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Zusatz-Gerät für optische Instrumente, insbesondere für Mikroskope
Die Erfindung betrifft ein Zusatz-Gerät für optische Instrumente, insbesondere für Mikroskope, bei welchem das aus dem optischen Instrument kommende Strahlenbündel an einem Strahlenteiler in einen Mess- und einen Beobachtungs-Strahlengang aufgespalten ist und im Mess-Strahlengang eine photometrische Mess-Einrichtung eingesetzt ist. In Verbindung beispielsweise mit einem Mikroskop sollen solche Zusatz-Geräte entweder als Photometer oder aber als Mess-Gerät zur Flächenmessung von mikroskopischen Objekten durch subjektiven Vergleich mit einer zu vermessenden Kreisfläche verwendbar sein.
Bisher bekannte Photometer sind mit einem Beobachtungs- sowie mit einem Mess-Strahlengang ausgerüstet, wobei in der Bildebene des letzteren eine Blende zur Bildbegrenzung des zu photometrierenden Objektes eingesetzt ist ; das hiebei zu lösende Problem besteht darin, im Beobachtungs-Strahlengang ein Bild der Messblende zu erhalten, aus dem die jeweilige Grösse der Blende im Vergleich zum Bild des zu untersuchenden Objektes zu entnehmen ist..
Es wurde daher bereits vorgeschlagen, die Messblende als voll reflektierende Blende auszubilden, über welche das Bild des zu photometrierenden Objektes in den Beobachtungs-Strahlengang gelangt ; dies ist jedoch nur bei Ausbildung dieser Blende als Spiegel möglich, der genau in der Bildebene des Mess-Strahlenganges justiert sein muss, wofür jedoch nur eine ganz bestimmte Blendengrösse in Betracht kommt, es sei denn, es wird ein verschiebbarer oder drehbarer Spiegel mit verschieden grossen Blendenöffnungen verwendet.
Demgegenüber wäre nun eine Blende mit variabler Öffnung erwünscht, welche jeweils dem Objekt angepasst und deren Ort oder/und Grösse im Bild des Objektes sichtbar gemacht werden kann.
Ausserdem ist auch bereits ein Verfahren zur Flächenvermessung von mikroskopischen Objekten durch subjektiven Vergleich mit einer zu vermessenden Kreisfläche bekannt, wobei die über die Kreisfläche hinausragenden Teile der Objektfläche mit der nicht bedeckten Kreisfläche in Übereinstimmung gebracht werden ; die Grösse der Kreisfläche ergibt dann ein Mass für die Grösse des zu vermessenden Teilchens ; für die zweckmässig variable Vergleichskreisfläche werden entsprechend einstellbare Blenden, beispielsweise Irisblenden, verwendet, deren Einstellorgane mit entsprechenden Markierungen zur Ablesung der jeweils eingestellten Blendengrösse versehen sind ; hiebei ergeben sich auch bei sehr genau durchgeführtem subjektivem Vergleich zwischen Objekt und Kreisfläche zwangsläufig Ungenauigkeiten durch das Spiel der mechanischen Einstellorgane.
Nach der Erfindung wird nun bei Zusatz-Geräten der eingangs beschriebenen Art für optische Instrumente, insbesondere für Mikroskope, bei gleichem Grundaufbau, d. h. lediglich mit geringen Abänderungen, die Verwendbarkeit für beide erwähnten Zwecke durch Kombination folgender Merkmale erreicht : a) dass in einer konjugierten Bildebene des Mess-Strahlenganges eine veränderbare Blende eingesetzt ist ; b) dass hinter dieser Blende eine Lichtquelle zur rückseitigen Beleuchtung derselben angeordnet ist ; c) dass gleichfalls hinter der Blende ein lichtelektrischer Wandler angebracht ist ;
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d) dass ein Strahlenteiler mit einem teildurchlässigen Spiegel und einem Vollspiegel vorhanden ist, mittels welcher die vom optischen Instrument und die entgegengesetzt hiezu von der Blende kommenden
Strahlenbündel einander überlagert in die Beobachtungs-Einrichtung gelenkt werden ; e) wobei schliesslich allenfalls dieser Vollspiegel des Strahlenteilers gegen ein lichtempfindliches
Element oder/und gegen eine Lichtquelle austauschbar ist.
