AT527155B1 - Vorrichtung für die Messung der Ebenheit einer Fläche oder Dicke einer Flachglasscheibe - Google Patents

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1) für die Messung der Ebenheit einer Fläche (2) oder der Dicke einer Flachglasscheibe, wobei die Vorrichtung (1) mindestens drei Lichtquellen (5) aufweist, welche Licht divergent abstrahlen, sowie eine Kamera (6), welche dazu beschaffen ist, das am der Fläche (2) gerichtet reflektierte, ursprünglich von den divergent abstrahlenden Lichtquellen (5) kommende Licht zu erfassen. Die Vorrichtung (1) weist auch mindestens drei Lichtquellen (4) auf, welche Licht kollimiert entlang jeweils einer definiert positionierten Geraden (7) abstrahlen, wobei die Kamera (6) auch dazu beschaffen ist, das am der Fläche (2) gesteuert reflektierte, ursprünglich von den kollimiert abstrahlenden Lichtquellen (4) kommende Licht zu erfassen.

Description

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Beschreibung

[0001] Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung für die Messung der Ebenheit einer Fläche oder Dicke einer Flachglasscheibe unter Anwendung der Messung der Winkellage von Lichtstrahlen, welche von der Fläche reflektiert werden.

[0002] Die Schriften EP 0433555 A2, DE 102018202625 A1 und WO 2022214159 A1 zeigen beispielhaft ein bekanntes Prinzip der optischen Vermessung der Geometrie einer Oberfläche anhand von diffus zurückgestreutem Licht. Ein kollimierter Lichtstrahl mit möglichst kleiner Querschnittsfläche, der typischerweise von einem Laser stammt, wird entlang einer im Raum definiert vorgegebenen Geraden auf die Oberfläche geleitet. Die Oberfläche wird durch eine Kamera also eine Kombination aus einer Objektiv und einem ortsauflösenden optischen Sensor - abgebildet. Der Ort des Auftreffens des kollimierten Lichtstrahls auf der Oberfläche erscheint im Kamerabild als heller Punkt. Aus der Position dieses Punktes im Bild wird auf die Position des damit abgebildeten Punktes im Raum rückgerechnet.

[0003] Gemäß der DE 2853816 A1 wird ein kollimierter Lichtstrahl mit bekannter Position und Ausrichtung im Raum auf eine zu messende spiegelnde Fläche gesandt und der von dieser Fläche gerichtet (also nicht diffus) reflektierte Lichtstrahl trifft auf einen Punkt einer in bekannter Position angeordneten lichtempfindlichen Detektorfläche. Aus der Position des Auftreffpunktes auf der Detektorfläche kann bezüglich des Punktes auf der zu messenden Fläche von welchem aus der Strahl reflektiert wurde, auf mögliche Wertepaare von Position und Winkelausrichtung rückgerechnet werden. Durch Anwendung des Wissens über weitere Randbedingungen — welches beispielsweise durch weitere Messungen in definiert veränderten Positionen gewonnen wird - kann auf die Position und/oder auf die Winkelausrichtung eindeutig rückgerechnet werden. Für eine einfache Gut/Schlecht-Beurteilung der Ebenheit oder allgemeiner der Formgenauigkeit der zu messenden Fläche kann einfach auch das Maß des Abstandes zwischen dem tatsächlichen Auftreffpunkt und dem im Idealfall vorliegenden Auftreffpunkt des reflektierten Strahles an der Detektorfläche verwendet werden.

[0004] Gemäß der US 5471307 A wird parallel zu einer zu messenden Fläche welche gerichtet reflektiert, eine mit einem regelmäßigen Hell-Dunkel-Muster versehene, beleuchtete ebene Musterfläche angeordnet, und das an der zu vermessenden Fläche gespiegelte Bild der Musterfläche durch eine Kamera aufgenommen. Aus den Verzerrungen des tatsächlich gespiegelten Bildes gegenüber dem idealen — durch Berechnung bekannten - gespiegelten Bild, wird auf Abweichungen der Ebenheit in den an der verzerrten Reflexion beteiligten Flächenbereichen der zu messenden Fläche rückgeschlossen. Durch WMederholung von Messungen unter definiert geänderten Bedingungen wird weiter geschlossen, wie sehr die Abweichungen transversale Verschiebung und/oder Verdrehung eines Oberflächenbereichs gegenüber der idealen Position bzw. Ausrichtung sind. Ein sehr ähnliches Verfahren wie die US 5471307 A beschreibt die EP 1429 113 A1.

