BE1020081A5

BE1020081A5 - Edelsteenpositionerings-en analysesysteem.

Info

Publication number: BE1020081A5
Application number: BE2012/0022A
Authority: BE
Inventors: Randall Wagner; Kurt P Schoeckert
Original assignee: Gemex Systems Inc
Priority date: 2011-04-20
Filing date: 2012-01-11
Publication date: 2013-04-02
Also published as: US20120268728A1; GB2490187A; CN102749331A; IL216895A0; GB2490187B; GB201121140D0; CN102749331B; IL216895B

Abstract

Een edelsteenpositionerings- en analysesysteem (10) wordt beschreven om diverse kenmerken van een edelsteen (46) te meten. Het systeem omvat een smalbandspectrofotometer (50) die toelaat dat de authenticiteit van de edelsteen samen met andere kenmerken van de edelsteen wordt bepaald. Er is ook een doorzichtige montageplaat (32) omvat die een reeks markeringen (33) heeft om het centreren van de edelsteen binnen een analysekamer te vergemakkelijken. Er is een uitlijninrichting (40) omvat die ten minste één lineaire duwer (42) heeft en is aangepast om de edelsteen op het middelste punt van de doorzichtige montageplaat automatisch te centreren.

Description

Edelsteenpositionerings- en analysesysteem

Verwijzing naar gerelateerde aanvraag

Deze aanvraag is gebaseerd op en roept de prioriteit in van de Amerikaanse voorlopige octrooiaanvraag nr 61/477 267, ingediend op 20 april 2011, die hierin als referentie in haar volledigheid voor alle doeleinden is opgenomen.

Gebied van de uitvinding

De onderhavige uitvinding heeft algemeen betrekking op het gebied van edelsteenevaluatiesystemen. Meer in het bijzonder heeft de onderhavige uitvinding betrekking op een edelsteenevaluatiesysteem met het toegevoegde kenmerk van het automatisch centreren van een edelsteen en de toevoeging van een smalbandspectrofotometer om de authenticiteit van de edelsteen te bepalen.

Achtergrond

De commerciële waarde van een edelsteen hangt af van een aantal factoren, met inbegrip van het gewicht, de slijping, de helderheid, de kleur en, misschien het belangrijkst, de authenticiteit van de edelsteen. Traditiegetrouw was het evalueren van die en andere dergelijke kenmerken het werk van hoogopgeleide deskundigen, bekend als “gediplomeerde edelsteenkundigen”. Onlangs zijn een aantal computergestuurde machines ontwikkeld om heel wat van dezelfde functies als gediplomeerde edelsteenkundigen uit te voeren. De machines zijn consequenter en nauwkeuriger bij het meten van zeer kleine details en kenmerken aanwezig in edelstenen. De machines worden in het bijzonder gebruikt om verschillen in kleur te meten die onwaarneembaar zijn voor zelfs het sterk geoefende oog van een gediplomeerde edelsteenkundige. Eén dergelijke machine wordt beschreven in het Amerikaanse octrooischrift nr 5 615 005 dat hierin als referentie in zijn volledigheid voor alle doeleinden is opgenomen.

Machines zoals die beschreven in octrooischrift nr 5 615 005 omvatten met name een lichtbron, optische banddoorlaatfilter, camera of breedbandspectrofotometer en analysekamer. Een operator plaatst de edelsteen in de waamemingskamer en licht uit de lichtbron wordt door de banddoorlaatfilter gestuurd, zodat een specifieke lichtgolflengte de edelsteen verlicht. De lichtbron kan ook zo worden gemanipuleerd dat de lichtbundel de edelsteen vanuit verschillende hoeken verlicht, waarbij dus dezelfde test wordt uitgevoerd als een edelsteenkundige handmatig zou uitvoeren. De camera’s die momenteel in edelsteenevaluatiemachines worden gebruikt, zijn met name CCD (Charged Coupled Device)-camera’s of breedbandspectrofotometers. Deze camera’s zijn een verbetering tegenover het menselijke oog, maar kunnen het verschil tussen bijvoorbeeld een diamant of een kubische zirkoniumsteen niet detecteren. Integendeel, de momenteel in edelsteenevaluatie gebruikte machines kunnen enkel bepalen waar de edelsteen op een kleur/helderheidsschaal terechtkomt. Om te bepalen of een edelsteen zoals een diamant authentiek is (niet door de mens of machinaal vervaardigd), moet een afzonderlijke test worden uitgevoerd, vaak in een afzonderlijk lab. De afzonderlijke test kan smalbandspectrofotometrie impliceren die is gericht op een bereik van golflengtes bekend in het vakgebied, met name met een aftastband van 1-3 nm breed.

