KR100543812B1 - Measurement system of panel for cathode ray tube - Google Patents
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Abstract
본 발명은 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 관한 것이다. 본 발명의 센터링 장치는 테이블의 상면에 올려 놓여지는 판넬을 롤러에 의해 사방에서 밀어 중심을 맞추고, 센터링 장치에 의해 중심이 맞춰진 판넬은 이송 장치에 의해 제 1 및 제 2 측정 장치의 측정 위치로 이동시킨다. 제 1 측정 장치는 로봇에 의해 판넬을 검지하는 프로브를 상하좌우 및 선회 운동시켜 3차원 측정을 수행하여 판넬의 치수 등을 검출하며, 제 2 측정 장치는 제 1 및 제 2 측정 유닛의 구동에 의해 연마 전,후 판넬의 형상 및 거칠기를 각각 측정하고, 이러한 일련의 측정 공정은 컴퓨터에 의해 제어된다. 따라서, 센터링 장치에서 중심이 맞춰진 판넬을 컴퓨터의 제어에 의해 제 1 및 제 2 측정 장치로 이송시켜 일련의 측정 작업을 자동으로 수행할 수 있으므로, 측정 결과의 합격 여부를 신속하고 정확하게 판정할 수 있을 뿐만 아니라, 제조 현장에 신속한 조치를 취할 수 있게 된다. 또한, 측정의 자동화로 인하여 측정 정밀도 및 신뢰성이 향상되며, 측정 결과를 데이터화하여 저장할 수 있다. 그리고, 컴퓨터의 데이터를 지역 네트워크의 구축에 의해 용이하게 공유할 수 있으므로, 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행할 수 있어 능률적이고 경제적인 운영이 가능해지게 된다. 또한, 시료의 채취 작업이 불필요해져 측정 작업이 단순해지므로, 불필요한 인력과 시간의 낭비를 줄일 수 있게 된다.The present invention relates to a measurement system for a panel for a cathode ray tube. The centering device of the present invention pushes and centers a panel placed on the upper surface of the table from all directions by a roller, and the panel centered by the centering device is moved to the measuring position of the first and second measuring devices by the transfer device. Let's do it. The first measuring device performs a three-dimensional measurement by moving the probe detecting the panel by a robot up, down, left, and right, and detects the size of the panel. The second measuring device is driven by driving the first and second measuring units. The shape and roughness of the panel before and after polishing are respectively measured, and this series of measurement processes are controlled by a computer. Therefore, the centering panel can be transferred to the first and second measuring devices by the control of the computer to automatically perform a series of measurement operations, so that it is possible to quickly and accurately determine whether the measurement results have been passed. In addition, rapid action on the manufacturing floor can be achieved. In addition, measurement accuracy and reliability are improved due to the automation of the measurement, and the measurement results can be stored as data. In addition, since computer data can be easily shared by building a local network, panel research and development can be performed collectively, and efficient and economical operation is possible. In addition, since the sample collection operation is unnecessary and the measurement operation is simplified, unnecessary manpower and time waste can be reduced.
Description
본 발명은 음극선관용 판넬(panel)의 치수, 형상 및 거칠기를 자동으로 측정하기 위한 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a measuring system for a cathode ray tube panel for automatically measuring the dimensions, shape and roughness of a cathode ray tube panel.
컬러텔레비젼이나 컴퓨터 모니터 등의 제조에 사용되는 음극선관은 기본적으로 세 가지의 구성 요소, 즉 화상이 투시되는 판넬과, 이 판넬의 배면에 부착되는 원추형의 휀넬(funnel)과, 휀넬의 꼭지점에 용착되는 관형상의 네크(neck)로 이루어진다. 판넬은 훼이스(face)와 스커트(skirt)를 갖추고 있으며, 훼이스의 내면에는 결상용 형광체가 도포되고, 스커트에는 다수의 구멍을 갖는 섀도우마스크가 핀에 의해 지지된다. 그리고, 네크에는 전자총이 설치되며, 전자총은 섀도우마스크의 구멍을 통하여 형광체로 전자빔을 발사함으로써 화상을 생성하게 된다.Cathode ray tubes used in the manufacture of color televisions and computer monitors are basically three components: a panel through which images are projected, a conical funnel attached to the back of the panel, and welding at the vertices of the channel. It consists of a tubular neck. The panel has a face and a skirt, and an imaging phosphor is applied to the inner surface of the face, and a shadow mask having a plurality of holes is supported by the pin. An electron gun is installed in the neck, and the electron gun generates an image by firing an electron beam through a hole of a shadow mask with a phosphor.
이와 같은 음극선관의 판넬, 휀넬 및 네크는 모두 유리로 제조된다. 특히, 판넬과 휀넬은 곱(gob)이라 불리는 용융유리 덩어리를 원하는 크기 및 형상으로 프레스 성형에 의해 제조하게 된다. 성형 공정에 의해 제조된 성형품은 일반적으로 거친 표면을 가지므로, 음극선관의 화상 품질을 개선하려면 성형품의 표면을 적절히 연마하여 광학적 결함을 제거할 필요가 있다. 성형품이 판넬인 경우 연마를 필요로 하는 표면은 훼이스와, 휀넬이 용착되는 스커트의 시일에지(seal edge)이다.The panels, channels and necks of these cathode ray tubes are all made of glass. In particular, the panel and channel will produce a molten glass mass called a gob by press molding into a desired size and shape. Since the molded article produced by the molding process generally has a rough surface, it is necessary to properly polish the surface of the molded article to remove optical defects in order to improve the image quality of the cathode ray tube. If the molded article is a panel, the surface which needs to be polished is the seal edge of the face and the skirt to which the channel is to be welded.
한편, 판넬은 품질의 균일성을 유지하기 위하여 샘플링 검사를 수행하게 된다. 샘플링 검사에 의한 판넬의 측정 항목은 크게 치수, 형상 및 거칠기로 나눌 수 있으며, 측정의 세부 항목에는 대략 15개 정도가 있다. 예를 들어 측정의 세부 항목에는 시일에지의 두께, 훼이스의 중심 두께, 시일에지의 하이 핀(high pin), 아웃 베벨(out bevel), 시일 랜드 폭(seal land width) 등의 측정이 있다.In the meantime, the panel performs sampling inspection to maintain uniformity of quality. The measurement items of the panel by sampling inspection can be largely divided into dimensions, shapes, and roughness, and there are about 15 measurement items. For example, the measurement details include the thickness of the seal edge, the center thickness of the face, the high pin of the seal edge, the out bevel, the seal land width, and the like.
그러나, 상기한 바와 같은 판넬의 측정은 대개 작업자의 수작업과 형상 및 거칠기 측정기, 3차원 측정기에 의해 개별적으로 이루어지고 있다. 예컨대, 판넬의 높이와 훼이스의 중심 두께 등은 버니어 캘리퍼스나 다이얼 게이지, 하이트 게이지 등에 의해 수작업으로 측정하고 있으며, 판넬의 형상 및 거칠기는 별도의 형상 및 거칠기 측정기에 의해 각각 이루어지고 있다. 또한, 판넬의 치수와 시일에지의 두께, 내측 및 외측 다이어그램(diagram), 웨지(wedge) 등의 측정에는 3차원 측정기가 사용되고 있기 때문에 측정 공정이 복잡하고 번거로워지는 문제가 있었다. 그리고, 작업자의 수작업에 의해 판넬의 두께를 측정할 경우에는 작업자의 실수 등으로 인하여 측정 오차가 발생될 우려가 높기 때문에 신뢰성이 저하되는 문제를 가지게 된다. 더욱이, 판넬의 두께, 형상 및 거칠기를 측정하기 위해서는 판넬의 대략 24군데를 절단한 시료를 채취하여 수행하여야 하므로, 시료의 채취와 판넬의 측정에 과다한 시간이 소요되었다. 특히, 시료의 채취 작업과 취급에는 세심한 주의가 요구되어 숙련된 작업이 필요할 뿐만 아니라, 시료의 채취 작업은 측정실과 별도의 채취실에서 수행하고 있어 비능률적이고 비경제적인 문제가 있었다. 이것을 개선하기 위하여 판넬의 두께, 치수와 거칠기 측정은 대략 8개의 시료에 의해 수행하고 있으나, 측정 공정의 단순화에는 미흡한 실정에 있다.However, the measurement of the panel as described above is usually made individually by the operator's manual work, shape and roughness measuring instrument, three-dimensional measuring instrument. For example, the height of the panel and the center thickness of the face are measured manually by a vernier caliper, a dial gauge, a height gauge, and the like, and the shape and roughness of the panel are made by separate shapes and roughness measuring instruments, respectively. In addition, the measurement process is complicated and cumbersome because a three-dimensional measuring device is used for measuring the panel dimensions, the thickness of the seal edge, the inner and outer diagrams, the wedges, and the like. In addition, when the thickness of the panel is measured by the operator's manual work, there is a high possibility that a measurement error may occur due to a mistake of the operator. Furthermore, in order to measure the thickness, shape, and roughness of the panel, it is necessary to take a sample of approximately 24 cuts of the panel, and thus, excessive time is required for collecting the sample and measuring the panel. In particular, the collection and handling of the sample requires careful attention and requires skilled work, and the collection of the sample is performed in a separate collection room from the measurement room, resulting in inefficient and inefficient economic problems. In order to improve this, the thickness, dimension and roughness of the panel are measured by about eight samples, but they are insufficient in simplifying the measurement process.
한편, 판넬의 측정 결과를 판정 기준과 비교하여 합격 여부를 결정하기 위해서는 개별적으로 측정된 판넬의 치수, 형상 및 거칠기에 대한 측정 결과를 취합하여 데이터화 한 후, 이것을 판정 기준과 비교하여야 하기 때문에 합격 여부의 결정에 과다한 시간이 소요되었다. 뿐만 아니라, 판넬의 측정 결과가 불합격으로 판정될 경우에는 그 원인을 파악하여 제조 현장에 수정 조치를 취하여야 하는 것이나, 측정 결과를 제조 현장에 신속하게 전달할 수 없어 수정 조치를 지연시키는 원인이 되었으며, 나아가 판넬의 제작에 막대한 지장을 초래시키는 문제가 있었다. 또한, 제조 현장이 나뉘어져 설비된 경우에는 판넬의 측정 결과에 대한 데이터를 공유하기가 곤란하여 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행하는데 지장이 초래되는 문제가 있었다.On the other hand, in order to determine the passability by comparing the measurement result of the panel with the criterion for determination, it is necessary to collect and measure the measurement results for the dimensions, shape, and roughness of the individually measured panel, and then compare the results with the criterion. Determining excessive time was spent. In addition, when the panel's measurement result is judged to fail, it is necessary to identify the cause and take corrective action at the manufacturing site, or to delay the corrective action because the measurement result cannot be delivered to the manufacturing site promptly. Furthermore, there was a problem that caused enormous obstacles in the production of the panel. In addition, when the manufacturing site is divided and installed, it is difficult to share data on the measurement results of the panel, causing problems in carrying out the panel research and development collectively.
본 발명은 상기한 바와 같은 종래의 제반 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 측정을 자동으로 수행할 수 있도록 한 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a measuring system of a panel for a cathode ray tube to perform the measurement automatically.
본 발명의 다른 목적은 측정 결과의 합격 여부를 신속하게 판정할 수 있는 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a measuring system for a cathode ray tube panel that can quickly determine whether or not the result of a measurement is passed.
본 발명의 또 다른 목적은 측정 정밀도가 향상되도록 한 음극선관용 판넬 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a panel measurement system for cathode ray tubes in which measurement accuracy is improved.
본 발명의 또 다른 목적은 측정 결과를 데이터화하여 공유할 수 있는 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a measurement system for a cathode ray tube panel that can share the measurement results by data.
본 발명의 또 다른 목적은 능률적이고 경제적인 운영이 가능한 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is another object of the present invention to provide a measuring system for a cathode ray tube panel capable of efficient and economical operation.
