KR20000026180A - Measurement system of panel for cathode ray tube - Google Patents

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KR20000026180A
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김성호
김병섭
최영락
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박영구
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Abstract

PURPOSE: A measurement system of a panel for a cathode ray tube is provided to rapidly and precisely determine the pass of the measurement result, to minimize the loss in manufacturing processes and to enhance reliability and preciseness. CONSTITUTION: A measurement system of a panel for a cathode ray tube comprises a base(24), a shuttle(30), a turn table(40), a positioned(50), a robot(80), a discharge unit and a computer. The shuttle is mounted on the base in order to be moved by an actuator. The turn table is rotated on the base by the actuator. The positioned is mounted on the turn table in order to present a measurement position on the base. The robot has a carrier(90) moving first and second measurement units for measuring a shape and a roughness of the panel. The discharge unit is mounted on a front side of the base to discharge the panel from the turn table.

Description

음극선관용 판넬의 측정 시스템Measurement system of panel for cathode ray tube

본 발명은 음극선관용 판넬(panel)의 치수, 형상 및 거칠기를 자동으로 측정하기 위한 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a measuring system for a cathode ray tube panel for automatically measuring the dimensions, shape and roughness of a cathode ray tube panel.

컬러텔레비젼이나 컴퓨터 모니터 등의 제조에 사용되는 음극선관은 기본적으로 세 가지의 구성 요소, 즉 화상이 투시되는 판넬과, 이 판넬의 배면에 부착되는 원추형의 휀넬(funnel)과, 휀넬의 꼭지점에 용착되는 관형상의 네크(neck)로 이루어진다. 판넬은 훼이스(face)와 스커트(skirt)를 갖추고 있으며, 훼이스의 내면에는 결상용 형광체가 도포되고, 스커트에는 다수의 구멍을 갖는 섀도우마스크가 핀에 의해 지지된다. 그리고, 네크에는 전자총이 설치되며, 전자총은 섀도우마스크의 구멍을 통하여 형광체로 전자빔을 발사함으로써 화상을 생성하게 된다.Cathode ray tubes used in the manufacture of color televisions and computer monitors are basically three components: a panel through which images are projected, a conical funnel attached to the back of the panel, and welding at the vertices of the channel. It consists of a tubular neck. The panel has a face and a skirt, and an imaging phosphor is applied to the inner surface of the face, and a shadow mask having a plurality of holes is supported by the pin. An electron gun is installed in the neck, and the electron gun generates an image by firing an electron beam through a hole of a shadow mask with a phosphor.

이와 같은 음극선관의 판넬, 휀넬 및 네크는 모두 유리로 제조된다. 특히, 판넬과 휀넬은 곱(gob)이라 불리는 용융유리 덩어리를 원하는 크기 및 형상으로 프레스 성형에 의해 제조하게 된다. 성형 공정에 의해 제조된 성형품은 일반적으로 거친 표면을 가지므로, 음극선관의 화상 품질을 개선하려면 성형품의 표면을 적절히 연마하여 광학적 결함을 제거할 필요가 있다. 성형품이 판넬인 경우 연마를 필요로 하는 표면은 훼이스와, 휀넬이 용착되는 스커트의 시일에지(seal edge)이다.The panels, channels and necks of these cathode ray tubes are all made of glass. In particular, the panel and channel will produce a molten glass mass called a gob by press molding into a desired size and shape. Since the molded article produced by the molding process generally has a rough surface, it is necessary to properly polish the surface of the molded article to remove optical defects in order to improve the image quality of the cathode ray tube. If the molded article is a panel, the surface which needs to be polished is the seal edge of the face and the skirt to which the channel is to be welded.

한편, 판넬은 품질의 균일성을 유지하기 위하여 샘플링 검사를 수행하게 된다. 샘플링 검사에 의한 판넬의 측정 항목은 크게 치수, 형상 및 거칠기로 나눌 수 있으며, 측정의 세부 항목에는 대략 15개 정도가 있다. 예를 들어 측정의 세부 항목에는 시일에지의 두께, 훼이스의 중심 두께, 시일에지의 하이 핀(high pin), 아웃 베벨(out bevel), 시일 랜드 폭(seal land width) 등의 측정이 있다.In the meantime, the panel performs sampling inspection to maintain uniformity of quality. The measurement items of the panel by sampling inspection can be largely divided into dimensions, shapes, and roughness, and there are about 15 measurement items. For example, the measurement details include the thickness of the seal edge, the center thickness of the face, the high pin of the seal edge, the out bevel, the seal land width, and the like.

그러나, 상기한 바와 같은 판넬의 형상 및 거칠기 측정은 대개 작업자의 수작업과 형상 및 거칠기 측정기에 의해 개별적으로 이루어지고 있기 때문에 측정 공정이 복잡하고 번거로워지는 문제가 있었다. 더욱이, 판넬의 형상 및 거칠기를 측정하기 위해서는 판넬의 대략 24군데를 절단한 시료를 채취하여 수행하여야 하므로, 시료의 채취와 판넬의 측정에 과다한 시간이 소요되었다. 특히, 시료의 채취 작업과 취급에는 세심한 주의가 요구되어 숙련된 작업이 필요할 뿐만 아니라, 시료의 채취 작업은 측정실과 별도의 채취실에서 수행하고 있어 비능률적이고 비경제적인 문제가 있었다. 이것을 개선하기 위하여 판넬의 형상 및 거칠기 측정은 대략 8개의 시료에 의해 수행하고 있으나, 측정 공정의 단순화에는 미흡한 실정에 있다.However, since the measurement of the shape and roughness of the panel as described above is usually made by the operator's manual work and the shape and roughness measuring device, there is a problem that the measurement process is complicated and cumbersome. In addition, in order to measure the shape and roughness of the panel, it is necessary to take a sample of approximately 24 cuts of the panel, and thus, it takes an excessive time to collect the sample and measure the panel. In particular, the collection and handling of the sample requires careful attention and requires skilled work, and the collection of the sample is performed in a separate collection room from the measurement room, resulting in inefficient and inefficient economic problems. In order to improve this, the shape and roughness of the panel are measured by about eight samples, but the measurement process is insufficient.