Samenvatting

De onderhavige uitvinding heeft betrekking op een edelsteenpositionerings- en analysesysteem om kenmerken van een edelsteen te meten dat een kast omvat met een analysekamer die is aangepast om de edelsteen op te nemen. De analysekamer heeft bovenste en onderste hemisferische gedeelten met een montageplaat tussen de hemisferische gedeelten. De hemisferische gedeelten hebben elke reflecterende binnenkanten. Het onderste hemisferische gedeelte heeft een opening op zijn onderste punt die is aangepast om licht in de analysekamer te laten passeren. De doorzichtige montageplaat omvat een reeks markeringen om het centreren van de edelsteen binnen de analysekamer te vergemakkelijken. Er is een uitlijninrichting omvat die ten minste één lineaire duwer heeft en is aangepast om de edelsteen op het middelste punt van de doorzichtige montageplaat automatisch te centreren. Een verplaatsbare lichtbron is aangepast om de edelsteen vanuit een aantal hoeken te verlichten en een camera is aangepast om beelden van de edelsteen op te nemen. De camera is verder aangepast om gegevens te verschaffen aan een computersysteem dat de gegevens analyseert en de materiaalkenmerken van de edelsteen uitvoert.

Het edelsteenevaluatiesysteem volgens de onderhavige uitvinding omvat de automatische positionering van een edelsteen en een smalbandspectrofotometer (“NBS”), wat de machine toelaat materiaalkenmerken van de edelsteen te detecteren, zoals of hij natuurlijk of kunstmatig is. De automatische positioneringsfunctie lost het probleem op dat een operator een edelsteen onnauwkeurig op het waamemingsvlak plaatst, wat in verkeerde testresultaten kan resulteren. De toevoeging van een NBS laat een gebruiker ook toe tegelijkertijd de tests van het gangbare systeem uit te voeren en de bijkomende tests die nu door een secundair proces worden uitgevoerd. Het samen uitvoeren van de tests doet het risico op bedrog of misleiding sterk afhemen dat, jammer genoeg, bestaat, wanneer de tests afzonderlijk worden uitgevoerd, vaak in verschillend labo’s. Na voltooiing van de analyse ontvangt de gebruiker een verslag dat de kenmerken van de edelsteen toont, met inbegrip van de resultaten van de smalbandspectrofotometeranalyse, samen met een afbeelding van de edelsteen. Een dergelijk . verslag sluit de kans op misleiding die momenteel bestaat vrijwel uit.

Diegenen die in het vakgebied zijn onderlegd, begrijpen dat één of meer aspecten van deze uitvinding aan bepaalde doelstellingen kunnen voldoen, terwijl één of meer andere aspecten tot bepaalde andere doelstellingen kunnen leiden. Andere doelstellingen, kenmerken, nuttigheden en voordelen van de onderhavige uitvinding blijken in deze samenvatting en beschrijvingen van de beschreven uitvoeringsvorm en zijn snel duidelijk bij diegenen die in het vakgebied zijn onderlegd. Dergelijke doelstellingen, kenmerken, nuttigheden en voordelen blijken uit het bovenstaande zoals genomen samen met de begeleidende figuren en alle redelijke conclusies die daaruit moeten worden getrokken.

Korte beschrijving van de tekeningen FIG. 1 is een perspectiefaanzicht van één uitvoeringsvorm van een edelsteenevaluatiesysteem volgens de uitvinding; FIG. 2 is een perspectiefaanzicht van een edelsteenpositioneringsaandrijver volgens het edelsteenevaluatiesysteem van FIG. 1, met de aandrijver in een open positie.