[0005] Gemäß der EP 893685 A2 wird eine idealerweise ebene gerichtet reflektierende zu messende Fläche durch mehrere Lichtquellen, welche so weit wie möglich punktförmig ausgebildet sind und in definierten Positionen von der zu messenden Fläche beabstandet sind, mit sich divergent (also nicht kollimiert) ausbreitendem Licht beleuchtet. Mittels einer Detektorfläche, welche sich im Nahbereich der Lichtquellen befindet werden die Positionen der an der Messfläche gespiegelten Bilder der einzelnen Lichtquellen bestimmt. Wenn die Anordnung so gewählt wird, dass jene Lichtstrahlen, welcher von einer Lichtquelle ausgehend auf die Detektorfläche zurückgespiegelt werden, fast genau senkrecht auf die zu messende Fläche treffen, ist das Maß des Versatzes des Auftreffpunktes des reflektierten Strahls auf der Detektorfläche gegenüber dem idealen Auftreffpunkt vorwiegend ein Hinweis auf eine Neigungsabweichung der vermessenen Oberfläche am jeweiligen Reflexionspunkt, und nicht so sehr ein direkter Hinweis auf eine lineare Verschiebung des Reflexionspunktes.

[0006] Ausgehend von der EP 893685 A2 besteht die der Erfindung zu Grunde liegende Aufgabenstellung darin, eine Vorrichtung für das Vermessen der Ebenheit von Oberflächen wie beispielsweise der Oberfläche von Flachglasscheiben unter strikter Beachtung von Wirtschaftlichkeit

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dahingehend verbessert auszuführen, dass sowohl Neigungswinkel als auch absolute Position von Punkten der zu messenden Oberfläche möglichst direkt detektiert werden, und dass die Ebenheitsmessung von den Reflexionseigenschaften der vermessenen Oberfläche weniger abhängig wird.

[0007] Für das Lösen der Aufgabe werden von der EP 893685 A2 die Merkmale übernommen, dass eine Vorrichtung verwendet wird, welche dazu beschaffen ist, die zu vermessende Fläche durch mehrere Lichtquellen, die in definierten Positionen von der zu messenden Fläche beabstandet sind, mit sich divergent ausbreitendem Licht zu beleuchten, und Spiegelbilder der Lichtquellen, welche auf gerichteter Reflektion des von den Lichtquellen gestreut ausgesandten Lichtes an der zu vermessenden Fläche basieren, durch eine Kamera zu erfassen, sodass aus der Position der Abbildungen der Spiegelbilder der Lichtquellen auf das Wertepaar von Position und Ausrichtung des zugehörigen Reflexionsflächenbereichs auf der zu vermessenden Fläche zurückgerechnet werden kann.

[0008] Als erfindungsgemäße Verbesserung dazu wird vorgeschlagen, an der besagten Vorrichtung auch mehrere Lichtquellen vorzusehen, welche kollimiertes Licht entlang definierter Geraden auf die zu vermessende Fläche hin aussenden, und die Kamera der Vorrichtung dazu auszulegen, auch das am jeweiligen Auftreffpunkt der kollimierten Lichtstrahlen diffus gestreute Licht Zu erfassen, sodass aus dem durch die Kamera aufgenommen Bild auf die Position des jeweiligen Auftreffpunktes auf der zu vermessenden Fläche zurückgerechnet werden kann.

[0009] Durch die Verschiedenartigkeit der beiden Messungen - einmal gerichtet reflektiertes Licht das von einer divergent strahlenden Lichtquelle stammt, einmal gestreut reflektiertes Licht welches von einer kollimiert strahlenden Lichtquelle stammt - werden Ergebnisse erzielt, aus denen wesentlich besser und direkter auf die tatsächliche Form der vermessenen Fläche rückgeschlossen werden kann, als wenn nur eines der beiden Messprinzipien mit erhöhter Anzahl von Messpunkten verwendet werden würde. Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass mit der Vorrichtung sowohl ideal gerichtet reflektierende Oberflächen, als auch ideal diffus reflektierende Oberflächen, als auch alle Oberflächen die beliebig gemischt sowohl gerichtet als auch diffus reflektieren, vermessen werden können. Drittens liefert die Vorrichtung auch Kenntnisse darüber, in welchem Ausmaß die zu messende Fläche gerichtet und streuend reflektiert, womit auch Information über die zu messende Fläche sensorisch erfasst werden die über Ort und Ausrichtung von Teilflächen hinausgehen.

