KR101862310B1 - Apparatus and Method for Detecting Mura Defects - Google Patents

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Abstract

본 발명은 표시패널의 표면에 발생하는 얼룩결함을 검사하는 방법으로서, 상기 표시패널의 이미지를 획득하는 과정, 상기 이미지로부터 얼룩결함을 검출하는 과정, 얼룩결함이 검출되면 상기 이미지의 그레이 레벨(Gray Level) 분포를 나타내는 프로파일을 생성하는 과정, 및 상기 프로파일을 분석하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 과정을 포함하고, 표시패널의 얼룩결함을 검출하고 얼룩결함의 종류를 판단할 수 있다.The present invention provides a method of detecting a spot defect occurring on a surface of a display panel, comprising the steps of acquiring an image of the display panel, detecting a spot defect from the image, detecting a gray defect (Gray Level profile of the display panel; and analyzing the profile to determine the type of the blotches defect. The method may further include detecting a blotch defect of the display panel and determining the type of the blotch defect.

Description

얼룩결함 검사장치 및 얼룩결함 검사방법{Apparatus and Method for Detecting Mura Defects}Technical Field [0001] The present invention relates to an apparatus and a method for detecting a defect,

본 발명은 얼룩결함 검사장치 및 얼룩결함 검사방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 표시패널의 얼룩결함을 검출하고 얼룩결함의 종류를 판단할 수 있는 얼룩결함 검사장치 및 얼룩결함 검사방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a spot defect inspection apparatus and a spot defect inspection method, and more particularly, to a spot defect inspection apparatus and a spot defect inspection method capable of detecting a spot defect on a display panel and determining the type of spot defect.

액정표시장치(LCD: Liquid Crystal Display Device) 등의 표시패널이 대형화됨에 따라 어닐링(Annealing) 공정을 수행할 때 균일성을 확보하기 어려워 다양한 대안들이 제시되고 있으며, 그 중 하나가 레이저를 이용한 어닐링 방법이다. As a display panel such as a liquid crystal display device (LCD) has become larger, various alternatives have been proposed because it is difficult to ensure uniformity when performing an annealing process. One of them is an annealing method using a laser to be.

즉, 레이저 조사기에서 출력되는 레이저 빔을 석영창에 통과시켜 표시패널에 조사하였다. 이러한 레이저 빔은 라인 형태로 조사되며 커튼 형태로 표시패널에 대해 수직 또는 약간의 기울기가 있는 상태로 조사된다. 또한, 표시패널이 레이저 빔의 면에 대해서 수직 또는 약간 기울어진 방향으로 수평 이동하면서 표시패널의 전면에 레이저 빔이 조사된다.That is, the laser beam output from the laser irradiator is passed through the quartz window to irradiate the display panel. The laser beam is irradiated in a line form and is irradiated in a curtain shape with a vertical or slight inclination to the display panel. Further, the display panel is irradiated with a laser beam on the entire surface of the display panel while horizontally moving in the direction vertical or slightly inclined with respect to the surface of the laser beam.

이때, 조사되는 레이저 빔의 길이, 균일도, 에너지 등에 이상이 발생하면 어닐링 공정 시 표시패널의 표면에 얼룩결함(또는, 무라) 등이 발생할 수 있다. 예를 들어, 얼룩결함에는 수직방향으로 형성되는 스캔 무라(Scan Mura)와 수평방향으로 형성되는 샷 무라(Shot Mura) 등이 있는데, 서로 다른 이유로 표시패널의 표면에 발생할 수 있다. 이러한 얼룩결함으로 인해 화면 전체를 일정한 계조로 표시했을 때 특정 영역이 불균일하게 표시될 수 있다.At this time, if the length, uniformity, energy, etc. of the laser beam to be irradiated are generated, a defective (or uneven) smear may occur on the surface of the display panel during the annealing process. For example, a spot defect may include a scan scan formed in the vertical direction and a shot scan formed in the horizontal direction, which may occur on the surface of the display panel for different reasons. Due to this smearing defect, a specific area may be displayed unevenly when the entire screen is displayed with a constant gray level.

따라서, 종래에는 얼룩결함 검사장치를 이용하여 표시패널의 표면에 얼룩결함을 발생했는지 검사하였다. 그러나 종래의 얼룩결함 검사장치는 표시패널의 표면에 얼룩결함이 발생했는지만 검사할 수 있을 뿐, 얼룩결함의 종류를 판단할 수 없었다. 이에, 얼룩결함이 발생된 원인을 파악하기가 어려웠고, 원인을 찾기 위해 작업이 지연되면서 공정의 효율성이 저하되었다.Therefore, in the past, it was inspected whether or not a surface defect of the display panel occurred by using a spot defect inspection apparatus. However, in the conventional smudge defect inspection apparatus, only the occurrence of a smudge defect on the surface of the display panel can be inspected, and the kind of smudge defect can not be determined. Thus, it was difficult to grasp the cause of the occurrence of the spot defect, and the efficiency of the process deteriorated due to the delay of the work in order to find the cause.

KRKR 2014-00065822014-0006582 AA

본 발명은 얼룩결함의 종류를 판단할 수 있는 얼룩결함 검사장치 및 얼룩결함 검사방법을 제공한다.The present invention provides a spot defect inspection apparatus and a spot defect inspection method capable of judging the type of spot defect.

본 발명은 얼룩결함의 발생 원인을 신속하게 파악할 수 있는 얼룩결함 검사장치 및 얼룩결함 검사방법을 제공한다.The present invention provides a stain defect inspection apparatus and a stain defect inspection method capable of promptly grasping the cause of a stain defect.

본 발명은 표시패널의 이미지를 촬영하는 촬영유닛; 및 상기 이미지에서 얼룩결함을 검출하도록 상기 촬영유닛과 연결되는 처리유닛을; 포함하고, 상기 처리유닛은, 이미지를 처리하여 상기 표시패널에 얼룩을 발생했는지 판단하는 제1 처리기, 및 상기 이미지의 그레이 레벨(Gray Level) 분포를 나타내는 프로파일을 생성하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 제2 처리기를 포함한다.The present invention relates to an image pickup apparatus, comprising: a photographing unit for photographing an image of a display panel; And a processing unit coupled to the imaging unit to detect a spot defect in the image; Wherein the processing unit includes a first processor for processing the image to determine whether the display panel has stains, and a profile for indicating a gray level distribution of the image to determine the type of stain defect And a second processor.