FIG. 3 is een ander perspectiefaanzicht van de edelsteenpositioneringsaandrijver van FIG. 2, met de aandrijver in een gestrekte positie; FIG. 4 is een detailbovenaanzicht van de edelsteenpositioneringsaandrijver van FIG. 2 met de aandrijver in gekoppelde positie met de edelsteen; FIG. 4A is een ander detailbovenaanzicht van de edelsteenpositioneringsaandrijver van FIG. 2 met de aandrijver losgekoppeld van de edelsteen; FIG. 5 is een ander detailbovenaanzicht van de edelsteenpositioneringsaandrijver van FIG. 2 met de aandrijver in een gecentreerde positie; FIG. 6 is een perspectiefaanzicht van een andere uitvoeringsvorm van een edelsteenevaluatiesysteem volgens de uitvinding; FIG. 7 is een perspectiefaanzicht van een edelsteenpositioneringsaandrijver volgens het edelsteenevaluatiesysteem van FIG. 6, met de aandrijver in een ingetrokken positie; .

FIG. 8 is een perspectiefaanzicht van een edelsteenpositioneringsaandrijver volgens het edelsteenevaluatiesysteem van FIG. 6, met de aandrijver in een gestrekte positie; FIG. 9 is een perspectiefaanzicht van een andere uitvoeringsvorm van een edelsteenpositioneringsaandrijver volgens de onderhavige uitvinding met de aandrijver in een open positie; FIG. 9A is een detailbovenaanzicht van de edelsteenpositioneringsaandrijver van FIG.

9 die de edelsteen koppelt; FIG. 10 is een ander perspectiefaanzicht van de edelsteenpositioneringsaandrijver van FIG. 9 met de aandrijver in een gesloten positie; en FIG. 10A is een detailbovenaanzicht van de edelsteenpositioneringsaandrijver van FIG. 10.

Gedetailleerde beschrijving

Kijken we nu naar FIG. 1, dan wordt een perspectiefaanzicht van het edelsteenkleurevaluatiesysteem of -inrichting 10 geconstrueerd volgens de onderhavige uitvinding getoond. De inrichting 10 omvat een verlichtings- en signaalvastlegkast 12.

De kast 12 bevat een lichtbron 14 en een besturingssysteem 16. Het besturingssysteem 16 bestuurt een lichtbewegingssysteem 18. De kast 12 omvat verder een analysekamer 20 en een ringvormige lichtring 22. De ringvormige lichtring 22 is gemonteerd op een platform 24 verplaatst door het lichtbewegingssysteem 18. Lichtring 22 kan op een uiteenlopende reeks wijzen worden verlicht, maar in de getoonde uitvoeringsvorm wordt licht door middel van een glasvezelconnector 25 van de lichtbron 14 naar de ringvormige lichtring 22 getransporteerd.

Analysekamer 20 is een tweedelige eenheid met inbegrip van een bovenste hemisferisch element 26 en een gedeeltelijk onderste hemisferisch element 28 die een sfeer vormen, met een reflecterende bekleding op de binnenkant van bovenste element 26 en onderste element 28. Een enkelvoudige ingangs/uitgangsopening 30 is in het onderste deel van het onderste element gevormd. De ingangs/uitgangsopening 30 heeft een geschikte afmeting om licht in de analysekamer 20 te laten binnenkomen en opdat een CCD-camerasamenstel 34 de edelsteen 46 in de analysekamer 20 kan bekijken, maar is voldoende klein opdat licht doeltreffend binnen de analysekamer 20 wordt gereflecteerd om nauwkeurige testresultaten te verschaffen. Gecentreerd in de kamer bevindt zich een glasplaat 32 waarop een te evalueren edelsteen met de tafelzijde naar beneden wordt geplaatst. Een oriëntatie met de tafelzijde naar beneden verdient de voorkeur, omdat edelstenen momenteel worden gegradeerd door gebroken licht door de tafel van de edelsteen. Hoewel glas de voorkeur verdient, kunnen andere doorzichtige, transparante materialen worden gebruikt, in elke ondersteunende structuur. Geëtst of anders op de glasplaat 32 gemarkeerd, bevindt zich een patroon 33 dat het systeem toelaat de afmeting en positie van de edelsteen 46 op elk ogenblik nauwkeurig te meten. In de getoonde uitvoeringsvorm is het patroon 33 een roospatroon, maar elk geschikt patroon zou kunnen worden gebruikt zonder van de uitvinding af te wijken. In het midden van het patroon 33 bevindt zich een middelpunt 36.

