BR112018003532A2 - placa de apoio de aumento de campo magnético para teste de pastilha mram - Google Patents
placa de apoio de aumento de campo magnético para teste de pastilha mramInfo
- Publication number
- BR112018003532A2 BR112018003532A2 BR112018003532A BR112018003532A BR112018003532A2 BR 112018003532 A2 BR112018003532 A2 BR 112018003532A2 BR 112018003532 A BR112018003532 A BR 112018003532A BR 112018003532 A BR112018003532 A BR 112018003532A BR 112018003532 A2 BR112018003532 A2 BR 112018003532A2
- Authority
- BR
- Brazil
- Prior art keywords
- magnetic field
- memory device
- magnetic
- mram
- support plate
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
- G11C29/56016—Apparatus features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1207—Testing individual magnetic storage devices, e.g. records carriers or digital storage elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/16—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using elements in which the storage effect is based on magnetic spin effect
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/006—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation at wafer scale level, i.e. wafer scale integration [WSI]
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C2029/1206—Location of test circuitry on chip or wafer
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/50—Marginal testing, e.g. race, voltage or current testing
- G11C2029/5002—Characteristic
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
- G11C2029/5602—Interface to device under test
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Mram Or Spin Memory Techniques (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
um método e aparelho para testar um dispositivo de memória magnética é fornecido. o método começa quando uma placa de apoio de aumento de campo magnético é instalada no equipamento de teste. a placa de apoio de aumento de campo magnético pode ser instalada no mandril de pastilha de uma estação de sonda de teste de pastilha. o dispositivo de memória magnética é instalado no equipamento de teste e um campo magnético é aplicado ao dispositivo de memória magnética. o campo magnético pode ser aplicado em plano ou perpendicular ao dispositivo de memória magnética. o desempenho do dispositivo de memória magnética pode ser determinado com base no campo magnético aplicado ao dispositivo. o aparelho inclui uma placa de apoio de aumento de campo magnético adaptada para encaixar um equipamento de teste, possivelmente no mandril de pastilha. a placa de apoio de aumento de campo magnético é fabricada de materiais magnéticos de alta permeabilidade, como aço de baixo carbono, com uma espessura baseada no campo magnético usado em teste.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US14/836,860 US20170059669A1 (en) | 2015-08-26 | 2015-08-26 | Magnetic field enhancing backing plate for mram wafer testing |
PCT/US2016/044593 WO2017034755A1 (en) | 2015-08-26 | 2016-07-28 | Magnetic field enhancing backing plate for mram wafer testing |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
BR112018003532A2 true BR112018003532A2 (pt) | 2018-09-25 |
Family
ID=56686909
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
BR112018003532A BR112018003532A2 (pt) | 2015-08-26 | 2016-07-28 | placa de apoio de aumento de campo magnético para teste de pastilha mram |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20170059669A1 (pt) |
EP (1) | EP3341942A1 (pt) |
JP (1) | JP2018534757A (pt) |
KR (1) | KR20180043281A (pt) |
CN (1) | CN107924706A (pt) |
BR (1) | BR112018003532A2 (pt) |
CA (1) | CA2991790A1 (pt) |
TW (1) | TW201719190A (pt) |
WO (1) | WO2017034755A1 (pt) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3388849B1 (en) * | 2017-04-11 | 2022-06-08 | Karlsruher Institut für Technologie | Magnetic probe based test method for spintronic technologies |
US10684310B2 (en) * | 2017-12-27 | 2020-06-16 | Spin Memory, Inc. | Magnetic field transducer mounting apparatus for MTJ device testers |
US10962590B2 (en) * | 2017-12-27 | 2021-03-30 | Spin Memory, Inc. | Magnet mounting apparatus for MTJ device testers |
US10877089B2 (en) * | 2018-09-24 | 2020-12-29 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Semiconductor wafer testing system and related method for improving external magnetic field wafer testing |
US10573364B1 (en) | 2018-12-13 | 2020-02-25 | Nxp Usa, Inc. | Magnetic disturb diagnostic system for MRAM |
CN114660515A (zh) * | 2020-12-22 | 2022-06-24 | 财团法人工业技术研究院 | 磁场结构 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4530072A (en) * | 1979-12-10 | 1985-07-16 | Control Data Corporation | Bubble memory bias field structure |
DE60139682D1 (de) * | 2000-06-21 | 2009-10-08 | Koninkl Philips Electronics Nv | Magnetische mehrschichtstruktur mit verbessertem magnetfeldbereich |
CN100541653C (zh) * | 2003-09-02 | 2009-09-16 | Nxp股份有限公司 | 用于包括磁敏材料的电路的有源屏蔽 |
DE102007041608A1 (de) * | 2007-09-03 | 2009-03-05 | Suss Microtec Test Systems Gmbh | Prober zum Testen von Bauelementen |
KR20100104396A (ko) * | 2009-03-17 | 2010-09-29 | 엘지이노텍 주식회사 | 자기저항센서를 이용한 검체의 신호검출 시스템 및 이를 이용한 검출방법 |
US8514615B2 (en) * | 2010-09-30 | 2013-08-20 | Everspin Technologies, Inc. | Structures and methods for a field-reset spin-torque MRAM |
US8557610B2 (en) * | 2011-02-14 | 2013-10-15 | Qualcomm Incorporated | Methods of integrated shielding into MTJ device for MRAM |
