserstoff mit etwa 5 ¿ 101e  Atomen/cm3 Galliumtriehlorid oder auch mit  einem andern Gas, das den Fremdstoff in ge  nügender Konzentration enthält, erfolgen.

   In  der     zweiten    Stufe des Prozesses würde das  Gas in konstantem Fluss zugeführt während  etwa einer Minute, und zwar so, dass sieh die  Konzentration im Kristall     insgesamt    um etwa  5 ¿ 104 Atome/cm3 ändert. Um die Kurve  hinunterzubringen auf den Endwert des     spe-          zifisehen    Widerstandes, muss eine zweite  plötzliche Zugabe von etwa 10 cm3 Wasser  stoff mit dem gleichen Gehalt an Fremdstoff  erfolgen. So erzeugte Kristalle enthalten v     or-          züglieh    p-n-Verbindungen, sie können ent  sprechend den gewünschten     Bedingungen    für  die Anwendung als Gleiehrichter oder Tran  sistor hergestellt werden.  



  Beispiel 5  Zur Herstellung eines Kristalles mit der  Charakteristik der Kurve C in Fig. 7A wurde  der Apparat, wie oben beschrieben, in Betrieb  gesetzt, abgesehen davon, dass die anfängliche  Ziehgeschwindigkeit 0,0025 em/s betrug. Man  liess den Durchmesser des Kristalles auf etwa  2,2 cm wachsen durch Erniedrigen der Tem  peratur auf etwa 935  C, währenddem die  Ziehgeschwindigkeit 7 bis 8 Minuten lang die  gleiche blieb. Wasserstoff mit einem genügend  grossen Gehalt des     Fremdstoffes,    um die  Fremdstoffkonzentration im Kristall um etwa  5 ¿ 103 Atome/em3 zu ändern, wurde in kon  stantem Fluss über eine Periode von 3 bis 4  Minuten zugeführt, wobei die Ziehgeschwin  digkeit immer konstant gehalten wurde bei  0,0025 em/s.

   Die einzige Bedingung, die die  verwendete gasförmige Verbindung erfüllen  muss, besteht darin, dass bei     genügendem     Dampfdruck des Fremdstoffes die Halbleiter  eigenschaften des Kristalles nicht beeinträch  tigt werden dürfen, und dass sie den Apparat  nicht korrodiert. Wie oben erwähnt, erweisen  sieh die Trichloride von Gallium und Bor als  befriedigend. Es ist denkbar, dass ein solcher  Kristall hergestellt werden könnte, indem  eine grosse Zahl kleiner Pillen verwendet  wird; die Genauigkeit, mit der eine konstante    Neigung der Kurve angenähert werden kann,  hängt ab von der Anzahl der verwendeten  Pillen. Nach diesem Beispiel hergestellte Kri  stalle werden verwendet für Gleiehrichter mit  grossem Sperrwiderstand.

      Beispiel 6  Die Kurve A in Fign 7B bezieht sich auf  einen Kristall, der nach einem ähnlichen Her  stellungsprozess hergestellt wurde wie jener,  dessen Charakteristik in Kurve A in Fig. 71  gezeigt ist, ausser dass, nachdem der Kristall  ins p-Gebiet gebracht worden ist, eine Pille  aus einem Elektronenüberschuss erzeugenden  Material zugegeben wird. Ein solcher Prozess  verläuft folgendermassen: Nachdem die Zieh  geschwindigkeit für einige Minuten konstant  bei 0,00025 em/s belassen worden ist, wird für  eine anfängliche Schmelzmenge von 50 g eine  5-mg-Pille Gallium-Germanium mit etwa  1,4 o Gallium beigefügt. Nach einem Zeit  intervall von 5 bis 10 Selunden wird eine  Pille von 10 mg Arsentrioxyd oder reinem  Arsen zugegeben.

   (Der Grund, dass hier keine  Arsen-Germaniumlegierung verwendet wurde,  liegt darin, dass die Löslichkeit von Arsen in  Germanium so     gering    ist, dass eine zu grosse  Pille erforderlich wäre.) Nach dieser zweiten  Stufe wurde die Ziehgeschwindigkeit von  0,00025 ein/s, während etwa 8 Minnten beibe  halten. Dann wurde die Geschwindigkeit auf  0,0025 em/s vergrössert und der Rest der  Schmelze aufgebraucht. Die auf diese Art ge  wonnenen Kristalle sind erfolgreich angewen  det worden in na-p-n-Transi!s,toren. Eine Varia  tion d er Breite     d    des Hauptgebietes wirkt sieh  auf den     Frequenzgang    des Transistors aus. 1e  kleiner d ist, desto höhere Frequenzen können  übertragen werden.

   Die Breite dieses Gebietes  kann verändert werden     dureh    die Wahl des       Zeitintervalles        zwischen    der Beigabe der zwei  Pillen     oder!und    durch     eine    Veränderung der       Zieh-eschwincligheit.    Ein der     Kurve        _l,     F     ig.        7B    entsprechender Kristall wurde nach  der Hauptzone auf einen höheren spezifischer.  Widerstand gebracht, da er als Transistor  verwendet werden sollte, wobei diese Zone die  Rolle des     Emitters        übernehmen    musste.

   Es ist      erwünscht, dass die Emitterzone eines Tran  sistors eine erhöhte Konzentration von Fremd  atomen enthält.  



  <I>Beispiel 7</I>  Der erste Teil des Kristalles, dessen Cha  rakteristik in Kurve B von Fig. 7B darge  stellt ist, wurde auf genau die gleiche Weise  erzeugt wie derjenige, dessen Charakteristik  die Kurve B in Fig. 7A zeigt. Nach der       letzten    Zugabe von Fremdstoffen wurde je  doch die Ziehgesehwindigkeit für etwa 5     Mi-          nnten    auf 0,00025 cm/s gehalten, worauf in  der     deichen    Art Fremdstoffe, diesmal solche,  sie einen Elektronenüberschuss statt -mangel  ergeben, zugegeben wurden. Aueh solche Kri  stalle werden benützt für n-p-n-Transistoren.

           Beispiel   <I>8</I>  In Kurve C, Fig. 7B ist die Charakteristik  eines Kristalles dargestellt, der erzeugt wurde  durch Zugabe der     Fremdstoffe    durch ein Gas       oder    durch eine Vielzahl von Pillen, und zwar       wurden    die Fremdstoffe doppelt so schnell  und in der halben Zeit zugefügt, wie in Bei  spiel 5 beschrieben. Nach einem Zeitintervall  von etwa 15 Minuten wurde der gleiche Pro  zess wiederholt mit einem Fremdstoff, der die  Entstehung des umgekehrten Leitungstyps  bewirkt.    <I>Beispiel 9</I>  Uni den Kristall herzustellen, dessen spezi  fiseher Widerstand in Fig. 8 dargestellt ist,  musste man fnit einem Kristall beginnen mit  einem spezifischen Widerstand von minde  stens 10 Ohm ³ cm oder besser mindestens  20 Ohm ³ cm.

   Nachdem die Kristallisation wie  in Beispiel 1 begonnen worden war und nach  dem die erste Zone mit einem spezifischen  Widerstand von etwa 20 Ohm ³ ein gebildet  worden war, wurde die Ziehgeschwindigkeit  auf Null     reduziert,    während die Temperatur  mehrere Minuten auf dem Wert von 980  C  blieb. Dann wurde     eine    zweite Zone konstan  ter Leitfähigkeit gebildet in der genau     glei-          ehen    Weise, wie in Beispiel 1 beschrieben,  dabei war der spezifische Widerstand etwa  10 Ohm ³ cm. Das Ziehen wurde dann erneut    unterbrochen und die Temperatur für einige  Minuten auf 980  C gelassen und dann wurde  der Rest der Schmelze mit einer konstanten  Geschwindigkeit weggezogen.