Bei Ausbildung dieses Zusatz-Gerätes als Photometer ist zweckmässig auf einer Seitenfläche des
Strahlenteilerkörpers der Vollspiegel angebracht, wodurch das Blendenbild in den Beobachtungs-Strahlen- gang eingespiegelt wird ; bei dieser Anordnung muss jedoch während der Messung die Lichtquelle zur
Beleuchtung der Blende ausgeschaltet werden.
Bei einer weiteren vorteilhaften Ausgestaltung des Zusatz-Gerätes ist, falls die Strahlenteilung am
Strahlenteiler im parallelen Strahlengang erfolgt, der am Strahlenteiler angebrachte Vollspiegel als Planspiegel ausgebildet. Bei Strahlenteilung im konvergenten oder im divergenten Strahlengang muss jedoch der Vollspiegel als entsprechend gekrümmte Fläche ausgebildet sein.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform des als Photometer dienenden Zusatz-Gerätes sind zwischen der veränderbaren Blende und dem lichtelektrischen Wandler ein ausschwenkbarer Spiegel und seitlich davon die Lichtquelle zur Beleuchtung der dem Wandler zugewendeten Seite der Blende angeordnet. Bei einer andern Variante des Zusatz-Gerätes ist an der gleichen Stelle ein chromatisch teildurchlässiger Spiegel und seitlich davon wieder die Lichtquelle zur Beleuchtung der Blende angeordnet ; bei Einsatz dieses chromatischen Strahlenteilers gehören also das Messlicht einerseits und das Licht zur Beleuchtung der Blende anderseits verschiedenen Spektralbereichen an, welche durch den chromatischen Teiler trennbar sind.
Soll anderseits das Zusatz-Gerät zur Flächenmessung von mikroskopischen Objekten durch subjektiven Vergleich mit einer zu vermessenden Kreisfläche verwendet werden, dann wird das Gerät erfindungsgemäss beispielsweise derart ausgebildet, dass im Strahlengang zwischen dem Strahlenteiler und der veränderbaren Blende ein einschwenkbares, lichtempfindliches Element, vorzugsweise mit einem Opal-Deckglas, eingesetzt und mit seiner lichtempfindlichen Fläche der Blende zugewendet ist.
Die die variable Blende beleuchtende Lichtquelle wirkt dabei mit ihrem Lichtstrom je nach der Blendenöffnung unterschiedlich auf das lichtempfindliche Element ein, dessen Strom ein Mass für die eingestellte Blendengrösse ist, welche ihrerseits vorher unter Benutzung der Rückspiegelungs-Einrichtung subjektiv durch Vergleich mit dem zu vermessenden Objekt im Beobachtungs-Strahlengang festgelegt wird ; irgendwelche mechanische Fehler in der Einstellvorrichtung der Blende spielen dann keine Rolle, so dass tatsächlich eine objektive Messung zustandekommt, lediglich abgesehen vom subjektiven Vergleich des zu vermessenden Teilchens mit dem Bild der eingestellten Blende. Der bei dieser Vermessung an mikroskopischen Objekten direkt als elektrische Grösse anfallende Messwert kann nun, insbesondere bei einer Automation, sofort weiter verarbeitet werden.