상기 제2 처리기는, 상기 이미지의 수직방향 및 수평방향 길이에 대하여 그레이 레벨 분포를 나타내는 프로파일을 각각 생성하는 프로파일 생성부; 및 상기 수직방향 프로파일과 상기 수평방향 프로파일을 미리 설정된 설정범위와 각각 비교하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 제2 판단부를; 포함한다.Wherein the second processor is further configured to generate a profile representing a gray level distribution with respect to vertical and horizontal lengths of the image, respectively; And a second determination unit for comparing the vertical direction profile and the horizontal direction profile with a predetermined setting range to determine the type of the spot defect, .

상기 제2 처리기는, 상기 이미지에서 얼룩결함이 강조되도록 상기 이미지를 에지 처리하는 에지 강조 처리부를 더 포함한다.The second processor further includes an edge emphasis processing unit for edge-processing the image so that a spot defect is emphasized in the image.

본 발명은 표시패널의 표면에 발생하는 얼룩결함을 검사하는 방법으로서, 상기 표시패널의 이미지를 획득하는 과정; 상기 이미지로부터 얼룩결함을 검출하는 과정; 얼룩결함이 검출되면 상기 이미지의 그레이 레벨(Gray Level) 분포를 나타내는 프로파일을 생성하는 과정; 및 상기 프로파일을 분석하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 과정을; 포함한다.A method for inspecting a spot defect occurring on a surface of a display panel, comprising the steps of: acquiring an image of the display panel; Detecting a spot defect from the image; Generating a profile indicating a gray level distribution of the image when a spot defect is detected; And analyzing the profile to determine the type of spot defect; .

상기 프로파일을 생성하는 과정은, 상기 이미지의 수직방향 및 수평방향 길이에 대하여 그레이 레벨 분포를 나타내는 프로파일을 각각 생성하는 과정을 포함한다.The generating the profile may include generating a profile representing a gray level distribution for the vertical and horizontal lengths of the image, respectively.

상기 프로파일을 생성하기 전에, 상기 이미지를 에지(Edge) 강조 처리하는 과정을 포함한다.And an edge emphasis process of the image before generating the profile.

상기 프로파일 분석하는 과정은, 상기 수직방향 프로파일과 상기 수평방향 프로파일을 미리 설정된 설정범위와 각각 비교하는 과정; 및 상기 수직방향 프로파일에서 상기 설정범위를 벗어나는 값이 검출되면 수직방향의 얼룩결함이 발생했다고 판단하고, 상기 수평방향 프로파일에서 상기 설정범위를 벗어나는 값이 검출되면 수평방향의 얼룩결함이 발생했다고 판단하는 과정을; 포함한다.Wherein the analyzing the profile comprises: comparing the vertical profile and the horizontal profile with a predetermined set range, respectively; And when a value deviating from the set range is detected in the vertical direction profile, it is determined that a vertical smudge defect occurs. If a value that deviates from the set range in the horizontal direction profile is detected, it is determined that a horizontal smudge defect has occurred Process; .

상기 프로파일을 분석하는 과정은, 상기 수직방향 프로파일 및 수평방향 프로파일에서 상기 설정범위를 벗어난 값들의 비율을 미리 설정된 설정비율과 비교하는 과정; 및 상기 설정범위를 벗어난 값들의 비율이 상기 설정비율 이상이면 상기 얼룩결함을 불량으로 판단하는 과정을; 포함한다.Analyzing the profile includes comparing a ratio of values out of the setting range in the vertical profile and the horizontal profile with a predetermined setting ratio; And determining that the spot defect is defective if a ratio of values out of the set range is equal to or greater than the set ratio; .

상기 표시패널의 이미지를 획득하기 전에, 상기 표시패널을 레이저로 어닐링하는 과정을 포함한다.And annealing the display panel with a laser before acquiring an image of the display panel.

본 발명의 실시 예에 따르면, 얼룩결함에 대하여 프로파일을 생성하고 이를 분석하여 얼룩결함의 종류를 판단할 수 있다. 즉, 얼룩결함이 수직방향으로 형성되는 얼룩결함(스캔 무라)인지 수평방향으로 형성되는 얼룩결함(샷 무라)인지 판단할 수 있다. 따라서, 얼룩결함의 종류에 따른 얼룩결함의 발생 원인을 신속하게 파악할 수 있다. 이에, 원인이 되는 부분을 신속하게 해결하여 공정의 효율은 향상되고, 불량률은 감소할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, a profile can be generated for the spot defect and analyzed to determine the type of spot defect. That is, it can be determined whether the spot defect is a spot defect (scan spot) formed in the vertical direction or a spot defect (shot spot) formed in the horizontal direction. Therefore, it is possible to quickly grasp the cause of the occurrence of the spot defect according to the kind of spot defect. Therefore, the cause of the problem can be solved quickly, the efficiency of the process can be improved, and the defect rate can be reduced.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 얼룩결함 검사장치의 구조를 나타내는 도면.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 얼룩결함 검사방법을 나타내는 플로우 차트.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 수직방향 프로파일 및 수평방향 프로파일을 생성하는 과정을 나타내는 도면.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 정상상태의 표시패널의 이미지를 나타내는 도면.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 정상상태의 표시패널의 프로파일을 나타내는 그래프.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 불량상태의 표시패널의 이미지를 나타내는 도면.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 불량상태의 표시패널의 프로파일을 나타내는 그래프.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a view showing the structure of a spot defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention; FIG.
2 is a flow chart showing a method of detecting a spot defect according to an embodiment of the present invention.
3 is a diagram illustrating a process of generating a vertical profile and a horizontal profile according to an exemplary embodiment of the present invention.
4 is a view showing an image of a display panel in a steady state according to an embodiment of the present invention.
5 is a graph showing a profile of a display panel in a steady state according to an embodiment of the present invention.
6 is a view showing an image of a display panel in a defective state according to an embodiment of the present invention;
7 is a graph showing a profile of a display panel in a defective state according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 더욱 상세히 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시 예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 발명을 상세하게 설명하기 위해 도면은 과장될 수 있고, 도면상에서 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It will be apparent to those skilled in the art that the present invention may be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, It is provided to let you know. To illustrate the invention in detail, the drawings may be exaggerated and the same reference numbers refer to the same elements in the figures.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 얼룩결함 검사장치의 구조를 나타내는 도면이다.1 is a view showing a structure of a spot defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

