AT516003A3 - Führungs- und Stützglied für eine Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilen - Google Patents

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Pötzinger Johann
Staniszewski Gerald
Kronthaler Simon
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Multitest Elektronische Systeme Gmbh
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Abstract

Die Erfindung geht aus von einem Führungs- und Stützglied in einer Vorrichtung zum Prüfen von elektronischen Bauteilen (11), welches in eine Zuführ- und in eine Prüfstellung bewegbar ist, mit einem Grundkörper (2, 3) zur Aufnahme eines zu prüfenden elektronischen Bauteils (11), mit wenigstens einer Auflage (4) zur Stützung von Kontaktfedern (12) des zu prüfenden elektronischen Bauteils (11) und mit wenigstens einem Anschlag (5), der die Bewegung des zu prüfenden elektronischen Bauteils (11) an einer seiner Kontaktfedern (12) stoppt wenn sich das zu prüfenden elektronischen Bauteils (11) in exakter Position befindet. Erfindungsgemäß besteht die wenigstens eine Auflage (4) aus einem keramischen Werkstoff wobei der Anschlag (5) in dem Grundkörper (2, 3) verankert ist.
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