Bei einer Variante dieser zweiten Type des Zusatz-Gerätes können nun sowohl das gegen den Vollspiegel des Strahlenteilers austauschbare, lichtempfindliche Element oder/und auch die austauschbare Lichtquelle an einem der Austrittspupille des Mikroskopes äquivalenten Ort des Photometer-Strahlenganges angeordnet sein. Diese zusätzliche, austauschbare Lichtquelle muss also an Stelle des Bildes der für die Rückspiegelungs-Einrichtung erforderlichen Lichtquelle stehen, d. h. an der Stelle des bei der vorher beschriebenen Anordnung des Zusatz-Gerätes vorgesehenen lichtempfindlichen Elementes, und sie wirkt dann durch die variable Blende hindurch auf das lichtempfindliche Element der Photometer-Einrichtung ein.
In den Zeichnungen sind nun mehrere Ausführungsbeispiele des erfindungsgemässen Zusatz-Gerätes zu optischen Instrumenten für jeden der beiden vorgesehenen Verwendungszwecke, jeweils in den Fig. 1 bis 5a bzw. in den Fig. 6 bis 8, dargestellt. Im einzelnen zeigen Fig. 1 und 4 Anordnungen des Zusatz-Gerätes als Photometer, bei denen die Teilung in Beobachtungs- und Mess-Strahlengang im Parallel-Strahlengang erfolgt ; Fig. 2 und 3 dagegen eine Anordnung mit Strahlenteilung im konvergenten Strahlengang ;
Fig. 5 und 5a ein Zusatz-Gerät mit einer photographischen Einrichtung bzw. eine zweckmässige Ausbildung für einen Schieber mit optischen Elementen, durch welche eine wahlweise Strahlenführung in die photometrische bzw. in die photographische Einrichtung ermöglicht wird ; und ferner Fig. 6 ein Zusatz-Gerät zur Flächenmessung mikroskopischer Objekte, mit einem vor der Messblende einschwenkbaren lichtempfindlichen Element ; Fig. 7 eine Vorrichtung für den gleichen Zweck, bei welcher am Ort des Bildes der zusätzlichen Lichtquelle der Photometer-Einrichtung ein lichtempfindliches Element eingesetzt ist ; und schliesslich Fig. 8 eine Anordnung mit einer zusätzlichen Lichtquelle, die auf das lichtempfindliche Element der Photometer-Einrichtung einwirkt.
In den Anordnungen nach Fig. 1 und 4 ist zur Beobachtung jeweils ein Fernrohr--l--vorgesehen,
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Bezugszeichen versehen. über dem Mikroskop-Tubus --5-- mit dem Okular --6-- ist ein Strahlenteilerkörper --7-angeordnet, der den Mikroskop-Strahlengang in ein Beobachtungs-Strahlenbündel-8-und ein Mess-Strahlenbündel --9-- aufspaltet.
In der Bildebene --10-- des Mess-Strahlenganges ist eine variable Blende --11-- angeordnet, die mittels einer Lichtquelle --12-- und eines Strahlenteilers - bzw. eines ausschwenkbaren Vollspiegels-13a-und einer im Mess-Strahlengang als Feldlinse
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die zur Einspiegelung des Blendenbildes in den Beobachtungs-Strahlengang (Fig. 1, 2 und 3) bzw. zur Reflexion des an der Teilerfläche des Strahlenteilers --7-- reflektierten Strahlenbündels (Fig. 4) in die Beobachtungs-Einrichtung (Femrohr--l--bzw. Lupe oder Okular--3-) dient.
Selbstverständlich lassen sich mit einer solchen Anordnung in an sich bekannter Weise photographische Registrier-Einrichtungen koppeln. Als Beispiel ist eine solche Vorrichtung in Fig. 5 dargestellt. In diesem Fall ist der Mess-Strahlengang --9-- der reflektierte Strahlengang, während oberhalb des Prismenkörpers-7-ein Photo-Tubus-17-und eine Kamera --18-- angeordnet sind. Es ist natürlich auch möglich, den Spiegel--19--, der eine weitere Umlenkung des Mess-Strahlenbündels --9-- bewirkt, als weiteren Teilerspiegel auszubilden und daran eine Beobachtungs-Einrichtung anzuschliessen.