한편, 판넬의 측정 결과를 판정 기준과 비교하여 합격 여부를 결정하기 위해서는 개별적으로 측정된 판넬의 형상 및 거칠기에 대한 측정 결과를 취합하여 데이터화 한 후, 이것을 판정 기준과 비교하여야 하기 때문에 합격 여부의 결정에 과다한 시간이 소요되었다. 뿐만 아니라, 판넬의 측정 결과가 불합격으로 판정될 경우에는 그 원인을 파악하여 제조 현장에 수정 조치를 취하여야 하는 것이나, 측정 결과를 제조 현장에 신속하게 전달할 수 없어 수정 조치를 지연시키는 원인이 되었으며, 나아가 판넬의 제작에 막대한 지장을 초래시키는 문제가 있었다. 또한, 제조 현장이 나뉘어져 설비된 경우에는 판넬의 측정 결과에 대한 데이터를 공유하기가 곤란하여 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행하는데 지장이 초래되는 문제가 있었다.On the other hand, in order to determine the passability by comparing the measurement results of the panel with the determination criteria, the measurement results of the shape and roughness of the individually measured panels should be collected and data-formed, and then compared with the determination criteria. Too much time was spent. In addition, when the panel's measurement result is judged to fail, it is necessary to identify the cause and take corrective action at the manufacturing site, or to delay the corrective action because the measurement result cannot be delivered to the manufacturing site promptly. Furthermore, there was a problem that caused enormous obstacles in the production of the panel. In addition, when the manufacturing site is divided and installed, it is difficult to share data on the measurement results of the panel, causing problems in carrying out the panel research and development collectively.

본 발명은 상기한 바와 같은 종래의 제반 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 측정을 자동으로 수행할 수 있도록 한 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a measuring system of a panel for a cathode ray tube to perform the measurement automatically.

본 발명의 다른 목적은 측정 결과의 합격 여부를 신속하게 판정할 수 있는 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a measuring system for a cathode ray tube panel that can quickly determine whether or not the result of a measurement is passed.

본 발명의 또 다른 목적은 측정 정밀도가 향상되도록 한 음극선관용 판넬 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a panel measurement system for cathode ray tubes in which measurement accuracy is improved.

본 발명의 또 다른 목적은 측정 결과를 데이터화하여 공유할 수 있는 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a measurement system for a cathode ray tube panel that can share the measurement results by data.

본 발명의 또 다른 목적은 능률적이고 경제적인 운영이 가능한 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is another object of the present invention to provide a measuring system for a cathode ray tube panel capable of efficient and economical operation.

본 발명의 또 다른 목적은 시료의 채취없이 측정이 가능해지도록 한 음극선관용 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a measuring system for a cathode ray tube that enables measurement without taking a sample.

도 1은 일반적인 음극선관용 판넬을 나타낸 단면도,1 is a cross-sectional view showing a panel for a typical cathode ray tube,

도 2는 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 개략적으로 나타낸 정면도,2 is a front view schematically showing a measuring system of a panel for a cathode ray tube according to the present invention;

도 3은 본 발명에 따른 측정 시스템을 나타낸 평면도,3 is a plan view showing a measuring system according to the present invention;

도 4는 본 발명에 따른 측정 시스템을 나타낸 정면도,4 is a front view showing a measurement system according to the present invention,

도 5는 본 발명에 따른 측정 시스템을 나타낸 측면도,5 is a side view showing a measurement system according to the present invention;

도 6은 본 발명에 따른 측정 시스템의 포지셔너를 나타낸 사시도,6 is a perspective view of a positioner of the measuring system according to the present invention;

도 7은 본 발명에 따른 측정 시스템의 포지셔너를 나타낸 평면도,7 is a plan view showing a positioner of the measuring system according to the present invention;

도 8은 본 발명에 따른 측정 시스템의 포지셔너를 나타낸 정면도,8 is a front view showing a positioner of the measuring system according to the present invention;

도 9는 도 8의 작동 상태도,9 is an operating state diagram of FIG. 8, FIG.

도 10은 본 발명에 따른 측정 시스템에서 배출 유닛을 나타낸 측면도이다.10 is a side view of the discharge unit in the measurement system according to the invention.

♣ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ♣♣ Explanation of symbols for the main parts of the drawing ♣

10: 판넬 20: 측정 시스템10: Panel 20: Measuring system

24: 베이스 30: 셔틀24: base 30: shuttle

40: 턴테이블 50: 포지셔너40: turntable 50: positioner

60: 서포트 핀 68: 진공 패드60: support pin 68: vacuum pad

80: 로봇 90: 캐리어80: robot 90: carrier

100: 제 1 측정 유닛 120: 제 2 측정 유닛100: first measuring unit 120: second measuring unit

140: 배출 유닛 160: 컴퓨터140: discharge unit 160: computer

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은, 베이스와; 베이스의 상면에 액츄에이터의 구동에 의해 이동 가능하도록 설치되는 셔틀과; 셔틀의 상면에 액츄에이터의 구동에 의해 회전 가능하게 설치되는 턴테이블과; 턴테이블의 상면에 판넬의 위치를 결정하여 측정 위치를 제공할 수 있도록 설치되는 포지셔너와; 판넬의 형상 및 거칠기를 측정하는 제 1 및 제 2 측정 수단을 직선 이동시키는 캐리어를 갖는 로봇과; 베이스의 전방에 턴테이블로부터 판넬을 배출시킬 수 있도록 설치되는 배출 유닛과; 판넬의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터를 포함하는 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 있다.Features of the present invention for achieving this object, the base; A shuttle installed on the upper surface of the base to be movable by driving of an actuator; A turntable rotatably installed on an upper surface of the shuttle by driving of an actuator; A positioner installed on an upper surface of the turntable to determine a position of the panel and provide a measurement position; A robot having a carrier for linearly moving the first and second measuring means for measuring the shape and roughness of the panel; A discharge unit installed at the front of the base to discharge the panel from the turntable; A measurement system for a cathode ray tube panel that includes a computer controlling the measurement process of the panel.