본 발명의 또 다른 목적은 시료의 채취없이 측정이 가능해지도록 한 음극선관용 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a measuring system for a cathode ray tube that enables measurement without taking a sample.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은, 테이블의 상면에 올려 놓여지는 음극선관용 판넬의 중심을 맞추는 것으로, 판넬의 스커트를 직선 운동에 의해 사방에서 지지하여 중심을 맞추는 푸시 수단과, 판넬을 테이블의 상면으로부터 소정의 높이로 승강시키는 리프팅 수단을 갖는 센터링 장치와; 센터링 장치에서 측정 위치로 판넬을 이송시키는 것으로 액츄에이터의 구동에 의해 이송되도록 설치되는 아암과, 아암의 선단에 판넬을 척킹할 수 있도록 설치되는 척킹 유닛을 갖는 이송 장치와; 이송 장치의 일측에 이송 장치에 의해 이송되는 판넬을 측정하기 위한 측정 위치를 제공할 수 있도록 설치되며, 판넬을 검지하는 제 1 터치 센서의 프로브를 상하좌우 및 선회 운동시켜 3차원 측정을 수행하는 로봇을 갖는 제 1 측정 장치와; 이송 장치의 타측에 이송 장치에 의해 이송되는 판넬을 측정하기 위한 측정 위치를 제공할 수 있도록 설치되고, 판넬의 형상과 거칠기를 측정하는 측정 수단을 갖는 제 2 측정 장치와; 판넬의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터를 포함하는 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 있다.A feature of the present invention for achieving the above object is to align the center of the cathode ray tube panel placed on the upper surface of the table, the push means for aligning the center of the panel by supporting the skirt of the panel from all directions by linear motion, and the panel A centering device having lifting means for lifting up and down from an upper surface of the table to a predetermined height; A transfer device having an arm installed to be fed by the drive of the actuator by transferring the panel from the centering device to the measurement position, and a chucking unit installed to chuck the panel at the tip of the arm; The robot is installed on one side of the conveying device to provide a measuring position for measuring the panel conveyed by the conveying device. The robot performs three-dimensional measurement by vertically, vertically and horizontally moving the probe of the first touch sensor detecting the panel. A first measuring device having a; A second measuring device installed on the other side of the conveying device so as to provide a measuring position for measuring the panel conveyed by the conveying device, the second measuring device having measuring means for measuring the shape and roughness of the panel; A measurement system for a cathode ray tube panel that includes a computer controlling the measurement process of the panel.
이하, 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 대한 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a measuring system for a cathode ray tube panel according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1 내지 도 30은 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 설명하기 위하여 나타낸 도면 이다.1 to 30 is a view showing for explaining the measurement system of the cathode ray tube panel according to the present invention.
먼저, 도 1에 나타낸 바와 같이, 음극선관의 판넬(10)은 훼이스(12)와, 이 훼이스(12)의 가장자리로부터 후방으로 형성되는 스커트(14)를 갖추고 있다. 스커트(14)는 시일에지(16)를 가지며, 스커트(14)의 측면에는 프레스 성형 자국인 몰드 매치 라인(mold match line: 18)이 남게 된다. 판넬(10)은 장축과 단축을 갖는 대략 직사각형으로 형성되고, 판넬(10)의 치수는 대각선 길이에 따라 인치를 단위로 사용하여 구분하고 있다.First, as shown in FIG. 1, the panel 10 of the cathode ray tube includes a face 12 and a skirt 14 formed rearward from the edge of the face 12. The skirt 14 has a seal edge 16, and a mold match line 18, which is a press molding mark, is left on the side of the skirt 14. The panel 10 is formed into a substantially rectangular shape having a long axis and a short axis, and the dimensions of the panel 10 are divided using an inch unit according to the diagonal length.
도 2 및 도 3에 나타낸 바와 같이, 센터링 장치(100)는 판넬(10)의 중심을 기준으로 판넬(10)의 중심 맞추기를 수행하는 것으로, 이 센터링 장치(100)의 구동에 의해 중심 맞추기가 가능한 판넬(10)의 크기는 대략 25인치 내지 34인치 정도이다. 센터링 장치(100)는 판넬(10)이 올려 놓여지는 테이블(110)을 가지며, 테이블(100)에는 판넬(10)의 시일에지(16)가 상방을 향하도록 올려 놓여진다. 테이블(110)의 상면에는 그 중앙을 중심으로 사방에 마주보는 한쌍의 가로 및 세로 안내구멍(112, 114)이 서로 나란하게 형성된다.2 and 3, the centering apparatus 100 performs centering of the panel 10 with respect to the center of the panel 10. Centering by the driving of the centering apparatus 100 is performed. Possible panel 10 sizes range from about 25 inches to about 34 inches. The centering device 100 has a table 110 on which the panel 10 is placed, and the seal edge 16 of the panel 10 is placed on the table 100 to face upward. On the upper surface of the table 110, a pair of horizontal and vertical guide holes 112 and 114 facing each other around the center thereof are formed side by side.
도 4, 도 5 및 도 8에 나타낸 바와 같이, 테이블(110)의 하부에 베이스 플레이트(120)가 설치되고, 베이스 플레이트(120)의 상면에는 마주보는 한쌍의 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)가 가로 및 세로 가이드(134, 136)를 따라 직선 운동되도록 설치된다. 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)는 가로 및 세로 실린더(140, 142)의 로드(140a, 142a)에 각각 연결되며, 이 로드(140a, 142a)의 전,후진 운동에 의해 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)가 가로 및 세로 가이드(134, 136)를 따라 직선 운동된다. 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)의 상면에는 가로 및 세로 안내구멍(112, 114)을 통하여 테이블(110)의 상방으로 돌출되도록 가로 및 세로 포스트(150, 152)가 각각 고정되고, 가로 및 세로 포스트(150, 152)의 상부에는 판넬(10)의 스커트(14)를 지지하는 롤러(154, 156)가 베어링(158)에 의해 회전 가능하게 설치된다. 롤러(154, 156)는 판넬(10)을 보호할 수 있도록 수지(樹脂)를 소재로 제작하는 것이 바람직하다.4, 5, and 8, the base plate 120 is installed at the bottom of the table 110, and a pair of horizontal and vertical sliders 130 and 132 facing each other on the upper surface of the base plate 120. Is installed to linearly move along the horizontal and vertical guides 134 and 136. The horizontal and vertical sliders 130 and 132 are connected to the rods 140a and 142a of the horizontal and vertical cylinders 140 and 142, respectively, and the horizontal and vertical sliders ( 130, 132 are linearly moved along the transverse and longitudinal guides 134, 136. The horizontal and vertical posts 150 and 152 are fixed to the upper surfaces of the horizontal and vertical sliders 130 and 132 so as to protrude upward of the table 110 through the horizontal and vertical guide holes 112 and 114, respectively. On the upper portions of the posts 150 and 152, rollers 154 and 156 supporting the skirt 14 of the panel 10 are rotatably installed by the bearing 158. The rollers 154 and 156 are preferably made of resin so as to protect the panel 10.
도 6, 도 7a 및 도 7b에 나타낸 바와 같이, 베이스 플레이트(120)의 중앙에 중심축(122)이 설치되고, 중심축(122)에는 마주보는 한쌍의 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)가 연동되도록 가로 및 세로 링크 기구(160, 170)가 각각 설치된다. 가로 및 세로 링크 기구(160)는 중심축(122)에 베어링(124)의 지지에 의해 회전 가능하게 장착되는 레버(162, 172)를 가지며, 레버(162, 172)의 양쪽 끝에는 링크(164, 174)의 한쪽 끝이 회전 가능하게 각각 연결되고, 링크(164, 174)의 다른쪽 끝은 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)에 회전 가능하게 각각 연결된다. 즉, 가로 및 세로 링크 기구(160, 170)의 링크 운동에 의해 마주 보는 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)가 테이블(110)의 중심이나 외측을 향하여 직선 운동되는 것이다.As shown in FIGS. 6, 7A and 7B, a central axis 122 is installed at the center of the base plate 120, and a pair of horizontal and vertical sliders 130 and 132 facing each other are provided at the central axis 122. Horizontal and vertical link mechanisms 160 and 170 are respectively installed to interlock. The horizontal and vertical link mechanism 160 has levers 162 and 172 rotatably mounted to the central axis 122 by the support of the bearing 124, and at both ends of the levers 162 and 172, the links 164, One end of 174 is rotatably connected, respectively, and the other end of links 164, 174 is rotatably connected to horizontal and vertical sliders 130, 132, respectively. That is, the horizontal and vertical sliders 130 and 132 faced by the link motion of the horizontal and vertical link mechanisms 160 and 170 are linearly moved toward the center or the outside of the table 110.
도 3 및 도 4에 나타낸 바와 같이, 테이블(110)의 중앙에는 테이블(110)의 상면으로부터 판넬(10)을 소정의 높이로 승강시킬 수 있도록 리프팅 플레이트(180)가 설치되고, 리프팅 플레이트(180)는 리프팅 실린더(182)의 로드(182a)에 연결된다. 이 리프팅 실린더(182)의 구동에 의해 로드(182a)가 전,후진 운동하게 되면 테이블(110)의 상면으로부터 리프팅 플레이트(180)가 승,하강 운동된다. 리프팅 플레이트(180)는 판넬(10)의 장축 및 단축과 대응되도록 가로 길이가 세로 길이보다 길게 형성되며, 이로 인하여 작업자는 리프팅 플레이트(180)의 상면에 판넬(10)의 방향을 정확하게 설정하여 올려 놓을 수 있게 된다. 또한, 리프팅 플레이트(180)의 상면 중앙에는 판넬(10)을 보호할 수 있도록 패드(184)가 장착되고, 패드(184)는 수지를 소재로 제작하는 것이 바람직하다. 테이블(110)의 한쪽 측면에는 작업자의 조작에 의해 측정하고자 하는 판넬(10)의 치수를 입력시킬 수 있는 컨트롤 박스(190)가 설치된다.3 and 4, the lifting plate 180 is installed at the center of the table 110 so that the panel 10 can be elevated to a predetermined height from the top surface of the table 110, and the lifting plate 180 is provided. Is connected to the rod 182a of the lifting cylinder 182. When the rod 182a moves forward and backward by the driving of the lifting cylinder 182, the lifting plate 180 moves up and down from the upper surface of the table 110. The lifting plate 180 is formed to have a horizontal length longer than the vertical length so as to correspond to the long axis and the short axis of the panel 10, and thus the operator raises the direction of the panel 10 accurately on the upper surface of the lifting plate 180 to raise it. You can let go. In addition, the pad 184 is mounted on the center of the upper surface of the lifting plate 180 to protect the panel 10, and the pad 184 is preferably made of resin. One side of the table 110 is provided with a control box 190 that can input the dimensions of the panel 10 to be measured by the operator's operation.
도 2, 도 9 및 도 10에 나타낸 바와 같이, 센터링 장치(100)의 구동에 의해 중심 맞추기가 완료된 판넬(10)은 이송 장치(200)의 구동에 의해 측정 위치로 이송된다. 이송 장치(200)는 레일(210)을 따라 액츄에이터(212)의 구동에 의해 직선 이송되도록 설치되는 아암(220)을 가지며, 액츄에이터(212)는 레일(200)의 한쪽에 장착된다. 레일(210)은 액츄에이터(212)의 구동에 의해 회전되는 이송나사축(214)과, 이 이송나사축(214)을 따라 이송되는 이송너트(216), 그리고 아암(220)이 직선 이송되도록 안내하는 복수의 가이드 바(218)를 갖는다.As shown in FIG. 2, FIG. 9, and FIG. 10, the panel 10 which centered by the drive of the centering apparatus 100 is conveyed to a measurement position by the drive of the transfer apparatus 200. FIG. The conveying apparatus 200 has an arm 220 which is installed to be linearly conveyed by the drive of the actuator 212 along the rail 210, and the actuator 212 is mounted on one side of the rail 200. The rail 210 guides the feed screw shaft 214 rotated by the drive of the actuator 212, the feed nut 216 conveyed along the feed screw shaft 214, and the arm 220 to be linearly conveyed. It has a plurality of guide bar (218).