Der Strahlenteilerkörper --7-- kann dabei, wie in Fig. 5a dargestellt, auf einem Schieber --20-- angeordnet sein, der zusätzlich mit einem Durchbruch-7a-
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photographische Einrichtung und teils in die Photometer-Einrichtung oder aber das gesamte Licht in diese letztere abzulenken.
In Fig. 6, die eine Anordnung zur Verwendung der Einrichtung bei der Flächenmessung von mikroskopischen Objekten darstellt, ist schematisch der obere Teil des Tubus --201-- eines Mikroskopes dargestellt, oberhalb dessen (gestrichelt) der Teilerwürfel --202-- der Photometer-Einrichtung angedeutet ist ; eine variable Blende --203-- befIndet sich oberhalb einer Feldlinse --204-- am Ort eines Bildes des zu vermessenden mikroskopischen Präparates ; eine
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das lichtempfindliche Element --207-- der Photometer-Einrichtung.
Zwischen dem Tubus--201-und der Feldlinse--204-ist ein lichtempfindliches Element--208--mit einem Opal-Deckglas --209-- in den Strahlengang einschwenkbar angeordnet ; der Mechanismus zum Einschwenken des lichtempfindlichen Elementes mit dem Deckglas ist nicht dargestellt.
Die Wirkungsweise dieser Einrichtung ist folgende : Nach Festlegung der Grösse der Messblende - -203--, die (subjektiv) durch Vergleich mit dem mikroskopischen Präparat, dessen Fläche ausgemessen werden soll, eingestellt wird, wird das lichtempfindliche Element --208-- mit seinem Deckglas --209-- in den Strahlengang eingeschwenkt ; der auf das lichtempfindliche Element auftreffende, von
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mit einem elektrischen Messinstrument festgestellt wird und dann ein Mass für die Grösse der Fläche des zu vermessenden mikroskopischen Präparates ist.
In Fig. 7 ist ein lichtempfindliches Element --218-- am Ort des Bildes der Lichtquelle-205-, das durch die Feldlinse --204-- über die Teilerfläche des teilerwürfels --202-- erzeugt wird, angeordnet. Bei Verwendung dieser Einrichtung wird die Grösse der Blendenöffnung der Blende --203--, wie bereits oben beschrieben, subjektiv unter gleichzeitiger Beobachtung des zu vermessenden mikroskopischen Präparates eingestellt. Anschliessend wird unter Einschaltung des lichtempfindlichen Elementes --218-- in den Strahlengang ebenfalls die Grösse des durch die Blende-203hindurchtretenden Lichtstromes elektrisch gemessen ; die Auswertung erfolgt in gleicher Weise wie bei der Einrichtung nach Fig. 6.
In einer Vorrichtung entsprechend Fig. 8 ist am Ort des Bildes der Lichtquelle-205-, das durch die Feldlinse--204-über die Teilerfläche des Teilerwürfels --202-- entworfen wird, eine weitere
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der Feldlinse --204-- auf das lichtempfindliche Element --207-- der Photometer-Einrichtung abgebildet wird. Die Grösse des auf das lichtempfindliche Element --207-- fallenden Lichtstromes wird ebenfalls durch die Öffnung der Blende --203-- bestimmt ; der durch das lichtempfindliche Element --207- fliessende Strom gibt dann ebenfalls ein Mass für die Grösse des zu vermessenden mikroskopischen Präparates.
Bei der Einrichtung nach Fig. 8 ist allerdings darauf zu achten, dass durch die Feldlinse-204-eine exakte Abbildung der Lichtquelle--215-, die sich an einem der Austrittspupille des Mikroskopes äquivalenten Ort des Strahlenganges befinden muss, erfolgt.
Die in diesen Beispielen dargestellten Einzelheiten sind, soweit sie nicht bereits weiter oben im einzelnen erwähnt sind, mit Gegenstand der Erfindung. Sie sollen jedoch den Gegenstand der Erfindung nicht beschränken und sind selbstverständlich durch äquivalente Bauelemente oder Massnahmen ersetzbar.