우선, 도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 얼룩결함 검사장치(100)는, 표시패널(10)의 이미지를 촬영하는 촬영유닛(110), 및 촬영된 이미지에서 얼룩결함을 검출하도록 촬영유닛(110)과 연결되는 처리유닛(120)을 포함하고, 표시패널(10)로 조명을 출사하는 조명유닛(150)을 포함할 수 있다. 이때, 표시패널(10)은 액정표시장치, 플라즈마표시장치), 유기발광표시장치 등에 구비되는 표시패널(10)일 수 있다.1, a spot defect inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention includes a photographing unit 110 for photographing an image of a display panel 10, and a photographing unit 110 for detecting a spot defect in the photographed image And a lighting unit 150 including a processing unit 120 connected to the photographing unit 110 and emitting light to the display panel 10. [ At this time, the display panel 10 may be a liquid crystal display device, a plasma display device), a display panel 10 provided in an organic light emitting display device, or the like.

촬영유닛(110)은 검사대상이 되는 표시패널(10)을 촬영하여 이미지를 생성하는 역할을 한다. 예를 들어, 촬영유닛(110)은 CCD 카메라일 수 있고, 표시패널(10)이 안착된 스테이지(50)의 상측에 이격되어 배치될 수 있다. 또한, 촬영유닛(110)은 표시패널(10)의 상측에서 표시패널(10)을 향하여 30 내지 60도의 각도로 기울어진 상태에서 표시패널(10)을 촬영할 수 있다.The photographing unit 110 photographs the display panel 10 to be inspected and generates an image. For example, the photographing unit 110 may be a CCD camera, and may be disposed above the stage 50 on which the display panel 10 is seated. The photographing unit 110 can photograph the display panel 10 in a state in which the photographing unit 110 is inclined at an angle of 30 to 60 degrees from the upper side of the display panel 10 toward the display panel 10. [

조명유닛(150)은 촬영유닛(110)의 하부에 연결되거나 배치될 수 있다. 또한, 조명유닛(150)은 표시패널(10)의 상측에서 표시패널(10)을 향하여 약 30도의 각도로 기울어져 배치될 수 있다. 따라서, 조명유닛(150)에서 출사된 빛이 표시패널(10)에 반사되어 촬영유닛(110)으로 입사될 수 있다. 이에, 촬영유닛(110)이 조명유닛(150)에서 발생하는 조명광에 의해 표시패널(10)을 촬영할 수 있다.The illumination unit 150 may be connected to or disposed at the lower portion of the photographing unit 110. The illumination unit 150 may be disposed at an angle of about 30 degrees from the upper side of the display panel 10 toward the display panel 10. [ Therefore, the light emitted from the illumination unit 150 can be reflected by the display panel 10 and incident on the photographing unit 110. [ Thus, the photographing unit 110 can photograph the display panel 10 by the illumination light generated in the illumination unit 150. [

이때, 촬영유닛(110)과 조명유닛(150)은 표시패널(10)의 어닐링 공정이 수행되는 챔버(미도시) 내에 설치될 수 있다. 따라서, 표시패널(10)에 대하여 어닐링 공정을 수행하는 동시에 촬영유닛(110)과 조명유닛(150)을 이용하여 표시패널(10) 상의 얼룩결함을 검사할 수 있다. 이에, 어닐링 공정을 수행한 후 표시패널(10)을 별도로 검사 장소로 이동시켜 검사하는 과정이 생략되어 전체적인 공정의 신속하게 진행되고 효율성이 증가할 수 있다. 그러나 촬영유닛(110)과 조명유닛(150)이 설치되는 위치 및 기울어지는 각도는 이에 한정되지 않고 다양할 수 있다.At this time, the photographing unit 110 and the illumination unit 150 may be installed in a chamber (not shown) in which the annealing process of the display panel 10 is performed. Therefore, it is possible to perform an annealing process on the display panel 10, and simultaneously check a spot defect on the display panel 10 by using the photographing unit 110 and the illuminating unit 150. Therefore, the process of inspecting the display panel 10 after the annealing process is performed and moving the display panel 10 to the inspection site is omitted, so that the overall process can be rapidly performed and the efficiency can be increased. However, the position and tilt angle at which the photographing unit 110 and the illumination unit 150 are installed are not limited to this and may vary.

처리유닛(120)은 촬영유닛(110)과 연결되어 촬영된 이미지에서 얼룩결함을 검출하고, 얼룩결함의 종류를 판단할 수 있다. 이때, 이미지는 각 점에 색깔 대신 흑백의 명암을 지정하여 화상을 형성한 그레이 레벨로 나타날 수 있다. 처리유닛(120)은, 이미지를 처리하여 표시패널(10)에 얼룩을 발생했는지 판단하는 제1 처리기(121), 및 이미지의 그레이 레벨(Gray Level) 분포를 나타내는 프로파일을 생성하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 제2 처리기(122)를 포함할 수 있다. 이때, 수직방향은 표시패널(10) 또는 이미지의 세로방향일 수 있고, 수평방향은 표시패널(10) 또는 이미지의 가로방향일 수 있다. 그러나 촬영유닛(110)의 촬영 각도에 따라 수직방향과 수평방향이 서로 달라질 수 있다.The processing unit 120 is connected to the photographing unit 110 to detect a spot defect in the photographed image and determine the type of spot defect. At this time, the image may appear as a gray level at which an image is formed by specifying the contrast of black and white instead of the color at each point. The processing unit 120 includes a first processor 121 for processing the image to determine whether the display panel 10 has been spotted and a profile representing the gray level distribution of the image, And a second processor 122 for determining the second processor 122. At this time, the vertical direction may be the longitudinal direction of the display panel 10 or the image, and the horizontal direction may be the lateral direction of the display panel 10 or the image. However, depending on the photographing angle of the photographing unit 110, the vertical direction and the horizontal direction may be different from each other.

제1 처리기(121)는 촬영유닛(110)에서 촬영된 이미지를 입력받고, 입력된 이미지를 처리하여 얼룩결함을 검출하는 역할을 한다. 제1 처리기(121)는, 강조처리부(121a), 전처리부(121b), 수치화부(미도시), 및 제1 판단부(121c)를 포함할 수 있다.The first processor 121 receives an image photographed by the photographing unit 110, processes the input image, and detects a spot defect. The first processor 121 may include an emphasis processor 121a, a preprocessor 121b, a digitizer (not shown), and a first determiner 121c.