도 9, 도 11 및 도 12에 나타낸 바와 같이, 아암(220)의 선단에는 판넬(10)을 척킹할 수 있는 척킹 유닛(230)이 설치되고, 척킹 유닛(230)은 실린더(232)의 구동에 의해 승,하강 운동되는 무빙 플레이트(234)를 갖는다. 무빙 플레이트(234)의 하면 중앙에는 척킹 실린더(236)의 구동에 의해 판넬(10)을 흡착하는 진공 패드(238)가 장착되며, 이때 진공 패드(238)는 훼이스(12)의 내면 중앙을 흡착하게 된다. 무빙 플레이트(234)의 하면 양쪽에는 판넬(10)의 시일에지(16)를 지지하는 복수의 게이지 바(240)가 가로 방향으로 나란하게 장착되고, 게이지 바(240)는 시일에지(16)의 4곳을 면접촉에 의해 지지하게 된다. 이 게이지 바(240)의 지지에 의해 다른 크기의 판넬(10)이 같은 높이를 유지하게 되므로, 센터링 장치(100)는 판넬(10)의 중심과 시일에지(16)를 기준으로 판넬(10)의 중심 맞추기를 수행할 수 있게 된다. 또한, 무빙 플레이트(234)의 하면 한쪽에 스커트(14)와의 거리를 검출하여 판넬(10)의 치수를 측정하기 위한 제 1 센서(250)가 장착된다. 도면에서, 제 1 센서(250)는 가로 방향으로 1개가 장착된 것을 나타냈으나, 제 1 센서(250)는 세로 방향에도 장착할 수 있다. 무빙 플레이트(234)의 한쪽 측면에 센싱 바(260)가 설치되며, 이 센싱 바(260)의 상방에 센싱 바(260)의 이동 거리를 검출하여 판넬(10)의 높이를 측정하는 제 2 센서(262)가 장착된다. 제 1 및 제 2 센서(250, 262)의 측정에 의해 컨트롤 박스(190)로부터 입력되는 판넬(10)의 치수와 실제 측정하고자 하는 판넬(10)의 치수가 동일한 지의 여부를 판별하여 확인할 수 있게 된다.9, 11, and 12, a chucking unit 230 capable of chucking the panel 10 is installed at the tip of the arm 220, and the chucking unit 230 drives the cylinder 232. It has a moving plate 234 that is moved up and down by. In the center of the lower surface of the moving plate 234, a vacuum pad 238 is installed to suck the panel 10 by driving the chucking cylinder 236. In this case, the vacuum pad 238 sucks the center of the inner surface of the face 12. Done. On both sides of the lower surface of the moving plate 234, a plurality of gauge bars 240 supporting the seal edges 16 of the panel 10 are mounted side by side in the horizontal direction, and the gauge bars 240 of the seal edges 16 are mounted. Four places are supported by surface contact. Since the panel 10 of the different size is maintained at the same height by the support of the gauge bar 240, the centering device 100 is based on the center of the panel 10 and the seal edge 16, the panel 10 You will be able to center the. In addition, a first sensor 250 is mounted on one side of the lower surface of the moving plate 234 to detect the distance from the skirt 14 and to measure the size of the panel 10. In the figure, it is shown that one first sensor 250 is mounted in the horizontal direction, but the first sensor 250 may be mounted in the vertical direction. A sensing bar 260 is installed at one side of the moving plate 234, and a second sensor that detects a moving distance of the sensing bar 260 above the sensing bar 260 to measure the height of the panel 10. 262 is mounted. By measuring the first and second sensors 250 and 262, it is possible to determine whether the dimensions of the panel 10 input from the control box 190 and the dimensions of the panel 10 to be measured are the same. do.
도 2, 도 13 및 도 14에 나타낸 바와 같이, 판넬(10)은 이송 장치(200)의 구동에 의해 센터링 장치(100)로부터 판넬(10)의 3차원 측정을 수행하는 제 1 측정 장치(300)의 측정 위치로 이송된다. 제 1 측정 장치(300)는 3차원 측정에 의해 판넬(10)의 치수와 시일에지(16)의 두께, 내측 및 외측 다이어그램, 그리고 훼이스(12)의 중심 두께, 전체 높이(overall height), 웨지, 핀 프레인 에지 롤(pin plane edge roll), 핀 클리어런스(pin clearance), 몰드 매치 아웃사이드 다이어그램(mold match outside diagram) 등 대략 9개 정도의 항목을 측정할 수 있다.As shown in FIGS. 2, 13 and 14, the panel 10 is a first measuring device 300 which performs three-dimensional measurement of the panel 10 from the centering device 100 by driving the conveying device 200. Is transferred to the measuring position. The first measuring device 300 measures, by three-dimensional measurements, the dimensions of the panel 10 and the thickness of the seal edge 16, the inner and outer diagrams, and the central thickness of the face 12, the overall height, the wedges. About 9 items can be measured: pin plane edge roll, pin clearance, mold match outside diagram.
도 13 내지 도 16에 나타낸 바와 같이, 제 1 측정 장치(300)는 측정의 정밀도를 유지할 수 있는 정반(310)을 가지며, 정반(310)의 상면 한쪽에 베이스(320)가 설치되고, 베이스(320)의 후방 상면에는 복수의 안내구멍(322)이 길이 방향을 따라 나란하게 형성된다. 베이스(320)의 상면에는 이송 장치(200)의 구동에 의해 이송되는 판넬(10)의 위치를 결정하여 판넬(10)을 측정할 수 있도록 측정 위치를 제공하는 포지셔너(positioner: 330)가 설치된다. 포지셔너(330)는 베이스(320)의 하면에 다수의 실린더(332)가 로드(332a)를 갖도록 설치되며, 로드(332a)의 양쪽에는 커넥팅 로드(334)가 베이스(320)의 상방으로 돌출되도록 연결되고, 커넥팅 로드(334)의 선단에 무빙 블록(336)이 장착된다. 무빙 블록(336)의 중앙에 설치홈(338)이 형성되며, 무빙 블록(336)의 설치홈(338)에는 판넬(10)의 훼이스(12)를 지지하는 서포트 핀(340)이 설치되며, 서포트 핀(340)의 선단은 구면(340a)으로 형성된다. 도면에서 서포트 핀(340)은 3개가 배치되어 훼이스(12)를 3점 지지할 수 있도록 설치된 것을 나타냈으나, 서포트 핀(340)의 숫자 및 위치는 적절하게 변경할 수 있다.As shown in FIGS. 13 to 16, the first measuring device 300 has a surface plate 310 capable of maintaining measurement accuracy, and a base 320 is provided on one side of the upper surface of the surface plate 310. A plurality of guide holes 322 are formed side by side in the longitudinal direction on the rear upper surface of the 320. A positioner 330 is provided on the upper surface of the base 320 to provide a measurement position so that the panel 10 can be measured by determining the position of the panel 10 to be conveyed by the driving of the transfer device 200. . The positioner 330 is installed on the lower surface of the base 320 such that a plurality of cylinders 332 have a rod 332a, and the connecting rod 334 protrudes above the base 320 on both sides of the rod 332a. The moving block 336 is mounted at the tip of the connecting rod 334. An installation groove 338 is formed in the center of the moving block 336, and a support pin 340 supporting the face 12 of the panel 10 is installed in the installation groove 338 of the moving block 336. The tip of the support pin 340 is formed with a spherical surface 340a. In the drawings, three support pins 340 are disposed to be installed to support the face 12 three points, but the number and position of the support pins 340 may be appropriately changed.
한편, 포지셔너(330)는 커넥팅 로드(334)의 한쪽에 커넥팅 플레이트(342)가 연결되고, 커넥팅 플레이트(342)의 상면에 포스트(344)가 스프링(346)의 탄성력을 부여받아 베이스(320)의 상방으로 승,하강 운동이 가능하도록 설치되며, 포스트(344)의 선단에는 훼이스(12)를 흡착하는 진공 패드(348)가 장착된다. 진공 패드(348)는 서포트 핀(340)의 사이에 2개가 동일 직선상에 위치되도록 설치된 것을 나타냈으나, 진공 패드(348)의 숫자 및 위치는 적절하게 변경할 수 있다. 이와 같은 포지셔너(330)의 서포트 핀(340)과 진공 패드(348)는 승강되어 판넬(10)의 측정을 수행할 수 있는 측정 위치를 제공하게 된다.On the other hand, the positioner 330 is connected to the connecting plate 342 on one side of the connecting rod 334, the post 344 is applied to the upper surface of the connecting plate 342 by the elastic force of the spring 346 base 320 It is installed to enable the upward and downward movement of the upper side of the post 344, the vacuum pad 348 for adsorbing the face 12 is mounted. Although the vacuum pad 348 was shown to be installed so that two may be located in the same straight line between the support pins 340, the number and position of the vacuum pad 348 can be changed suitably. The support pin 340 and the vacuum pad 348 of the positioner 330 are lifted to provide a measurement position to perform the measurement of the panel 10.
도 15 및 도 18에 나타낸 바와 같이, 베이스(320)의 상면에는 진공 패드(348) 사이를 가로지르는 레퍼런스 게이지(reference gauge: 350)가 설치되고, 레퍼런스 게이지(350)는 복수의 포스트(352)에 의해 커넥팅 플레이트(342)의 상면에 서포트 핀(340), 진공 패드(348)와 함께 승,하강 운동이 가능하도록 고정된다. 레퍼런스 게이지(350)는 수평 바(350a)의 양쪽에 수직 바(350b)가 수직으로 각각 형성되고, 수평 바(350b)의 양쪽 모서리에는 경사면(350c)이 각각 형성되며, 수직 바(350b)의 끝에는 기준 바(350d)가 수평으로 각각 형성된다. 여기에서, 레퍼런스 게이지(350)는 기준 바(350d)가 베이스(320)의 측방에 위치할 수 있도록 수평 바(350a)의 폭이 베이스(320)의 폭보다 길게 형성되고, 기준 바(350d)의 상면은 정밀 가공되는 것이 바람직하다. 그리고, 수평 바(350a)의 중앙에 훼이스(12)의 중앙을 지지할 수 있도록 게이지 핀(354)이 장착되고, 게이지 핀(354)의 선단은 구면(354a)으로 형성되며, 게이지 핀(354)은 훼이스(12)의 중앙을 지지하여 이송 장치(200)의 구동에 의해 하강하는 판넬(10)을 정지시켜 주게 된다. 또한, 게이지 핀(354)은 판넬(10)의 훼이스(12)를 지지하여 측정 기준점을 제공하게 된다.15 and 18, a reference gauge 350 across the vacuum pad 348 is provided on the upper surface of the base 320, and the reference gauge 350 includes a plurality of posts 352. By the support pin 340, the vacuum pad 348 is fixed to the upper surface of the connecting plate 342 so as to enable the lifting and lowering movement. The reference gauge 350 has vertical bars 350b formed vertically on both sides of the horizontal bar 350a, and inclined surfaces 350c are formed at both corners of the horizontal bar 350b, respectively. At the ends, reference bars 350d are formed horizontally, respectively. Here, the reference gauge 350 is formed such that the width of the horizontal bar 350a is longer than the width of the base 320 so that the reference bar 350d can be located on the side of the base 320, and the reference bar 350d The upper surface of the is preferably precision processed. And, the gauge pin 354 is mounted to support the center of the face 12 in the center of the horizontal bar (350a), the tip of the gauge pin 354 is formed of a spherical surface (354a), the gauge pin 354 ) Supports the center of the face 12 to stop the panel 10 which is lowered by the driving of the transfer device 200. In addition, the gauge pin 354 supports the face 12 of the panel 10 to provide a measurement reference point.