PATENTANSPRÜCHE :
1. Zusatz-Gerät für optische Instrumente, insbesondere für Mikroskope, bei welchem das aus dem optischen Instrument kommende Strahlenbündel an einem Strahlenteiler in einen Mess- und einen Beobachtungs-Strahlengang aufgespalten ist und im Mess-Strahlengang eine photometrische Mess-Einrichtung eingesetzt ist, gekennzeichnet durch Kombination folgender Merkmale : a) dass in einer konjugierten Bildebene (10) des Mess-Strahlenganges eine veränderbare Blende (11) eingesetzt ist ; b) dass hinter dieser Blende (11) eine Lichtquelle (12) zur rückseitigen Beleuchtung derselben angeordnet ist ; c) dass gleichfalls hinter der Blende (11) ein lichtelektrischer Wandler (15) angebracht ist ;
d) dass ein Strahlenteiler mit einem teildurchlässigen Spiegel (7) und einem Vollspiegel (16) vorhanden ist, mittels welcher die vom optischen Instrument und die entgegengesetzt hiezu von der Blende (11) kommenden Strahlenbündel einander überlagert in die Beobachtungs-Einrichtung gelenkt werden ; e) wobei schliesslich allenfalls dieser Vollspiegel (16) des Strahlenteilers gegen ein lichtempfindliches
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Additional device for optical instruments, in particular for microscopes
The invention relates to an additional device for optical instruments, in particular for microscopes, in which the beam coming from the optical instrument is split into a measuring and an observation beam path at a beam splitter and a photometric measuring device is used in the measuring beam path . In connection, for example, with a microscope, such additional devices should be usable either as a photometer or as a measuring device for measuring the area of microscopic objects by subjective comparison with a circular area to be measured.
Previously known photometers are equipped with an observation beam path as well as with a measuring beam path, a diaphragm being used in the image plane of the latter to delimit the image of the object to be photometric; the problem to be solved here is to obtain an image of the measuring diaphragm in the observation beam path, from which the respective size of the diaphragm can be seen in comparison to the image of the object to be examined ..
It has therefore already been proposed to design the measuring diaphragm as a fully reflective diaphragm through which the image of the object to be photometrically entered into the observation beam path; However, this is only possible if this diaphragm is designed as a mirror, which must be precisely adjusted in the image plane of the measuring beam path, for which, however, only a very specific diaphragm size comes into consideration, unless it is a sliding or rotating mirror with different sizes Apertures used.
In contrast, a diaphragm with a variable opening would now be desired, which is adapted to the object in each case and whose location and / or size can be made visible in the image of the object.
In addition, a method for measuring the area of microscopic objects by subjective comparison with a circular area to be measured is also known, the parts of the object area protruding beyond the circular area being brought into agreement with the uncovered circular area; the size of the circular area then gives a measure of the size of the particle to be measured; appropriately adjustable diaphragms, for example iris diaphragms, are used for the expediently variable comparison circular area, the setting members of which are provided with corresponding markings for reading the diaphragm size set in each case; In this case, even with a very precisely carried out subjective comparison between the object and the circular area, inaccuracies are inevitable due to the play of the mechanical adjusting elements.
According to the invention, additional devices of the type described at the beginning for optical instruments, in particular for microscopes, with the same basic structure, d. H. The usability for both purposes mentioned is achieved with only minor modifications by combining the following features: a) that a variable diaphragm is used in a conjugate image plane of the measuring beam path; b) that a light source for rear illumination of the same is arranged behind this screen; c) that a photoelectric converter is also attached behind the panel;
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d) that there is a beam splitter with a partially transparent mirror and a full mirror, by means of which those coming from the optical instrument and those coming opposite to this from the diaphragm
Beams of rays superimposed on one another are directed into the observation device; e) finally, this full mirror of the beam splitter against a light-sensitive one
Element and / or is exchangeable for a light source.