[0010] Diese Vorteile werden unter sehr vorteilhaften wirtschaftlichen Bedingungen erreicht, da viele der wesentlichen Teile der Vorrichtung - Stromversorgung, Kamera, Datenverarbeitungseinrichtung, Datenübertragungseinrichtung, Platine welche die Einzelelemente trägt - für beide Messprinzipien gemeinsam verwendet werden können, und somit nur einmal je Vorrichtung vorhanden sein müssen.

[0011] Die Erfindung wird an Hand von Zeichnungen näher erläutert.

[0012] Fig. 1 zeigt stark stilisiert in Seitenansicht eine beispielhafte erfindungsgemäße Vorrichtung beim bestimmungsgemäßen Messeinsatz mit kollimiert strahlenden Lichtquellen. Lichtstrahlen sind durch strichlierte bzw. punktierte Linien symbolisiert.

[0013] Fig. 2 zeigt in gleicher Art wie Fig. 1 die Anordnung von Fig. 1 beim bestimmungsgemäßen Messeinsatz mit divergent strahlenden Lichtquellen. Lichtstrahlen sind durch punktierte Linien symbolisiert.

[0014] Fig. 3 zeigt in gleicher Art wie Fig. 1 und die Anordnung von Fig. 1 und Fig. 2 beim bestimmungsgemäßen Messeinsatz mit divergent strahlenden Lichtquellen bei der Anwendung zur Messung der Dicke eines Flachglases.

[0015] Die Zeichnungen zeigen eine beispielhafte erfindungsgemäße Vorrichtung 1 sowie einen Gegenstand, welcher in einem Abstand zu der Vorrichtung 1 angeordnet ist, und dessen der Vorrichtung 1 zugewendete Oberflächenseite die Fläche 2 ist, deren Ebenheit mit Hilfe der Vorrichtung 1 zu vermessen ist.

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[0016] Die Vorrichtung 1 umfasst eine Platine 3, mindestens drei Licht-quellen 5, welche Licht divergent ausbreitend abstrahlen, mindestens drei Lichtquellen 4 welche Licht kollimiert ausbreitend abstrahlen, sowie eine Kamera 6, sowie weitere nicht dargestellte Teile, welche für den Betrieb der Lichtquellen 5, 4 und der Kamera 6 erforderlich sind, wie beispielsweise eine Stromversorgung, elektrische Leitungen und eine Steuereinheit zumindest für das Schalten der Lichtquellen und der Kamera, und das Steuern der Übertragung der von der Kamera 6 erfassten Bilddaten.

[0017] Idealerweise sind die mindestens drei Lichtquellen 5, welche Licht divergent ausbreitend abstrahlen, entlang des Umfanges eines gedachten Kreises in gleichmäßigem Winkelabstand zueinander angeordnet. Ebenso sind idealerweise auch die mindestens drei Lichtquellen 4, welche Licht kollimiert ausbreitend abstrahlen, entlang des Umfanges eines gedachten Kreises in gleichmäßigem Winkelabstand zueinander angeordnet. Idealerweise sind dabei der Kreis an dessen Umfang die Lichtquellen 5 liegen und der Kreis an dessen Umfang die Lichtquellen 4 liegen, koaxial zueinander angeordnet, und die gemeinsame Achse der beiden Kreisflächen verläuft idealerweise durch den Mittelpunkt der Detektorfläche der Kamera 6, und die Detektorfläche der Kamera 6 ist normal zu dieser Achse ausgerichtet. Idealerweise ist dabei die zu vermessende Fläche 2 so angeordnet, dass sie dann, wenn sie fehlerfrei eben wäre, genau parallel zur Ebene der besagten Kreise liegen würde, und somit normal zur besagten Achse. Besonders klar verständliche Verhältnisse, und einfache Formeln für die mathematische Umrechnung der Messergebnisse in ein kartesisches Koordinatensystem ergeben sich, wenn darüber hinaus noch jeweils genau vier Lichtquellen 5, 4 verwendet werden.