Het lichtbewegingssysteem 18 is geconfigureerd om de ringvormige lichtring 22 zo te verplaatsen dat, wanneer het platform 24 zich verplaatst, het licht uit de ringvormige lichtring 22 een edelsteen 46 vanuit een uiteenlopende reeks hoeken verlicht. Edelstenen worden door edelsteenkundigen gewoonlijk vanuit meervoudige hoeken bekeken, ten opzichte van lichtbronnen, om de kwaliteit en kleur van een edelsteen te verkrijgen. De lichtbron met meervoudige posities voorziet de inrichting van dezelfde vermogens.

Direct onder de ringvormige lichtring 22 is een CCD-camerasamenstel 34 geplaatst dat een lens met vaste brandpuntsafstand 31, een banddoorlaatfïlter 37 en een CCD-camera 39 omvat. Het CCD-camerasamenstel 34 is georiënteerd om op het midden van de analysekamer 20 te worden gericht. De middellijnen van de analysekamer 20, ringvormige lichtring 22 en CCD-camerasamenstel 34 zijn als gemeenschappelijk bedoeld. Het CCD-camerasamenstel 34 wordt gebruikt om zowel de kwaliteit als de kleur van de edelsteen 46 te analyseren, maar wordt ook gebruikt om de edelsteen 46 nauwkeurig te positioneren, zodat de middellijn van de edelsteen 46 ook met de middellijnen van de analysekamer 20, ringvormige lichtring 22 en CCD-camerasamenstel 34 gemeenschappelijk is.

Een uitlijninrichting 40 is aangepast om de edelsteen automatisch met die gemeenschappelijke middellijn uit te lijnen, zonder dat de operator de positie van die middellijn moet bepalen en moet proberen de middellijn van de edelsteen handmatig ermee uit te lijnen door eenvoudige handplaatsing van de edelsteen. De uitlijninrichting 40 omvat een duwerelement 42, aangedreven door een lineaire aandrijver 44, op zijn beurt gekoppeld aan en bestuurd door het besturingssysteem 16. FIG. 2 toont het duwerelement 42 in de ingetrokken positie en FIG. 3 toont het duwerelement 42 in de gestrekte positie.

Zoals getoond in FIG. 4-5, wordt een edelsteen 46 op de glasplaat 32 geplaatst en wordt de uitlijninrichting 40 zo aangedreven dat de lineaire aandrijver 44 die aan het duwerelement is gekoppeld, zich uitstrekt, zodat het duwerelement met de edelsteen 46 wordt gekoppeld, waardoor hij zich lichtjes verplaatst. Het duwerelement 42 wordt dan ingetrokken, waardoor het zich van de edelsteen 46 loskoppelt. Door het duwerelement 42 van de edelsteen 46 weg te verplaatsen, gebruikt de software omvat in de uitvinding het CCD-camerasamenstel 34 dat deel van een computerbeeldvormingssysteem 35 uitmaakt, om de diameter van de edelsteen 46 alsook de verschuiving van de edelsteen 46 tegenover de middellijn te meten. Het computerbeeldvormingssysteem 35 meet de diameter van de edelsteen 46 door het aftasten van de buitenrand van de edelsteen 46 en brengt virtuele tangentiaallijnen 38 op de tegenoverliggende zijden van de edelsteen 46 tot stand. Is de diameter berekend, dan kan het systeem bepalen hoe ver het middelpunt van de edelsteen 46 van het middelpunt 36 van het patroon 33 op de glasplaat 32 is verwijderd. Bij voltooiing van de meting, strekt de uitlijninrichting 40 het duwelement 42 uit, waardoor het opnieuw met de edelsteen 46 wordt gekoppeld en de edelsteen in uitlijning met de middellijn verplaatst. FIG. 4 toont de edelsteen 46 in een positie niet op de middellijn, FIG. 4A toont het duwerelement 42 losgekoppeld van de edelsteen 46 en FIG. 5 toont het duwerelement 42 dat de edelsteen 46 naar de middellijn heeft verplaatst. De automatische positionering wordt dus bereikt met gebruik van het computerbeeldvormingssysteem 35 om de edelsteen 46 op de glasplaat 32 te “zien”.