강조처리부(121a)는 촬영유닛(110)으로부터 입력된 이미지에서 노이즈 성분을 제거하고, 얼룩을 강조하는 역할을 한다. 즉, 강조처리부(121a)는 이미지에서 관심이 되는 영역을 추출하고, 관심영역에서 노이즈 등을 제거하여 얼룩을 강조할 수 있다. 이에, 얼룩이 발생한 부분과 얼룩이 발생하지 않은 부분의 대비가 커진 검사 이미지를 생성할 수 있다.The emphasis processing section 121a removes noise components from the image input from the image capturing unit 110 and emphasizes the unevenness. That is, the emphasis processing unit 121a may extract a region of interest in the image, and remove noise or the like in the region of interest to emphasize the smear. Thus, it is possible to generate a test image having a larger contrast between the portion where the spots are formed and the portion where the spots are not generated.

전처리부(121b)는 얼룩이 강조된 검사 이미지에서 배경 이미지만 추출한 참조 이미지를 생성하고, 검사 이미지에서 참조 이미지를 차분 연산하여 차분 이미지를 출력할 수 있다. 이에, 차분 이미지에는 배경신호가 제외된 입력신호의 변화 파형이 남겨진다. The preprocessing unit 121b may generate a reference image that extracts only the background image from the inspection image in which the smear is emphasized, and may output a differential image by subtracting the reference image from the inspection image. Thus, the waveform of the change of the input signal excluding the background signal is left in the difference image.

수치화부는 차분 이미지를 수치화할 수 있다. 예를 들어, 수치화부는 차분 이미지를 이진화시켜 얼룩의 특징을 추출할 수 있다. 이에, 얼룩의 수준을 정량화하여 얼룩의 사이즈, 차분 이미지에서의 얼룩의 최대 밝기 및 얼룩의 밝기 변화도 등을 추출할 수 있다. 그러나 이에 한정되지 않고 차분 이미지를 다양하게 수치화할 수 있다.The digitizing unit can digitize the difference image. For example, the digitizing unit can binarize the differential image to extract features of the blur. Thus, the level of the smear can be quantified to extract the size of the smear, the maximum brightness of the smear in the difference image, and the brightness variation of the smear. However, the present invention is not limited to this, and the difference image can be variously quantified.

제1 판단부(121c)는 수치화된 얼룩 수치값을 미리 계산된 얼룩 수준별 수치값과 비교하여 얼룩이 어느 등급에 해당하는지를 판단할 수 있다. 이에, 제1 판단부(121c)는 구매자의 요구에 따라 하나의 등급을 설정하고, 수치화된 얼룩의 등급을 설정된 등급과 비교하여 표시패널(10)에 발생한 얼룩이 결함인지 아닌지를 판단할 수 있다. 즉, 표시패널(10)이 양품인지 불량인지를 판단할 수 있다.The first judging unit 121c can judge to which degree the unevenness corresponds by comparing the numerical value of the smoothed numerical value with the previously calculated numerical value of the smudge level. The first judging unit 121c sets a grade according to the request of the purchaser, compares the gradation of the digitized smear with the set grade, and judges whether the smear on the display panel 10 is defective or not. That is, it can be determined whether the display panel 10 is good or defective.

이때, 얼룩결함에는 수직방향으로 형성되는 스캔 무라(Scan Mura)와 수평방향으로 형성되는 샷 무라(Shot Mura) 등이 있는데, 서로 다른 이유로 표시패널의 표면에 발생할 수 있다. 따라서, 얼룩결함의 원인을 신속하게 파악하기 위해 제2 처리기(122)를 이용하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 작업을 수행할 수 있다.At this time, there are a scan Mura formed in the vertical direction and a shot Mura formed in the horizontal direction in the spot defect, which may occur on the surface of the display panel for different reasons. Therefore, in order to quickly grasp the cause of the spot defect, it is possible to perform an operation of determining the type of spot defect using the second processor 122.

제2 처리기(122)는 제1 처리기(121)가 표시패널(10)의 표면에 얼룩결함이 발생했다고 판단하면, 발생한 얼룩결함의 종류를 판단하는 역할을 한다. 제2 처리기(122)는, 이미지의 수직방향 및 수평방향 길이에 대하여 그레이 레벨 분포를 나타내는 프로파일을 각각 생성하는 프로파일 생성부(122b), 및 생성된 수직방향 프로파일과 수평방향 프로파일을 미리 설정된 설정범위와 각각 비교하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 제2 판단부(122c)를 포함하고, 이미지에서 얼룩결함이 강조되도록 이미지를 에지 처리하는 에지 강조 처리부(122a)를 더 포함할 수 있다. If the first processor 121 determines that a surface defect has occurred on the surface of the display panel 10, the second processor 122 determines the type of the generated defect. The second processor 122 includes a profile generation unit 122b that generates a profile indicating a gray level distribution with respect to the vertical and horizontal lengths of the image, And an edge enhancement processor 122a for edge-processing the image so as to emphasize a spot defect in the image. The edge enhancement processor 122a may further include an edge enhancement processor 122a.

프로파일 생성부(122b)는 제1 판단부(121c)가 표시패널(10)에 발생한 얼룩이 결함이라고 판단하는 경우, 이미지의 세로 및 가로 길이에 대하여 그레이 레벨 분포를 나타내는 프로파일을 생성하는 역할을 한다. 즉, 프로파일 생성부(122b)는 이미지의 수직방향에 대하여 프로파일과 수평방향에 대하여 프로파일을 각각 생성한다.When the first determination unit 121c determines that the spots generated on the display panel 10 are defective, the profile generation unit 122b generates a profile indicating a gray level distribution with respect to the vertical and horizontal lengths of the image. That is, the profile generation unit 122b generates a profile with respect to the vertical direction of the image and a profile with respect to the horizontal direction, respectively.

수직방향에 대하여 프로파일은 이미지의 각 행에 해당하는 픽셀들의 평균을 열 별로 나열한 값이고, 수평방향에 대하여 프로파일은 이미지의 각 열에 해당하는 픽셀들의 평균을 행 별로 나열한 값이다. In the vertical direction, the profile is a value obtained by arranging the average of the pixels corresponding to each row of the image in columns, and in the horizontal direction, the profile is an average of the pixels corresponding to each column of the image in the rows.

