BE625516A - - Google Patents

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B25/00Single-crystal growth by chemical reaction of reactive gases, e.g. chemical vapour-deposition growth
    • C30B25/02Epitaxial-layer growth

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  • Materials Engineering (AREA)
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  • Organic Chemistry (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

       

   <Desc/Clms Page number 1> 
 
 EMI1.1 
 ton dispositifs aewi-oôndttotew?  ; 
 EMI1.2 
 r!. .1'G'3k1';ikl ! rapporte à 1,7LC 1'it5t' ,",ple,i tion, da disjpoettiJ'e qui comportent '-"##"'' placiez ooaohes dont les coaduotibilitée eont d  type diffusât  t/ott dont lea ûenta'oae de dopage sont 1''re,.; ;., du, oorpe  # l-*oottduo1î ar,-v:' on partout d'un, mélaagô d'un  combinaison dr a!., e,,:i . ccade.. eoui d.Mm.ae .et d'an ga  de. rlàotion, eû':?. partioAIi *1 d 3,*hydrogào , QtM"*6fA'e<!'  or ari .,''##- k'i7ti"'.¯401,'i" '.iV'!l.1K1 oônetituo 4.t li,lt!lÏl. prooédé, - qui convient, riielie,/o obtenir dee couche  f . semi-ooaduotrioea apéelalement ltxld'r, 4'Ë! ooûduotibilté* # i$a-di,&ie'.,7.-/.//,. ....... \ï/ , 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 
 EMI2.1 
 t:tz' 't,t i.' x#d,.b 3?la%";';

   haut, on cômmaaee par précipiter la corps  enii-oondftôiftW?  - .'-y.,. puis on coupe .'r d... ma-a 'dtt -' ; '"/%' aarp emi--ooaiueux . aaxe en acaé ôôt '.;;"; de nouveau précipité, et pendant l'interruption de.'l'ârri**;,. vée de . am'b.raor 'ue da, ai di-aiduaty , .';.\: -la. partie ce oorpa seal-oonduoteuff q.ia.1 a d4jà été séparée est 11 '.

   J.i.4,GL .Ci i 4YpGsi 4s.w r.M'i.k.w ,Y,Ar, .Le produits de dopage et, qu'iau .'.moiûe'..lao&&e extérieure du iQl ae'"'iMi.lu.i;t " u' v 014 'iiuJ.l1 1 "%*-,# in45i411Â.i.4i 6S LiiY '< ¯ /v pendant la ooupure'de l'arrivée #%* .QQmhtn*i$Js-;$ ''\'';..''éoz<aac' aorp t. anttur,' otl' interrotaprii . gF..0alet'i"r .I.itita'E&,?Xi Irtti Ilr. de réaction faire le., vide. dans' la ohambrû d  réaction. d 6 t est de l'hydrogène  aoa arrivée dans la ouve de xa3,aH ... ne sera avantageusement 13 interrompuei pour qu'aucune '':J évaporât ion du corp9'semlooadnol:aM'...'M' B "'pjc'odae' d'eiï nme, ai4tr' l'interruption de la déoompoeition, on peut -';' par exemp5.r, haû'.r 1 acxp,.à.t.-.ca4r :

  d,.t.px par exemple, ohauff er le oorps, aemi-oonduoteur déà prjj5oi*Vt pité dana un courant d'hydrogène, aucune t3./.i#r4yid..r notable .du corps aerai-oonduoteur ne se produisant, main par; .;. contre, le produit de dopage;:, évaporé eat entraîné par Xè..-..- '# courent d'hydrogène, Itbidrôl4ne peut en otr atrca'efî  .r3.iaria,a,aa dee P-rodUtos 1nt 1an* > rda et ion l'élimineiîion des impuretéB produisant un  le silicium sera par exemple porté à Lxki irdl:?"1$G,'11l:: d' r . 



