AT89856B - Device for the examination of X-rays and other ionizing rays. - Google Patents

Device for the examination of X-rays and other ionizing rays.

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AT89856B
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Austria
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rays
measuring
brass
examination
ionizing
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German (de)
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Veifa Werke Vereinigte Elektro
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   Es ist bekannt, zur Messung der Härte und der Intensität von Röntgen-und anderen ionisierenden, nicht korpuskularen Strahlen Elektroskope allein oder Ionisationskammern in Verbindung mit Elektrometern oder   Strommessgeräten   zu verwenden und die ganze Einrichtung oder Teile von ihr in einem Behälter mit Bleiwänden unterzubringen. Durch eine   Einfallsöffnung   in einer dieser Bleiwände, welche mit auswechselbaren Strahlenliltern von untereinander verschiedener Filterwirkung veischlossen werden kann, tritt das untersuchte Strahlenbündel in den Messraum ein.

   Die Messung erfolgt dadurch, dass man die Entladungsdauer des Elektroskopes oder die Stärke des den Ionisationsraum   durchfliessenden   Stromes bei Anwendung verschieden absorbierender, von der untersuchten Strahlung durchsetzter Filter bestimmt und miteinander vergleicht. 



   Dabei hat es sich gezeigt, dass das in den Messraum eintretende Strahlenbündel beim   Auftrefiell   
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 Strahlen den Messraum verlassen konnten, ohne die Bleiwand zu treffen. Diese   Austrittsöffnung ermöglicht   es aber den infolge der Streuwirkung, welche die untersuchten Strahlen in der Luft erfahren, von den   Zimmerwänden   oder irgendwelchen in der Nähe befindlichen Gegenständen ausgesandten Sekundärstrahlen in den Messraum einzudringen und in seinem Inneren ihrerseits eine Ionisation hervorzurufen.

   die, da sie nicht von den untersuchten Strahlen herrührt, das Messergebnis    fälscht.'Sie   tut dies, indem sie beispielsweise bei der Anwendung der Einrichtung zur Bestimmung von   Abschwächungskoeffizienten   unter Verwendung eines   Messiilters   sich, ohne ihrerseits das Messfilter durchsetzt zu haben, den untersuchten, durch das Messfilter hindurchgegagnenen Strahlen beimengt und so die Messung wertios macht. 



  Immer aber ist. wie bekannt, die Stärke der durch Streuwirkung erzeugten   Sekundärstrahlung   Schwankungen durch die verschiedensten Einflüsse unterworfen : auch aus diesem Grunde, von allem anderen abgesehen, stört die Sekundärstrahlung die Messung in empfindlicher Weise. 



   Es muss deshalb eine rechnerische Korrektion an dem Messgerät vorgenommen werden. Diese Korrektion erfüllt ihren Zweck aber nur dann, wenn die durch die Austrittsöffnung eintretende ungewollte Strahlung eine erheblich geringere Ionisation in der Messkammer hervorruft als das einfallende StrahlenbÜndel der untersuchten Strahlung, eine Bedingung, die nicht erfüllt werden kann, weil die Austritts- öffnung wegen der   kegelförmigen   Gestalt des untersuchten Strahlenbündels erheblich grösser gemacht werden muss als die Eintrittsöffnung. 



   Die Erfindung beseitigt diesen Nachteil. Gemäss der Erfindung wird die Austrittsöffnung mit den gleichen Filtern in-vom Inneren der Messkammer aus gerechnet-derselben Reihenfolge verschlossen, wie die   Einfallsöffnung.   



   In der Zeichnung ist eine beispielsweise Ausführung der neuen Einrichtung im Längsschnitt sehematisch dargestellt. Das den Messraum einschliessende Gehäuse g ist im Innern mit Bleiwänden h 
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 verändert. Gegenüber der   Einfallsöffnung   a ist die   Austrittsöffnung t, welche durch   ein Grundfilter b, und die auswechselbaren Messfilter   fi,     , i verschlossen   ist, angebracht. 

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 der Filterstoffe, sowie die von aussen kommenden korpuskularen Strahlen nicht in die   Messkammer ein-   dringen können.

   Demgemäss muss die durch die   Ausfallsöffnung eindringende Streustrahlung   immer die, gleiche spektrale Zusammensetzung haben wie das einfallende Strahlenbündel der untersuchten 
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 verurschaten Fehler ist nicht mehr erfordellich. 



   Statt in der Austrittsöffnung f ebensolche Filter wie in der   Eintritt :, öffnung a   anzuordnen, kann man in der   Austrittsöffnung ein Stück Messing,   Kupfer oder Zink anbringen, das vorteilhaft mit der 
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 ist verhältnismässig langwellig und wird durch ein an dem Messing oder dgl. an der Innenseite vorgesetzte Aluminiumscheibe von   etwa J Millimeter Stärke abgefangen,   die zweckmässig auf dem Messing oder dgl.   aufgelötet sein   kann. 