이하, 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 대한 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a measuring system for a cathode ray tube panel according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1 내지 도 10은 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 설명하기 위하여 나타낸 도면이다.1 to 10 are diagrams for explaining the measurement system of the panel for cathode ray tubes according to the present invention.

먼저, 도 1에 나타낸 바와 같이, 음극선관의 판넬(10)은 훼이스(12)와, 이 훼이스(12)의 가장자리로부터 후방으로 형성되는 스커트(14)를 갖추고 있다. 스커트(14)는 시일에지(16)를 가지며, 스커트(14)의 측면에는 프레스 성형 자국인 몰드 매치 라인(mold match line: 18)이 남게 된다. 판넬(10)은 장축과 단축을 갖는 대략 직사각형으로 형성되고, 판넬(10)의 치수는 대각선 길이에 따라 인치를 단위로 사용하여 구분하고 있다.First, as shown in FIG. 1, the panel 10 of the cathode ray tube includes a face 12 and a skirt 14 formed rearward from the edge of the face 12. The skirt 14 has a seal edge 16, and a mold match line 18, which is a press molding mark, is left on the side of the skirt 14. The panel 10 is formed into a substantially rectangular shape having a long axis and a short axis, and the dimensions of the panel 10 are divided using an inch unit according to the diagonal length.

도 2 내지 도 5에 나타낸 바와 같이, 상기한 판넬(10)은 형상 및 거칠기를 측정하는 측정 시스템(20)의 공급 위치로 공급된다. 측정 시스템(20)의 시일에지(16)에 대한 형상의 세부 측정 항목에는 하이 핀, 아웃 베벨, 시일 랜드 폭 등이 있다. 측정 시스템(20)은 베드(bed: 22)를 가지며, 베드(22)의 상면에는 베이스(24)가 설치된다. 베이스(24)의 상면에는 복수의 안내구멍(26)이 길이 방향을 따라 나란하게 형성되고, 베이스(24)의 상면에는 안내구멍(26)을 따라 셔틀(shuttle: 30)이 이동 가능하도록 설치된다. 셔틀(30)의 하면에는 복수의 이송너트(32)가 장착되며, 셔틀(30)의 이송너트(32)는 액츄에이터(34)의 구동에 의해 이송나사축(36)을 따라 이동 가능하도록 설치되고, 이송나사축(36)의 양쪽에는 셔틀(30)의 직선 이동을 안내하는 복수의 가이드 바(38)가 나란하게 설치된다. 이때, 셔틀(30)은 액츄에이터(34)의 구동에 의해 판넬(10)을 공급할 수 있는 공급 위치에서 측정 위치로 이동되거나 측정 위치에서 판넬(10)을 배출시킬 수 있는 배출 위치로 이동되게 된다. 셔틀(30)의 상면에 판넬(10)이 올려 놓여지는 턴테이블(40)이 설치되며, 턴테이블(40)은 액츄에이터(42)의 구동에 의해 회전되고, 턴테이블(40)은 액츄에이터(42)의 구동에 의해 90도 회전하게 된다. 여기에서, 액츄에이터(42)는 스텝 모터(step motor)를 사용할 수도 있다.As shown in Figs. 2 to 5, the panel 10 is supplied to a supply position of the measuring system 20 for measuring shape and roughness. Detailed measurement items for the shape of the seal edge 16 of the measurement system 20 include high pins, out bevels, seal land widths, and the like. The measuring system 20 has a bed 22 and a base 24 is installed on the upper surface of the bed 22. A plurality of guide holes 26 are formed side by side in the longitudinal direction on the upper surface of the base 24, the shuttle (30) is installed on the upper surface of the base 24 to move along the guide hole 26. . A plurality of transfer nuts 32 are mounted on the lower surface of the shuttle 30, and the transfer nuts 32 of the shuttle 30 are installed to be movable along the transfer screw shaft 36 by driving the actuator 34. On both sides of the feed screw shaft 36, a plurality of guide bars 38 for guiding the linear movement of the shuttle 30 are provided side by side. At this time, the shuttle 30 is moved from the supply position capable of supplying the panel 10 by the driving of the actuator 34 to the measurement position or to the discharge position capable of discharging the panel 10 from the measurement position. The turntable 40, on which the panel 10 is placed, is placed on the upper surface of the shuttle 30, the turntable 40 is rotated by the driving of the actuator 42, and the turntable 40 is driven by the actuator 42. Rotate 90 degrees. Here, the actuator 42 may use a step motor.