도 13 및 도 14, 도 20을 참조하여 설명하면, 제 1 측정 장치(300)는 정반(310)의 상면에 설치되는 로봇(360)을 가지며, 로봇(360)은 복수의 칼럼(column: 362)에 세로 레일(364)이 설치되고, 이 세로 레일(364)을 따라 세로 액츄에이터(366)의 구동에 의해 가로 레일(368)이 직선 이송되도록 설치되며, 가로 레일(368)의 끝에는 정반(310)의 상면을 따라 이동되면서 가로 레일(368)을 지지할 수 있도록 다리(370)가 수직으로 연결된다. 또한, 로봇(360)의 가로 레일(368)에는 가로 액츄에이터(372)의 구동에 의해 캐리어(carrier: 380)가 직선 이송되도록 설치된다. 즉, 로봇(360)의 캐리어(380)는 가로 및 세로 레일(364, 368)에 의해 직교 좌표를 따라 운동하게 되며, 로봇(360)에 의한 캐리어(380)의 운동 범위는 대략 가로 1000mm, 세로 700mm 정도가 바람직하다. 로봇(360)의 캐리어(380)에는 실린더(382)의 구동에 의해 손목(384)이 수직 운동되도록 설치되고, 손목(384)에는 손(386)이 액츄에이터(388)의 구동에 선회되도록 설치된다. 로봇(360)의 손(386)에는 제 1 터치 센서(touch sensor: 390)가 설치되며, 제 1 터치 센서(390)는 선단에 판넬(10)을 접촉에 의해 검지하는 프로브(probe: 392)를 갖는다. 제 1 터치 센서(390)의 외주면 한쪽에 판넬(10)의 몰드 매치 라인(18)과 접촉되어 몰드 매치 아웃사이드 다이어그램을 측정할 수 있도록 원형의 제 2 터치 센서(394)가 프로브(396)을 갖도록 설치된다.Referring to FIGS. 13, 14, and 20, the first measuring device 300 has a robot 360 installed on an upper surface of the surface plate 310, and the robot 360 includes a plurality of columns 362. ) Vertical rails 364 are installed, and the horizontal rails 368 are installed to be transported linearly by driving the vertical actuators 366 along the vertical rails 364. The legs 370 are vertically connected to support the horizontal rail 368 while being moved along the upper surface of the upper side. In addition, the horizontal rail 368 of the robot 360 is installed such that the carrier 380 is linearly transferred by the horizontal actuator 372. That is, the carrier 380 of the robot 360 is moved along the rectangular coordinates by the horizontal and vertical rails 364 and 368, and the movement range of the carrier 380 by the robot 360 is approximately 1000 mm horizontally and vertically. About 700 mm is preferable. The wrist 384 is installed on the carrier 380 of the robot 360 so that the wrist 384 is vertically moved by the driving of the cylinder 382, and the hand 384 is installed on the wrist 384 so as to pivot the drive of the actuator 388. . A first touch sensor 390 is installed in the hand 386 of the robot 360, and the first touch sensor 390 detects the panel 10 by contact with a probe 392. Has The circular second touch sensor 394 may move the probe 396 so as to contact the mold match line 18 of the panel 10 on one side of the outer circumferential surface of the first touch sensor 390 to measure the mold match outside diagram. It is installed to have.
도 21 및 도 22에 나타낸 바와 같이, 제 1 측정 장치(300)의 구동에 의해 측정이 완료된 판넬(10)은 제 1 측정 장치(300)의 측정 위치로부터 배출 장치(400)의 구동에 의해 배출되고, 배출 장치(400)는 판넬(10)을 운반하는 캐리어 유닛(410)을 갖추고 있다. 캐리어 유닛(410)은 무빙 블록(412)의 상면 양쪽에 베이스(320)의 안내구멍(322)을 통하여 베이스(320)의 상면으로 돌출되도록 브래킷(414)이 각각 장착되고, 브래킷(414)에는 복수의 서포트 바(416)가 서로 나란하게 각각 장착된다. 여기에서, 서포트 바(416)의 높이는 판넬(10)의 훼이스(12)와 간섭되지 않도록 제 1 측정 장치(300)의 측정 위치보다 낮게 장착된다. 그리고, 서포트 바(416)의 외주면에는 판넬(10)이 보호되도록 복수의 커버(420)가 씌워지며, 커버(420)는 수지를 소재로 제작하는 것이 바람직하다. 무빙 블록(412)은 로드레스 실린더(rodless cylinder: 430)의 구동에 의해 레일(440)을 따라 측정 위치로부터 배출 위치로 이동된다. 그리고, 베이스(320)의 전방에는 캐리어 유닛(410)이 배출 위치로 이동된 상태를 감지하는 센서(450)가 설치된다.As shown in FIGS. 21 and 22, the panel 10 whose measurement is completed by the driving of the first measuring device 300 is discharged by the driving of the discharging device 400 from the measuring position of the first measuring device 300. The discharge device 400 is equipped with a carrier unit 410 for carrying the panel 10. The carrier unit 410 has brackets 414 mounted on both sides of the upper surface of the moving block 412 so as to protrude to the upper surface of the base 320 through the guide holes 322 of the base 320. A plurality of support bars 416 are each mounted side by side with each other. Here, the height of the support bar 416 is mounted lower than the measurement position of the first measuring device 300 so as not to interfere with the face 12 of the panel 10. In addition, the outer circumferential surface of the support bar 416 is covered with a plurality of covers 420 to protect the panel 10, the cover 420 is preferably made of a resin material. The moving block 412 is moved from the measurement position to the discharge position along the rail 440 by driving a rodless cylinder 430. In addition, a sensor 450 that detects a state in which the carrier unit 410 is moved to the discharge position is installed in front of the base 320.
도 2, 도 23 내지 도 25에 나타낸 바와 같이, 판넬(10)은 이송 장치(200)의 구동에 의해 센터링 장치(100)로부터 판넬(10)의 형상 및 거칠기를 측정하는 제 2 측정 장치(500)의 공급 위치로 이송된다. 제 2 측정 장치(500)의 시일에지(16)에 대한 형상의 세부 측정 항목에는 하이 핀, 아웃 베벨, 시일 랜드 폭 등이 있다. 제 2 측정 장치(500)는 베드(bed: 510)를 가지며, 베드(510)의 상면에는 베이스(512)가 설치된다. 베이스(512)의 상면에는 복수의 안내구멍(514)이 길이 방향을 따라 나란하게 형성되고, 베이스(512)의 상면에는 안내구멍(514)을 따라 셔틀(shuttle: 520)이 이동 가능하도록 설치된다. 셔틀(520)의 하면에는 복수의 이송너트(522)가 장착되며, 셔틀(520)의 이송너트(522)는 액츄에이터(524)의 구동에 의해 이송나사축(524)을 따라 이동 가능하도록 설치되고, 이송나사축(524)의 양쪽에는 셔틀(520)의 직선 이동을 안내하는 복수의 가이드 바(528)가 나란하게 설치된다. 이때, 셔틀(520)은 액츄에이터(524)의 구동에 의해 이송 장치(200)가 판넬(10)을 공급할 수 있는 공급 위치에서 측정 위치로 이동되거나 측정 위치에서 판넬(10)을 배출시킬 수 있는 배출 위치로 이동되게 된다. 셔틀(520)의 상면에 판넬(10)이 올려 놓여지는 턴테이블(530)이 설치되며, 턴테이블(530)은 액츄에이터(532)의 구동에 의해 회전되고, 턴테이블(530)은 액츄에이터(532)의 구동에 의해 90도 회전하게 된다. 여기에서, 액츄에이터(532)는 스텝 모터(step motor)를 사용할 수도 있다.As shown in FIGS. 2 and 23 to 25, the panel 10 is a second measuring device 500 that measures the shape and roughness of the panel 10 from the centering device 100 by driving the conveying device 200. ) To the feed position. Detailed measurement items of the shape of the seal edge 16 of the second measuring device 500 include a high pin, an out bevel, a seal land width, and the like. The second measuring device 500 has a bed 510, and a base 512 is installed on an upper surface of the bed 510. A plurality of guide holes 514 are formed side by side in the longitudinal direction on the upper surface of the base 512, the shuttle 520 is movable along the guide hole 514 on the upper surface of the base 512. . A plurality of transfer nuts 522 are mounted on a lower surface of the shuttle 520, and a transfer nut 522 of the shuttle 520 is installed to be movable along the transfer screw shaft 524 by driving the actuator 524. On both sides of the feed screw shaft 524, a plurality of guide bars 528 for guiding the linear movement of the shuttle 520 are installed side by side. At this time, the shuttle 520 is discharged to move to the measuring position from the supply position from which the transfer device 200 can supply the panel 10 by driving the actuator 524 or to discharge the panel 10 from the measuring position Will be moved to the location. The turntable 530, on which the panel 10 is placed, is placed on the upper surface of the shuttle 520. The turntable 530 is rotated by the driving of the actuator 532, and the turntable 530 is driven by the actuator 532. Rotate 90 degrees. Here, the actuator 532 may use a step motor.
도 26 내지 도 29에 나타낸 바와 같이, 턴테이블(530)의 상면에는 이송 장치(200)의 구동에 의해 이송되는 판넬(10)의 위치를 결정하는 포지셔너(540)가 설치된다. 포지셔너(540)는 텐테이블(530)의 하면에 다수의 실린더(542)가 로드(542a)를 갖도록 설치되며, 로드(542a)의 양쪽에는 커넥팅 로드(544)가 턴테이블(530)의 상방으로 돌출되도록 연결되고, 커넥팅 로드(544)의 선단에 무빙 블록(546)이 장착된다. 무빙 블록(546)의 중앙에 설치홈(548)이 형성되며, 무빙 블록(546)의 설치홈(548)에는 판넬(10)의 훼이스(12)를 지지하는 서포트 핀(550)이 설치되며, 서포트 핀(550)의 선단은 구면(550a)으로 형성된다. 도면에서 서포트 핀(550)은 3개가 배치되어 훼이스(12)를 3점 지지할 수 있도록 설치된 것을 나타냈으나, 서포트 핀(550)의 숫자 및 위치는 적절하게 변경할 수 있다.As shown in FIGS. 26 to 29, a positioner 540 is provided on the top surface of the turntable 530 to determine the position of the panel 10 to be transferred by the driving of the transfer device 200. The positioner 540 is installed on the lower surface of the tentable 530 such that a plurality of cylinders 542 have a rod 542a, and connecting rods 544 protrude upwardly of the turntable 530 on both sides of the rod 542a. The moving block 546 is mounted at the tip of the connecting rod 544. An installation groove 548 is formed in the center of the moving block 546, and a support pin 550 supporting the face 12 of the panel 10 is installed in the installation groove 548 of the moving block 546. The tip of the support pin 550 is formed with a spherical surface 550a. In the figure, three support pins 550 are disposed to be installed to support the face 12 three points, but the number and position of the support pins 550 may be appropriately changed.
또한, 포지셔너(540)는 커넥팅 로드(544)의 한쪽에 커넥팅 플레이트(552)가 연결되고, 커넥팅 플레이트(552)의 상면에는 포스트(554)가 스프링(556)의 탄성력을 부여받아 턴테이블(530)의 상방으로 승,하강 운동이 가능하도록 설치되며, 포스트(554)의 선단에 훼이스(12)를 흡착하는 진공 패드(558)가 장착된다. 진공 패드(558)는 서포트 핀(550)의 사이에 2개가 동일 직선상에 위치되도록 설치된 것을 나타냈으나, 진공 패드(558)의 숫자 및 위치는 적절하게 변경할 수 있다. 진공 패드(558) 사이에는 낙하로부터 판넬(10)을 보호할 수 있는 패드(560)가 장착된다. 이와 같은 포지셔너(540)의 서포트 핀(550)과 진공 패드(558)는 승강되어 판넬(10)의 측정을 수행할 수 있는 측정 위치를 제공하게 된다.In addition, the positioner 540 has a connecting plate 552 connected to one side of the connecting rod 544, and a post 554 is provided with an elastic force of the spring 556 on the upper surface of the connecting plate 552 to turntable 530. It is installed to enable the upward and downward movement of the upper side, and the vacuum pad 558 for adsorbing the face 12 to the front end of the post 554 is mounted. Although the vacuum pad 558 was shown so that two may be located in the same straight line between the support pins 550, the number and position of the vacuum pad 558 can be changed suitably. A pad 560 is mounted between the vacuum pads 558 to protect the panel 10 from falling. The support pin 550 and the vacuum pad 558 of the positioner 540 are lifted to provide a measurement position for performing the measurement of the panel 10.
