BE607443A - Nouvelle méthode de mesure des épaisseurs de dépôts métalliques au moyen d'une source de rayons beta - Google Patents

Nouvelle méthode de mesure des épaisseurs de dépôts métalliques au moyen d'une source de rayons beta

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BE607443A
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BE607443A
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Jean-Claude Tanguy
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    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N23/22Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • GPHYSICS
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BE607443A 1960-09-08 1961-08-23 Nouvelle méthode de mesure des épaisseurs de dépôts métalliques au moyen d'une source de rayons beta BE607443A (fr)

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