  J" rro :i ., are . , rc . d* / ' - , l'interruption de lié6ataoa,sw< tenant eo#pti ;.; du type de produit de dbpièé  * -,- ' tr xc,ement axc,r : 'ps.aA e srr rt;: , eonduetrloea, qui mont appauvries par évaporitiôn, dee 9*S>-±'- Î. aherch px:ianmi,.r tr# t,â.bs., moyen d  ) \ï<%, 
 EMI2.2 
 cette évaporation du produit du dopage, on peut en outre, 
 EMI2.3 
 ' augmenter aenaiblement W1 résistance spécifique du oor  .":';fH 

 <Desc/Clms Page number 3> 

   semi-conducteur     obtenu  par   précipitation,     tout   au moins 
 EMI3.1 
 dan  la  8ne napertioîelle 13a ici tiéral .la oorpa yo-1t6,-,'., doit Stre chauffe à une'température .itaenv'irQnlOO*0.;;

     en dessous   de la température de   fusion     de   la   substance     'Considéré   --\ 
Un procédé de   précipitation   des corps semi-con- ducteurs tel: que décrit ci-dessus,   cet     par   exemple   connu   par le brevet allemand   1   061 393.

   Dans ce procédé, des   barreaux. disposés     verticalement,     servent   de support pour   le .'corps,   semi-conducteur décomposé et .qui dont consit- tuée par le même corps semi-conducteur, sont ohauffés par passage direct du   courant   et aont   baignée     par    une   combinai-   .son     gageas    du   corps   semi-conducteur, sinei que per un gaz   , de réaction.

   Suivant     Impureté   de la   matière   de départ   utilisée,   le corps semi-conducteur   ainsi   obtenu est   plue     ou moins   fortement   souillé   par des produits de dopage, Quand on utilise un barreau   support   monocristallin, et   en     conduisant   la   réaction     d'une   manière convenable, en   parti-   culier en effectuant un   pré-traitement     de la   matière du   support, par   exemple en laportent incandescence, dans   un courant   d'hydrogène,

   on peut   arriver   à faire croître le   corps   semi-conducteur sous la forme   d'un     monocristal,   qui convient sans   traitement ultérieur   spécial, pour la   fabrication   d'éléments semi-conducteure. 



     Si, pendant   la   décomposition   du corps semi-conducteur, on   interrompt   suivant   Il invention,   l'arrivée de la   combinai-   son   gazeuse     du   corps Semi-conductuer,   par     exemple un     halo-   génure de   silicium,     comme   le silicochloroforme,   et     l'on     ' maintient.

   le   barreau support avec le coprs semi-conducteur   précipité   une température   élevée,     une     partie   du   produit , -   de dopage Reposé est   évaporée,   ce   qui   provoque un app[asu- vrissement de la couche   superficielle   du corpa semi-conduc- teur en   produits   de dopage.

   En particulier,   le$   corpe   tels ;-     que   le phosphore,l'arsenic, l'antimoine et   le     souffre,     qui   

 <Desc/Clms Page number 4> 

 
 EMI4.1 
 donnent une' aod't dc¯r z aaaa car : . ont .a,o r:; 1d dtl ,maa; 'qtte., ,,1'>OQ'(}:":,?a ' '.tels que .le )01'.,. -'lt1t'.;;"1.tW1it;qLÛ"dOt\'r.t/;'i;il} : une oonduct 1bilt6' :;iHo/p;;;:!'.,:t>Q)oêd', avivant It1niét1J/({i lion  mène donc. en règle générale,  ne diminution des d.)L ' .qui donnant une conductibilité do, type 'e:b.," 'O"f e*-';'d±, '1',.; "'Û,.,,",,;/,;,'; "..:",..,..,.:"".,,,,'/l>,.;.\,,:': ';,.. "," ".",>Í';"'.:C . 