도 24 및 도 25를 다시 참조하여 설명하면, 제 2 측정 장치(500)는 로봇(570)을 가지며, 로봇(570)은 베드(510)의 상면에 복수의 칼럼(572)이 설치되고, 칼럼(572)의 상부에 가로 레일(574)이 설치된다. 이 로봇(570)의 가로 레일(574)을 따라 액츄에이터(576)의 구동에 의해 캐리어(580)가 직선 이동되도록 설치되며, 캐리어(580)에는 무빙 플레이트(582)가 실린더(584)의 구동에 의해 승,하강 운동이 가능하도록 설치된다.Referring to FIGS. 24 and 25 again, the second measuring device 500 has a robot 570, and the robot 570 is provided with a plurality of columns 572 on the upper surface of the bed 510. The horizontal rail 574 is provided on the upper portion of the 572. The carrier 580 is installed to be linearly moved by driving the actuator 576 along the horizontal rail 574 of the robot 570, and a moving plate 582 is provided to the carrier 580 to drive the cylinder 584. It is installed to enable the lifting and lowering movement.
도 23 및 도 24에 나타낸 바와 같이, 무빙 플레이트(582)의 한쪽에는 판넬(10)의 형상을 측정하는 제 1 측정 유닛(600)이 설치된다. 제 1 측정 유닛(600)은 실린더(602)의 구동에 의해 승,하강 운동되는 측정 블록(604)을 가지고, 측정 블록(604)에는 미니미터(minimeter: 610)가 판넬(10)의 표면에 접촉되어 운동하는 스타일러스(stylus: 612)를 갖도록 장착된다. 제 1 측정 유닛(600)의 미니미터(610)는 연마 전 판넬(10)의 시일에지(16)의 형상을 측정하게 된다.As shown in FIG. 23 and FIG. 24, one side of the moving plate 582 is provided with a first measuring unit 600 for measuring the shape of the panel 10. The first measuring unit 600 has a measuring block 604 which is moved up and down by driving the cylinder 602, and a measuring block 604 has a minimeter 610 on the surface of the panel 10. It is mounted to have a stylus 612 that moves in contact with it. The minimeter 610 of the first measuring unit 600 measures the shape of the seal edge 16 of the panel 10 before polishing.
한편, 무빙 플레이트(582)의 한쪽에는 제 1 측정 유닛(600)과 인접되도록 제 2 측정 유닛(700)이 설치된다. 제 2 측정 유닛(700)은 실린더(702)의 구동에 의해 측정 블록(704)이 승,하강 운동되도록 장착되며, 측정 블록(704)에는 미니미터(710)가 장착되고, 미니미터(710)는 픽업(pick up: 712)의 한쪽에 판넬(10)의 표면에 접촉되어 운동하는 스타일러스(714)를 갖도록 구성된다. 제 2 측정 유닛(700)의 미니미터(710)는 연마 후 판넬(10)의 거칠기를 측정하게 된다.On the other hand, a second measuring unit 700 is installed on one side of the moving plate 582 so as to be adjacent to the first measuring unit 600. The second measuring unit 700 is mounted such that the measuring block 704 moves up and down by driving the cylinder 702, and the measuring block 704 is equipped with a minimeter 710 and the minimeter 710. Is configured to have a stylus 714 on one side of the pick up 712 that moves in contact with the surface of the panel 10. The minimeter 710 of the second measuring unit 700 measures the roughness of the panel 10 after polishing.
도 23 및 도 30에 나타낸 바와 같이, 제 2 측정 장치(500)의 베이스(512)에는 턴테이블(530)로부터 판넬(10)을 배출시킬 수 있도록 배출 유닛(800)이 설치된다. 배출 유닛(800)은 베이스(512)의 한쪽에 브래킷(802)이 장착되고, 브래킷(802)의 상면에는 복수의 서포트 바(804)가 서로 나란하게 각각 장착된다. 여기에서, 서포트 바(804)의 높이는 판넬(10)의 훼이스(12)와 간섭되지 않도록 제 2 측정 장치(500)의 측정 위치보다 낮게 장착된다. 서포트 바(804)의 외주면에는 판넬(10)이 보호되도록 복수의 커버(806)가 씌워지며, 커버(806)는 수지를 소재로 제작하는 것이 바람직하다. 베이스(512)의 전방에는 셔틀(520)이 배출 위치로 이동된 상태를 감지하는 센서(810)가 설치된다.As shown in FIG. 23 and FIG. 30, the discharge unit 800 is installed in the base 512 of the second measuring device 500 so as to discharge the panel 10 from the turntable 530. The discharge unit 800 has a bracket 802 mounted on one side of the base 512, and a plurality of support bars 804 are mounted on the upper surface of the bracket 802 in parallel with each other. Here, the height of the support bar 804 is mounted lower than the measurement position of the second measuring device 500 so as not to interfere with the face 12 of the panel 10. The outer circumferential surface of the support bar 804 is covered with a plurality of covers 806 to protect the panel 10, the cover 806 is preferably made of a resin material. A sensor 810 is installed in front of the base 512 to detect a state in which the shuttle 520 is moved to the discharge position.
도 2에 나타낸 바와 같이, 본 발명은 일련의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터(900)를 갖추고 있다. 컴퓨터(900)는 마이크로프로세서와, 키보드, 마우스 등의 입력 장치와, 모니터, 프린터 등의 출력 장치를 갖추고 있으며, 이 컴퓨터(900)에는 이동이 자유로운 컨트롤 콘솔(control console: 910)이 케이블(912)에 의해 연결된다. 컨트롤 콘솔(910)의 수동 조작에 의해 컴퓨터(900)의 운영을 제어할 수 있고, 컨트롤 콘솔(910)의 사용에 의해 측정 공정의 이상 상태를 작업자가 쉽게 확인할 수 있어 운영의 융통성이 높아지게 된다. 한편, 컴퓨터(900)는 미리 설정된 순서, 조건, 위치 등에 정보에 따라 센터링 장치(100), 이송 장치(200), 그리고 제 1 및 제 2 측정 장치(300, 500) 등의 구동을 순차적으로 제어하며, 제 1 및 제 2 측정 장치(300, 500)의 구동에 의해 얻어진 측정 결과를 저장 및 출력함과 아울러 데이터화시켜 저장한다. 또한, 컴퓨터(800)에는 또 다른 컴퓨터를 접속시켜 지역 네트워크를 용이하게 구현시킬 수 있다.As shown in FIG. 2, the present invention includes a computer 900 that controls a series of measurement processes. The computer 900 has a microprocessor, input devices such as a keyboard and a mouse, and output devices such as a monitor and a printer. The computer 900 includes a control console 910 which is free to move, and a cable 912. Connected by). The operation of the computer 900 can be controlled by manual operation of the control console 910, and the operator can easily check the abnormal state of the measurement process by using the control console 910, thereby increasing the flexibility of the operation. On the other hand, the computer 900 sequentially controls the driving of the centering apparatus 100, the transfer apparatus 200, and the first and second measurement apparatuses 300 and 500 according to information in a predetermined order, condition, position, and the like. The measurement results obtained by the driving of the first and second measurement apparatuses 300 and 500 are stored and output, and the data are stored. In addition, the computer 800 can be easily connected to another computer to implement a local area network.
상술한 바와 같은 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 대한 작동 상태를 설명하면 다음과 같다.Referring to the operating state of the measurement system of the cathode ray tube panel according to the present invention as described above are as follows.
도 5에 나타낸 바와 같이, 센터링 장치(100)의 리프팅 플레이트(180)에 측정하고자 하는 판넬(10)을 올려 놓는다. 이때, 판넬(10)은 훼이스(12)가 패드(184)의 상면에 닿고 시일에지(16)가 상방을 향하도록 올려 놓으며, 판넬(10)의 장축이 가로 방향을 향하도록 올려 놓는다. 그리고, 작업자는 컨트롤 박스(190)의 조작에 의해 올려 놓여진 판넬(10)의 치수를 입력시키게 되면, 가로 및 세로 실린더(140, 142)의 구동에 의해 로드(140a, 142a)가 전진되고, 로드(140a, 142a)의 전진에 의해 마주보는 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)가 가로 및 세로 링크 기구(160, 170)의 링크 운동에 의해 연동되면서 테이블(110)의 중심을 향하여 가로 및 세로 가이드(134, 136)를 따라 직선 운동된다. 즉, 가로 및 세로 링크 기구(160, 170) 각각은 중심축(122)을 중심으로 베어링(124)의 지지에 의해 레버(172)가 회전되면이 레버(162, 172)와 연동하는 가로 및 세로 링크(164, 174)에 의해 가로 및 세로 실린더(140, 142)의 구동력을 서로 마주보는 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)에 전달하여 직선 운동시키게 된다.As shown in FIG. 5, the panel 10 to be measured is placed on the lifting plate 180 of the centering device 100. At this time, the panel 10 is placed so that the face 12 contacts the upper surface of the pad 184 and the seal edge 16 faces upward, and the long axis of the panel 10 faces the horizontal direction. When the operator inputs the dimensions of the panel 10 placed by the operation of the control box 190, the rods 140a and 142a are advanced by the driving of the horizontal and vertical cylinders 140 and 142. The horizontal and vertical sliders 130 and 132 facing each other by the advancement of the 140a and 142a are interlocked by the link motion of the horizontal and vertical link mechanisms 160 and 170 while the horizontal and vertical guides toward the center of the table 110. Linear motion along 134 and 136. That is, when the lever 172 is rotated by the support of the bearing 124 about the central axis 122, the horizontal and vertical link mechanisms 160 and 170 each have a horizontal and vertical linkage with the levers 162 and 172. By the links 164 and 174, the driving force of the horizontal and vertical cylinders 140 and 142 is transmitted to the horizontal and vertical sliders 130 and 132 facing each other to linearly move.
도 7a 및 도 7b, 그리고 도 8에 나타낸 바와 같이, 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)가 테이블(110)의 중심을 향하여 직선 운동되면, 테이블(100)의 가로 및 세로 안내구멍(112, 114)을 따라 가로 및 세로 포스트(150, 152)가 안내되고, 이 가로 및 세로 포스트(150, 152)의 롤러(154, 156)가 스커트(14)의 외면을 지지하면서 판넬(10)의 중심을 맞춰주게 된다. 즉, 롤러(154, 156)가 스커트(14)의 외면을 사방에서 동시에 밀어 주게 되면, 롤러(153, 156)와 스커트(14)가 사방에서 동시에 같이 닿을 수 있도록 판넬(10)이 움직이면서 그 중심이 맞춰지게 되며, 롤러(154, 156)는 베어링(158)의 지지에 의해 자연스럽게 회전되면서 스커트(14)의 외면을 밀어주게 된다.7A, 7B, and 8, when the horizontal and vertical sliders 130 and 132 are linearly moved toward the center of the table 110, the horizontal and vertical guide holes 112 and 114 of the table 100 are moved. The horizontal and vertical posts 150, 152 are guided along the center of the panel 10 while the rollers 154, 156 of the horizontal and vertical posts 150, 152 support the outer surface of the skirt 14. You will match it. That is, when the rollers 154 and 156 push the outer surface of the skirt 14 at the same time in all directions, the panel 10 moves so that the rollers 153 and 156 and the skirt 14 can simultaneously touch the four sides at the same time. The rollers 154 and 156 are naturally rotated by the support of the bearing 158 to push the outer surface of the skirt 14.