Kijken we nu naar FIG. 6, dan wordt een verdere verbetering getoond, waarbij een smalbandspectrofotometer (“NBS”) 50 binnen in de kast 12 wordt toegevoegd. Een sonde 52 wordt bij voorkeur op het duwerelement 42 gemonteerd om voldoende dicht bij de edelsteen 46 te worden gemonteerd en is aan de NBS 50 gekoppeld door een glasvezelconnector 54 om het de NBS 50 mogelijk te maken de edelsteen te analyseren. FIG. 7 en 8 tonen een schematische opstelling van de NBS 50, connecter 54 en sonde 52. De NBS in de getoonde uitvoeringsvorm is een aftastende NBS die een uitvoer over een bereik van frequenties genereert. De software analyseert dan de uitvoer van de NBS op pieken die een specifieke lichtgolflengte aanduiden die door de edelsteen 46 is geabsorbeerd. Met die gegevens kan het systeem bepalen of de edelsteen 46 authentiek is. Andere NBS’en, d.w.z. niet-scannende NBS’en, kunnen worden gebruikt zonder van de uitvinding af te wijken. FIG. 7 toont het duwerelement 42 en sonde 52 in de ingetrokken positie, terwijl FIG. 8 het duwerelement 42 en sonde 52 in de gestrekte positie toont, waarbij de NBS 50 mogelijk is gemaakt zijn analyse uit te voeren.

FIG. 9-10 tonen een alternatieve uitlijninrichting 60 met twee duwers die de edelsteen 46 met gebruik van twee duwers 62 centreert. Elke duwer 62 is gekoppeld aan een kader 63, waarbij elk kader 63 een tandheugel 64 aan één uiteinde heeft. De heugels 64 grijpen ineen met een geschikte pignon 66 die, wanneer geroteerd, de duwers 62 naar of weg van de middellijn verplaatst. De uitlijninrichting 60 met twee duwers kan handmatig of elektrisch worden aangedreven door middel van een externe stroombron, zoals een elektrische motor, gekoppeld om de pignon in de een of andere richting te roteren. Om de uitlijninrichting 60 met twee duwers handmatig aan te drijven, manipuleert een operator een duimhendel 68 die zich van een van de kaders 63 uitstrekt. Een veer 69 is aan een van de kaders 63 vastgemaakt en is aangepast om de uitlijninrichting 60 in de open positie te doen afwijken. Dus, wanneer een operator de duimhendel 68 loslaat, keert de uitlijninrichting 60 automatisch naar de open positie terug. Indien de uitlijninrichting 60 met twee duwers door middel van een externe stroombron wordt aangedreven, kan een automatisch uitlijnsysteem vergelijkbaar met dat beschreven in de vorige uitvoeringsvorm worden gebruikt.

Hoewel de uitvinding hierin is beschreven in wat als de meest praktische en de meeste voorkeur verdienende uitvoeringsvormen wordt beschouwd, moet men begrijpen dat de uitvinding niet is bedoeld om tot de hierboven uiteengezette specifieke uitvoeringsvormen te worden beperkt. Er wordt, integendeel, erkend dat door diegenen die in het vakgebied van de uitvinding zijn onderlegd, wijzigingen kunnen worden aangebracht zonder van de betekenis of de opzet van de uitvinding af te wijken en, bijgevolg, moet de uitvinding als omvattende alle redelijke equivalenten van het onderwerp van de bijgesloten conclusies en de beschrijving van de uitvinding hierin worden opgevat.

Claims

1. Edelsteenanalysesysteem voor het meten van kenmerken van een edelsteen, omvattend: een montageplaat met inbegrip van een middelste punt, voor het ondersteunen van de edelsteen; een smalbandspectrofotometer aangepast om het lichtabsorptievermogen van de edelsteen te meten; een uitlijninrichting, waarbij de uitlijninrichting ten minste één lineaire duwer omvat en is aangepast om de edelsteen op het middelste punt van de montageplaat automatisch te positioneren; waarbij de lineaire duwer een duwerelement omvat waarop een sonde is gemonteerd, en waarbij de sonde verbonden is met de smalbandspectrofotometer; een verplaatsbare lichtbron aangepast om de edelsteen vanuit een aantal hoeken te verlichten; een breedbandspectrofotometer aangepast om beelden van de edelsteen op te nemen; en waarbij de breedbandspectrofotometer en smalbandspectrofotometer verder zijn aangepast om gegevens te verschaffen aan een computersysteem dat is aangepast om de gegevens te analyseren en materiaalkenmerken van de edelsteen uit te voeren.