   Die Zone 77-7S  bezieht sich auf denjenigen Abschnitt des  Kristalles, der mit einer konstanten Geschwin  digkeit von 0,0075 cm/s gezogen wurde, wäh  renddem sich der Durchmesser auf den ge  wünschten Wert vergrösserte (in diesem Falle  auf 2,2 en). In der Zone 78-79 ist der spe  zifische Widerstand konstant, was erreicht  wurde durch eine Abnahme der     Gesehwindig-          keit    von 0,0075 auf 0 cm/s und eine gleich  zeitige Erhöhung der Temperatur von 935  auf 980  C. Die Zone 79-80, in diesem Bei  spiel etwa 0,25 en dick, entstand dadurch,  dass dieser Teil des Kristalles während etwa  5 Minuten mit der Schmelze in Kontakt blieb,  wodurch der Kristall thermisch vom n- zum  p-Typ verändert wurde.

   Die Zons 80-81 ist  wieder eine Zone konstanter Leitfähigkeit, in  gleicher Weise gebildet wie die Zone 78-79,  ausser dass die Verzögerung der Ziehgeschwin  digkeit doppelt so schnell erfolgte. Die p-Zone  81-82 wurde in gleicher Art wie die Zone  79-80 durch eine Wärmebehandlung er  zeugt, schliesslich     folgte    der Kristall im Be  reich 82-83 seiner normalen     Erst.arrungs-          kurve,    indem der Kristall hier mit der kon  stanten Geschwindigkeit von 0,

  0025     cm/s    ge  zogen     wurde.        Kristalle    mit solchen     n-p-n-Über-          gangszonen    werden hergestellt ohne Verwen  dung von     Fremdstoffbeigaben.    Es besteht  natürlich kein     Hindernis,    die thermische Be  handlung mit irgendeiner der Methoden zur  Beifügung von Fremdstoffen zu     kombinieren,     uni mehr     Möglichkeiten    zu besitzen für die  Gestaltung der     ra-p-n.-Übergangszonen.    Kri  stalle, die mittels dieses thermischen Prozesses  hergestellt worden sind,

   sind geeignet     zur        An-          wendun:g    als     Verbindungstransistoren.     



  An Stelle der in der Beschreibung     erwähn-          ten        Verwendung    von Germanium können  selbstverständlich auch andere     geeignete    Ma  terialien verwendet werden. So     wurde    z. B.  Silizium verwendet und auch diese     Kristalle     wiesen hervorragende elektrische Eigenschaf  ten auf.



  Process for the production of semiconductor crystals and semiconductor crystal produced by this method The main patent relates to a process for the production of semiconductor crystals stalls, such as. B. are used in transistor or Gleiehriehter arrangements, and is characterized in that a semiconductor mass is melted, the molten mass is kept at a temperature slightly above its melting point, the lower end of a seed crystal of semiconductor material partially thaws in the mass and the crystal nucleus moves upwards from the mass at a speed which is not greater than the speed with which the semiconductor material lifted by the crystal nucleus solidifies.



  These semiconductors, for example made of ger manium or silicon, can be manufactured in bars of different cross-sections, they can be polycrystalline or consist of a single crystal, they can be of constant conductivity and contaminant additions in any concentration over certain parts of the entire length They can also contain longitudinally or transversely directed pn connections at any point with any electrical properties, as well as NPN connections at any point and with predetermined electrical properties.



  It has already been proposed in the main patent to pull germanium crystals from a melt using a constant pulling speed. However, it has been found that for almost all important impurities in germanium, the conductivity of the solid body decreases during the formation process of a crystal, which indicates a # that is less than 1 for these foreign substances (where # = quotient of the concentrations of the Foreign matter in the solid and in the melt).

   This means that the crystallized material approaches the normal solidification curve of the alloy of Germanium and the impurity concerned. An example of such a solidification curve for antimony and germanium is given in The Physieal Review, Vol. 77, March 15, 1950, pages 809 to 813 by Pearson., Struthers and Theurer (Fig. 3).



  In the method according to the present additional invention, a crystal is drawn from a melt of a semiconducting material by dipping a seed of a crystal into the melt; the process is characterized by the fact that the nucleus is pulled out of the melt at a variable speed.

   This enables the intermediate layer between the melt and the crystal to reach a thermal equilibrium, and one pulls. the crystal from the melt at such a rate that the molten material crystallizes at the nucleus.

   Conveniently, the seeing-forming crystal is rotated during extraction so that the crystal has a symmetrical cross-section, the pulling speed and temperature of the melt being changed so that the desired concentration of impurities is present at every point of the seeing-forming mass. Furthermore, the type and size of the conductivity can be changed by adding appropriate amounts of foreign substances and by heat treatment during the entire duration of the drawing process.



  The approximation to the normal solidification curve is avoided by varying the pulling speed. The principle generally consists in slowing down the pulling speed slowly for crystals with a # less than 1 (which is the case for all foreign substances considered so far) and if a zone of constant conductivity is desired so that less and less of the foreign substance is trapped which counteracts the natural tendency of the crystal to follow its solidification curve.



  If the pulling speed were the only variable in this crystallization process, the cross-section of the crystals would increase as the pulling speed decreases. To counteract this tendency and achieve a constant cross-section along the zone of constant conductivity, the decreasing drawing speed is compensated for by an increasing temperature of the melt. This reduces the rate of crystallization, and the process is controlled in such a way that the tendency to enlarge the cross-section is precisely compensated.



  In the accompanying drawings: Fig. 1 shows an embodiment of a device for carrying out the method in view, Figs. 2 to 5 details of the Vorriehtung of FIG.



  6A and 6B are graphs of conductivity along crystals produced under various operating conditions.



  7L and 7B are graphs showing the variation in the concentration of foreign matter along the crystals.



  Fig. 8 is a graphic representation of the resistance curve along a crystal. The Fit Apparatus. 1 is used as follows: A quantity of the semiconducting material is placed in the graphite crucible 1, and a crystal nucleus of the same material is fixed in the holder 3. The floating device 4, on which the crucible 1 is mounted, is inserted into the lower part of the quartz bulb 5. The device is flushed by admitting nitrogen through the inlet 6, which flows through the piston 5 and leaves the same via the outlet 7v.

    After purging with nitrogen, hydrogen or another gas that has minimal influence on the composition of the forming crystals is let in and blown in the same way through the arrangement during the entire crystallization process. A high-frequency generator not specified in the drawing is then turned on so that a current flows through the induction coil 8 to heat the crucible 1. When its filling is completely melted, the spindle 9, to which the germ is attached, is lowered until the germ just touches the melt.

   The vibrator 10 and the rotator 11 are then switched on. Near the desired waiting time. the motor 12 which drives the Seheibe 13 is switched on. This pulls the spindle 9 through the cable 1-1 and thus lifts the nucleus 2 out of the melt. The speed of drawing can be controlled by the transmission 15.



       If one looks at a germanium single crystal, then this process is allowed to proceed while varying the pulling speed until the entire melt is used up. is. At the same time, the temperature of the melt is changed, as described below.

   If it is desired to create a pn limit by adding gaseous foreign substances, the valves 16 and 17 are opened and the valve 18 closed at the appropriate time, so that hydrogen can flow in through the tube 19 and through the reservoir with the liquid 20 and gaseous 21 admixture substance, whereby the gaseous foreign substance 21 enters the piston 5 through the flow meter 22. This gaseous admixture can also be introduced through the melting device 4 through a hole in the sealing oil (not shown) or through the supply tube 23.