도 12에 나타낸 바와 같이, 센터링 장치(100)의 구동에 의해 판넬(10)의 중심이 맞춰진 후에는, 이송 장치(200)의 실린더(232)가 구동되어 무빙 플레이트(234)를 하강시키게 되고, 무빙 플레이트(234)의 하강에 의해 게이지 바(240)가 시일에지(16)의 4곳에 맞닿게 된다. 이와 같이 게이지 바(240)가 시일에지(16)의 4곳에 맞닿는 것에 의해 판넬(10)의 측정 기준면을 시일에지(16)로 설정할 수 있게 된다. 이러한 상태에서 척킹 실린더(236)의 구동에 의해 진공 패드(238)가 훼이스(12)의 내면 중앙을 흡착하여 판넬(10)을 척킹하게 된다. 그리고, 제 1 센서(250)와 제 2 센서(262)가 작동되어 척킹된 판넬(10)의 치수 및 높이가 컨트롤 박스(190)의 조작에 의해 입력된 판넬(10)의 치수와 동일한 가의 여부를 판별하게 된다. 즉, 제 1 센서(250)는 스커트(14)와의 거리를 검출하여 판넬(10)의 치수를 측정하고, 제 2 센서(262)는 센싱 바(260)의 이동 거리를 검출하여 판넬(10)의 높이를 측정하게 된다. 제 1 및 제 2 센서(250, 262)의 측정값은 컴퓨터(900)에 입력되며, 컴퓨터(900)는 제 1 및 제 2 센서(250, 262)로부터 입력되는 측정값과 사용자의 조작에 의해 컨트롤 유닛(190)으로부터 입력되는 판넬(10)의 치수를 비교하여 판넬(10)의 치수를 확인하게 된다. 이때, 컴퓨터(900)는 제 1 및 제 2 센서(250, 262)의 측정값과 컨트롤 유닛(190)으로부터 입력되는 판넬(10)의 치수를 비교하여 동일 여부를 판단하며, 판단 결과 동일하지 않은 경우에는 일련의 측정 공정을 중지시키고, 이것을 모니터 등의 출력 장치나 컨트롤 콘솔(910)의 경보등 등에 의해 표시한다. 따라서, 판넬(10)의 치수를 잘못 입력시킨 것에 따른 오동작을 방지할 수 있게 된다.As shown in FIG. 12, after the center of the panel 10 is centered by the driving of the centering device 100, the cylinder 232 of the transfer device 200 is driven to lower the moving plate 234. The lowering of the moving plate 234 causes the gauge bar 240 to abut on four places of the seal edge 16. In this way, the gauge bar 240 abuts on four places of the seal edge 16, so that the measurement reference plane of the panel 10 can be set to the seal edge 16. In this state, the chucking cylinder 236 drives the vacuum pad 238 to suck the center of the inner surface of the face 12 to chuck the panel 10. In addition, whether the first sensor 250 and the second sensor 262 are operated and the size and height of the chucked panel 10 are the same as the dimensions of the panel 10 input by the operation of the control box 190. Will be determined. That is, the first sensor 250 detects the distance from the skirt 14 to measure the dimensions of the panel 10, and the second sensor 262 detects the movement distance of the sensing bar 260 to detect the panel 10. We measure the height of. The measured values of the first and second sensors 250 and 262 are input to the computer 900, and the computer 900 is operated by a user's operation and the measured values input from the first and second sensors 250 and 262. The dimensions of the panel 10 are checked by comparing the dimensions of the panel 10 input from the control unit 190. In this case, the computer 900 compares the measured values of the first and second sensors 250 and 262 with the dimensions of the panel 10 input from the control unit 190 to determine whether they are the same. In this case, a series of measurement processes are stopped and displayed by an output device such as a monitor or an alarm of the control console 910. Therefore, it is possible to prevent the malfunction caused by incorrectly input the dimensions of the panel 10.
도 9에 나타낸 바와 같이, 판넬(10)의 치수가 컴퓨터(900)에 의해 동일한 것으로 확인되면, 제 1 및 제 2 실린더(140, 142)의 구동에 의해 가로 및 세로 슬라이더(130, 132)를 초기 위치로 복귀시킨다. 계속해서, 척킹 유닛(230)의 실린더(232)가 구동되어 무빙 플레이트(234)가 승강된 후에는, 액츄에이터(212)의 구동에 의해 척킹 유닛(230)을 제 1 측정 장치(300)의 측정 위치로 이송시키고, 실린더(232)의 구동에 의해 무빙 플레이트(234)를 포지셔너(330)의 상방으로 하강시키게 된다. 이와 같이 이송 장치(200)의 구동에 의해 중심이 맞춰진 판넬(10)을 측정 위치로 정확하고 신속하게 이동시킬 수 있게 된다.As shown in FIG. 9, when the dimensions of the panel 10 are confirmed to be the same by the computer 900, the horizontal and vertical sliders 130 and 132 are driven by driving the first and second cylinders 140 and 142. Return to the initial position. Subsequently, after the cylinder 232 of the chucking unit 230 is driven and the moving plate 234 is elevated, the chucking unit 230 is measured by the first measuring device 300 by driving the actuator 212. The moving plate 234 is lowered above the positioner 330 by the driving of the cylinder 232. As such, the panel 10 centered by the driving of the transfer device 200 can be accurately and quickly moved to the measurement position.
도 16 및 도 17에 나타낸 바와 같이, 이송 장치(200)의 무빙 플레이트(234)가 하강되기 전에 실린더(332)의 구동에 의해 포지셔너(300)의 서포트 핀(340), 진공 패드(348)와 레퍼런스 게이지(350)를 함께 승강시킨다. 이러한 상태에서 이송 장치(200)의 무빙 플레이트(234)가 하강되면, 훼스트(12)의 중앙이 게이지 핀(354)의 구면(354a)에 지지되며, 이로 인하여 판넬(10)의 하강이 정지되면서 측정 위치가 결정된다. 그리고, 서포트 핀(340)의 구면(340a)이 훼이스(12)를 3점 지지하여 판넬(10)을 안정적으로 받쳐주게 되고, 진공 패드(348)는 훼이스(12)를 흡착하여 판넬(10)의 유동을 방지하게 되며, 이로 인하여 판넬(10)의 측정 위치가 결정된다. 한편, 진공 패드(348)가 훼이스(12)를 흡착할 때에는 포스트(344)가 스프링(346)의 탄성변형에 의해 승,하강 운동되면서 충격을 흡수하게 되어 흡착이 안정적으로 이루어지게 된다.As shown in FIGS. 16 and 17, the support pin 340 and the vacuum pad 348 of the positioner 300 are driven by driving the cylinder 332 before the moving plate 234 of the transfer device 200 is lowered. Lift the reference gauge 350 together. In this state, when the moving plate 234 of the transfer device 200 descends, the center of the paste 12 is supported by the spherical surface 354a of the gauge pin 354, whereby the lowering of the panel 10 stops. The measurement position is determined. The spherical surface 340a of the support pin 340 supports the face 12 three points to stably support the panel 10, and the vacuum pad 348 adsorbs the face 12 to the panel 10. This prevents the flow of, thereby determining the measurement position of the panel 10. Meanwhile, when the vacuum pad 348 adsorbs the face 12, the post 344 moves up and down by the elastic deformation of the spring 346 to absorb the shock, thereby making the adsorption stable.
도 19a 내지 도 19e, 도 20에 나타낸 바와 같이, 제 1 측정 장치(300)의 포지셔너(330)에 의해 판넬(10)의 측정 위치가 결정된 후에는, 로봇(360)의 구동에 의해 판넬(10)의 3차원 측정을 수행한다. 로봇(360)은 세로 및 가로 액츄에이터(366, 372)의 구동에 의해 세로 및 가로 레일(364, 368)의 직교 좌표를 따라 캐리어(380)를 운동시키며, 이 캐리어(380)의 운동과 동시에 실린더(382)의 구동에 의해 손목(384)을 승,하강시켜 제 1 터치 센서(390)의 프로브(392)를 지정 위치로 이동시키면서 측정을 수행한다. 3차원 측정의 예를 들면, 먼저 레퍼런스 게이지(350)의 기준 바(350d)에 제 1 터치 센서(390)의 프로브(392)를 접촉시킨 후 훼이스(12)의 내면 중앙에 접촉시키게 되면, 기준바(350d)로부터 훼이스(12)의 내면 중앙까지의 거리를 측정할 수 있다. 이러한 측정에 의해 훼이스(12)의 중심 두께를 측정할 수 있으므로, 판넬(10)의 시료를 채취할 필요가 없게 된다.19A to 19E and 20, after the measurement position of the panel 10 is determined by the positioner 330 of the first measuring device 300, the panel 10 is driven by the robot 360. Perform a three-dimensional measurement of). The robot 360 moves the carrier 380 along the orthogonal coordinates of the longitudinal and transverse rails 364 and 368 by driving the longitudinal and transverse actuators 366 and 372, and at the same time as the movement of the carrier 380, the cylinder The wrist 384 is moved up and down by driving the 382 to move the probe 392 of the first touch sensor 390 to a predetermined position, thereby performing measurement. For example, for the three-dimensional measurement, first, the probe 392 of the first touch sensor 390 is brought into contact with the reference bar 350d of the reference gauge 350, and then brought into contact with the center of the inner surface of the face 12. The distance from the bar 350d to the center of the inner surface of the face 12 can be measured. Since the center thickness of the face 12 can be measured by such a measurement, the sample of the panel 10 does not need to be sampled.
또한, 프로브(392)를 스커트(14)의 각 내,외면에 순차적으로 접촉시키는 것에 의해 판넬(10)의 치수와, 시일에지(16)의 두께, 내측 및 외측 다이어그램을 측정할 수 있게 된다. 한편, 판넬(10)의 핀 클리어런스, 핀 프레인 에지 롤 등과 같은 항목을 측정할 때에는 액츄에이터(388)의 구동에 의해 제 2 터치 센서(394)가 판넬(10)에 접촉되지 않도록 제 1 터치 센서(390)를 소정의 각도로 선회시켜 측정을 수행한다. 그리고, 제 2 터치 센서(394)의 프로브(396)를 판넬(10)의 몰드 매치 라인(18)과 순차적으로 접촉시키는 것에 의해 몰드 매치 아웃사이드 다이어그램을 측정할 수 있게 된다. 이와 같은 제 1 측정 장치(300)의 측정 결과는 컴퓨터(900)에 입력되며, 컴퓨터(900)는 제 1 측정 장치(300)로부터 입력되는 측정 결과를 데이터화하여 판정 기준과 비교하고, 이것의 합격 여부를 결정한다.Further, by sequentially contacting the probe 392 to each of the inner and outer surfaces of the skirt 14, the dimensions of the panel 10, the thickness of the seal edge 16, the inner and outer diagrams can be measured. On the other hand, when measuring items such as pin clearance, pin plane edge roll, etc. of the panel 10, the first touch sensor (not to contact the panel 10 by the second touch sensor 394 by driving the actuator 388) The measurement is performed by pivoting 390 at an angle. The mold match outside diagram can be measured by sequentially contacting the probe 396 of the second touch sensor 394 with the mold match line 18 of the panel 10. The measurement result of the first measuring device 300 is input to the computer 900, and the computer 900 compares the measurement result inputted from the first measuring device 300 with the determination criteria and passes the result. Determine whether or not.