도 6 내지 도 8에 나타낸 바와 같이, 턴테이블(40)의 상면에는 판넬(10)의 위치를 결정하는 포지셔너(positioner: 50)가 설치된다. 포지셔너(50)는 텐테이블(50)의 하면에 다수의 실린더(52)가 로드(52a)를 갖도록 설치되며, 로드(52a)의 양쪽에는 커넥팅 로드(54)가 턴테이블(40)의 상방으로 돌출되도록 연결되고, 커넥팅 로드(54)의 선단에 무빙 블록(56)이 장착된다. 무빙 블록(56)의 중앙에 설치홈(58)이 형성되며, 무빙 블록(56)의 설치홈(58)에는 판넬(10)의 훼이스(12)를 지지하는 서포트 핀(60)이 설치되며, 서포트 핀(60)의 선단은 구면(60a)으로 형성된다. 도면에서 서포트 핀(60)은 3개가 배치되어 훼이스(12)를 3점 지지할 수 있도록 설치된 것을 나타냈으나, 서포트 핀(60)의 숫자 및 위치는 적절하게 변경할 수 있다.6 to 8, a positioner 50 for determining the position of the panel 10 is provided on the top surface of the turntable 40. The positioner 50 is installed on the lower surface of the tentable 50 such that a plurality of cylinders 52 have rods 52a, and connecting rods 54 protrude upward of the turntable 40 on both sides of the rods 52a. The moving block 56 is mounted at the tip of the connecting rod 54. An installation groove 58 is formed in the center of the moving block 56, and a support pin 60 supporting the face 12 of the panel 10 is installed in the installation groove 58 of the moving block 56. The tip of the support pin 60 is formed into a spherical surface 60a. In the figure, three support pins 60 are disposed to be installed to support the face 12 three points, but the number and position of the support pins 60 can be changed as appropriate.

또한, 포지셔너(50)는 커넥팅 로드(54)의 한쪽에 커넥팅 플레이트(62)가 연결되고, 커넥팅 플레이트(62)의 상면에는 포스트(64)가 스프링(66)의 탄성력을 부여받아 턴테이블(40)의 상방으로 승,하강 운동이 가능하도록 설치되며, 포스트(64)의 선단에 훼이스(12)를 흡착하는 진공 패드(68)가 장착된다. 진공 패드(68)는 서포트 핀(60)의 사이에 2개가 동일 직선상에 위치되도록 설치된 것을 나타냈으나, 진공 패드(68)의 숫자 및 위치는 적절하게 변경할 수 있다. 진공 패드(68) 사이에는 낙하로부터 판넬(10)을 보호할 수 있는 패드(70)가 장착된다. 이와 같은 포지셔너(50)의 서포트 핀(60)과 진공 패드(68)는 승강되어 판넬(10)의 측정을 수행할 수 있는 측정 위치를 제공하게 된다.In addition, the positioner 50 has a connecting plate 62 connected to one side of the connecting rod 54, and a post 64 is provided with an elastic force of the spring 66 on the upper surface of the connecting plate 62 to turntable 40. It is installed to enable the upward and downward movement of the upper side, and a vacuum pad 68 for adsorbing the face 12 on the tip of the post 64 is mounted. Although the vacuum pad 68 was shown so that two may be located in the same straight line between the support pins 60, the number and position of the vacuum pad 68 can be changed suitably. A pad 70 is mounted between the vacuum pads 68 to protect the panel 10 from falling. The support pin 60 and the vacuum pad 68 of the positioner 50 are lifted to provide a measurement position for performing the measurement of the panel 10.

도 2 및 도 4를 다시 참조하여 설명하면, 측정 시스템(20)는 로봇(80)을 가지며, 로봇(80)은 베드(22)의 상면에 복수의 칼럼(82)이 설치되고, 칼럼(82)의 상부에 가로 레일(84)이 설치된다. 이 로봇(80)의 가로 레일(84)을 따라 액츄에이터(86)의 구동에 의해 캐리어(90)가 직선 이동되도록 설치되며, 캐리어(90)에는 무빙 플레이트(92)가 실린더(94)의 구동에 의해 승,하강 운동이 가능하도록 설치된다.Referring again to FIGS. 2 and 4, the measurement system 20 has a robot 80, and the robot 80 has a plurality of columns 82 installed on the upper surface of the bed 22, and the columns 82. Horizontal rails 84 are installed at the top of the. The carrier 90 is installed to be linearly moved by driving the actuator 86 along the horizontal rail 84 of the robot 80. A moving plate 92 is provided to the carrier 90 to drive the cylinder 94. It is installed to enable the lifting and lowering movement.

한편, 무빙 플레이트(92)의 한쪽에는 판넬(10)의 형상을 측정하는 제 1 측정 유닛(100)이 설치된다. 제 1 측정 유닛(100)은 실린더(102)의 구동에 의해 승,하강 운동되는 측정 블록(104)을 가지고, 측정 블록(104)에는 미니미터(minimeter: 110)가 판넬(10)의 표면에 접촉되어 운동하는 스타일러스(stylus: 112)를 갖도록 장착된다. 제 1 측정 유닛(100)의 미니미터(110)는 연마 전 판넬(10)의 시일에지(16)의 형상을 측정하게 된다.On the other hand, one side of the moving plate 92 is provided with a first measuring unit 100 for measuring the shape of the panel 10. The first measuring unit 100 has a measuring block 104 which is moved up and down by driving the cylinder 102, and the measuring block 104 has a minimeter 110 on the surface of the panel 10. It is mounted to have a stylus 112 that moves in contact with it. The minimeter 110 of the first measuring unit 100 measures the shape of the seal edge 16 of the panel 10 before polishing.

또한, 무빙 플레이트(182)의 한쪽에는 제 1 측정 유닛(100)과 인접되도록 제 2 측정 유닛(120)이 설치된다. 제 2 측정 유닛(120)은 실린더(122)의 구동에 의해 측정 블록(124)이 승,하강 운동되도록 장착되며, 측정 블록(124)에는 미니미터(130)가 장착되고, 미니미터(130)는 픽업(pick up: 132)의 한쪽에 판넬(10)의 표면에 접촉되어 운동하는 스타일러스(134)를 갖도록 구성된다. 제 2 측정 유닛(120)의 미니미터(130)는 연마 후 판넬(10)의 거칠기를 측정하게 된다.In addition, a second measuring unit 120 is installed on one side of the moving plate 182 to be adjacent to the first measuring unit 100. The second measuring unit 120 is mounted such that the measuring block 124 moves up and down by driving the cylinder 122, and the measuring block 124 is equipped with a minimeter 130 and the minimeter 130. Is configured to have a stylus 134 that moves in contact with the surface of panel 10 on one side of pick up 132. The minimeter 130 of the second measurement unit 120 measures the roughness of the panel 10 after polishing.