  In certain cases it is desirable to add the ingredients in the form of a solid pill. In this case, the necessary sequence and number of pills in the magazine '4 can be inserted. At the desired time, the motor 25 is switched on. This motor is directly connected to the manifold 26 which contains an opening which is brought under a cell of the magazine 24 and allows a pill to fall through the tube 23 into the melt. During the entire process, cooling water is passed through the cooling jacket which surrounds the crucible 1, flowing in and out through the connections 4A and 4B. The upper part of the quartz bulb is also cooled by water flowing in through 4C and out through 4D. The switches l, R and C control rotation or

   Vibration or the addition of solid foreign matter. The valve D regulates the gas flow to 6.



  2 is a detailed drawing of the vibrator 10. The eccentric 27, which sits on the axis of the motor 28, causes a vibration in the cable 14 through the intermediary of the lever 29.



  Fig. 3 is a detailed view of the enamel arrangement. It is therefrom the structure of the base plate 4 and the crucible 1 he can see. The temperature that is generated in the crucible and in the melt by the coil 8 is regulated by an electrical control circuit (not shown) in connection with the thermocouple 30.



  A modification of the fuse arrangement is shown in FIG. This version allows solid pills to be introduced into the melt. For this purpose, the pill 31 is placed in the hole 32 where it is held by the quartz rod 33 which can be lifted by actuating the steel rod 34. In this method, the pill 31 is melted simultaneously with the remaining material of the melt, so that this addition cannot be added in a solid state, but rather as a molten alloy.



  In a further way, the additives are supplied in the arrangement according to FIG. Here the pill 31 is placed in a recess in the edge of the crucible. After this pill has melted, it can at the right time by the lever 32, the z. B. made of quartz or coal can be pushed ge with a pivoting movement in the melt.



  In Figs. 6E1 and 6B. the specific resistance plotted as a function of the distance, as it can be measured with two tip electrons along a gerinanium single crystal, which was produced using the method described without additives. As is apparent from Fig. 6A, the resistivity in the first part of the crystal drops from point. 35 to 36 as the diameter of the crystal increases.

   The portion of the curve between points 36 and 37 represents the desired zone of constant resistance created by controlling the pull rate and temperature as described below. After the pulling speed at point 37 has become zero, so that no more crystals can be pulled from the resistor 36-37, the resistance is allowed to drop to a value of 38 by a sudden increase in the pulling speed.

   Then the temperature and drawing speed are controlled again, so that the flat part 38-39 is created. After the drawing speed has come to a standstill again, the rest of the melt is used up at a constant drawing speed, where the normal solidification curve 39- 40 is created. FIG. 6B is similar to FIG. 6A, but shows a crystal with a single area of constant resistance. Increasing the pulling speed and lowering the temperature so that the cross section remained constant resulted in the drop 41-42. Zone 42-43 was created with normal temperature and pull rate controls as noted above.

   The part 43-44 again represents the normal solidification curve, obtained at a constant drawing speed with the rest of the melt.



  In Fig. 7i and 7B graphic representations are shown which relate to crystals that have been provided with additions. The logarithm of the excess of foreign matter, expressed in number of atoms per cm3, is plotted on the ordinate, while the crystal length in cm is plotted on the abscissa. The negative direction of the ordinate represents conductivity of the p-type with decreasing specific resistance and the four positive parts of the ordinate represent n-type conductivity.

   The specific resistance can be obtained from the concentration of the impurity by applying the equation: # = 1 / (ne) where # is the specific resistance in olm³ cm, n is the excess concentration in atoms per em3 and the electron mobility or mobility of the holes in cm2 / volt sec.



  Curve A in Fig. 7A applies to a crystal in which the addition was introduced either by a large pill or by a sudden influx of gas containing the corresponding atoms. Zone 45-46 of this figure represents an area of constant conductivity, achieved by controlling the temperature and drawing speed. At point 46, a pill was dropped into the melt, causing a sudden change in conductivity type (46-47), piece 47-48 represents that part of the crystal that was formed from the rest of the melt.

   Although this part of the curve appears flatter than the corresponding part in FIGS. 61 and 6B, the course of the curve is roughly the same as if both were drawn in the same coordinate system (specific resistance distance) and the part 47- 48 corresponds to the normal solidification curve of the melt like the curve part 39-40 in Fig. 6A.



  Curve B in FIG. M is characteristic of a crystal with a pn connection, which was obtained with additives as in A, except that here the supply of foreign substances was controlled differently, either by several pills or by Regulation of the gas flow. The transition area was thereby pulled apart from 51-52. The constant conductivity zone 49-50 was re-established with the normal control process as explained below, and an initial pill or gas stream addition resulted in waste 50-51.

   The waste 52-53 was generated in a similar way with a pill or a gas stream of the opposite impurity type, while 53-54 is the normal solidification curve for the remainder, the clay. The curve C in the same figure applies to a crystal which was formed by the uniform addition of foreign matter either by a gas stream or by a plurality of pills; a curve 55-56 with a constant slope was created.



  In Fis. 7B three curves are given for crystals to which foreign substances were added during the pulling process in such a way that three different types of ii-p, ii compounds were formed. The part 57-58 of curve .1 represents the zone of constant conductivity, as described in the other cases, while reaching 58-59. was made by adding a single pill.

   Zone 60-61 corresponds. the addition of a pill of the opposite conductivity type generated the material so that the crystal in the n-area was zui, üekcebraelit. The point 61 need not be higher than the zone 57-58, but in this special case the crystal has been brought to a higher n-level at this point in order, as is desirable with a good emitter, a greater overshoot to feast on n-foreign matter. The part 61-62 can again represent the normal solidification curve of the crystal.

   The width d of the p-region is determined by the time interval that elapses between stages 58-59 and 60-61.



  Curve B of FIG. 7B is similar to curve B in FIG. 7A, except that after the crystal is brought into the p-region, a foreign substance of the opposite type brings the crystal back into the n-region by a similar process. The area 63-64 again represents the zone of constant conductivity, 64-65 the addition of a first pill or the sudden introduction of a gas flow. The concentration curve 65-66 was achieved through a gradual, controlled addition of foreign substances by means of pills or a gas stream, so that the transition zone was created.

   The part of the curve 66-67 was achieved by taking a large pill or introducing a gas stream. After the interval has elapsed, which can be produced with a variable pulling speed, a foreign substance generating the opposite conductivity type is added in order to bring the crystal back to point 69. Along the curve piece 69-70 the addition of pills or the flow of the gas was controlled and at point 70-71 a conduction type opposite to that at 64-65 was added again; the part 71-72 can again represent the normal solidification curve.



  In the crystal of curve C in FIG. 7B, the foreign matter was gradually added by gas or by a plurality of pills, with the crystal being brought from point 73 to 74. No foreign matter was added during route 74-75. Depending on requirements, the specific resistance in this zone can be kept constant or not. Zone 75-76 is the opposite of zone 73-74, here a foreign substance producing the opposite conductivity type was gradually added either by pills or by gas.