When training this additional device as a photometer is useful on one side of the
The beam splitter body of the full mirror is attached, whereby the aperture image is reflected in the observation beam path; with this arrangement, however, the light source must be turned on during the measurement
Illumination of the shutter can be switched off
In a further advantageous embodiment of the additional device, if the beam splitting is on
The beam splitter takes place in the parallel beam path, the full mirror attached to the beam splitter is designed as a plane mirror. In the case of beam splitting in the convergent or in the divergent beam path, however, the full mirror must be designed as a correspondingly curved surface.
In a preferred embodiment of the additional device serving as a photometer, a pivotable mirror is arranged between the variable diaphragm and the photoelectric converter, and to the side of it the light source for illuminating the side of the diaphragm facing the converter. In another variant of the additional device, a chromatically partially transparent mirror is arranged at the same point and the light source for illuminating the diaphragm is arranged to the side of it again; When this chromatic beam splitter is used, the measuring light on the one hand and the light for illuminating the diaphragm on the other hand belong to different spectral ranges which can be separated by the chromatic splitter.
If, on the other hand, the additional device is to be used to measure the area of microscopic objects by subjective comparison with a circular area to be measured, then the device is designed according to the invention, for example, in such a way that a swivel-in, light-sensitive element, preferably with a Opal cover glass, inserted and facing the diaphragm with its light-sensitive surface.
The light source illuminating the variable aperture acts with its luminous flux differently depending on the aperture opening on the light-sensitive element, the current of which is a measure of the set aperture size, which in turn is subjectively beforehand using the rear-view device by comparison with the object to be measured in Observation beam path is established; any mechanical errors in the setting device of the diaphragm then play no role, so that an objective measurement actually takes place, only apart from the subjective comparison of the particle to be measured with the image of the set diaphragm. The measured value obtained directly as an electrical quantity during this measurement on microscopic objects can now be processed further immediately, especially in the case of automation.
In a variant of this second type of additional device, both the light-sensitive element that can be exchanged for the full mirror of the beam splitter and / or the exchangeable light source can be arranged at a location of the photometer beam path that is equivalent to the exit pupil of the microscope. This additional, replaceable light source must therefore take the place of the image of the light source required for the rear-view mirroring device, i. H. at the location of the photosensitive element provided in the previously described arrangement of the additional device, and it then acts on the photosensitive element of the photometer device through the variable diaphragm.
The drawings now show several exemplary embodiments of the additional device according to the invention for optical instruments for each of the two intended uses, in each case in FIGS. 1 to 5a and in FIGS. 6 to 8. In detail, FIGS. 1 and 4 show arrangements of the additional device as a photometer, in which the division into the observation and measurement beam path takes place in the parallel beam path; 2 and 3, however, show an arrangement with beam splitting in the convergent beam path;
5 and 5a show an additional device with a photographic device or an expedient design for a slide with optical elements, by means of which an optional beam guidance into the photometric or into the photographic device is made possible; and also FIG. 6 an additional device for measuring the area of microscopic objects, with a light-sensitive element that can be swiveled in front of the measuring diaphragm; 7 shows a device for the same purpose, in which a light-sensitive element is inserted at the location of the image of the additional light source of the photometer device; and finally FIG. 8 shows an arrangement with an additional light source which acts on the light-sensitive element of the photometer device.
In the arrangements according to FIGS. 1 and 4, a telescope - 1 - is provided for observation,
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Provided with reference numerals. Above the microscope tube --5-- with the eyepiece --6-- there is a beam splitter body --7- which divides the microscope beam path into an observation beam -8- and a measuring beam --9-- splits.
In the image plane --10-- of the measuring beam path a variable diaphragm --11-- is arranged, which by means of a light source --12-- and a beam splitter - or a swivel-out full mirror - 13a - and one in the measuring beam path as a field lens
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those for reflecting the aperture image into the observation beam path (Fig. 1, 2 and 3) or for reflecting the beam reflected on the splitter surface of the beam splitter --7-- (Fig. 4) in the observation device (telescope-- l - or magnifying glass or eyepiece - 3-) is used.