2. Edelsteenanalysesysteem volgens conclusie 1, waarbij de sonde is verbonden met de smalbandspectrometer door een glasvezelconnector.

3. Edelsteenpositionerings- en analysesysteem voor het meten van kenmerken van een edelsteen, omvattend: een kast; een doorzichtige montageplaat met inbegrip van een reeks markeringen om het centreren van de edelsteen óp de montageplaat te vergemakkelijken; een uitlijninrichting met. inbegrip van ten minste één lineaire duwer in de nabijheid van de doorzichtige montageplaat en die in staat is de edelsteen op de montageplaat te verplaatsen; een camera aangepast om beelden van de edelsteen op te nemen; en een besturingssysteem aangepast om beelden van de edelsteen uit de camera te gebruiken en de uitlijninrichting te besturen om de edelsteen op het middelste punt van de doorzichtige montageplaat automatisch te centreren.

4. Edelsteenpositionerings- en analysesysteem volgens conclusie 3, waarbij het besturingssysteem een computersysteem omvat dat is aangepast om de beelden uit de camera te analyseren en de uitlijninrichting te besturen om de edelsteen op het middelste punt van de doorzichtige montageplaat automatisch te centreren.

5. Edelsteenpositionerings- en analysesysteem volgens conclusie 3, of conclusie 4, verder omvattend een smalbandspectrofotometer aangepast om het lichtabsorptievermo-gen van de edelsteen te meten.

6. Edelsteenpositionerings- en analysesysteem voor het meten van kenmerken van een edelsteen, omvattend: een kast met inbegrip van een analysekamer aangepast om de edelsteen op te nemen; waarbij de analysekamer bovenste en onderste hemisferische gedeelten met een doorzichtige montageplaat tussen de hemisferische gedeelten heeft; waarbij de hemisferische gedeelten reflecterende binnenkanten hebben; waarbij het onderste hemisferische gedeelte een opening op zijn onderste punt heeft, waarbij de opening is aangepast om licht in dé analysekamer te laten passeren; waarbij de doorzichtige montageplaat een reeks markeringen omvat om het centreren van de edelsteen binnen de analysekamer te vergemakkelijken; een uitlijninrichting met inbegrip van ten minste één lineaire duwer en die is aangepast om de edelsteen op het middelste punt van de doorzichtige montageplaat automatisch te centreren; een verplaatsbare lichtbron aangepast om de edelsteen vanuit een aantal hoeken te verlichten; een camera aangepast om beelden van de edelsteen op te nemen; en waarbij de camera verder is aangepast om gegevens te verschaffen aan een computersysteem dat is aangepast om de gegevens te analyseren en materiaalkenmerken van de edelsteen uit te voeren.

7. Edelsteenpositionerings- en analysesysteem volgens conclusie 6, waarbij de uitlijninrichting een enkelvoudige duwarm omvat, waarbij de duwarm aan een computergestuurde lineaire aandrijver is gekoppeld.

8. Edelsteenpositionerings- en analysesysteem volgens conclusie 6, waarbij de uitlijninrichting twee duwarmen omvat, waarbij de duwarmen handmatig met gebruik van een tandheugel worden gemanipuleerd.