US9255875B2 (en) * | 2011-10-25 | 2016-02-09 | Jentek Sensors, Inc. | Method and apparatus for inspection of corrosion and other defects through insulation |
KR20140035013A (ko) * | 2012-09-12 | 2014-03-21 | 삼성전자주식회사 | 자기장 생성부 및 이것을 포함하는 반도체 테스트 장치 |
US20140139209A1 (en) * | 2012-11-19 | 2014-05-22 | Qualcomm Incorporated | Magnetic automatic testing equipment (ate) memory tester |
JP6026306B2 (ja) * | 2013-02-05 | 2016-11-16 | 株式会社東栄科学産業 | 磁気メモリ用プローバチャック及びそれを備えた磁気メモリ用プローバ |
US9368232B2 (en) * | 2013-03-07 | 2016-06-14 | Qualcomm Incorporated | Magnetic automatic test equipment (ATE) memory tester device and method employing temperature control |
US9678179B2 (en) * | 2014-03-13 | 2017-06-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Tester for testing magnetic memory |
US9818523B2 (en) * | 2014-08-19 | 2017-11-14 | Toshiba Memory Corporation | Electromagnet, tester and method of manufacturing magnetic memory |
-
2015
- 2015-08-26 US US14/836,860 patent/US20170059669A1/en not_active Abandoned
-
2016
- 2016-07-28 KR KR1020187005497A patent/KR20180043281A/ko unknown
- 2016-07-28 WO PCT/US2016/044593 patent/WO2017034755A1/en active Application Filing
- 2016-07-28 EP EP16751725.9A patent/EP3341942A1/en not_active Withdrawn
- 2016-07-28 BR BR112018003532A patent/BR112018003532A2/pt not_active Application Discontinuation
- 2016-07-28 TW TW105123954A patent/TW201719190A/zh unknown
- 2016-07-28 CA CA2991790A patent/CA2991790A1/en not_active Abandoned
- 2016-07-28 JP JP2018509883A patent/JP2018534757A/ja active Pending
- 2016-07-28 CN CN201680048955.1A patent/CN107924706A/zh active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2018534757A (ja) | 2018-11-22 |
US20170059669A1 (en) | 2017-03-02 |
TW201719190A (zh) | 2017-06-01 |
CA2991790A1 (en) | 2017-03-02 |
KR20180043281A (ko) | 2018-04-27 |
EP3341942A1 (en) | 2018-07-04 |
CN107924706A (zh) | 2018-04-17 |
WO2017034755A1 (en) | 2017-03-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
BR112018003532A2 (pt) | placa de apoio de aumento de campo magnético para teste de pastilha mram | |
BR112014025384A8 (pt) | método e sistema para executar ensaio automatizado e métodos para executar teste reflexivo em vários exemplares | |
GB2515983A (en) | Methods and compositions for providing a preeclampsia assessment | |
BR112017007965A8 (pt) | Método implantado por computador para inferir a atividade de uma via de sinalização celular de tgf-b em um indivíduo; aparelho para inferir a atividade de uma via de sinalização celular de tgf-b em um indivíduo; meio de armazenamento não transitório; programa de computador; kits para medir níveis de expressão de três ou mais genes-alvo da via de sinalização celular de tgf-b em uma amostra de um indivíduo; inferir a atividade de uma via de sinalização celular de tgf-b em um indivíduo; inferir a atividade de uma via de sinalização celular de tgf-b em um indivíduo; e uso do kit | |
CL2019003286A1 (es) | Ensayos de diagnóstico para detectar, cuantificar y/o rastrear microbios y otros analitos. | |
BR112018005876A2 (pt) | serviço de telemetria e/ou localização com base em privilégio de dispositivo móvel | |
BR112017011172A2 (pt) | atenuação de interferência para sinais de referência de posicionamento | |
BR112016019836A2 (pt) | método para analisar uma amostra de um sujeito, dispositivo de diagnóstico para utilização no diagnóstico da endometriose, kit, uso de um biomarcador, e, método para aumentar uma resposta de anticorpos em um sujeito | |
BR112014018729A8 (pt) | Método e aparelho para testar materiais de circulação perdidos para formações subterrâneas | |
TR201907737T4 (tr) | Test numunesi desteği ve çarpışma testi aparatı ve destek kullanılarak yapısal elemanın çarpışma testi yöntemi. | |
BR112017003895B8 (pt) | Aparelho de teste de amostras | |
BR112016016489A2 (pt) | Aparelho de teste de placa | |
BR112017007128A2 (pt) | métodos e equipamentos para teste dos transmissores de potência sem fio e sistemas | |
AR065451A1 (es) | Un metodo y un sistema para la autenticacion dinamica de sonda para probar y monitorear software | |
BR112015015560A2 (pt) | método de calibração para ferramentas de indução de múltiplos componentes | |
BR112018069883A2 (pt) | execução de uma medição de informação de estado de canal em uma comunicação do tipo máquina aperfeiçoada | |
BR112019006862A2 (pt) | dispositivo de análise e método para testagem de uma amostra | |
BR112017004207A2 (pt) | dispositivo de teste e método para testar analito em amostra coletada | |
BR112018008464A2 (pt) | método e dispositivos para observar um campo magnético de um volume de material, e uso do dispositivo | |
BR112017017878A2 (pt) | método, suporte e kit de coleta de ácido(s) nucleico(s) | |
BR112018005784A2 (pt) | sistema e método para testar degradação de dispositivo fotossensível | |
BR112016024015A2 (pt) | método, dispositivo de armazenamento legível por computador e sistema | |
BR112018069279A2 (pt) | métodos analíticos e matrizes para uso no mesmo | |
WO2016112174A3 (en) | Biomarkers of Sleep Deprivation and Cognitive Impairment | |
AR112602A1 (es) | ANTICUERPOS ANTI-TrkB |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
B11A | Dismissal acc. art.33 of ipl - examination not requested within 36 months of filing | ||
B11Y | Definitive dismissal acc. article 33 of ipl - extension of time limit for request of examination expired |