[0018] Im Zustand gemäß Fig. 1 sind nur die Lichtquellen 4, welche Licht kollimiert entlang jeweils einer genau definierten Geraden 7 abstrahlen, in Betrieb. Das Licht dieser Lichtquellen 4 beleuchtet die Fläche 2 nur jeweils an einer einzigen kleinen Teilfläche 8, und wird im Allgemeinen dort zu einem Teil absorbiert, zum Teil gerichtet reflektiert, und zum Teil gestreut reflektiert. Die Positionen der Teilflächen 8, auf welche jeweils eine kollimiert strahlende Lichtquelle 4 hin leuchtet, sind idealerweise in Bezug auf die Positionen der jeweils anstrahlenden Lichtquellen 4 und der Kamera 6 so gewählt, dass das von den Teilflächen 8 gerichtet weg reflektierte Licht, das ursprünglich von einer der kollimiert strahlenden Lichtquellen 4 kommt, an der Kamera 6 vorbei gerichtet ist, also nicht durch die Kamera 6 erfasst werden kann. Das bedeutet, dass Licht, welches von einer der kollimiert abstrahlenden Lichtquellen 4 ausgesendet wird, nur als an jeweils einer der Teilflächen 8 der zu vermessenden Fläche 2 gestreut reflektiertes Licht auf die Kamera 2 treffen kann. Da die Gerade 7, entlang welcher das Licht von der Lichtquelle 4 auf die Fläche 2 flutet, im Raum genau definiert angeordnet ist, und da durch die Kamera genau detektierbar ist, aus welcher Richtung das besagte gestreute Licht auf ihre Detektorfläche kommt, ist damit eindeutig errechenbar, wo im Raum sich die jeweilige gestreut reflektierende Teilfläche 8 der zu vermessenden Fläche 2 befindet. Wenn die zu vermessende Fläche 2 fast ausschließlich gerichtet reflektiert, kann Licht, welches von den Lichtquellen 4 kollimiert abgestrahlt wird, nur mit vergleichsweise sehr kleiner Intensität an die Kamera 6 gelangen. In diesen Fällen ist eine hohe Intensität der Abstrahlung der Lichtquellen 4 einzustellen und auch eine sehr hohe Lichtempfindlichkeit der Kamera 6 einzustellen, zumindest auf den Spektralbereich in welchem die Lichtquellen 4 strahlen.

[0019] Im Zustand gemäß Fig. 2 sind nur die Lichtquellen 5, welche Licht divergent abstrahlen, in Betrieb. Das Licht dieser Lichtquellen 5 beleuchtet die Fläche 2 über einen großen Bereich weitgehend gleichmäßig und wird zumindest teilweise von dieser gerichtet reflektiert, also gespiegelt. Die Kamera 6 ist damit in der Lage, von der Anordnung der Lichtquellen 5, welche Licht divergent abstrahlen, ein Bild aufzunehmen, in welchem die Spiegelbilder dieser Lichtquellen 5 als helle Punkte vorkommen. Unter der Annahme, dass der Normalabstand zwischen der Ebene in welcher die Lichtquellen 5 liegen und der Ebene in welcher die Fläche 2 im wesentlichen liegt, bekannt ist, sind aus der Positionen der besagten hellen Punkte im gespiegelten Bild Wertepaare errechenbar, welche bezüglich der jeweils ein Bild einer Lichtquelle 5 reflektieren den Teilfläche 9 jeweils eine mögliche Position im Raum und eine zu dieser Position passende, mögliche Winkelausrichtung definieren.

[0020] In der Praxis ist zu erwarten, dass Licht an der Fläche 2 nicht nur gerichtet, sondern auch

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gestreut reflektiert wird, und dass damit auch gestreutes Licht, welches nicht von der Teilfläche 9 der zu vermessenden Fläche 2 kommt, durch die Kamera 6 erfasst wird. Das gestreut reflektierte Licht kommt allerdings an der Detektorfläche der Kamera 6 mit bedeutend niedriger Intensität an, als das gerichtet reflektierte Licht. Die durch gestreut reflektiertes Licht hervorgerufenen Bildpunkte des durch die Kamera 6 erfassten Bildes können durch Datenverarbeitung zufolge ihrer geringen Helligkeit leicht erkannt und wegsortiert werden.