도 10에 나타낸 바와 같이, 측정 시스템(20)의 베이스(24)에는 턴테이블(40)로부터 판넬(10)을 배출시킬 수 있도록 배출 유닛(140)이 설치된다. 배출 유닛(140)은 베이스(24)의 한쪽에 브래킷(142)이 장착되고, 브래킷(142)의 상면에는 복수의 서포트 바(144)가 서로 나란하게 각각 장착된다. 여기에서, 서포트 바(144)의 높이는 판넬(10)의 훼이스(12)와 간섭되지 않도록 측정 시스템(20)의 측정 위치보다 낮게 장착된다. 서포트 바(144)의 외주면에는 판넬(10)이 보호되도록 복수의 커버(146)가 씌워지며, 커버(146)는 수지를 소재로 제작하는 것이 바람직하다. 베이스(24)의 전방에는 셔틀(30)이 배출 위치로 이동된 상태를 감지하는 센서(150)가 설치된다.As shown in FIG. 10, a discharge unit 140 is installed in the base 24 of the measurement system 20 so as to discharge the panel 10 from the turntable 40. The discharge unit 140 has a bracket 142 mounted on one side of the base 24, and a plurality of support bars 144 are mounted on the upper surface of the bracket 142 in parallel with each other. Here, the height of the support bar 144 is mounted lower than the measuring position of the measuring system 20 so as not to interfere with the face 12 of the panel 10. The outer circumferential surface of the support bar 144 is covered with a plurality of covers 146 to protect the panel 10, the cover 146 is preferably made of a resin material. In front of the base 24, a sensor 150 for detecting a state in which the shuttle 30 is moved to the discharge position is installed.

도 2에 나타낸 바와 같이, 본 발명은 일련의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터(160)를 갖추고 있다. 컴퓨터(160)는 마이크로프로세서와, 키보드, 마우스 등의 입력 장치와, 모니터, 프린터 등의 출력 장치를 갖추고 있으며, 이 컴퓨터(160)에는 이동이 자유로운 컨트롤 콘솔(control console: 162)이 케이블(164)에 의해 연결된다. 컨트롤 콘솔(162)의 수동 조작에 의해 컴퓨터(160)의 운영을 제어할 수 있고, 컨트롤 콘솔(162)의 사용에 의해 측정 공정의 이상 상태를 작업자가 쉽게 확인할 수 있어 운영의 융통성이 높아지게 된다. 한편, 컴퓨터(160)는 미리 설정된 순서, 조건, 위치 등에 정보에 따라 측정 시스템(20)의 구동을 순차적으로 제어하며, 측정 시스템(20)의 구동에 의해 얻어진 측정 결과를 저장 및 출력함과 아울러 데이터화시켜 저장한다. 또한, 컴퓨터(160)에는 또 다른 컴퓨터를 접속시켜 지역 네트워크를 용이하게 구현시킬 수 있다. 한편, 본 발명의 측정 시스템(20)은 판넬(10)의 중심을 맞추는 센터링 장치(170)와, 이 센터링 장치(170)에서 중심이 맞춰진 판넬(10)을 측정 시스템(20)의 측정 위치로 이송시켜는 이송 장치(180)와, 판넬(10)의 3차원 측정에 의해 치수, 전체 높이, 웨지 등을 측정하는 3차원 측정기(190)와 연계시켜 운영할 수 있다.As shown in FIG. 2, the present invention includes a computer 160 that controls a series of measurement processes. The computer 160 has a microprocessor, input devices such as a keyboard and a mouse, and output devices such as a monitor and a printer. The computer 160 includes a control console 162 which can be moved freely. Connected by). The operation of the computer 160 can be controlled by manual operation of the control console 162, and the operator can easily check the abnormal state of the measurement process by using the control console 162, thereby increasing the flexibility of the operation. On the other hand, the computer 160 sequentially controls the driving of the measurement system 20 according to information, such as a preset order, condition, position, and the like, and stores and outputs the measurement result obtained by driving the measurement system 20. Make data and save. In addition, the computer 160 can be easily connected to another computer to implement a local area network. On the other hand, the measuring system 20 of the present invention, the centering device 170 centering the panel 10, and the panel 10 centered in the centering device 170 to the measuring position of the measuring system 20 The transfer can be operated in conjunction with the transfer device 180 and the three-dimensional measuring device 190 for measuring dimensions, overall height, wedges, etc. by three-dimensional measurement of the panel 10.

상술한 바와 같은 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 대한 작동 상태를 설명하면 다음과 같다.Referring to the operating state of the measurement system of the cathode ray tube panel according to the present invention as described above are as follows.