  In Fig. 8, the specific resistance is shown as a function of the distance for a germanium crystal with two zones of constant conductivity 78-79 and 80-81, similar to the crystal of FIG. 6A, but with two npn connections 79-80 and 81-82, which were generated thermally and without the addition of any foreign matter. Theoretically, the simple variation of the drawing speed and temperature of the melt should result in a rod with a circular cross-section and a smooth surface with uniform electrical properties; In practice, however, it has been shown that this is not the case because of a temperature gradient along the surface of the melt. The rate of crystallization is. consequently not.

    equal in size at different points on the rod that forms the vision. It forms not only an irregular surface of the rod, but also the electrical properties of the germanium varied and this even within one and the same cross-section. It turned out that this difficulty can be overcome by rotating the crystal that is forming. Rotational speeds of 50 to 5000 per minute have been found to be effective and a rotational speed of a few hundred, e.g.

   B. 200 to 500 to: revolutions per minute is particularly advantageous.



  Although this rotation caused the melt <B>a</B> <I> e </I> to stir enough to produce a rod <B> C, </B> zn with a circular cross-section, it was found that you can see ring-shaped irregularities formed on the surface of the rod, especially at low rotational speeds. This indicated that the temperature gradient was still present, albeit to a lesser extent.

   It showed. see that these irregularities are avoided. could be if the cable on which the crystal is suspended is periodically shortened and lengthened by a swinging lever. Visual oscillation frequencies of 10 Hz with an amplitude of approx. 0.25 um to 500 Hz with an amplitude of approx. 0.02 um have proven to be satisfactory, although here, as with the rotational movement, the values given are only approximate values and do not represent absolute limits. There is no reason to believe that these values cannot be exceeded in either direction. Both movement speeds are limited downwards by their ineffectiveness and upwards by the structural features of the apparatus.



  The germanium bars, from which the crystals can be made, are advantageously formed in such a way that the last part formed is cut off from the bar, the bar is melted again, cooled and cut off, so as to keep the foreign matter content as low as possible often until the desired purity is achieved. Changes in this initial melt naturally influence the electrical properties of the quay.



  The commonly used drawing speeds vary from 0.00025 to 0.015 cm / s. At speeds above 0.015 cm / s and under certain conditions even at this speed, torsional stresses arise in the crystal, which result in twinning, which is generally undesirable with single crystals. For these reasons, it is preferred not to exceed a speed of 0.0075 em / s.



  When the drawing speed is varied, it is necessary, as explained above, to also change the temperature of the melt if one wishes to keep the cross-section of the rod forming the figure constant. Typical are e.g. B. the following values:
EMI0006.0007
  
    Drawing speed <SEP> temperature
<tb> cm / s <SEP> <SEP> C
<tb> 0.005 <SEP> 950
<tb> 0.0025 <SEP> 965
<tb> 0.00025 <SEP> 980 Although this control can be operated manually, it is advisable to use an automatic program control, as it is known in various versions in chemical production plants.

   Such a device is set so that the pulling speed and temperature are varied according to the schedule given above. It should be noted that the tabulated temperatures were measured on the wall of the crucible. A certain time lag is to be expected from the wall of the crucible to the melt.



  In order to make the service life of the holes and the conduction electrons as long as possible, it is advisable to cool the rod after which it was formed as quickly as possible. This is accomplished by means of cooling rods through which water flows and a constant flow of cooling gas through the piston. Any gas with good thermal conductivity that does not have an oxidizing effect or otherwise chemically reacts is suitable for the purpose. Hydrogen, helium and nitrogen have proven to be suitable in this case.



  The manufacture of semiconducting transition zones is of particular importance. These can be generated in two ways. The most important is to add foreign matter in solid or gaseous form in such a way that there is a sufficient amount of the particular foreign matter to convert the material into the opposite conductivity type. Solid supplements in form of pills of 1 to 50 mg were used for a melt of about 50 g.

   These additives consist of an alloy full of germanium with the desired foreign substance or of some compound of the foreign substance, from which it is released into the melt.



  The most important foreign elements used are gallilini and boron for a transition from n to p conductivity and arsenic and antimony for the L uphill from p to u conductivity. If you use fixed additions, you can the foreign matter is used either neat or as an alloy or compound that releases the foreign matter to the melt.

   Examples of this are the oxides and the germanium alloys. Trichlorides have proven to be beneficial when the foreign matter is to be added in gaseous state. The amounts of foreign matter used, be it as a gas or as a solid, depend on the size and purity of the initial melt, on the amount of melt still present and on the desired result.

    As indicated, pills can be used either in a solid state or in a molten form. p-n or n-p-n connections can be produced according to any desired characteristic by choosing the size, composition and time sequence of the pills accordingly when adding the solid substances. If you work with gases, you can vary the speed at which the gas comes into contact with the melt. In all cases, the connections can still be modified by additionally changing the drawing speed and temperature.



  Another method of making p-n and n-p-n connections without the use of foreign substances is to change the drawing speed and temperature at the same time. It is neces sary to choose a starting material such that the heat treatment at around 980 C generates a change from n to p conductivity. An example of such a material is germanium with a specific resistance of at least 10 ohm ³ cm.



  It should be pointed out here that a twin boundary surface can be generated either by using two crystal seeds lying next to one another or by already using a seed with a twin surface.



  If the greatest possible amount of material with constant specific resistance is to be produced, a second zone of constant specific resistance can be generated in the same crystal after the drawing process has practically come to a standstill. However, this zone then has a lower specific resistance. This is achieved by suddenly increasing the drawing speed to a maximum value and then slowly reducing it again, as in the first zone, while regulating the temperature. The normal solidification curve, represented by the specific resistance as a function of the length, generally changes its slope in this area. It has therefore proven advantageous to reduce the drawing speed in this area more quickly than in the first part.



  Crystals can be produced with any orientation of the crystal nucleus, but it has proven to be advantageous either to fix the nucleus in such a position or to grind it so that the crystallization direction (100) or (111) results.



  In the following, the typical manufacturing process of a germanium single crystal with two zones of constant specific resistance is presented. The seed crystal, cut from a rod produced by the same process, is first cleaned and fastened to the crystal holder of the spindle. The filling of the crucible consists of a germanium bar of 100 g. This is how the crucible and the entire melting device are used. The induction coil is switched on and the germanium is melted at a temperature of around 980 ° C.

   The nucleus is dipped into the melt to a depth of about 0.125 mm and left in this position for a long enough time that a thermal equilibrium is distorted at the interface.

   A time interval of about 5 minutes has proven to be sufficient for this. At an initial pull rate. from about 0.0075 cm! s the rotation mechanism and the vibrator are switched on. The temperature is lowered to 935 ° C. and the pulling speed for about. Held constant for 3 minutes.

    In this period of 3 minutes, the diameter of the crystal has increased to about 2.2 µm. If a crystal with a uniform cross-section is required, the pulling speed and temperature are controlled as follows:
EMI0008.0005
  
    Drawing speed <SEP> temperature
<tb> decreases <SEP> to <SEP> increases <SEP> to
<tb> (cm / s) <SEP> (<SEP> C)
<tb> 0.005 <SEP> 942
<tb> 0.0025 <SEP> 970
<tb> 0.00025 <SEP> 980 This will result in a zone about 3.75 cm long with a constant specific resistance of about 10 ohms.

   If the aiming process has practically come to a standstill, the specific resistance is reduced to about half by suddenly increasing the pulling speed to 0.0075 cm / s. During the formation of the second zone, the drawing speed and temperature are controlled in the same way as for the first zone, with the difference that the speed is reduced about twice as quickly. The drawing speed is then increased to any value and left until the rest of the melt has been used up.



  If the creation of a p-n or n-p-n interface is desired at any point during the formation of the crystal, this can be done by adding foreign substances using pills or gases, according to one of the methods described here. Typical examples of pn and npn compounds that can be produced in this way, let them meet certain conditions by choosing the size and sequence of the pills accordingly or by appropriately regulating the gas flow, or / and by heat treatment, are given in Examples 3-9 below.