[0021] Idealerweise werden die Positionen der Teilflächen 9 und der Teilflächen 8, für den Fall, dass die zu vermessende Fläche 2 ideal eben und ideal genau positioniert ist, so gewählt, dass sie zusammenfallen, dass also eine Teilfläche 9 von welcher aus gerichtet reflektiertes Licht einer der divergent strahlenden Lichtquellen 5 auf die Kamera 6 reflektiert wird, genau auch eine Teilfläche 8 ist, von welcher aus gestreut reflektiertes Licht einer der kollimiert strahlenden Lichtquellen 4 auf die Kamera 6 reflektiert wird. Dann kann die Position der Teilfläche 8, welche aus dem Messprinzip gemäß Fig. 1 errechnet werden kann, in der Reihe von Wertepaaren, welche aus dem Messprinzip von Fig. 2 errechnet werden, gesucht werden, und die im betreffenden Wertepaar angegebene Neigung als die Neigung der betreffenden Teilfläche 9, 8 eindeutig festgestellt werden.

[0022] Auch wenn die beiden unterschiedlichen Messungen gemäß Fig. 1 und gemäß Fig. 2 die gleichen Teilflächen 8, 9 auf der zu vermessenden Fläche 2 beanspruchen, brauchen sie nicht zeitlich hintereinander statt zu finden, sondern sie können auch gleichzeitig stattfinden. Dazu braucht nur das Licht der divergent strahlenden Lichtquellen 5 von jenem der kollimiert strahlenden Lichtquellen bei oder nach der Detektion durch die Kamera 6 unterscheidbar sein. Diese Unterscheidbarkeit kann beispielsweise durch unterschiedliche Lichtfarben oder durch unterschiedliche Frequenzen von Intensitätsschwankungen der Abstrahlung der Lichtquellen erreicht werden.

[0023] Sofern die divergent strahlenden Lichtquellen 5 und die kollimiert strahlenden Lichtquellen 4 unterschiedliche relevante Teilflächen 9, 8 auf der zu vermessenden Fläche 2 beanspruchen von denen aus reflektiertes Licht an die Kamera 6 gestrahlt wird, ist schon durch die Ortsauflösung der Kamera 6 eine Unterscheidung dahingehend möglich, ob das von einer der Teilflächen 9, 8 aus an der Kamera 6 ankommende Licht ursprünglich von einer der divergent strahlenden Lichtquellen 5 oder von einer der kollimiert strahlenden Lichtquellen 4 kommt.

[0024] Bei der Anwendung der Erfindung zur Überwachung der Ebenheit von Flachgläsern in einer diesbezüglichen Verarbeitungsanlage werden am besten eine ganze Reihe von erfindungsgemäßen Vorrichtungen nebeneinander angeordnet, sodass sie gemeinsam zumindest eine Breite der üblicherweise zu überwachenden Flachgläser abdecken.

[0025] Gemäß einer durch Fig. 3 veranschaulichten vorteilhaften Weiterentwicklung der Erfindung, wird die erfindungsgemäße Vorrichtung 1 unter Einsatz der divergent strahlenden Lichtquellen 5 auch dazu angewendet, die Dicke von Flachgläsern zu vermessen. Wenn die zu vermessende Fläche 2 gemäß Fig. 1 und Fig. 2 die der Vorrichtung 1 zugewandte Oberfläche einer Flachglasscheibe ist, dann kommt es nicht nur an der Fläche 2 an der Teilfläche 9 zu einer durch die Kamera 6 erfassbaren Reflexion, sondern auch an der darunterliegenden zweiten Glasoberfläche an der Teilfläche 10. Das Kamerabild ist dann auch so interpretierbar, dass die Teilflächen 8 und 10, bzw. 9 und 10 dann in der durch die Kamera 6 aufgenommenen Abbildung nicht als Punkt bzw. kleiner Kreis erscheinen, sondern entweder als kurze Linie, oder als schmale ovale Fläche oder als zwei Punkte. Dabei ist die Länge der kurzen Linie bzw. das Verhältnis von Länge zu Breite der ovalen Fläche bzw. der Mittenabstand der beiden Punkte proportional zur Glasdicke. Besonders gut funktioniert das Verfahren, wenn für die Glasdickenmessung die divergent strahlenden Lichtquellen 5 verwendet werden, und wenn die Abstrahlungsflächen dieser Lichtquellen einen sehr kleinen Durchmesser haben. Ohne weiteres erhältlich und gut geeignet ist beispielsweise eine SMD-LED mit einem Durchmesser der Abstrahlungsfläche von etwa 0,3 mm. Damit lassen sich unter Anwendung der in Fig. 3 skizzierten Methode Dicken von Flachgläsern auf Zehntel- bis Hundertstelmillimeter genau detektieren. Bei der Auswertung des Kamerabildes für das Feststellen der Glasdicke sollte das an sich bekannte Verfahren der sogenannten Sub-pixel-

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Interpretation (engl. "Sub-pixel resolution") angewandt werden.