Of course, photographic registration devices can be coupled to such an arrangement in a manner known per se. Such a device is shown as an example in FIG. In this case the measuring beam path --9-- is the reflected beam path, while above the prism body - 7 - a photo tube 17 - and a camera --18-- are arranged. It is of course also possible to design the mirror - 19 -, which causes a further deflection of the measuring beam --9 -, as a further splitter mirror and to connect an observation device to it.
The beam splitter body --7-- can, as shown in Fig. 5a, be arranged on a slide --20-- which is additionally provided with an opening -7a-
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photographic device and partly in the photometer device or to deflect all of the light in this latter.
In Fig. 6, which shows an arrangement for using the device for measuring the area of microscopic objects, the upper part of the tube --201-- of a microscope is shown schematically, above which (dashed) the dividing cube --202-- the photometer Device is indicated; a variable diaphragm --203-- is located above a field lens --204-- at the location of an image of the microscopic specimen to be measured; a
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the light-sensitive element --207 - of the photometer device.
Between the tube - 201 - and the field lens - 204 - a light-sensitive element - 208 - with an opal cover glass --209 - is arranged so that it can be swiveled into the beam path; the mechanism for pivoting the light-sensitive element with the cover glass is not shown.
The mode of operation of this device is as follows: After determining the size of the measuring diaphragm - -203--, which is (subjectively) set by comparison with the microscopic specimen whose area is to be measured, the light-sensitive element --208-- is set with its Cover glass --209 - swiveled into the beam path; the one impinging on the photosensitive element, of
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is determined with an electrical measuring instrument and is then a measure of the size of the area of the microscopic specimen to be measured.
In Fig. 7, a light-sensitive element --218-- is arranged at the location of the image of the light source-205- which is generated by the field lens --204-- over the splitter surface of the splitter cube --202--. When using this device, the size of the aperture of the diaphragm --203--, as already described above, is set subjectively while simultaneously observing the microscopic specimen to be measured. Then, with the light-sensitive element --218-- switched into the beam path, the magnitude of the luminous flux passing through the aperture 203 is also measured electrically; the evaluation takes place in the same way as with the device according to FIG. 6.
In a device according to FIG. 8, at the location of the image of the light source-205- which is created by the field lens -204-over the splitter surface of the splitter cube -202-, there is another
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the field lens --204-- is mapped onto the light-sensitive element --207-- of the photometer device. The magnitude of the luminous flux falling on the light-sensitive element --207-- is also determined by the opening of the aperture --203--; the current flowing through the light-sensitive element --207- then also gives a measure of the size of the microscopic specimen to be measured.
In the device according to FIG. 8, however, it must be ensured that the field lens 204 produces an exact image of the light source 215, which must be located at a location of the beam path equivalent to the exit pupil of the microscope.
The details shown in these examples are, unless they are already mentioned in detail above, with the subject of the invention. However, they are not intended to restrict the subject matter of the invention and can of course be replaced by equivalent components or measures.
PATENT CLAIMS:
1. Additional device for optical instruments, in particular for microscopes, in which the beam coming from the optical instrument is split into a measuring and an observation beam path at a beam splitter and a photometric measuring device is used in the measuring beam path, marked by combining the following features: a) that a variable diaphragm (11) is inserted in a conjugate image plane (10) of the measuring beam path; b) that a light source (12) for rear illumination of the same is arranged behind this screen (11); c) that a photoelectric converter (15) is also attached behind the screen (11);
d) there is a beam splitter with a partially transparent mirror (7) and a full mirror (16), by means of which the beam bundles coming from the optical instrument and the beam bundles coming from the diaphragm (11) opposite to this are directed into the observation device in a superimposed manner; e) finally, this full mirror (16) of the beam splitter against a light-sensitive one