도 21 및 도 22에 나타낸 바와 같이, 제 1 측정 장치(300)의 구동에 의해 판넬(10)의 측정이 완료되면, 배출 장치(400)의 구동에 의해 제 1 측정 장치(300)의 측정 위치에서 배출 위치로 판넬(10)을 배출시킨다. 배출 장치(400)는 캐리어 유닛(410)의 무빙 블록(412)이 로드레스 실린더(430)의 구동에 의해 레일(440)을 따라 배출 위치에서 측정 위치로 이동되면, 서포트 바(416)가 판넬(10)의 하방에 위치하게 된다. 이러한 상태에서, 실린더(332)의 구동에 의해 로드(332a)를 후퇴시켜 포지셔너(330)의 서포트 핀(340), 진공 패드(348)와 레퍼런스 게이지(350)를 초기 위치로 복귀시킨다. 서포트 핀(340)과 진공 패드(348)가 초기 위치로 복귀되는 과정에서 판넬(10)의 훼이스(12)가 캐리어 유닛(410)의 서포트 바(416)에 지지된다. 이때, 판넬(10)의 단축은 서포트 바(416)의 길이 방향을 따라 올려놓여지게 되며, 커버(420)는 판넬(10)을 충격으로부터 보호하여 긁힘 등을 방지하게 된다. 이와 같이 판넬(10)이 서포트 바(416)에 올려놓여지면, 로드레스 실린더(430)의 구동에 의해 캐리어 유닛(410)의 무빙 블록(412)을 측정 위치에서 배출 위치로 이동시키고, 캐리어 유닛(410)이 배출 위치로 이동된다. 이 상태는 센서(450)의 작동에 의해 감지되어 배출이 완료된 것으로 컴퓨터(900)에 입력된다.As shown in FIGS. 21 and 22, when the measurement of the panel 10 is completed by driving the first measuring device 300, the measuring position of the first measuring device 300 is driven by driving the discharge device 400. Eject the panel 10 to the discharge position at. The discharging device 400 supports the support bar 416 when the moving block 412 of the carrier unit 410 is moved from the discharging position to the measuring position along the rail 440 by the drive of the rodless cylinder 430. It is located below (10). In this state, the rod 332a is retracted by the driving of the cylinder 332 to return the support pin 340, the vacuum pad 348 and the reference gauge 350 of the positioner 330 to the initial position. In the process of returning the support pin 340 and the vacuum pad 348 to the initial position, the face 12 of the panel 10 is supported by the support bar 416 of the carrier unit 410. At this time, the shortening of the panel 10 is placed along the longitudinal direction of the support bar 416, the cover 420 to protect the panel 10 from impact to prevent scratches and the like. When the panel 10 is placed on the support bar 416 in this manner, the moving block 412 of the carrier unit 410 is moved from the measurement position to the discharge position by driving the rodless cylinder 430, and 410 is moved to the discharge position. This state is detected by the operation of the sensor 450 and the discharge is completed and is input to the computer 900.
도 24, 도 28 및 도 29에 나타낸 바와 같이, 배출 장치(400)의 구동에 의해 배출이 완료된 판넬(10)의 형상 및 거칠기를 측정하고자 할 경우에는, 판넬(10)을 앞에서 설명한 센터링 장치(100)로 다시 공급하여 중심 맞추기를 수행한 후, 이송 장치(200)의 구동에 의해 중심이 맞춰진 판넬(10)을 제 2 측정 장치(500)의 공급 위치로 이송시킨다. 그리고, 액츄에이터(524)의 구동에 의해 셔틀(520)을 공급 위치로 이동시킨 후, 이송 장치(200)의 무빙 플레이트(234)가 하강되기 전에 실린더(542)의 구동에 의해 서포트 핀(550)과 진공 패드(558)를 승강시킨다.As shown in FIG. 24, FIG. 28, and FIG. 29, when measuring the shape and roughness of the panel 10 which discharged | finished by the drive of the discharge apparatus 400, the panel 10 was described with the centering apparatus ( After supplying again to the center 100 to perform centering, the panel 10 centered by the driving of the transporting device 200 is transferred to the supply position of the second measuring device 500. After the shuttle 520 is moved to the supply position by driving the actuator 524, the support pin 550 is driven by driving the cylinder 542 before the moving plate 234 of the transfer device 200 is lowered. And the vacuum pad 558 are raised and lowered.
이러한 상태에서 이송 장치(200)의 무빙 플레이트(234)가 하강되면, 서포트 핀(550)의 구면(550a)은 훼이스(12)를 3점 지지하여 판넬(10)을 안정적으로 받쳐주게 되고, 진공 패드(558)는 훼이스(12)를 흡착하여 판넬(10)의 유동을 방지하게 되며, 이로 인하여 판넬(10)의 측정 위치가 결정된다. 진공 패드(558)가 훼이스(12)를 흡착할 때에는 포스트(554)가 스프링(556)의 탄성변형에 의해 승,하강 운동되면서 충격을 흡수하게 되어 흡착이 안정적으로 이루어지게 된다. 한편, 제 1 측정 장치(300)에서 측정이 완료된 판넬(10)은 컴퓨터(900)의 제어에 의해 배출시키기 않은 상태에서, 이송 장치(200)의 구동에 의해 제 2 측정 장치(500)의 공급 위치로 이송시켜 측정을 수행할 수도 있다.In this state, when the moving plate 234 of the transfer device 200 is lowered, the spherical surface 550a of the support pin 550 supports the face 12 three points to stably support the panel 10, and the vacuum The pad 558 adsorbs the face 12 to prevent the flow of the panel 10, thereby determining the measurement position of the panel 10. When the vacuum pad 558 adsorbs the face 12, the post 554 moves up and down by the elastic deformation of the spring 556 to absorb the shock, thereby making the adsorption stable. On the other hand, the panel 10 after the measurement is completed in the first measuring device 300 is not discharged by the control of the computer 900, the supply of the second measuring device 500 by the drive of the transfer device 200 Measurements can also be made by transferring to position.
도 23에 나타낸 바와 같이, 제 2 측정 장치(500)의 포지셔너(540)에 의해 판넬(10)의 측정 위치가 결정된 후에는, 액츄에이터(524)의 구동에 의해 셔틀(520)을 제 2 측정 장치(500)의 측정 위치로 이동시키며, 로봇(570)의 액츄에이터(576)가 구동되면 가로 레일(574)를 따라 캐리어(580)가 이동된다. 이와 동시에 실린더(584)의 구동에 의해 무빙 플레이트(582)를 하강시켜 제 1 및 제 2 측정 유닛(600, 700)을 측정 위치에 도달시킨 후, 컴퓨터(900)의 제어에 의해 제 1 및 제 2 측정 유닛(600, 700)을 구동시켜 판넬(10)의 형상 및 거칠기 측정을 수행하게 된다.As shown in FIG. 23, after the measurement position of the panel 10 is determined by the positioner 540 of the second measuring device 500, the shuttle 520 is driven by the actuator 524. The carrier 580 is moved along the horizontal rail 574 when the actuator 576 of the robot 570 is driven to the measurement position of 500. At the same time, the moving plate 582 is lowered by driving the cylinder 584 to reach the measurement positions of the first and second measuring units 600 and 700, and then, under the control of the computer 900, the first and the first 2 The measurement units 600 and 700 are driven to measure the shape and roughness of the panel 10.
도 24에 나타낸 바와 같이, 제 1 측정 유닛(600)은 연마 전 시일에지(16)의 형상을 측정하는 것으로, 제 1 측정 유닛(600)의 측정 블록(604)은 로봇(570)의 구동에 의해 직선 운동함과 아울러 실린더(602)의 구동에 의해 승,하강 운동된다. 이와 같은 측정 블록(604)의 직선 운동과 승,하강 운동에 의해 미니미터(610)의 스타일러스(612)가 시일에지(16)의 표면을 이동하면서 시일에지(16)의 요철에 대응하는 기구적 운동을 수행하게 된다. 이 스타일러스(612)의 기구적 운동을 컴퓨터(900)에 전기적 신호로 입력시키는 것에 의해 연마 전 시일에지(16)의 하이 핀, 아웃 베벨, 시일 랜드 폭 등을 측정할 수 있게 된다.As shown in FIG. 24, the first measuring unit 600 measures the shape of the seal edge 16 before polishing, and the measuring block 604 of the first measuring unit 600 is adapted to drive the robot 570. In addition to linear movement, the cylinder 602 is driven up and down. By the linear movement of the measurement block 604 and the movement of up and down, the stylus 612 of the minimeter 610 moves on the surface of the seal edge 16 while corresponding to the unevenness of the seal edge 16. You will be exercising. By inputting the mechanical motion of the stylus 612 to the computer 900 as an electrical signal, the high pin, the out bevel, the seal land width, and the like of the seal edge 16 before polishing can be measured.
한편, 제 2 측정 유닛(700)은 연마 후 판넬(10)의 거칠기를 측정하는 것으로, 제 2 측정 유닛(700)의 측정 블록(704)은 로봇(570)의 구동에 의해 직선 운동함과 아울러 실린더(702)의 구동에 의해 승,하강 운동된다. 이와 같은 측정 블록(704)의 직선 운동과 승,하강 운동에 의해 미니미터(610)의 스타일러스(714)가 판넬(10)의 표면, 예를 들어 훼이스(12)의 표면을 이동하면서 훼이스(12)의 요철에 대응하는 기구적 운동을 하며, 스타일러스(714)의 기구적 운동에 대응되어 픽업(712)이 동적 운동을 하게 된다. 이 픽업(712)의 동적 운동을 컴퓨터(900)에 전기적 신호로 입력시키는 것에 의해 연마 후 판넬(10)의 거칠기를 측정할 수 있게 된다. 이와 같이 제 2 측정 장치(500)의 제 1 및 제 2 측정 유닛(600, 700)에 의해 연마 전,후 판넬(10)의 형상 및 거칠기를 하나의 측정 위치에서 수행할 수 있으므로, 작업의 연속성과 효율성이 향상된다. 또한, 판넬(10)의 시료를 채취할 필요가 없어 측정 작업이 단순화되며, 측정 작업에 전문적이고 많은 인력이 필요없게 될 뿐만 아니라, 측정 시간을 크게 단축시킬 수 있게 된다. 그리고, 제 2 측정 장치(500)의 측정 결과는 컴퓨터(900)에 입력되며, 컴퓨터(900)는 제 2 측정 장치(500)로부터 입력되는 측정 결과를 데이터화하여 판정 기준과 비교하고, 이것의 합격 여부를 결정한다.Meanwhile, the second measuring unit 700 measures the roughness of the panel 10 after polishing, and the measuring block 704 of the second measuring unit 700 moves linearly by driving the robot 570. The cylinder 702 is driven up and down by driving. By the linear motion and the upward and downward motion of the measurement block 704, the stylus 714 of the minimeter 610 moves the surface of the panel 10, for example, the surface of the face 12, while the face 12 is moved. Mechanical motion corresponding to the irregularities of the), and corresponding to the mechanical motion of the stylus 714, the pickup 712 is dynamic. By inputting the dynamic motion of the pickup 712 as an electrical signal to the computer 900, it is possible to measure the roughness of the panel 10 after polishing. Thus, since the shape and roughness of the panel 10 before and after grinding can be performed by the first and second measuring units 600 and 700 of the second measuring device 500 at one measuring position, the continuity of the work And efficiency is improved. In addition, it is not necessary to take a sample of the panel 10, the measurement work is simplified, not only does not require a professional and a lot of manpower for the measurement work, it is also possible to significantly reduce the measurement time. And the measurement result of the 2nd measuring apparatus 500 is input into the computer 900, Computing the data of the measurement result input from the 2nd measuring apparatus 500, and comparing it with a determination standard, and passing this Determine whether or not.