에지 강조 처리부(122a)는, 이미지의 프로파일을 생성하기 전에, 이미지를 에지 강조 처리할 수 있다. 즉, 이미지 내 윤곽에서 명도가 변화하는 것을 이용하여 미분 처리할 수 있다. 따라서, 이미지 내 선이나 윤곽이 강조되면서 얼룩결함이 강조될 수 있다. 이에, 이제 강조 처리된 이미지에서 얼룩이 발생한 부분은 그레이 레벨의 변화 폭이 심하게 나타날 수 있다. The edge emphasis processing section 122a may perform edge emphasis processing on the image before generating the profile of the image. That is, it is possible to perform differential processing using the change in brightness in the outline of the image. Thus, a blemish defect can be emphasized by emphasizing lines or contours in the image. Thus, in the highlighted image, the portion where the stain occurs may be severely changed in the gray level.

제2 판단부(122c)는 수직방향 프로파일과 수평방향 프로파일을 각각 분석하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 역할을 한다. 예를 들어, 제2 판단부(122c)는 수직방향 프로파일과 상기 수평방향 프로파일을 미리 설정된 설정범위와 각각 비교할 수 있다. 즉, 제2 판단부(122c)는 수직방향 프로파일에서 설정범위를 벗어나는 값이 검출되면 수직방향의 얼룩결함이 발생했다고 판단하고, 상기 수평방향 프로파일에서 상기 설정범위를 벗어나는 값이 검출되면 수평방향의 얼룩결함이 발생했다고 판단할 수 있다. 이때, 설정범위는 구매자의 요구에 따라 작업자가 다양하게 설정할 수 있다.The second determination unit 122c analyzes the vertical profile and the horizontal profile to determine the type of the spot defect. For example, the second determination unit 122c can compare the vertical direction profile and the horizontal direction profile with a predetermined setting range, respectively. That is, when a value out of the setting range is detected in the vertical direction profile, the second determination unit 122c determines that a vertical smudge defect has occurred. If a value that deviates from the setting range in the horizontal direction profile is detected, It can be judged that a stain defect has occurred. At this time, the setting range can be variously set by the operator according to the request of the buyer.

또한, 제2 판단부(122c)는 수직방향 프로파일 및 수평방향 프로파일에서 설정범위를 벗어난 값들의 비율(이하, 산출비율)을 미리 설정된 설정비율과 비교할 수 있다. 이때, 산출비율은 다음과 같은 식으로 구해질 수 있고, 설정비율은 구매자의 요구에 따라 작업자가 다양하게 설정할 수 있다.Also, the second determination unit 122c can compare the ratio (hereinafter referred to as the calculation ratio) of the values out of the setting range in the vertical profile and the horizontal profile with a predetermined setting ratio. At this time, the calculation ratio can be obtained by the following equation, and the setting ratio can be set variously according to the demand of the buyer.

식: 산출비율 = (프로파일에서 설정범위를 벗어난 값의 개수 ÷ 프로파일의 전체 값들의 개수) × 100 Expression: Output ratio = (number of values out of the setting range in the profile ÷ total number of profiles) × 100

따라서, 산출비율과 설정비율을 비교하여 산출비율이 설정비율 이상이면, 검출된 얼룩결함을 불량으로 판단할 수 있다. 반대로, 산출비율이 설정비율보다 작으면, 검출된 얼룩결함을 정상으로 판단할 수 있다. 즉, 설정비율이 감소할수록 엄격하게 얼룩결함의 불량여부를 판단할 수 있고, 설정비율이 증가할수록 덜 엄격하게 얼룩결함의 불량여부를 판단할 수 있다. 이때, 얼룩결함이 불량으로 판단되면 표시패널(10)을 제품으로 사용할 수 없고, 얼룩결함이 정상으로 판단되면 표시패널(10)을 제품으로 사용할 수 있다.Therefore, when the calculation ratio is compared with the setting ratio and the calculation ratio is more than the setting ratio, the detected smudge defect can be judged as defective. Conversely, if the calculation ratio is smaller than the set ratio, the detected odd defect can be judged as normal. That is, as the setting ratio decreases, it is possible to judge whether or not the defect of the smudge defect is strictly judged. As the set ratio increases, the defectiveness of the smudge defect can be judged less strictly. At this time, if the blur defect is determined to be defective, the display panel 10 can not be used as a product, and if the blur defect is determined to be normal, the display panel 10 can be used as a product.

이처럼 얼룩결함에 대하여 프로파일을 생성하고 이를 분석하여 얼룩결함의 종류를 판단할 수 있다. 즉, 얼룩결함이 수직방향으로 형성되는 얼룩결함인지 수평방향으로 형성되는 얼룩결함인지 판단할 수 있다. 따라서, 얼룩결함의 종류에 따른 얼룩결함의 발생 원인을 신속하게 파악할 수 있다. 이에, 원인이 되는 부분을 신속하게 해결하여 공정의 효율은 향상되고, 불량률은 감소할 수 있다.As described above, it is possible to determine a kind of blotchiness defects by generating profiles and analyzing them. That is, it can be determined whether the spot defect is a spot defect formed in the vertical direction or a spot defect formed in the horizontal direction. Therefore, it is possible to quickly grasp the cause of the occurrence of the spot defect according to the kind of spot defect. Therefore, the cause of the problem can be solved quickly, the efficiency of the process can be improved, and the defect rate can be reduced.

도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 얼룩결함 검사방법을 나타내는 플로우 차트이고, 도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 수직방향 프로파일 및 수평방향 프로파일을 생성하는 과정을 나타내는 도면이고, 도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 정상상태의 표시패널의 이미지를 나타내는 도면이고, 도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 정상상태의 표시패널의 프로파일을 나타내는 그래프이고, 도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 불량상태의 표시패널의 이미지를 나타내는 도면이고, 도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 불량상태의 표시패널의 프로파일을 나타내는 그래프이다.3 is a diagram illustrating a process of generating a vertical profile and a horizontal profile according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a view illustrating a process of generating a vertical profile and a horizontal profile according to an embodiment of the present invention. FIG. 5 is a graph showing a profile of a display panel in a steady state according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6 is a graph showing a profile of a display panel according to an embodiment of the present invention FIG. 7 is a graph showing a profile of a display panel in a defective state according to an embodiment of the present invention. FIG.