  / si l'faporation  et eomplèt. 6n obtient , endroit / ainsi traité une ooû.Óhe:' r1ont:;ta:C()ndU:ctib11itc5e.".dtÍ',";;'::'f'Í3" type p*/ ,',. ' . ','\,'.i#;f<!]ctJ}{0";:i;'b;;'/:If\:0(;."k}0,111 a . i, " LI 1nventipn,.vf{'8tr.>eXpliCl"'6e;,U).,d.l3.:: ,n."..,><'tiF" ' servant- d'un exemple de réalisation. 'On" -,.Par de elliolum, - à.pu;t,Od t'{J:iâ+oênU1' ( dO>8tlari.fJtê,t\:',:;:,:;)I;;

   utilisant de l'hydrogène comme gaz de réaction   et dilution,-*   sur un barreau   support   également en silicium, un   barreau,,     silicium   dont la conductibilité   est     ,du:   type n et la   réels- '     tance     spécifique environ     1     Ohm/cm,     pendant   la   précipitation,.   le barreau support est porté à une température d'environ 
1100 à 1150 C.   Pendant     1  interruption     de la   Décomposition.

   on n'introduit   dans la cuve     de réaction   que de l'hydrogène et   l'on     chauffe   le barreau de silicium   obtenu   jusqu'à . environ 1340 C. Après   environ     une     heure,   on   introduit de   nouveau un   halogénure   de silane et l'on   continue-,le   dépôt de   silicium    de la   manière déjà décrite.     Par suite   de 
 EMI4.2 
 ' l'evaporatioa, la COl1obeO'btenue pendant 11 Interruption de # la décomposition, oOl1ohequise trouve maintenant à '1' in';;"':'};:::

  ' térieur   du.   corps déposé, a   une épaisseur   d'environ 10   et, sur   un   polissage   transversal   du barreau de   silicium   obtenu ' 
 EMI4.3 
 par prtSoiP1t8ti0I1,.etdéà.1,{ê à. l'oeil nUt, 8prè..vo" subi une attache convenable au moyen d'un aside. Bien ente' du, diverses V8riante',duprÓédé<1éot:1t.ont peutait.meni:':,>'>   possibles,   en   particulier l'emploi   du procédé n'est pas limité au,   silicium,     mais il peut également   être utilisé avec le   germanium   ou   le     carbure   de, silicium. '.'.j.''".



   <Desc / Clms Page number 1>
 
 EMI1.1
 your aewi-oôndttotew devices? ;
 EMI1.2
 r !. .1'G'3k1 '; ikl! relates to 1,7LC 1'it5t ', ", ple, i tion, da disjpoettiJ'e which include' -" ## "'' place ooaohes whose coaduotibilitée are of type diffusion t / ott whose ûenta'oae of doping are 1''re,.;;., du, oorpe # l- * oottduo1î ar, -v: 'one everywhere of a, melaagô of a combination dr a!., e ,,: i. ccade .. yes d.Mm.ae. and an ga de. rlàotion, eû ':?. partioAIi * 1 d 3, * hydrogào, QtM "* 6fA'e <!' or ari., '' ## - k'i7ti "'. ¯401,' i" '.iV'! l.1K1 oônetituo 4.t li, lt! lÏl. prooédé, - which is suitable, riielie, / o to obtain layer f. semi-ooaduotrioea apéelalement ltxld'r, 4'Ë! oûduotibilté * # i $ a-di, & ie '., 7 .- /. // ,. ....... \ ï /,

 <Desc / Clms Page number 2>

 
 EMI2.1
 t: tz '' t, t i. ' x # d, .b 3? la% "; ';

   high, we cômmaaee by precipitating the body enii-oondftôiftW? - .'- y.,. then we cut .'r d ... ma-a 'dtt -'; '"/%' aarp emi - ooaiueux. aaxe en acaé ôôt '. ;;"; again precipitated, and during the interruption of.'l'ârri **;,. vee of. am'b.raor 'ue da, ai di-aiduaty,.';. \: -la. part this seal-oonduoteuff oorpa q.ia.1 has already been separated is 11 '.