도 23 및 도 30에 나타낸 바와 같이, 제 2 측정 장치(500)의 구동에 의해 판넬(10)의 형상 및 거칠기 측정이 완료되면, 액츄에이터(532)의 구동에 의해 턴테이블(530)이 회전되어 판넬(10)의 장축이 베이스(512)의 길이 방향을 향하도록 위치시키게 된다. 그리고, 액츄에이터(524)의 구동에 의해 이송나사축(526)을 따라 셔틀(520)을 제 2 측정 장치(500)의 측정 위치로부터 배출 위치로 이동시킨다. 셔틀(520)이 배출 위치에 도달하면, 셔틀(520)의 이동은 센서(810)의 작동에 의해 감지되고, 이 센서(810)로부터 입력되는 신호에 따라 컴퓨터(900)는 셔틀(520)의 이동을 정지시킨 후에, 실린더(542)의 구동에 의해 로드(542a)를 후퇴시켜 서포트 핀(550)과 진공 패드(558)를 초기 위치로 복귀시킨다. 서포트 핀(550)과 진공 패드(558)가 초기 위치로 복귀되는 과정에서 판넬(10)의 훼이스(12)가 배출 유닛(800)의 서포트 바(804)에 올려놓여지게 된다. 이때, 커버(806)는 판넬(10)을 충격으로부터 보호하여 긁힘 등을 방지하게 된다. 판넬(10)의 장축은 서포트 바(804)의 길이 방향을 따라 놓여져 작업자가 쉽게 배출할 수 있는 상태가 되며, 패드(560)는 작업자의 부주의로 판넬(10)이 낙하될 때 충격으로부터 판넬(10)의 파손을 방지하게 된다. 배출 유닛(800)의 서포트 바(804)로부터 판넬(10)을 배출시킨 후에는, 액츄에이터(524)의 구동에 의해 셔틀(520)을 배출 위치에서 측정 위치로 복귀시킨다.As shown in FIGS. 23 and 30, when measurement of the shape and roughness of the panel 10 is completed by driving the second measuring device 500, the turntable 530 is rotated by the driving of the actuator 532 to thereby rotate the panel. The long axis of 10 is positioned to face the longitudinal direction of the base 512. The shuttle 520 is moved from the measurement position of the second measurement device 500 along the feed screw shaft 526 by the drive of the actuator 524 to the discharge position. When the shuttle 520 reaches the ejection position, the movement of the shuttle 520 is sensed by the operation of the sensor 810, and the computer 900, according to the signal input from the sensor 810, causes the After the movement is stopped, the rod 542a is retracted by the driving of the cylinder 542 to return the support pin 550 and the vacuum pad 558 to the initial position. In the process of returning the support pin 550 and the vacuum pad 558 to the initial position, the face 12 of the panel 10 is placed on the support bar 804 of the discharge unit 800. At this time, the cover 806 protects the panel 10 from impact to prevent scratches and the like. The long axis of the panel 10 is placed along the longitudinal direction of the support bar 804 to be easily discharged by the operator, the pad 560 from the impact when the panel 10 is inadvertently dropped by the panel ( 10) to prevent damage. After discharging the panel 10 from the support bar 804 of the discharging unit 800, the shuttle 520 is returned from the discharging position to the measuring position by driving the actuator 524.
한편, 상기한 실시예는 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한 것에 불과하고, 본 발명의 적용 범위는 이와 같은 것에 한정되는 것은 아니며 동일 사상의 범주내에서 적절하게 변경 가능한 것이다. 예를 들어 본 발명의 실시예에 나타난 각 구성 요소의 형상 및 구조는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 또한, 본 발명은 판넬의 측정이외에 각종 보드, 플레이트 등의 측정에도 널리 사용할 수 있는 것이다.On the other hand, the above embodiment is only a description of the preferred embodiment of the present invention, the scope of application of the present invention is not limited to this, and can be changed as appropriate within the scope of the same idea. For example, the shape and structure of each component shown in the embodiment of the present invention can be modified. In addition, the present invention can be widely used for the measurement of various boards, plates and the like in addition to the measurement of the panel.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 의하면, 센터링 장치에서 중심이 맞춰진 판넬을 컴퓨터의 제어에 의해 제 1 및 제 2 측정 장치로 이송시켜 일련의 측정 작업을 자동으로 수행할 수 있으므로, 측정 결과의 합격 여부를 신속하고 정확하게 판정할 수 있을 뿐만 아니라, 판넬의 측정 결과에 이상이 있는 경우에도 제조 현장 등에 신속한 조치를 취할 수 있어 제조 공정의 손실을 최소화시킬 수 있는 것이다. 또한, 측정의 자동화로 인하여 정밀도 및 신뢰성이 향상되고, 측정 결과를 데이터화하여 효율적으로 관리할 수 있는 것이다. 그리고, 컴퓨터의 데이터를 지역 네트워크의 구축에 의해 용이하게 공유할 수 있으므로, 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행할 수 있어 능률적이고 경제적인 운영이 가능해지는 것이다. 또한, 시료의 채취 작업이 불필요해져 측정 작업이 단순해지며, 불필요한 인력과 시간의 낭비를 줄일 수 있는 것이다.As described above, according to the measurement system of the cathode ray tube panel according to the present invention, a centered panel in the centering device is transferred to the first and second measurement devices under the control of a computer to automatically perform a series of measurement operations. Therefore, it is possible to quickly and accurately determine whether the result of the measurement is passed, and even if there is an abnormality in the measurement result of the panel, quick measures can be taken on the manufacturing site, thereby minimizing the loss of the manufacturing process. In addition, accuracy and reliability are improved due to the automation of the measurement, and the measurement results can be efficiently managed by data. In addition, since computer data can be easily shared by building a local network, panel research and development can be performed collectively, and efficient and economical operation is possible. In addition, the sample collection operation is unnecessary, which simplifies the measurement operation and reduces unnecessary manpower and waste of time.
도 1은 일반적인 음극선관용 판넬을 나타낸 단면도,1 is a cross-sectional view showing a panel for a typical cathode ray tube,
도 2는 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 개략적으로 나타낸 정면도,2 is a front view schematically showing a measuring system of a panel for a cathode ray tube according to the present invention;
도 3은 본 발명에 따른 측정 시스템에서 센터링 장치를 나타낸 사시도,3 is a perspective view showing a centering device in the measuring system according to the present invention;
도 4는 본 발명에 따른 센터링 장치를 나타낸 정면도,4 is a front view showing a centering apparatus according to the present invention,
도 5는 본 발명에 따른 센터링 장치를 나타낸 측면도,5 is a side view showing a centering apparatus according to the present invention;
도 6은 본 발명에 따른 센터링 장치의 가로 및 세로 링크 기구의 조립 상태를 나타낸 단면도,6 is a cross-sectional view showing the assembled state of the horizontal and vertical link mechanism of the centering device according to the present invention,
도 7a 및 도 7b는 본 발명에 따른 센터링 장치에서 가로 및 세로 링크 기구의 작동 상태를 나타낸 평면도,7a and 7b is a plan view showing the operating state of the horizontal and vertical link mechanism in the centering device according to the invention,
도 8은 본 발명에 따른 센터링 장치에서 롤러의 작동 상태를 나타낸 단면도,8 is a cross-sectional view showing the operating state of the roller in the centering apparatus according to the present invention,
도 9는 본 발명에 따른 측정 시스템에서 이송 장치를 나타낸 평면도,9 is a plan view showing a conveying apparatus in a measuring system according to the present invention;
도 10은 본 발명에 따른 이송 장치를 나타낸 측면도,10 is a side view showing a conveying apparatus according to the present invention;
도 11은 본 발명에 따른 이송 장치의 척킹 유닛을 나타낸 정면도,11 is a front view showing the chucking unit of the transfer apparatus according to the present invention,
도 12는 본 발명에 따른 이송 장치의 작동 상태를 부분적으로 나타낸 측면도,12 is a side view partially showing an operating state of the transfer apparatus according to the present invention;
도 13은 본 발명에 따른 측정 시스템에서 제 1 측정 장치를 나타낸 평면도,13 is a plan view showing a first measuring device in the measuring system according to the present invention;
도 14는 본 발명에 따른 제 1 측정 장치를 나타낸 정면도,14 is a front view showing a first measuring device according to the present invention;
도 15는 본 발명에 따른 제 1 측정 장치의 포지셔너를 나타낸 사시도,15 is a perspective view of a positioner of the first measuring device according to the present invention;
도 16은 본 발명에 따른 제 1 측정 장치의 포지셔너를 나타낸 정면도,16 is a front view showing the positioner of the first measuring device according to the present invention;
도 17은 도 16의 작동 상태도,17 is an operating state diagram of FIG. 16;
도 18은 본 발명에 따른 제 1 측정 장치의 레퍼런스 게이지를 나타낸 정면도,18 is a front view showing a reference gauge of the first measuring device according to the present invention;
도 19a 내지 도 19e는 본 발명에 따른 제 1 측정 장치에 의한 측정 상태를 나타낸 정면도,19A to 19E are front views showing a measuring state by the first measuring device according to the present invention;
도 20은 본 발명에 따른 제 1 측정 장치에 의한 측정 상태를 나타낸 사시도,20 is a perspective view showing a measurement state by the first measurement device according to the present invention;
도 21은 본 발명에 따른 측정 시스템에서 배출 장치를 나타낸 정면도,21 is a front view showing the discharge device in the measuring system according to the present invention,
도 22는 본 발명에 따른 배출 장치를 나타낸 측면도,Figure 22 is a side view showing a discharge device according to the present invention,
도 23은 본 발명에 따른 측정 시스템에서 제 2 측정 장치를 나타낸 평면도,23 is a plan view showing a second measuring device in the measuring system according to the present invention;
도 24는 본 발명에 따른 제 2 측정 장치를 나타낸 정면도,24 is a front view of a second measuring device according to the present invention;
도 25는 본 발명에 따른 제 2 측정 장치를 나타낸 측면도,25 is a side view showing a second measuring device according to the present invention;
도 26은 본 발명에 따른 제 2 측정 장치의 포지셔너를 나타낸 사시도,26 is a perspective view of a positioner of the second measuring device according to the present invention;
도 27은 본 발명에 따른 제 2 측정 장치의 포지셔너를 나타낸 평면도,27 is a plan view showing the positioner of the second measuring device according to the present invention;
도 28은 본 발명에 따른 제 2 측정 장치의 포지셔너를 나타낸 정면도,28 is a front view showing the positioner of the second measuring device according to the present invention;
도 29는 도 28의 작동 상태도,29 is an operating state diagram of FIG. 28;
도 30은 본 발명에 따른 제 2 측정 장치에서 배출 유닛을 나타낸 측면도이다.30 is a side view showing the discharge unit in the second measuring device according to the present invention.
♣ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ♣♣ Explanation of symbols for the main parts of the drawing ♣
10: 판넬 100: 센터링 장치10: panel 100: centering device
110: 테이블 130, 132: 가로 및 세로 슬라이더110: tables 130 and 132: horizontal and vertical sliders
160, 170: 가로 및 세로 링크 기구 180: 리프팅 플레이트160, 170: horizontal and vertical linkage mechanism 180: lifting plate
200: 이송 장치 230: 척킹 유닛200: transfer device 230: chucking unit
240: 게이지 바 300: 제 1 측정 장치240: gauge bar 300: first measuring device
330: 포지셔너 350: 레퍼런스 게이지330: positioner 350: reference gauge
354: 게이지 핀 360: 로봇354: gauge pin 360: robot
390: 제 1 터치 센서 394: 제 2 터치 센서390: first touch sensor 394: second touch sensor
400: 배출 장치 410: 캐리어 유닛400: discharge device 410: carrier unit
430: 로드레스 실린더 500: 제 2 측정 장치430: rodless cylinder 500: second measuring device
520: 셔틀 530: 턴테이블520: shuttle 530: turntable
540: 포지셔너 570: 로봇540: positioner 570: robot
580: 캐리어 600: 제 1 측정 유닛580: carrier 600: first measuring unit
700: 제 2 측정 유닛 800: 배출 유닛700: second measuring unit 800: discharging unit
900: 컴퓨터 910: 컨트롤 콘솔900: Computer 910: Control Console
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