하기에서는 본 발명의 실시 예에 따른 얼룩결함 검사방법에 대해 설명하기로 한다. Hereinafter, a method of detecting a spot defect according to an embodiment of the present invention will be described.

도 2를 참조하면 본 발명의 실시 예에 따른 얼룩결함 검사방법은, 표시패널의 표면에 발생하는 얼룩결함을 검사하는 방법으로서, 상기 표시패널의 이미지를 획득하는 과정(S100), 획득한 이미지로부터 얼룩결함을 검출하는 과정(S200), 얼룩결함이 검출되면 상기 이미지의 그레이 레벨(Gray Level) 분포를 나타내는 프로파일을 생성하는 과정(S300), 및 상기 프로파일을 분석하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 과정(S400)을 포함한다.Referring to FIG. 2, a method for inspecting a spot defect according to an exemplary embodiment of the present invention includes the steps of acquiring an image of the display panel (S100) (S300) of generating a profile indicating a gray level distribution of the image when an unevenness defect is detected (S300), and determining a type of the unevenness defect by analyzing the profile (S400).

이때, 표시패널(10)의 이미지를 획득하기 전에, 표시패널(10)을 레이저로 어닐링할 수 있다. 예를 들어, 레이저 빔을 라인 형태로 조사하고, 표시패널(10)을 레이저 빔의 면에 대해서 수직 또는 약간 기울어진 방향으로 수평 이동시켜 표시패널(10)의 전면에 레이저 빔을 조사할 수 있다.At this time, before the image of the display panel 10 is acquired, the display panel 10 can be annealed with a laser. For example, the laser beam may be irradiated in a line shape, and the display panel 10 may be horizontally moved in a direction perpendicular or slightly inclined to the surface of the laser beam to irradiate the entire surface of the display panel 10 with a laser beam .

그러나 조사되는 레이저 빔의 길이, 균일도, 에너지 등에 이상이 발생하면 어닐링 공정 시 표시패널(10)의 표면에 얼룩결함(또는, 무라) 등이 발생할 수 있다. 예를 들어, 얼룩결함에는 수직방향으로 형성되는 스캔 무라(Scan Mura)와 수평방향으로 형성되는 샷 무라(Shot Mura) 등이 있는데, 서로 다른 이유로 표시패널(10)의 표면에 발생할 수 있다. 따라서, 어닐링 공정이 수행되는 챔버 내에서 표시패널(10)에 대하여 얼룩결함을 검사하는 작업을 수행할 수 있다.However, when the length, uniformity, energy, etc. of the laser beam to be irradiated is abnormal, a defective spot (or unevenness) may occur on the surface of the display panel 10 during the annealing process. For example, a spot defect may include a scan scan formed in a vertical direction and a shot scan formed in a horizontal direction, which may occur on the surface of the display panel 10 for different reasons. Therefore, it is possible to perform an operation of inspecting the display panel 10 for a spot defect in the chamber in which the annealing process is performed.

우선, 조명유닛(150)을 작동시켜 조명광을 발생시킨 후 촬영유닛(110)으로 표시패널(10)을 촬영하여 표시패널(10)에 대하여 이미지를 생성 또는 획득할 수 있다. 이때, 이미지는 각 점에 색깔 대신 흑백의 명암을 지정하여 화상을 형성한 그레이 레벨로 나타날 수 있다. 그 다음, 얼룩결함의 발생여부를 확인하기 위해 촬영된 이미지를 처리하는 작업을 수행할 수 있다. 즉, 이미지에서 노이즈 성분을 제거하고, 얼룩을 강조하는 강조처리 공정을 수행할 수 있다. 이에, 얼룩이 발생한 부분과 얼룩이 발생하지 않은 부분의 대비가 커진 검사 이미지를 생성할 수 있다.First, the illumination unit 150 is operated to generate illumination light, and then the imaging unit 110 captures an image of the display panel 10 to generate or acquire an image with respect to the display panel 10. At this time, the image may appear as a gray level at which an image is formed by specifying the contrast of black and white instead of the color at each point. Then, it is possible to perform an operation of processing the photographed image to check whether or not a spot defect has occurred. That is, it is possible to perform a highlight processing process for removing noise components from the image and emphasizing the smear. Thus, it is possible to generate a test image having a larger contrast between the portion where the spots are formed and the portion where the spots are not generated.

그 다음, 얼룩이 강조된 검사 이미지에서 배경 이미지만 추출한 참조 이미지를 생성하고, 검사 이미지에서 참조 이미지를 차분 연산하여 차분 이미지를 출력할 수 있다. 차분 이미지에는 배경신호가 제외된 입력신호의 변화 파형이 남겨진다. Then, a reference image obtained by extracting only the background image from the inspection image in which the smear is emphasized is generated, and the difference image can be outputted by subtracting the reference image from the inspection image. In the differential image, the waveform of the input signal excluding the background signal is left.

그 다음, 차분 이미지를 수치화할 수 있다. 예를 들어, 차분 이미지를 이진화시켜 얼룩의 특징을 추출할 수 있다. 이에, 얼룩의 수준을 정량화하여 얼룩의 사이즈, 차분 이미지에서의 얼룩의 최대 밝기 및 얼룩의 밝기 변화도 등을 추출할 수 있다. Then, the difference image can be digitized. For example, the difference image can be binarized to extract the characteristics of the blur. Thus, the level of the smear can be quantified to extract the size of the smear, the maximum brightness of the smear in the difference image, and the brightness variation of the smear.

그 다음, 수치화된 얼룩 수치값을 미리 계산된 얼룩 수준별 수치값과 비교하여 얼룩이 어느 등급에 해당하는지를 판단할 수 있다. 예를 들어, 구매자의 요구에 따라 하나의 등급을 설정하고, 수치화된 얼룩의 등급을 설정된 등급과 비교할 수 있다. 이에, 수치화된 얼룩의 등급이 설정된 등급보다 크면 표시패널(10)에 얼룩결함이 발생했다고 판단할 수 있다. 반대로, 수치화된 얼룩의 등급이 설정된 등급보다 작으면 표시패널(10)에 얼룩결함이 없다고 판단할 수 있다. Then, the numerical value of the smoothed numerical value is compared with the previously calculated numerical value of the smudge level to judge to which grade the smear corresponds. For example, one grade can be set according to the buyer's request, and the grade of the quantified stain can be compared with the set grade. Thus, if the gradation of the digitized smear is larger than the set grade, it can be determined that the smear defect has occurred in the display panel 10. Conversely, if the gradation of the quantized smear is smaller than the set gradation, it can be judged that the display panel 10 has no smudge defect.