  The following are nine different examples of how crystals with characteristics as in Fig. 6A, 6B, 7A, 7B and 8 he can be generated: Example 1 The seed crystal is attached, the charge of 100 p germanium with the melting arrangement introduced as stated above. After the charge has melted, the nucleus is immersed in the melt for about 0.12.5 mn, and after it has remained in this position for about 5 minutes, the apparatus is put into operation. The initial pulling speed is 0.0075 cm / s at an initial temperature of about 90 ° C., which is lowered to about 935 ° C. within about 10 seconds. This pulling rate remains constant for about 3 minutes, during which time the diameter of the crystal increases to 2.2 en.

   Draw speed and temperature are then controlled as outlined in the general explanation of the method. After the pulling speed has become practically zero, it is suddenly increased to 0.0075 cmls and then decelerated again according to the given program, but twice as fast. The remainder of the melt is then used up at a drawing speed of 0.0075 cm / s. A crystal produced in this way is to be referred to here as a two-stage crystal. This particular pattern has two zones of constant resistivity, one about 10 ohm ³ en was 3.75 en long and the second about 5 ohm ³ en was 1.9 en long.

   If you want to produce semiconductor material with constant resistivity and both resistance values can be used, then this approach is the most economical. Example.? The crystal of FIG. 6B is a single-stage crystal with a large resistance gradient and a single zone of constant resistivity.

   The process is started as described in Example 1 and the crystal forms over a period of 5 minutes at a target speed of 0.00025. The speed is then increased to 0.0075 en7 / s, #: while the temperature is lowered according to the following scheme:.

      
EMI0009.0001
  
    Drawing speed <SEP> temperature
<tb> cm / s <SEP> <SEP> C
<tb> 0.00025 <SEP> 980
<tb> 0.0025 <SEP> 965
<tb> 0.007 <SEP> 950
<tb> 0.0075 <SEP> 935 In the example given in FIG. 6L, the drawing speed was regulated according to this scheme for 2 to 3 minutes. The drawing speed was then decreased and the temperature increased according to the program of Example 1. This control period lasted about 15 minutes and resulted in a constant resistance zone of about 4.4 cm in length at 3.5 ohms. The remainder of the melt was then drawn away at any rate, giving the normal solidification curve 43-44 of FIG. 6B.

   The pulling speed of this piece was not specified, since today this part of the crystal cannot be used in any application as a transistor or in alignment and is simply melted in again. Example 3 The onset of the seed crystal, the melting of the charge and the start-up of the apparatus were carried out as above. The target speed was reduced to 0.0025 en / s while the speed and temperature were controlled according to the program given above.

   Then the drawing speed remained at this value for 7 or 5 minutes and the entire amount of the desired foreign matter was added in the form of a pill during this period. In order to obtain a crystal having the electrical characteristics of curve A in Fig. 7A, an amount of the foreign matter was added in a single time such that about 1019 impurity atoms per cubic centimeter of crystal were added. With a melt of about 50 g, this results in a pill with about 10 in gallium dioxide. An equal amount of boron in the form of a germanium could also have been used.

   The lead result can also be achieved with a single burst of gas such as boron trichloride or gallium trichloride with about twice the amount of the desired foreign substance, since only about half of the gas goes into solution with greed melt. The pull rate was then increased to 0.0025 cmls, drawing the remainder of the melt away. Materials that were created in this way are used for voltage stabilization because of their low reverse voltage.



  Example 4 To obtain a crystal having the characteristic of curve B in Fig. 7A, the impurities were fed in several pills or gradually by a gas stream. The start of the process went exactly as in example 3 and, after the drawing speed had remained at 0.00025 ens for several minutes, a pill with about 2 ng of gallium germanium alloy containing about 0.35% gallium was added after one of the methods described. This brought the excess concentration of the foreign substance to around 102 atoms per cm3. Then three pills of a germanium gallium alloy with about 0.05 o gallium were added to the melt at intervals of about one second.

   Finally, a second 5 mg pill of germanium gallium with about 1.4 o / o gallium was added. The remainder of the melt was then used up at a drawing speed of about 0.0025 em / s. It should be noted that the width and electrical characteristics (e.g.

   B. the blocking voltage) of the p-n connection thus generated can be varied as desired by changing either the size of the pills, the composition of the pills or also their number or chronological sequence or the drawing speed. A crystal with this characteristic can also be obtained using the gas flow method. The first addition of the foreign matter can be caused by a sudden gas flow of about. 10 cm- 'hydrogen with about 5 ¿101e atoms / cm3 gallium trichloride or with another gas that contains the foreign substance in sufficient concentration.

   In the second stage of the process, the gas would be supplied in constant flow for about one minute, in such a way that the concentration in the crystal changes by about 5 ¿104 atoms / cm3. In order to bring the curve down to the final value of the specific resistance, a second sudden addition of about 10 cm3 of hydrogen with the same content of foreign matter must be made. Crystals produced in this way preferably contain p-n compounds; they can be produced according to the desired conditions for use as a rectifier or transistor.



  Example 5 To produce a crystal having the characteristic of curve C in Fig. 7A, the apparatus was operated as described above, except that the initial pulling rate was 0.0025 em / s. The crystal was allowed to grow in diameter to about 2.2 cm by lowering the temperature to about 935 ° C. while the pull rate remained the same for 7 to 8 minutes. Hydrogen with a sufficiently high content of the foreign matter to change the foreign matter concentration in the crystal by about 5 ¿103 atoms / em3 was supplied in a constant flow over a period of 3 to 4 minutes, the pulling speed always being kept constant at 0 , 0025 em / s.

   The only condition that the gaseous compound used must meet is that if the vapor pressure of the foreign substance is sufficient, the semiconductor properties of the crystal must not be impaired and that it does not corrode the apparatus. As mentioned above, the trichlorides of gallium and boron prove to be satisfactory. It is conceivable that such a crystal could be made using a large number of small pills; the accuracy with which a constant slope of the curve can be approximated depends on the number of pills used. Crystals produced according to this example are used for rectifiers with a large blocking resistance.

      Example 6 Curve A in Fig. 7B relates to a crystal manufactured by a similar manufacturing process as that whose characteristic is shown in curve A in Fig. 71, except that after the crystal was brought into the p-region , a pill made of an excess electron generating material is added. Such a process proceeds as follows: After the drawing speed has been kept constant at 0.00025 em / s for a few minutes, a 5 mg pill of gallium-germanium with about 1.4 o gallium is added for an initial melt quantity of 50 g . After a period of 5 to 10 seconds, a pill of 10 mg arsenic trioxide or pure arsenic is added.

   (The reason that an arsenic-germanium alloy was not used here is because the solubility of arsenic in germanium is so low that a pill that is too large would be required.) After this second stage, the draw rate was 0.00025 a / s hold for about 8 minutes. Then the speed was increased to 0.0025 em / s and the rest of the melt was used up. The crystals obtained in this way have been successfully applied in na-p-n transitions. A variation of the width d of the main area affects the frequency response of the transistor. 1e is smaller than d, the higher the frequencies that can be transmitted.

   The width of this area can be changed by choosing the time interval between adding the two pills or by changing the speed of the drawing. One of the curve _l, Fig. 7B corresponding crystal became more specific after the main zone. Bred resistance because it was to be used as a transistor, this zone having to take on the role of the emitter.

   It is desirable that the emitter region of a transistor contains an increased concentration of impurities.