도 4 및 도 5에 나타낸 바와 같이, 판넬(10)은 센터링 장치(170)의 구동에 의해 중심이 맞춰진 후 이송 장치(180)의 구동에 의해 측정 시스템(20)의 측정 위치로 공급된다. 판넬(10)이 측정 위치로 공급되기 전에 실린더(52)의 구동에 의해 포지셔너(50)의 서포트 핀(60)과 진공 패드(68)를 승강시킨 상태에서 포지셔너(50)의 상부에 판넬(10)을 공급시킨다. 이와 같이 판넬(10)이 공급되면, 서포트 핀(60)의 구면(60a)은 훼이스(12)를 3점 지지하여 판넬(10)을 안정적으로 받쳐주게 되고, 진공 패드(68)는 훼이스(12)를 흡착하여 판넬(10)의 유동을 방지하게 되며, 이로 인하여 판넬(10)의 측정 위치가 결정된다. 진공 패드(68)가 훼이스(12)를 흡착할 때에는 포스트(64)가 스프링(66)의 탄성변형에 의해 승,하강 운동되면서 충격을 흡수하게 되어 흡착이 안정적으로 이루어지게 된다.As shown in FIGS. 4 and 5, the panel 10 is centered by the driving of the centering device 170 and then supplied to the measuring position of the measuring system 20 by the driving of the conveying device 180. Before the panel 10 is supplied to the measurement position, the panel 10 is placed on the upper portion of the positioner 50 in a state in which the support pin 60 and the vacuum pad 68 of the positioner 50 are raised and lowered by driving the cylinder 52. ). When the panel 10 is supplied in this way, the spherical surface 60a of the support pin 60 supports the face 12 three points to stably support the panel 10, and the vacuum pad 68 has a face 12. ) To prevent the flow of the panel 10, thereby determining the measurement position of the panel 10. When the vacuum pad 68 adsorbs the face 12, the post 64 moves up and down by the elastic deformation of the spring 66 to absorb the shock, thereby making the adsorption stable.

그리고, 측정 시스템(20)의 포지셔너(50)에 의해 판넬(10)의 측정 위치가 결정된 후에는, 액츄에이터(34)의 구동에 의해 셔틀(30)을 측정 시스템(20)의 측정 위치로 이동시키며, 로봇(80)의 액츄에이터(86)가 구동되면 가로 레일(84)를 따라 캐리어(90)가 이동된다. 이와 동시에 실린더(94)의 구동에 의해 무빙 플레이트(92)를 하강시켜 제 1 및 제 2 측정 유닛(100, 120)을 측정 위치에 도달시킨 후, 컴퓨터(160)의 제어에 의해 제 1 및 제 2 측정 유닛(100, 120)을 구동시켜 판넬(10)의 형상 및 거칠기 측정을 수행하게 된다.After the measurement position of the panel 10 is determined by the positioner 50 of the measurement system 20, the shuttle 30 is moved to the measurement position of the measurement system 20 by driving the actuator 34. When the actuator 86 of the robot 80 is driven, the carrier 90 moves along the horizontal rail 84. At the same time, the moving plate 92 is lowered by driving the cylinder 94 to reach the measurement positions of the first and second measuring units 100 and 120, and then the first and the first 2 The measurement units 100 and 120 are driven to measure the shape and roughness of the panel 10.

제 1 측정 유닛(100)은 연마 전 시일에지(16)의 형상을 측정하는 것으로, 제 1 측정 유닛(100)의 측정 블록(104)은 로봇(80)의 구동에 의해 직선 운동함과 아울러 실린더(102)의 구동에 의해 승,하강 운동된다. 이와 같은 측정 블록(104)의 직선 운동과 승,하강 운동에 의해 미니미터(130)의 스타일러스(112)가 시일에지(16)의 표면을 이동하면서 시일에지(16)의 요철에 대응하는 기구적 운동을 수행하게 된다. 이 스타일러스(112)의 기구적 운동을 컴퓨터(160)에 전기적 신호로 입력시키는 것에 의해 연마 전 시일에지(16)의 하이 핀, 아웃 베벨, 시일 랜드 폭 등을 측정할 수 있게 된다.The first measuring unit 100 measures the shape of the seal edge 16 before polishing, and the measuring block 104 of the first measuring unit 100 moves linearly by the driving of the robot 80 and the cylinder The drive of the 102 causes the movement of up and down. By the linear movement of the measurement block 104 and the movement of the up and down movements, the stylus 112 of the minimeter 130 moves on the surface of the seal edge 16 while corresponding to the unevenness of the seal edge 16. Will exercise. By inputting the mechanical motion of the stylus 112 as an electrical signal to the computer 160, it is possible to measure the high pin, the out bevel, the seal land width, and the like of the seal edge 16 before polishing.

한편, 제 2 측정 유닛(120)은 연마 후 판넬(10)의 거칠기를 측정하는 것으로, 제 2 측정 유닛(120)의 측정 블록(124)은 로봇(80)의 구동에 의해 직선 운동함과 아울러 실린더(122)의 구동에 의해 승,하강 운동된다. 이와 같은 측정 블록(124)의 직선 운동과 승,하강 운동에 의해 미니미터(130)의 스타일러스(134)가 판넬(10)의 표면, 예를 들어 훼이스(12)의 표면을 이동하면서 훼이스(12)의 요철에 대응하는 기구적 운동을 하며, 스타일러스(134)의 기구적 운동에 대응되어 픽업(132)이 동적 운동을 하게 된다. 이 픽업(132)의 동적 운동을 컴퓨터(160)에 전기적 신호로 입력시키는 것에 의해 연마 후 판넬(10)의 거칠기를 측정할 수 있게 된다. 이와 같이 측정 시스템(20)의 제 1 및 제 2 측정 유닛(100, 120)에 의해 연마 전,후 판넬(10)의 형상 및 거칠기를 하나의 측정 위치에서 수행할 수 있으므로, 작업의 연속성과 효율성이 향상된다.Meanwhile, the second measuring unit 120 measures the roughness of the panel 10 after polishing, and the measuring block 124 of the second measuring unit 120 moves linearly by driving the robot 80. The cylinder 122 is moved up and down by driving. The stylus 134 of the minimeter 130 moves the surface of the panel 10, for example, the surface of the face 12 by the linear motion and the up / down motion of the measurement block 124. Mechanical motion corresponding to the unevenness of), and corresponding to the mechanical motion of the stylus 134, the pickup 132 is dynamic. By inputting the dynamic motion of the pickup 132 as an electrical signal to the computer 160, it is possible to measure the roughness of the panel 10 after polishing. As such, the shape and roughness of the panel 10 before and after polishing can be performed by the first and second measuring units 100 and 120 of the measuring system 20 in one measuring position, thereby continuity and efficiency of work. This is improved.