   Ji4, GL .Ci i 4YpGsi 4s.w r.M'i.kw, Y, Ar, .The doping products and, that iau. '. Moiûe' .. lao && e outer iQl ae '"' iMi. lu.i; t "u 'v 014' iiuJ.l1 1"% * -, # in45i411Â.i.4i 6S LiiY '<¯ / v during arrival cutoff #% * .QQmhtn * i $ Js -; $ '' \ ''; .. '' éoz <aac 'aorp t. anttur,' otl 'interrotaprii. gF..0alet'i "r .I.itita'E & ,? Xi Irtti Ilr. reaction do the., empty. in the reaction ohambrû. d 6 t is hydrogen aoa arriving in the opening of xa3, aH ... will be advantageously 13 interrupted so that no '': J evaporation of the corp9'semlooadnol: aM '...' M 'B " 'pjc'odae' from eiï nme, ai4tr 'the interruption of the deoompoeition, we can -'; ' for example5.r, haû'.r 1 acxp, .à.t .-. ca4r:

  d, .t.px for example, to heat the body, aemi-oonduotor already prjj5oi * Vt pité in a current of hydrogen, no noticeable t3./.i#r4yid..r. of the air-motor body not occurring , hand by; .;. against, the doping product;:, evaporated is entrained by Xè ..-..- '# run out of hydrogen, Itbidrôl4ne can in otr atrca'efî .r3.iaria, a, aa dee P-rodUtos 1nt 1 year *> rda and ion the elimination of impurities B producing a silicon will for example be brought to Lxki irdl:? "1 $ G, '11l :: d' r.



  J "rro: i., Are., Rc. D * / '-, the interruption of lien6ataoa, sw <tenant eo # pti;.; Of the type of product of dbpièé * -, -' tr xc, ement axc, r: 'ps.aA e srr rt ;:, eonduetrloea, which mounts depleted by evaporitiôn, dee 9 * S> - ±' - Î. aherch px: ianmi, .r tr # t, â.bs., middle d) \ ï <%,
 EMI2.2
 this evaporation of the doping product, it is also possible,
 EMI2.3
 'greatly increase W1 specific resistance of gold. ":'; fH

 <Desc / Clms Page number 3>

   semiconductor obtained by precipitation, at least
 EMI3.1
 in the 8th napertioîelle 13a here tiéral .la oorpa yo-1t6, -, '., must be heated to a temperature .itaenv'irQnlOO * 0. ;;

     below the melting point of the substance 'Considered - \
A method of precipitating semiconductor bodies as described above, for example known from German patent 1,061,393.

   In this process, bars. arranged vertically, serve as a support for the body, a decomposed semiconductor and .which consists of the same semiconductor body, are heated by direct passage of the current and have bathed by a combination of its body gageas. semiconductor, sinei que per a gas, reaction.

   Depending on the impurity of the starting material used, the semiconductor body thus obtained is more or less heavily soiled by doping products, When using a single crystal support bar, and by carrying out the reaction in a suitable manner, in particular by carrying out a pre-treatment of the support material, for example by incandescent, in a stream of hydrogen,

   it is possible to grow the semiconductor body in the form of a single crystal, which is suitable without special further processing for the manufacture of semiconductor elements.



     If, during the decomposition of the semiconductor body, the arrival of the gaseous combination of the semiconductor body, for example a halide of silicon, such as silicochloroform, is interrupted according to the invention, and one ' maintains.

   the support bar with the semiconductor body precipitated a high temperature, part of the rested doping product is evaporated, which causes a buildup of the surface layer of the semiconductor body in doping products .