  <I> Example 7 </I> The first part of the crystal, the characteristic of which is shown in curve B of Fig. 7B, was produced in exactly the same manner as that of which the characteristic is shown by curve B in Fig. 7A. After the last addition of foreign substances, however, the pulling speed was kept at 0.00025 cm / s for about 5 minutes, whereupon foreign substances, this time those that result in an excess of electrons instead of a deficiency, were added. Such crystals are also used for n-p-n transistors.

           Example <I> 8 </I> Curve C, Fig. 7B shows the characteristics of a crystal that was generated by adding the foreign matter by a gas or by a plurality of pills, namely the foreign matter became twice as fast and in added half the time, as described in example 5. After a time interval of about 15 minutes, the same process was repeated with a foreign substance which causes the reverse conductivity type to develop. <I> Example 9 </I> In order to produce the crystal, the specific resistance of which is shown in Fig. 8, one had to start with a crystal with a specific resistance of at least 10 ohm 3 cm, or better at least 20 ohm 3 cm.

   After the crystallization had started as in Example 1 and after the first zone with a resistivity of about 20 ohms 3 had been formed, the pull rate was reduced to zero while the temperature remained at 980 ° C. for several minutes. Then a second zone of constant conductivity was formed in exactly the same way as described in Example 1, the specific resistance being about 10 ohm 3 cm. The pull was then stopped again and the temperature left at 980 ° C for a few minutes and then the remainder of the melt was pulled away at a constant rate.

   Zone 77-7S refers to that section of the crystal that was pulled at a constant speed of 0.0075 cm / s, while the diameter increased to the desired value (in this case to 2.2 en) . In zone 78-79 the specific resistance is constant, which was achieved by a decrease in visual speed from 0.0075 to 0 cm / s and a simultaneous increase in temperature from 935 to 980 C. Zone 79-80 , in this example about 0.25 en thick, resulted from the fact that this part of the crystal remained in contact with the melt for about 5 minutes, as a result of which the crystal was thermally changed from n- to p-type.

   Zone 80-81 is again a zone of constant conductivity, formed in the same way as zone 78-79, except that the pulling speed was delayed twice as fast. The p-zone 81-82 was generated in the same way as the zone 79-80 by a heat treatment, finally the crystal followed its normal solidification curve in the range 82-83, in that the crystal here with the constant speed from 0,

  0025 cm / s was pulled. Crystals with such n-p-n transition zones are produced without the use of foreign matter. There is of course no obstacle to combining the thermal treatment with any of the methods of adding foreign matter and having more options for designing the ra-p-n. Transition zones. Crystals that have been produced using this thermal process,

   are suitable for application: g as connection transistors.



  Instead of the use of germanium mentioned in the description, other suitable materials can of course also be used. So was z. B. silicon is used and these crystals also had excellent electrical properties.

 

Claims (1)