또한, 판넬(10)의 시료를 채취할 필요가 없어 측정 작업이 단순화되며, 측정 작업에 전문적이고 많은 인력이 필요없게 될 뿐만 아니라, 측정 시간을 크게 단축시킬 수 있게 된다. 그리고, 측정 시스템(20)의 측정 결과는 컴퓨터(160)에 입력되며, 컴퓨터(160)는 측정 시스템(20)으로부터 입력되는 측정 결과를 데이터화하여 판정 기준과 비교하고, 이것의 합격 여부를 결정한다.In addition, it is not necessary to take a sample of the panel 10, the measurement work is simplified, not only does not require a professional and a lot of manpower for the measurement work, it is also possible to significantly reduce the measurement time. Then, the measurement result of the measurement system 20 is input to the computer 160, and the computer 160 converts the measurement result input from the measurement system 20 into data and compares it with the determination criteria, and determines whether or not the result is passed. .

도 3 및 도 10에 나타낸 바와 같이, 측정 시스템(20)의 구동에 의해 판넬(10)의 형상 및 거칠기 측정이 완료되면, 액츄에이터(42)의 구동에 의해 턴테이블(40)이 회전되어 판넬(10)의 장축이 베이스(24)의 길이 방향을 향하도록 위치시키게 된다. 그리고, 액츄에이터(34)의 구동에 의해 이송나사축(36)을 따라 셔틀(30)을 측정 시스템(20)의 측정 위치로부터 배출 위치로 이동시킨다. 셔틀(30)이 배출 위치에 도달하면, 셔틀(30)의 이동은 센서(150)의 작동에 의해 감지되고, 이 센서(150)로부터 입력되는 신호에 따라 컴퓨터(160)는 셔틀(30)의 이동을 정지시킨 후에, 실린더(52)의 구동에 의해 로드(52a)를 후퇴시켜 서포트 핀(60)과 진공 패드(68)를 초기 위치로 복귀시킨다. 서포트 핀(60)과 진공 패드(68)가 초기 위치로 복귀되는 과정에서 판넬(10)의 훼이스(12)가 배출 유닛(140)의 서포트 바(144)에 올려놓여지게 된다. 이때, 커버(146)는 판넬(10)을 충격으로부터 보호하여 긁힘 등을 방지하게 된다. 판넬(10)의 장축은 서포트 바(144)의 길이 방향을 따라 놓여져 작업자가 쉽게 배출할 수 있는 상태가 되며, 패드(70)는 작업자의 부주의로 판넬(10)이 낙하될 때 충격으로부터 판넬(10)의 파손을 방지하게 된다. 배출 유닛(140)의 서포트 바(144)로부터 판넬(10)을 배출시킨 후에는, 액츄에이터(34)의 구동에 의해 셔틀(30)을 배출 위치에서 측정 위치로 복귀시킨다.As shown in FIGS. 3 and 10, when measurement of the shape and roughness of the panel 10 is completed by driving the measurement system 20, the turntable 40 is rotated by driving the actuator 42 to cause the panel 10 to be rotated. ) Is positioned so that the long axis of the base plate 24 faces the longitudinal direction of the base 24. The shuttle 30 is then moved from the measurement position of the measurement system 20 to the discharge position along the feed screw shaft 36 by the drive of the actuator 34. When the shuttle 30 reaches the discharge position, the movement of the shuttle 30 is sensed by the operation of the sensor 150, and according to the signal input from the sensor 150, the computer 160 of the shuttle 30 After the movement is stopped, the rod 52a is retracted by the driving of the cylinder 52 to return the support pin 60 and the vacuum pad 68 to the initial position. In the process of returning the support pin 60 and the vacuum pad 68 to the initial position, the face 12 of the panel 10 is placed on the support bar 144 of the discharge unit 140. In this case, the cover 146 protects the panel 10 from impact to prevent scratches and the like. The long axis of the panel 10 is placed along the longitudinal direction of the support bar 144 to be easily discharged by the operator, the pad 70 from the impact when the panel 10 is inadvertently dropped by the panel ( 10) to prevent damage. After discharging the panel 10 from the support bar 144 of the discharging unit 140, the shuttle 30 is returned from the discharging position to the measuring position by driving the actuator 34.

한편, 상기한 실시예는 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한 것에 불과하고, 본 발명의 적용 범위는 이와 같은 것에 한정되는 것은 아니며 동일 사상의 범주내에서 적절하게 변경 가능한 것이다. 예를 들어 본 발명의 실시예에 나타난 각 구성 요소의 형상 및 구조는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 또한, 본 발명은 판넬의 측정이외에 각종 보드, 플레이트 등의 측정에도 널리 사용할 수 있는 것이다.On the other hand, the above embodiment is only a description of the preferred embodiment of the present invention, the scope of application of the present invention is not limited to this, and can be changed as appropriate within the scope of the same idea. For example, the shape and structure of each component shown in the embodiment of the present invention can be modified. In addition, the present invention can be widely used for the measurement of various boards, plates and the like in addition to the measurement of the panel.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 의하면, 컴퓨터의 제어에 의해 판넬의 형상 및 거칠기를 자동으로 측정할 수 있으므로, 측정 결과의 합격 여부를 신속하고 정확하게 판정할 수 있을 뿐만 아니라, 판넬의 측정 결과에 이상이 있는 경우에도 제조 현장 등에 신속한 조치를 취할 수 있어 제조 공정의 손실을 최소화시킬 수 있는 것이다. 또한, 측정의 자동화로 인하여 정밀도 및 신뢰성이 향상되고, 측정 결과를 데이터화하여 효율적으로 관리할 수 있는 것이다. 그리고, 컴퓨터의 데이터를 지역 네트워크의 구축에 의해 용이하게 공유할 수 있으므로, 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행할 수 있어 능률적이고 경제적인 운영이 가능해지는 것이다. 또한, 시료의 채취 작업이 불필요해져 측정 작업이 단순해지며, 불필요한 인력과 시간의 낭비를 줄일 수 있는 것이다.As described above, according to the measuring system of the cathode ray tube panel according to the present invention, since the shape and roughness of the panel can be automatically measured by computer control, it is possible to quickly and accurately determine whether the measurement result is passed. In addition, even if there is an abnormality in the measurement results of the panel can be quickly taken to the manufacturing site, etc. to minimize the loss of the manufacturing process. In addition, accuracy and reliability are improved due to the automation of the measurement, and the measurement results can be efficiently managed by data. In addition, since computer data can be easily shared by building a local network, panel research and development can be performed collectively, and efficient and economical operation is possible. In addition, the sample collection operation is unnecessary, which simplifies the measurement operation and reduces unnecessary manpower and waste of time.