그 다음, 얼룩결함의 원인을 신속하게 파악하기 위해 얼룩결함의 종류를 판단하는 작업을 수행할 수 있다. 표시패널(10)에 얼룩결함이 발생하였다고 판단되는 경우, 이미지를 에지 강조 처리할 수 있다. 즉, 이미지 내 윤곽에서 명도가 변화하는 것을 이용하여 미분 처리할 수 있다. 따라서, 이미지 내 선이나 윤곽이 강조되면서 얼룩결함이 강조될 수 있다. 이에, 이제 강조 처리된 이미지에서 얼룩이 발생한 부분은 그레이 레벨의 변화 폭이 심하게 나타날 수 있다. Then, in order to quickly grasp the cause of the spot defect, it is possible to perform an operation of judging the kind of spot defect. If it is determined that a blur defect occurs in the display panel 10, the image can be subjected to edge emphasis processing. That is, it is possible to perform differential processing using the change in brightness in the outline of the image. Thus, a blemish defect can be emphasized by emphasizing lines or contours in the image. Thus, in the highlighted image, the portion where the stain occurs may be severely changed in the gray level.

그 다음, 도 3과 같이 이미지의 세로 및 가로 길이에 대하여 그레이 레벨 분포를 나타내는 프로파일을 생성할 수 있다. 즉, 이미지의 수직방향에 대하여 프로파일과 수평방향에 대하여 프로파일을 각각 생성할 수 있다. 이때, 수직방향에 대하여 프로파일은 이미지의 각 행에 해당하는 픽셀들의 평균을 열 별로 나열한 값이고, 수평방향에 대하여 프로파일은 이미지의 각 열에 해당하는 픽셀들의 평균을 행 별로 나열한 값이다. Next, as shown in FIG. 3, a profile showing a gray level distribution with respect to the vertical and horizontal lengths of the image can be generated. That is, profiles can be generated for the vertical direction of the image and profiles for the horizontal direction, respectively. In this case, the profile for the vertical direction is a value obtained by arranging the average of the pixels corresponding to each row of the image by columns, and for the horizontal direction, the profile is the average of the pixels corresponding to each column of the image by the rows.

그 다음, 수직방향 프로파일과 수평방향 프로파일을 각각 분석하여 얼룩결함의 종류를 판단할 수 있다. 즉, 수직방향 프로파일과 상기 수평방향 프로파일을 미리 설정된 설정범위와 각각 비교할 수 있다. 수직방향 프로파일에서 설정범위를 벗어나는 값이 검출되면 수직방향의 얼룩결함이 발생했다고 판단하고, 상기 수평방향 프로파일에서 상기 설정범위를 벗어나는 값이 검출되면 수평방향의 얼룩결함이 발생했다고 판단할 수 있다. 이때, 설정범위는 구매자의 요구에 따라 작업자가 다양하게 설정할 수 있다.Then, by analyzing the vertical direction profile and the horizontal direction profile, it is possible to determine the type of the spot defect. That is, the vertical direction profile and the horizontal direction profile can be compared with a predetermined setting range, respectively. It is determined that a vertical smudge defect has occurred. If a value outside the setting range is detected in the horizontal direction profile, it can be determined that a horizontal smudge defect has occurred. At this time, the setting range can be variously set by the operator according to the request of the buyer.

예를 들어, 도 4의 (a)와 같은 원 이미지를 에지 강조 처리하면, 도 4의 (b)와 같이 이미지 내 윤곽이 더욱 선명해질 수 있다. 윤곽이 선명해진 이미지에 대해 그레이 레벨 분포를 나타내는 수직방향 프로파일과 수평방향 프로파일을 각각 생성하고, 각 프로파일을 설정범위와 비교할 수 있다. For example, if the original image as shown in FIG. 4A is edge-enhanced, the outline of the image can be made clearer as shown in FIG. 4B. It is possible to generate a vertical profile and a horizontal profile, each of which shows a gray level distribution with respect to an image having a sharp outline, and compare each profile with a set range.

구매자의 요구에 따라 작업자가 설정범위를 110~130으로 정하는 경우, 수직방향 프로파일과 수평방향 프로파일을 미리 정해진 설정범위와 각각 비교할 수 있다. 이에, 도 5와 같이 수직방향 프로파일과 수평방향 프로파일에서 110~130을 벗어나는 값이 검출되지 않거나 미량만 검출되면, 표시패널(10)에 수직방향 및 수평방향 얼룩결함이 발생하지 않았다고, 정상판단을 내릴 수 있다.When the operator sets the setting range from 110 to 130 according to the buyer's demand, the vertical profile and the horizontal profile can be compared with the predetermined setting range, respectively. 5, when a value exceeding 110 to 130 in the vertical direction profile and the horizontal direction profile is not detected or only a trace amount is detected, it is determined that the vertical and horizontal directional smudging defects do not occur in the display panel 10 I can get off.

반대로, 도 6과 같이 얼룩결함이 발생된 이미지를 에지 강조 처리하면, 이미지 상에 백색에 가까운 부분과 흑색에 가까운 부분의 명암 차이가 확연히 나타날 수 있다. 이러한 이미지에 대해 그레이 레벨 분포를 나타내는 수직방향 프로파일과 수평방향 프로파일을 각각 생성하고, 각 프로파일을 설정범위와 비교할 수 있다.Conversely, when the edge-enhanced image is subjected to the edge enhancement processing as shown in FIG. 6, a difference in light and shade between a portion close to white and a portion close to black can be clearly displayed on the image. It is possible to generate a vertical profile and a horizontal profile respectively representing the gray level distribution for this image, and to compare each profile with the setting range.