PATENTANSPRUCH I Verfahren zur Herstellung von Halbleiter- Kristallen nach dem Patentanspruch des Hauptpatentes, wobei ein Kristallkeim in eine Schmelze des Materials eingetaucht wird, da durch gekennzeichnet, dass der Keim mit ver änderlicher Geschwindigkeit aus der Schmelze gezogen wird. UNTERANSPRÜCHE 1. Verfahren gemäss Patentanspruch I, da durch gekennzeichnet, dass der Keim und der cie Schmelze enthaltende Tiegel relativ zuein ander rotieren, während der Keim weggezogen wird. 2. Verfahren gemäss Patentansprueh I und Unteranspruch 1, dadurch gekennzeich net, dass man den Keim während der Zieh periode in eine schwingende Bewegung ver setzt. 3. PATENT CLAIM I Process for the production of semiconductor crystals according to the patent claim of the main patent, wherein a crystal nucleus is immersed in a melt of the material, characterized in that the nucleus is drawn from the melt at a variable speed. SUBClaims 1. The method according to claim I, characterized in that the seed and the crucible containing the melt rotate relative to one another while the seed is pulled away. 2. The method according to claim I and dependent claim 1, characterized in that the germ is set in an oscillating movement during the drawing period. 3. Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteransprüehen 1 und 2, dadurch ge kennzeichnet, dass der Keim mit einer Ge- sehwindiakeit zwischen 0,00025 bis 0,015 cm/s weggezogen wird. 4. Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteranspruch 1, dadurch gekennzeich net, dass die Rotationsgeschwindigkeit 50 bis 5000 Umdrehungen pro Minute beträgt. 5. Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteransprüchen 1 und 4, dadurch ge kennzeichnet, dass die Rotationsgeschwindig keit einige hundert Umdrehungen pro Minute beträgt. 6. Verfahren gemäss Patentansphueh I und Unteransprüchen 1 und 2, dadurch ge kennzeichnet, dass der Keim mit einer Fre quenz von 10 bis 500 Schwingungen pro Se kunde bewegt wird. 7. Method according to patent claim 1 and dependent claims 1 and 2, characterized in that the germ is withdrawn at a speed of between 0.00025 and 0.015 cm / s. 4. The method according to claim I and dependent claim 1, characterized in that the rotational speed is 50 to 5000 revolutions per minute. 5. The method according to claim I and dependent claims 1 and 4, characterized in that the rotational speed is a few hundred revolutions per minute. 6. The method according to patent claim I and dependent claims 1 and 2, characterized in that the germ is moved at a frequency of 10 to 500 oscillations per second. 7th Verfahren gemäss Patentanspruch I, dadurch gekennzeiehnet, dass der Keim min- destels so lange mit der Schmelze in Berüh rung bleibt, bis er mit ihr in ein thermisches Gleichgewicht kommt, und erst dann der Keim von der Schmelze weggezogen wird. 8. Verfahren gemäss Patentansprueh I, dadurch gekennzeichnet, dass die Ziehge schwindigkeit so verzögert wird, dass der spezifische Widerstand des sieh bildenden Kristalles konstant bleibt, und dass die Tem peratur der Schmelze während des Ziehvor ganges so erhöht wird, dass der Querschnitt des Kristalles konstant bleibt. 9. Method according to patent claim I, characterized in that the nucleus remains in contact with the melt at least until it comes into thermal equilibrium with it, and only then is the nucleus pulled away from the melt. 8. The method according to patent claim I, characterized in that the Ziehge speed is delayed so that the specific resistance of the forming crystal remains constant, and that the temperature of the melt during the Ziehvor course is increased so that the cross section of the crystal constant remains. 9. Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteranspruch 7, dadurch gekennzeieh- net, dass der Kristallkeim während weniger als 10 Minuten mit der Schmelze in Kontakt bleibt, dann bei zuerst konstant bleibender Ziehgesehwindigkeit weggezogen wird, so dass der Durchmesser des sieh bildenden Kristalles auf eine gewünschte Grösse wächst und dann der Kristall mit einer anfänglichen Geselwin- digkeit von etwa 0,0075 em/s bei einer Tempe ratur von etwa 935 C weggezogen wird; dass dann die Ziehgeschwindigkeit allmählich ver zögert wird und gleichzeitig die Temperatur bis auf 980 C erhöht und schliesslich der Rest der Schmelze weggezogen wird. 70. A method according to claim 1 and dependent claim 7, characterized in that the crystal nucleus remains in contact with the melt for less than 10 minutes, then is pulled away with the pulling speed initially remaining constant, so that the diameter of the crystal forming it grows to a desired size and then pulling the crystal away at an initial velocity of about 0.0075 em / s at a temperature of about 935 C; that then the drawing speed is gradually delayed and at the same time the temperature is increased to 980 C and finally the rest of the melt is drawn away. 70. Verfahren gemäss Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass während des Ziehprozesses ein solcher Fremdstoff zugefügt wird, dass ein der ursprünglichen Schmelze entgegengesetzter Leitungstyp entsteht, so dass eine p-n-Grenzsehieht erzeugt wird. 11. Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteranspruch 10, dadurch gekennzeich net, dass mindestens eine Pille zur Schmelze zugesetzt wird, die den genannten Fremd stoff enthält. 12. Verfahren gemäss Patentansprach I und Unteransprueh 10, dadurch gekenuzeich- net, dass ein Gas fnit der Schmelze in Kon takt gebracht wird, das den genannten Fremd stoff enthält. 13. Method according to patent claim I, characterized in that during the drawing process such a foreign substance is added that a conductivity type opposite to the original melt is created, so that a p-n boundary layer is created. 11. The method according to claim I and dependent claim 10, characterized in that at least one pill is added to the melt which contains the said foreign substance. 12. The method according to patent claim I and sub-claim 10, characterized in that a gas which contains the said foreign substance is brought into contact with the melt. 13th Verfahren gemäss Patentanspruel I und Unteranspruch 8, dadurch gekennzeich net, dass, nachdem die Zieligesehwindigkeit eine untere Grenze erreicht. hat., die Ziehge- seliwindi#ykeit wieder erhöht. wird und dann bei steigender Temperatur wieder verzögert wird. 14. Verfahren gemäss Patentanspruch I und -Linteranspruell@8, dadurch gekenn7eieli- net, dass der Keim vor der Verzögerung der Ziehgeschwindigkeit. mit einer allmählich ge- steigerten Geschwindigkeit bei abnehmender Temperatur weggezogen wird. 15. Method according to claim I and dependent claim 8, characterized in that after the target speed has reached a lower limit. has., the drawing flexibility increased again. and is then delayed again when the temperature rises. 14. The method according to patent claim I and -Linter claims @ 8, characterized in that the germ before the retardation of the drawing speed. is withdrawn at a gradually increasing rate with decreasing temperature. 15th Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteransprach 7, dadurch gekennzeich net, dass der Keim zuerst mit einer von etwa 0,0075 auf Null cm/s abnehmenden Geschwin digkeit weggezogen wird, während gleichzeitig die Temperatur ausgehend von 935 C erhöht wird, dass dann mindestens einmal die Ziehge- sehwindigkeit auf 0,0075 em/s erhöht und wieder wie im ersten Teil unter Regulierung der Temperatur verzögert wird, so dass Zonen konstanten spezifischen Widerstandes entste hen, die denjenigen Teilen des Kristalles ent sprechen, während denen die Geschwindigkeit verzögert wurde. 16. Method according to patent claim I and dependent claim 7, characterized in that the germ is first pulled away at a speed decreasing from about 0.0075 to zero cm / s, while at the same time the temperature is increased from 935 C, then at least once The pulling speed is increased to 0.0075 em / s and again, as in the first part, is delayed by regulating the temperature, so that zones of constant specific resistance arise which correspond to those parts of the crystal during which the speed was delayed. 16. Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteranspruch 10, dadurch gekennzeich net, dass der Keim während mehreren Minu ten mit der Schmelze in Kontakt bleibt bei einer konstanten Ziehgeschwindigkeit von 0,0075 cmls, sodann die Geschwindigkeit im Verlauf von etwa 5 Minuten auf etwa 0,0025 em/s reduziert wird und diese letztere Ge schwindigkeit für etwa 7 oder 8 Minuten bei behalten wird und ein den ursprünglichen Leitungstyp der Schmelze in den entgegenge setzten Leitungstyp umwandelnder Fremd stoff in Form einer aus dem Oxyd des betref fenden Fremdstoffes bestehenden Pille zuge fügt wird, derart, dass im Kristall eine p-n- Grenzfläche entsteht und dass der Rest der Schmelze mit beliebiger konstanter Ziehge schwindigkeit aufgebraucht wird. 17. Method according to claim 1 and dependent claim 10, characterized in that the germ remains in contact with the melt for several minutes at a constant drawing speed of 0.0075 cmls, then the speed over the course of about 5 minutes to about 0.0025 cm / s is reduced and this latter speed is maintained for about 7 or 8 minutes and a foreign substance which converts the original conductivity type of the melt into the opposite conductivity type is added in the form of a pill consisting of the oxide of the foreign substance in question that a pn interface is created in the crystal and that the rest of the melt is used up with any constant drawing speed. 17th Verfahren gemäss Patentanspruch I, dadurch gelennzeichnet, dass während der Ziehperiode zur Schmelze mindestens ein Ele ment aus der Gruppe Gallium und Bor zuge setzt wird, so dass es mit der Schmelze in Lösung geht. 18. Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteranspruch 7, dadurch gekennzeich net, dass die Ziehgeschwindigkeit mindestens einmal während mehrerer Minuten eine Grösse von 0,00025 cm/s hat, dass dann zur Schmelze Fremdstoffe zugesetzt werden, welche den zum ursprünglichen Leitungstyp entgegenge- setzten Leitungstyp erzeugen, so dass im Kri stall eine p-n-Übergangszone entsteht. 