Claims (6)

베이스와;A base; 상기 베이스의 상면에 액츄에이터의 구동에 의해 이동 가능하도록 설치되는 셔틀과;A shuttle installed on an upper surface of the base to be movable by an actuator; 상기 셔틀의 상면에 액츄에이터의 구동에 의해 회전 가능하게 설치되는 턴테이블과;A turntable rotatably installed on an upper surface of the shuttle by driving an actuator; 상기 턴테이블의 상면에 상기 판넬의 위치를 결정하여 측정 위치를 제공할 수 있도록 설치되는 포지셔너와;A positioner installed on an upper surface of the turntable to determine a position of the panel to provide a measurement position; 상기 판넬의 형상 및 거칠기를 측정하는 제 1 및 제 2 측정 수단을 직선 이동시키는 캐리어를 갖는 로봇과;A robot having a carrier for linearly moving first and second measuring means for measuring the shape and roughness of the panel; 상기 베이스의 전방에 상기 턴테이블로부터 상기 판넬을 배출시킬 수 있도록 설치되는 배출 유닛과;A discharge unit installed in front of the base to discharge the panel from the turntable; 상기 판넬의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터를 포함하는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.A system for measuring a cathode ray tube panel comprising a computer for controlling the measuring process of the panel. 제 1 항에 있어서, 상기 포지셔너는,The method of claim 1, wherein the positioner, 상기 텐테이블의 하면에 로드를 갖도록 설치되는 다수의 실린더와;A plurality of cylinders installed to have a rod on a lower surface of the tentable; 상기 로드 각각의 양쪽에 상기 턴테이블의 상방으로 돌출되도록 연결되는 커넥팅 로드와;Connecting rods connected to both sides of each of the rods to protrude upward of the turntable; 상기 커넥팅 로드의 선단에 장착되는 무빙 블록과;A moving block mounted at a tip of the connecting rod; 상기 무빙 블록의 중앙에 상기 판넬의 훼이스를 3점 지지할 수 있도록 설치되는 서포트 핀과;A support pin installed at the center of the moving block to support a three-point face of the panel; 상기 커넥팅 로드의 한쪽에 연결되는 커넥팅 플레이트와;A connecting plate connected to one side of the connecting rod; 상기 커넥팅 플레이트의 상면에 스프링의 탄성력을 부여받아 승,하강 운동이 가능하도록 설치되는 복수의 포스트와;A plurality of posts installed on the upper surface of the connecting plate to allow the spring plate to move upward and downward by receiving an elastic force of a spring; 상기 포스트의 선단에 상기 판넬의 훼이스를 흡착할 수 있도록 장착되는 진공 패드로 구성되는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.A system for measuring a cathode ray tube panel, comprising a vacuum pad mounted to a front end of the post to absorb a face of the panel. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 측정 수단은,The method of claim 1, wherein the first measuring means, 실린더의 구동에 의해 승,하강 운동되는 측정 블록과;A measurement block which is moved up and down by driving a cylinder; 상기 측정 블록에 장착되고, 상기 판넬의 표면에 접촉되어 운동되는 스타일러스를 갖는 미니미터로 이루어지는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.And a minimeter having a stylus mounted on the measuring block and moving in contact with the surface of the panel. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 측정 수단은,The method of claim 1, wherein the first measuring means, 실린더의 구동에 의해 승,하강 운동되는 측정 블록과;A measurement block which is moved up and down by driving a cylinder; 상기 측정 블록에 장착되고, 상기 판넬의 표면에 접촉되어 운동되도록 픽업의 한쪽에 스타일러스가 장착되는 미니미터로 이루어지는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.And a minimeter mounted to the measuring block and having a stylus mounted on one side of the pickup so as to be moved in contact with the surface of the panel. 제 1 항에 있어서, 상기 배출 유닛은 상기 베이스의 한쪽에 브래킷이 장착되고, 상기 브래킷의 상면에 상기 판넬이 올려 놓여지는 복수의 서포트 바가 서로 나란하게 각각 장착되며, 상기 브래킷의 한쪽에 상기 판넬이 배출 위치로 이동된 상태를 감지하는 센서가 장착되는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.According to claim 1, wherein the discharge unit is a bracket is mounted on one side of the base, a plurality of support bars on which the panel is placed on the upper surface of the bracket is mounted in parallel with each other, respectively, the panel on one side of the bracket Measurement system for a cathode ray tube panel equipped with a sensor that detects the movement to the discharge position. 제 5 항에 있어서, 상기 서포트 바의 높이는 상기 판넬의 훼이스와 간섭되지 않도록 그 측정 위치보다 낮게 장착되는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.The system of claim 5, wherein the height of the support bar is mounted lower than the measurement position so as not to interfere with the face of the panel.
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