9. Edelsteenpositionerings- en analysesysteem voor het meten van kenmerken van een-edelsteen, omvattend: een kast met inbegrip van een analysekamer aangepast om de edelsteen op te nemen; waarbij de analysekamer bovenste en onderste hemisferische gedeelten met een doorzichtige montageplaat tussen de hemisferische gedeelten heeft; waarbij de hemisferische gedeelten reflecterende binnenkanten hebben; waarbij het onderste hemisferische gedeelte een opening op zijn onderste punt heeft, waarbij de opening is aangepast om licht in de analysekamer te laten passeren; waarbij de doorzichtige montageplaat een reeks markeringen omvat om het centreren van de edelsteen binnen de analysekamer te vergemakkelijken; . een uitlijninrichting met inbegrip van ten minste één lineaire duwer en die is aangepast om de edelsteen op het middelste, punt van de doorzichtige montageplaat automatisch te centreren; een smalbandspectrofotometer aangepast om het lichtabsorptievermogen van de edelsteen te meten; een verplaatsbare lichtbron aangepast om de edelsteen vanuit een aantal hoeken te verlichten; een camera aangepast om beelden van de edelsteen op. te nemen; en waarbij de camera verder is aangepast om gegevens te verschaffen aan een computersysteem dat is aangepast om de gegevens te analyseren en materiaalkenmerken van de edelsteen uit te voeren.

10. Edelsteenpositionerings- en analysesysteem volgens conclusie 9, waarbij de uitlijninrichting een enkelvoudige duwarm omvat, waarbij de duwarm aan een computergestuurde lineaire aandrijver is gekoppeld.

11. Edelsteenpositionerings- en analysesysteem volgens conclusie 9, waarbij de uitlijninrichting twee duwarmen omvat, waarbij de duwarmen handmatig met gebruik van een tandheugel worden gemanipuleerd.

12. Werkwijze voor het analyserén van de materiaaleigenschappen van een edelsteen, omvattende de stappen van: het plaatsen van een edelsteen in een analysekamer met een doorzichtige montageplaat voor het ondersteunen van de edelsteen; het automatisch uitlijnen van de edelsteen op het middelste punt van de doorzichtige montageplaat door middel van een uitlijninrichting, waarbij de uitlijninrichting ten minste één lineaire duwer met duwerelement omvat en is aangepast om de edelsteen op het middelste punt van de montageplaat automatisch te positioneren; het verlichten van de analysekamer en de edelsteen vanuit een aantal hoeken; het opnemen van beelden van de edelsteen; het analyseren van het lichtabsorptievermogen van de edelsteen met gebruik van een smalbandspectrofotometer, waarbij de smalbandspectrofotometer is verbonden met een sonde die is gemonteerd op het duwerelement; en het gebruiken van een computersysteem om de beelden van de edelsteen te analyseren om bepaalde materiaalkwaliteiten en -kenmerken van de edelsteen te bepalen. • - \

13. Werkwijze volgens conclusie 12 verder omvattende de stap van het automatisch voortbrengen van een verslag dat de kwaliteiten en kenmerken van de edelsteen toont.

14. Werkwijze volgens conclusie 12, of conclusie 13, verder omvattende de stappen van: het gebruiken van een camera om het middelpunt van de edelsteen en het middelste punt van de doorzichtige montageplaat automatisch te detecteren; en het automatisch aandrijven van een lineaire uitlijninrichting om het middelpunt van de edelsteen met het middelste punt van de doorzichtige montageplaat uit te lijnen.

15. Edelsteenpositionerings- en analysesysteem voor het meten van kenmerken van een edelsteen, omvattend: een kast; een analysekamer gemonteerd in de kast en met een opening die is aangepast om licht in de analysekamer te laten passeren en met een middelpunt; een doorzichtige montageplaat gepositioneerd binnen de analysekamer en met een reeks markeringen met inbegrip van een middelpunt; een verplaatsbare lichtbron aangepast om de edelsteen vanuit een aantal hoeken via de opening te verlichten en met een middelpunt; waarbij de middelpunten van de analysekamer, de doorzichtige montageplaat en de verplaatsbare lichtbron in hoofdzaak langs een gemeenschappelijke middellijn zijn ingericht; een camera gemonteerd binnen de kast en zo ingericht dat zijn middellijn in hoofdzaak met de gemeenschappelijke middellijn samenvalt, en aangepast om beelden van de edelsteen op te nemen; waarbij de camera verder is aangepast om gegevens te verschaffen aan een computersysteem dat is aangepast om de gegevens te analyseren en materiaalkenmerken van de edelsteen uit te voeren; en een uitlij ninrichting met inbegrip van ten minste één lineaire duwer aangepast om de edelsteen op de middellijn automatisch te centreren.