19. Method according to claim 1, characterized in that at least one element from the group of gallium and boron is added to the melt during the drawing period so that it goes into solution with the melt. 18. The method according to claim I and dependent claim 7, characterized in that the pulling speed at least once for several minutes has a size of 0.00025 cm / s, that foreign substances are then added to the melt which have the opposite line type to the original line type generate so that a pn transition zone is created in the crystal. 19th Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteranspruch 8, dadurch gekennzeich net, dass der Keim mit einer allmählich bis auf etwa 0,00025 emls abnehmenden Geschwin digkeit weggezogen wird bei gleichzeitiger Er höhung der Temperatur von etwa 935 C auf etwa 980 C, so dass eine Zone konstanten spezifischen Widerstandes 'von etwa einem Drittel der gesamten Kristallänge entsteht, worauf die Ziehgeschwindigkeit von etwa 0,00025 em/s für mehrere Minuten beibehalten wird und eine Pille einer Legierung von Ger manium mit einem der Elemente Gallium und Bor zugefügt wird, die eine genügende Menge des Fremdstoffes enthält, um die Über schusskonzentration des sich bildenden Kri stalles von etwa 1015 auf etwa 102 Atome/cm3 zu reduzieren; Method according to claim 1 and dependent claim 8, characterized in that the germ is withdrawn at a speed gradually decreasing to about 0.00025 emls while increasing the temperature from about 935 C to about 980 C, so that a zone is constant Resistivity 'of about one third of the total crystal length is created, whereupon the pulling rate of about 0.00025 em / s is maintained for several minutes and a pill of an alloy of ger manium with one of the elements gallium and boron is added, which is a sufficient amount Contains the foreign matter in order to reduce the excess concentration of the crystal that forms from about 1015 to about 102 atoms / cm3; dass dann der Kristall auf p- Leitung gebracht wird mit einer Überschuss- konzentration von 102 Atomenlcm3 durch der art dosierte Beigabe einer Vielzahl von Pillen der gleichen Germaniumlegierung, dass eine kontinuierliche p-n-Übergangszone entsteht, da.ss ferner dann eine neue Pille mit gleichen chemischen Eigenschaften wie die zuerst ver wendete zugegeben wird, that the crystal is then brought to p-conduction with an excess concentration of 102 atoms / cm3 by adding a large number of pills of the same germanium alloy in such a way that a continuous pn transition zone is created, and then a new pill with the same chemical Properties like the one used first is added, so dass der spezifi sche Widerstand auf etwa 1015 Überschuss- Fremdatomelcm-' gebracht wird und dass schliesslich der Ziehprozess mit einer konstan ten Geschwindigkeit zu Ende geführt wird. 20. Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteranspruch 18, dadurch gekennzeich net, dass die erste und die letzte Zugabe von Fremdstoffen .durch einen plötzlichen Einlass einer bestimmten Menge eines Gases, das den gewünschten Stoff enthält, erfolgt, und dass in der Übergangszone der Fremdstoff allmäh lich durch einen dosierten gleichmässigen Gas fluss zugeführt wird. 21. so that the specific resistance is brought to about 1015 excess foreign atoms and that finally the drawing process is completed at a constant speed. 20. The method according to claim I and dependent claim 18, characterized in that the first and the last addition of foreign substances .by a sudden inlet of a certain amount of a gas containing the desired substance, and that the foreign substance is gradually added in the transition zone Lich is supplied by a metered, even gas flow. 21st Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteranspruch 19, dadurch, gekennzeich net, dass nach einem gewissen Zeitintervall ein den gleichen Leitungstyp wie den ur- spriinglich in der Schmelze vorhandenen er zeugenden Fremdstoff zugegeben wird, tuid zwar in einer solchen Menge, dass der Kristall zum ursprünglichen Leitungstyp zurückge bracht wird, so dass drei Zonen mit abwech selnden Leitungstypen entstehen. 22. Method according to patent claim I and dependent claim 19, characterized in that after a certain time interval a conductivity type of the same type as the foreign substance originally present in the melt is added, although in such an amount that the crystal becomes the original conductivity type is brought back, so that three zones with alternating line types are created. 22nd Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteranspruch 7, dadurch gekennzeich net, dass der Keim mit einer konstanten Ge schwindigkeit aus der Schmelze gezogen wird, während dauernd ein Fremdstoff zugegeben wird, der den dem ursprünglichen Leitungs typ der Schmelze entgegengesetzten Leitungs typ erzeugt, so dass der Kristall vom einen in den andern Leitungstyp übergeht. 23. Method according to claim 1 and dependent claim 7, characterized in that the nucleus is pulled out of the melt at a constant speed while a foreign substance is continuously added which generates the line type opposite to the original line type of the melt, so that the crystal passes from one type of line to the other. 23. Verfahren gemäss Patentanspruch I und Unteranspruch 7, um einen Germanium kristall mit mindestens einer n-p-Grenze vor geschriebener elektrischer Charakteristiken zu erzeugen, dadurch gekennzeichnet, dass ein Germaniumkeim in eine Schmelze von Germa nium mit einer Elektronenüberschuss-Verun reinigung getaucht wird und einige Minuten bis zur Erreichung des thermischen Gleichge wichtes an der Grenzschicht in der Schmelze gelassen wird, worauf die Ziehgeschwindig keit von etwa 0,0075 auf etwa 0,00025 cm/s reduziert wird unter gleichzeitiger Steigerung der Temperatur von etwa 935 auf etwa 980 C, so dass eine Zone konstanten spezifischen Wi derstandes entsteht, worauf die Ziehgeschwin digkeit während einiger Minuten auf etwa 0, Method according to claim 1 and dependent claim 7 to produce a germanium crystal with at least one np limit prescribed electrical characteristics, characterized in that a germanium nucleus is immersed in a melt of germa nium with an excess of electrons impurity and a few minutes up to Achievement of thermal equilibrium is left at the boundary layer in the melt, whereupon the Ziehgeschwindig speed from about 0.0075 to about 0.00025 cm / s is reduced while increasing the temperature from about 935 to about 980 C, so that a zone constant specific resistance arises, whereupon the drawing speed drops to about 0 for a few minutes. 00025 cn/s gehalten wird unter Beifügung einer p-Leitung erzeugenden Germaniumlegie rung, so dass die Überschusskonzentration des Kristalles von etwa 1016 auf etwa 102 Atome cm3 zurückgeht, dass weiter mit einer Vielzahl von Pillen aus Germaniumlegierung mit dem gleichen Fremdstoff der Kristall in das p- Gebiet gebracht wird, wobei die Zeitfolge der Beigaben entsprechend der gewünschten Breite der Übergangszone gewählt wird, dass dann eine Pille zugegeben wird, die den glei chen Fremdstoff in etwa der gleichen Menge wie die erste enthält, wobei die Ziehgeschwin- digkeit konstant auf etwa 0,00025 cm/s gehal ten wird für etwa weitere fünf Minuten; 00025 cn / s is kept with the addition of a p-line generating germanium alloy, so that the excess concentration of the crystal goes back from about 1016 to about 102 atoms cm3, that further with a large number of pills made of germanium alloy with the same foreign matter the crystal into the p - Area is brought, the time sequence of the additions being selected according to the desired width of the transition zone, so that a pill is then added that contains the same foreign substance in approximately the same amount as the first, with the draw speed constant at about 0 .00025 cm / s is held for about another five minutes; dass dann der gleiche Prozess von Fremdstoff beigaben in umgekehrter Reihenfolge und mit einem Elektronenüberschuss erzeugenden Fremdstoff wiederholt wird. 24. Verfahren gemäss Patentanspruch I, dadurch gekennzeichnet, dass während der Ziehperiode zur Schmelze mindestens ein Ele ment aus der Gruppe Antimon und Arsen zugesetzt wird, so dass es mit der Schmelze in Lösung geht. PATENTANSPRUCH II Halbleiter-Kristall, hergestellt nach dem Verfahren gemäss Patentanspruch I, gekenn zeichnet durch mindestens eine Zone eines Leitungstyps, wovon mindestens ein Teil stück einen konstanten spezifischen Wider stand hat, und zwar in Längs- und Querrich tung gemessen. that then the same process of adding foreign matter is repeated in reverse order and with an excess of electrons generating foreign matter. 24. The method according to claim I, characterized in that at least one element from the group of antimony and arsenic is added to the melt during the drawing period, so that it goes into solution with the melt. PATENT CLAIM II Semiconductor crystal, produced by the method according to claim I, characterized by at least one zone of a conduction type, of which at least a part has a constant specific resistance, measured in the longitudinal and transverse direction. UNTERANSPRÜCHE 25. Halbleiter-Kristall gemäss Patentan spruch 1I, gekennzeichnet durch zwei Zonen konstanter, aber unter sieh verschiedener Leit- f ähigkeit. 26. Halbleiter-Kristall gemäss Patentan spruch II, gekennzeichnet durch mindestens eine Grenzfläche, die Zonen entgegengesetzter Leitungstypen trennt, wobei mindestens eine der angrenzenden Zonen in Längs- und Quer richtung einen konstanten spezifischen Wider stand hat. 27. SUBClaims 25. Semiconductor crystal according to patent claim 1I, characterized by two zones of constant, but with different conductivity. 26. Semiconductor crystal according to Patent Claim II, characterized by at least one interface which separates the zones of opposite conductivity types, at least one of the adjacent zones having a constant specific resistance in the longitudinal and transverse directions. 27. Halbleiter-Kristall gemäss Patentan spruch II und Unteranspruch 26, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine der an grenzenden Zonen einen sieh allmählich ver ändernden spezifischen Widerstand besitzt.. 28. Halbleiter-Kristall -emäss Patentan spruch II, dadurch gekennzeichnet, dass er eine Reinheit von mindestens 99 "/@ besitzt. Semiconductor crystal according to claim II and dependent claim 26, characterized in that at least one of the bordering zones has a gradually ver changing resistivity .. 28. Semiconductor crystal according to claim II, characterized in that it has a purity of has at least 99 "/ @.
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