    PATENT-ANSPRÜCHE:  
1. Einrichtung zur Untersuchung von Röntgen- und anderen ionisierenden nicht korpuskularen 
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 für die zu untersuchenden Strahlen, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Weg der durch die Austritt- öffnung in den   Messraum   eintretenden Strahlen Filter von der gleichen Absorptionswirkung angeordnet sind. wie sie sich in der Einfallsöffnung befinden.



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   It is known to use electroscopes alone or ionization chambers in conjunction with electrometers or ammeters to measure the hardness and intensity of X-rays and other ionizing, non-corpuscular rays, and to accommodate the entire device or parts of it in a container with lead walls. The examined beam enters the measuring room through an incidence opening in one of these lead walls, which can be closed with exchangeable radiation filters with different filter effects.

   The measurement is carried out by determining and comparing the duration of the electroscope's discharge or the strength of the current flowing through the ionization chamber when using filters with different absorption and penetrated by the examined radiation.



   It has been shown that the bundle of rays entering the measuring area when it occurs
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 Rays could leave the measuring room without hitting the lead wall. However, this exit opening enables the secondary rays emitted by the walls of the room or any objects in the vicinity as a result of the scattering effect which the examined rays experience in the air to penetrate into the measuring room and in turn cause ionization in its interior.

   which, since it does not originate from the examined rays, falsifies the measurement result. It does this, for example, by applying the device for determining attenuation coefficients using a measuring filter without having penetrated the measuring filter the measuring filter is added to the rays that have passed through it, making the measurement worthwhile



  But always is. As is known, the strength of the secondary radiation generated by the scattering effect is subject to fluctuations due to the most varied of influences: for this reason too, apart from everything else, the secondary radiation disturbs the measurement in a sensitive manner.



   A computational correction must therefore be made to the measuring device. This correction only fulfills its purpose, however, if the unwanted radiation entering through the exit opening causes significantly lower ionization in the measuring chamber than the incident beam of the examined radiation, a condition that cannot be met because the exit opening is conical because of the conical shape Shape of the examined beam must be made considerably larger than the entrance opening.



   The invention overcomes this disadvantage. According to the invention, the outlet opening is closed with the same filters in - calculated from the interior of the measuring chamber - the same sequence as the inlet opening.



   The drawing shows an example of an embodiment of the new device in a longitudinal section. The housing g, which encloses the measuring space, is inside with lead walls h
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 changed. The exit opening t, which is closed by a basic filter b and the exchangeable measuring filters fi, i, is attached opposite the inlet opening a.

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 the filter material and the corpuscular rays coming from outside cannot penetrate the measuring chamber.

   Accordingly, the scattered radiation penetrating through the exit aperture must always have the same spectral composition as the incident beam of the examined
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 Verurschaten error is no longer necessary.



   Instead of arranging the same filters in the outlet opening f as in the inlet:, opening a, a piece of brass, copper or zinc can be attached in the outlet opening, which is advantageous with the
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 is relatively long-wave and is intercepted by an aluminum disk about J millimeters thick placed on the inside of the brass or the like, which can conveniently be soldered onto the brass or the like.



    PATENT CLAIMS:
1. Device for the examination of X-ray and other ionizing non-corpuscular
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 for the rays to be examined, characterized in that filters with the same absorption effect are arranged in the path of the rays entering the measuring chamber through the exit opening. how they are in the entrance opening.

 

Claims (1)

2. Einrichtung nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass in der Austrittsöffnung an Stelle der einzelnen auswechselbaren Filter ein einziges mit der Verschlusskappe starr verbundenes Metallstück a. us Messing oder einem ähnlichen Metall von solcher Dicke angeordnet ist, dass seine Absorptionswirkun der der Bleiwand des Gehäuses gleichkommt, welches jedoch von so langwelliger Eigenstrahlung ist. dass diese durch ein der Kammer zugewandtes. mit dem Messingfilter verbundenes Aluminiumblech unterdrückt werden kann. EMI2.5 2. Device according to claim l, characterized in that in the outlet opening, instead of the individual replaceable filters, a single piece of metal rigidly connected to the closure cap a. brass or a similar metal is arranged of such a thickness that its absorption effect is equal to that of the lead wall of the housing, which, however, has such long-wave intrinsic radiation. that this through one facing the chamber. aluminum sheet connected to the brass filter can be suppressed. EMI2.5
AT89856D 1920-01-02 1921-03-30 Device for the examination of X-rays and other ionizing rays. AT89856B (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AT394456B (en) * 1990-04-17 1992-04-10 Oesterr Forsch Seibersdorf SECOND IONIZATION CHAMBER FOR MEASURING PHOTON RADIATION

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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AT394456B (en) * 1990-04-17 1992-04-10 Oesterr Forsch Seibersdorf SECOND IONIZATION CHAMBER FOR MEASURING PHOTON RADIATION

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