   In particular, the $ corpe such; - as phosphorus, arsenic, antimony and sulfur, which

 <Desc / Clms Page number 4>

 
 EMI4.1
 give an 'aod't dc¯r z aaaa because:. have .a, o r :; 1d dtl, maa; 'qtte., ,, 1'> OQ '(}: ":,? a' '. such as .le) 01'.,. -'lt1t '. ;;" 1.tW1it; qLÛ "dOt \' rt /; 'i; il}: an oonduct 1bilt6':; iHo / p ;;;:! '.,: t> Q) oêd', brightening It1niét1J / ({i lion therefore leads. as a general rule, no decrease in d.) L '. which giving a conductivity do, type' e: b., "'O" fe * -'; 'd ±,' 1 ',.; "' Û,. ,," ,,; / ,;, '; "..:", .., ..,.: "". ,,,,' / l>,.;. \ ,,: ':';, .. "," ". ",> Í ';"' .: C.



  / if the evaporation is complete. 6n obtains, place / thus treated an ooû.Óhe: 'r1ont:; ta: C () ndU: ctib11itc5e. ". DtÍ'," ;; '::' f'Í3 "type p * /, ',.' . ',' \, '. i #; f <!] ctJ} {0 ";: i;' b ;; '/: If \: 0 (;." k} 0.111 a. i, "LI 1nventipn, .vf {'8tr.> eXpliCl "' 6e;, U)., d.l3. ::, n." ..,> <'tiF "' serving- as an example of embodiment. 'On" -, .By de elliolum, - à.pu; t, Od t '{J: iâ + oênU1' (dO> 8tlari.fJtê, t \: ',:;:,:;) I ;;

   using hydrogen as reaction and dilution gas, - * on a support bar also made of silicon, a silicon bar, the conductivity of which is, of type n and the specific realtance about 1 Ohm / cm, for precipitation,. the support bar is brought to a temperature of approximately
1100 to 1150 C. During 1 interruption of the Decomposition.

   only hydrogen is introduced into the reaction vessel and the silicon bar obtained is heated to. about 1340 ° C. After about one hour, a silane halide is introduced again and the deposition of silicon is continued in the manner already described. As a result of
 EMI4.2
 'the evaporatioa, the COl1obeO' obtained during 11 Interruption of the # decomposition, oOl1ohequise now finds at '1' in ';; "': '}; :::

  'interior of. deposited body, has a thickness of about 10 and, on a transverse polishing of the silicon bar obtained '
 EMI4.3
 by prtSoiP1t8ti0I1, .anddéà.1, {ê to. the eye nUt, 8prè..vo "underwent a suitable attachment by means of an aside. Although ente 'du, various V8riante', duprÓédé <1éot: 1t.ont canait.meni: ':,>'> possible, in in particular, the use of the process is not limited to silicon, but it can also be used with germanium or silicon carbide. '.'. j. '' ".


    

Claims (1)