[0026] Das Vermessen der Glasdicke ist auch mit den kollimiert strahlenden Lichtquellen 4 möglich, wobei eine Herausforderung darin liegt, den kleinen Lichtanteil, welcher an der von der Kamera 6 abgewandt liegenden Oberfläche der Glasscheibe streuend reflektiert wird zu erfassen. Die erreichbare Messgenauigkeit wird besser, je spitzer (also kleiner) der Winkel zwischen den an der Messung beteiligten Lichtstrahlen und der Fläche 2 ist.

[0027] Ein besonders wertvoller Einsatzfall der erfindungsgemäßen Vorrichtung unter Anwendung der beschriebenen Glasdickenmessung liegt dann vor, wenn Flachglasscheiben möglichst eng aber doch beschädigungsfrei und ohne einander zu berühren maschinell in vertikaler Position in Fächern gelagert werden sollen, welche nur durch gabelzinkenartige Teile voneinander abgetrennt sind. Dann ist es nämlich notwendig den Platzbedarf der einzelnen Scheiben normal zu deren Ebene genau zu kennen, wobei dieser Platzbedarf als Summe aus Glasdicke und Ausbiegung des Flachglases errechenbar ist. Beides, Glasdicke und Ausbiegung kann wie beschrieben durch die erfindungsgemäße Vorrichtung erfasst werden. Für diesen Anwendungsfall kann auch gut mit einer Vorrichtung das Auslangen gefunden werden, welche sich von der abgebildeten Vorrichtung dadurch unterscheidet, dass sie keine kollimiert strahlenden Lichtquellen 4 aufweist, sondern an Lichtquellen nur divergent abstrahlende Lichtquellen 5.

[0028] Es ist übrigens auch sinnvoll, das Verfahren der Subpixel-Interpretation für die Vermessung der exakten Lage der Teilflächen 8, bzw. 9 zu verwenden, bzw. um das Zentrum dieser Flächen - definiert z.B. als deren Schwerpunkt oder als deren Innkreismittelpunkt - exakt zu eruieren.

Claims (4)

A ‚hes AT 527 155 B1 2025-09-15 Ss N Patentansprüche

1. Vorrichtung (1) für die Messung der Ebenheit einer Fläche (2) oder Dicke einer Flachglasscheibe, wobei die Vorrichtung (1) mindestens drei Lichtquellen (5) aufweist, welche Licht divergent abstrahlen, sowie eine Kamera (6), welche dazu beschaffen ist, das an der Fläche (2) gerichtet reflektierte, ursprünglich von den divergent abstrahlenden Lichtquellen (5) kommende Licht zu erfassen, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung (1) auch mindestens drei Lichtquellen (4) aufweist, welche Licht kollimiert entlang jeweils einer definiert positionierten Geraden (7) abstrahlen, wobei die Kamera (6) auch dazu beschaffen ist, das an der Fläche (2) gestreut reflektierte, ursprünglich von den kollimiert abstrahlenden Lichtquellen (4) kommende Licht zu erfassen.

2. Vorrichtung (1) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen (4), welche Licht kollimiert abstrahlen und die Lichtquellen (5), welche Licht divergent abstrahlen, sowie die Kamera (6), sowie eine diese Teile gemeinsam versorgende einzelne Stromversorgungseinheit sowie eine alle Lichtquellen (4, 5) und die Kamera (6) steuernde Steuerungseinheit auf einer gemeinsamen Platine (3) angeordnet sind.

3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens drei Lichtquellen (5), welche Licht divergent ausbreitend abstrahlen, entlang des Umfanges eines gedachten Kreises in gleichmäßigen Winkelabstand zueinander angeordnet sind, und dass die mindestens drei Lichtquellen (4), welche Licht kollimiert ausbreitend abstrahlen entlang des Umfanges eines gedachten Kreises in gleichmäßigen Winkelabstand zueinander angeordnet sind, und dass die beiden Kreise koaxial zueinander angeordnet sind, und dass die gemeinsame Achse der beiden Kreisflächen durch den Mittelpunkt der Detektorfläche der Kamera (6) verläuft.

4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass sie genau vier Lichtquellen (5), welche Licht divergent ausbreitend abstrahlen, und genau vier Lichtquellen (4), welche Licht kollimiert ausbreitend abstrahlen aufweist.

Hierzu 3 Blatt Zeichnungen