ATE443851T1 - Verfahren und vorrichtung zur charakterisierung von fs-laserpulsen - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur charakterisierung von fs-laserpulsen

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ATE443851T1 AT06011634T AT06011634T ATE443851T1 AT E443851 T1 ATE443851 T1 AT E443851T1 AT 06011634 T AT06011634 T AT 06011634T AT 06011634 T AT06011634 T AT 06011634T AT E443851 T1 ATE443851 T1 AT E443851T1
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laser pulses
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Hartmut Schroeder
Francis Theberge
Kalahroudi Seyed Mehdi Sharifi
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Hartmut Schroeder
Francis Theberge
Kalahroudi Seyed Mehdi Sharifi
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    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
PL2567202T3 (pl) * 2010-03-23 2023-04-17 Ophir Optronics Solutions Ltd. Aparat do monitorowania lasera poprzez rozpraszanie wiązki
CN101876571B (zh) * 2010-06-08 2011-09-14 中国科学院上海光学精密机械研究所 用于提高纳秒脉冲单次测量动态范围的脉冲复制环装置
RU2587690C1 (ru) * 2015-04-08 2016-06-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов
RU2591273C1 (ru) * 2015-04-28 2016-07-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Многоканальное устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов
RU2593918C1 (ru) * 2015-06-02 2016-08-10 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов проходного типа
RU2594634C1 (ru) * 2015-07-14 2016-08-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Многоканальное устройство для измерения энергии мощных нано- и пикосекундных лазерных импульсов проходного типа
RU2605786C1 (ru) * 2015-09-22 2016-12-27 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Широкоапертурное устройство для измерения энергии высокоинтенсивных нано- и пикосекундных лазерных импульсов
RU2626315C2 (ru) * 2016-01-20 2017-07-25 Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ") Высокоточное многоканальное устройство для измерения энергии коротких лазерных импульсов
CN111238665B (zh) * 2020-01-23 2022-06-10 天津大学 针对大啁啾超短激光脉冲的频率分辨光学开关法测量仪
CN111443062B (zh) * 2020-04-26 2024-05-31 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种半导体材料瞬态折射率超快检测装置及方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19926812A1 (de) * 1999-06-13 2000-12-14 Arno Euteneuer Strahlungs-Meßvorrichtung
DE10042840A1 (de) * 2000-08-30 2002-03-14 Leica Microsystems Vorrichtung und Verfahren zur Anregung von Fluoreszenzmikroskopmarkern bei der Mehrphotonen-Rastermikroskopie
JP2005241284A (ja) * 2004-02-24 2005-09-08 Aisin Seiki Co Ltd 波長分散測定装置及び測定方法

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