EMI5.1 EMI5.1 ''...'l.aû.$.-..ï<rit:lo.. '' ... 'l.aû. $ .- .. ï <rit: lo .. ont d'an typ dtttâjteiat ei/ouàûnt i<>s, ôOHeeûiifBtloali .':i;".t;'/: dopag sont différoftti an préôipiijâ&'t.tm ooi?p nd* '/,:/\i, oonduoteôr par.tir d'un qil linge d'une eo Jbl iiBOû ' Ptt .;."\; ' '.?:;--'.:'Ior)ae gaeeM9'.d'oop$- à'a. le% '-:.-;:&, - # réaotloa, P!\ttipt1.11'",;,P,8F).Jt/r'',,: .. :1 ' '.;If'. o#eo(i!#:X'fff'%0 ,,:';', .Oip i t er,.le,o,orp ri '81.'o'au.oe,r, ce qu*oa' ini9nW';.H, ,-f. ensuite l'arrivée de la combinaison zeaee: d.'eoe:/'ee. conducteur, puisque le oorpe semi-conducteur eet de nouveau" précipité, et en ce 9. ue:pt1$n,:,J...iterû.:ptto <i.' ,j,im:'::': have an typ dtttâjteiat ei / ouàûnt i <> s, ôOHeeûiifBtloali. ': i; ". t;' /: dopag are different from a preôipiijâ & 't.tm ooi? p nd *' /,: / \ i, oonduoteôr starting from a qil laundry of a eo Jbl iiBOû 'Ptt.;. "\; ''.?:; - '.:' Ior) ae gaeeM9'.d'oop $ - à'a. the% '-: .-;: &, - # réaotloa, P! \ ttipt1.11' ",;, P, 8F) .Jt / r '' ,,: ..: 1 ''.; If '. o # eo (i! #: X'fff '% 0 ,,:'; ', .Oip it er, .le, o, orp ri '81 .'o'au.oe, r, what qu * oa' ini9nW ';. H,, -f. then the arrival of the combination zeaee: d.'eoe: /' ee. conductor, since the semiconductor orpe eet again "precipitated, and in this 9. ue: pt1 $ n,:, J ... iterû.: ptto <i. ', j, im:' :: ': tatioa de la oorn1)1na 1fo1o, ga Be.u.8dU.QO'!18 ,8.moondùot.tU' ,"L '# la partie, de, 0-.' corps. setai-conduoteur qui a àé$h etc.. dpo- '* ee, est maintenue à une température telle, que les pro- ' , , EMI5.2 duits de dopa se s'évaporent, et que tout au. moins la couche', EMI5.3 .,extérieure du corps.. se#icon4t.,. ".'.'" appavri''.'en .pyo'-':"'' duits de, dopage* . ' ' ,.:;';. 2-' Prooédé .au.ivant.la ..reveadioatio. oaraeterie en oe " ' que, pendant l'interruption - on ooupe également, l'arrivée v' du gaz d.el réactionet qtzel,. lon..tait dans ouve réaot1ort"i:"\\"""'" " '", ' ,". 5 * Prooédé suivant la .v.n10.1Ottl""OIri1;,,,i',,.!oe'./:::;t que pendant ,1 trnter".LtPtiOnt;ec,orp,'.p*6 est maintenu :- une température située env,iyon lOOC. n ..de8aoae;de'la température de, fusion du :OQtt¯,em.1-o0nc1I2.Ó,t'tatra1t..,j:,,;t;I':" tatioa de la oorn1) 1na 1fo1o, ga Be.u.8dU.QO '! 18, 8.moondùot.tU', "L '# the part, of, 0-.' body. setai-conduoteur which has been $ h etc .. dpo- '* ee, is maintained at a temperature such that the pro-',, EMI5.2 dopa pickles evaporate, and all at. minus the layer ', EMI5.3 ., exterior of the body .. se # icon4t.,. ". '.'" appavri ''. 'en .pyo'-': "'' duits de, dopage *. '',.:; ';. 2-' Prooédé .au.ivant.la ..reveadioatio. oaraeterie in oe "'that, during the interruption - we also cut off, the arrival v' of the reaction gas and qtzel ,. lon..was in the rewort "i:" \\ "" "'" "'", ', ". 5 * Proceeded according to .v.n10.1Ottl" "OIri1; ,,, i' ,,.! oe './ :::; t that during, 1 trnter ".LtPtiOnt; ec, orp,'. p * 6 is maintained: - a temperature located approx, iyon lOOC. n ..de8aoae; de'la temperature, fusion du: OQtt¯, em.1-o0nc1I2.Ó, t'tatra1t .., j: ,,; t; I ': "
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0005744A1 (en) * 1978-06-05 1979-12-12 International Business Machines Corporation Process for producing epitaxial layers on selectively doped silicon substrates with high impurity concentration

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0005744A1 (en) * 1978-06-05 1979-12-12 International Business Machines Corporation Process for producing epitaxial layers on selectively doped silicon substrates with high impurity concentration

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