즉, 도 7과 같이, 수직방향 프로파일과 설정범위를 비교하여 110~130을 벗어나는 값이 다량으로 검출되면, 수직방향으로 얼룩결함이 발생했다고 즉, 스캔무라가 발생했다고 판단할 수 있다. 또한, 수평방향 프로파일과 설정범위를 비교하여 110~130을 벗어나는 값이 다량으로 검출되면, 수평방향으로 얼룩결함이 발생했다고 즉, 샷무라가 발생했다고 판단할 수 있다. 그러나 설정범위는 이에 한정되지 않고 다양하게 설정될 수 있다.That is, as shown in FIG. 7, when a value exceeding 110 to 130 is detected in a large amount by comparing the vertical profile and the setting range, it can be determined that a blot defect has occurred in the vertical direction, that is, a scan blur has occurred. In addition, if the horizontal direction profile is compared with the setting range and a value exceeding 110 to 130 is detected in a large amount, it can be determined that a blot defect has occurred in the horizontal direction, that is, a shot blur has occurred. However, the setting range is not limited to this and can be variously set.

이때, 수직방향 프로파일 및 수평방향 프로파일에서 설정범위를 벗어난 값들의 비율(또는, 산출비율)을 미리 설정된 설정비율과 비교할 수 있다. 즉, 프로파일에서 전체 값들의 개수에 대하여 설정범위를 벗어난 값들의 비율을 설정비율과 비교하여 발생된 수직방향 얼룩결함 또는 수평방향 얼룩결함을 정상 또는 불량으로 판단할 수 있다. At this time, the ratio (or the calculation ratio) of the values out of the setting range in the vertical profile and the horizontal profile can be compared with a predetermined setting ratio. That is, the ratio of the values out of the setting range with respect to the total number of values in the profile can be compared with the setting ratio to determine whether the vertical direction smudge defect or horizontal direction smudge defect generated is normal or bad.

예를 들어, 구매자의 요구에 따라 작업자가 설정비율을 5%로 설정할 수 있다. 이에, 산출비율과 설정비율을 비교하여 산출비율이 5% 이상이면, 검출된 얼룩결함을 불량으로 판단할 수 있다. 반대로, 산출비율이 5% 이하이면, 검출된 얼룩결함을 정상으로 판단할 수 있다. 즉, 설정비율이 감소할수록 엄격하게 얼룩결함의 불량여부를 판단할 수 있고, 설정비율이 증가할수록 덜 엄격하게 얼룩결함의 불량여부를 판단할 수 있다. 이때, 얼룩결함이 불량으로 판단되면 표시패널(10)을 제품으로 사용할 수 없고, 얼룩결함이 정상으로 판단되면 표시패널(10)을 제품으로 사용할 수 있다. 그러나 설정비율은 이에 한정되지 않고 다양하게 선택될 수 있다.For example, according to the buyer's request, the operator can set the setting rate to 5%. Therefore, if the calculation ratio is compared with the setting ratio and the calculation ratio is 5% or more, the detected smudge defect can be judged as defective. Conversely, if the calculation ratio is 5% or less, the detected odd defect can be judged as normal. That is, as the setting ratio decreases, it is possible to judge whether or not the defect of the smudge defect is strictly judged. As the set ratio increases, the defectiveness of the smudge defect can be judged less strictly. At this time, if the blur defect is determined to be defective, the display panel 10 can not be used as a product, and if the blur defect is determined to be normal, the display panel 10 can be used as a product. However, the setting ratio is not limited thereto and can be variously selected.

이처럼 얼룩결함에 대하여 프로파일을 생성하고 이를 분석하여 얼룩결함의 종류를 판단할 수 있다. 즉, 얼룩결함이 수직방향으로 형성되는 얼룩결함인지 수평방향으로 형성되는 얼룩결함인지 판단할 수 있다. 따라서, 얼룩결함의 종류에 따른 얼룩결함의 발생 원인을 신속하게 파악할 수 있다. 이에, 원인이 되는 부분을 신속하게 해결하여 공정의 효율은 향상되고, 불량률은 감소할 수 있다.As described above, it is possible to determine a kind of blotchiness defects by generating profiles and analyzing them. That is, it can be determined whether the spot defect is a spot defect formed in the vertical direction or a spot defect formed in the horizontal direction. Therefore, it is possible to quickly grasp the cause of the occurrence of the spot defect according to the kind of spot defect. Therefore, the cause of the problem can be solved quickly, the efficiency of the process can be improved, and the defect rate can be reduced.

이와 같이, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능하다. 그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 안되며, 아래에 기재될 특허청구범위뿐만 아니라 이 청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.Although the present invention has been described in detail with reference to the specific embodiments thereof, it will be understood by those skilled in the art that various changes and modifications may be made without departing from the scope of the present invention. Therefore, the scope of the present invention should not be limited by the described embodiments, but should be defined by the appended claims, as well as the appended claims.

100: 얼룩결함 검사장치 110: 촬영유닛
120: 처리유닛 121: 제1 처리기
121a: 강조처리부 121b: 전처리부
122c: 제1 판단부 122: 제2 처리기
122a: 에지 강조 처리부 122b: 프로파일 생성부
122c: 제2 판단부100: spot defect inspection apparatus 110: photographing unit
120: processing unit 121: first processor
121a: emphasis processing section 121b: preprocessing section
122c: first determination unit 122: second processor
122a: Edge enhancement processor 122b:
122c:

Claims (9)

표시패널의 이미지를 촬영하는 촬영유닛; 및
상기 이미지에서 얼룩결함을 검출하도록 상기 촬영유닛과 연결되는 처리유닛을; 포함하고,
상기 처리유닛은, 이미지를 처리하여 상기 표시패널에 얼룩을 발생했는지 판단하는 제1 처리기, 및 상기 이미지의 그레이 레벨(Gray Level) 분포를 나타내는 프로파일을 생성하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 제2 처리기를 포함하고,
상기 제1 처리기는, 상기 이미지에서 관심영역을 추출하여 노이즈를 제거하고 얼룩을 강조시킬 수 있는 강조처리부를 구비하며,
상기 제2 처리기는, 상기 프로파일을 생성하기 전에 상기 이미지 내 선이나 윤곽을 강조시켜 얼룩결함을 강조시킬 수 있는 에지 강조 처리부를 구비하는 얼룩결함 검사장치.A photographing unit for photographing an image of the display panel; And
A processing unit coupled to the imaging unit to detect a spot defect in the image; Including,
The processing unit includes a first processor for processing the image and determining whether the display panel has stains, and a second processor for generating a profile indicating a gray level distribution of the image to determine the type of stain defect Lt; / RTI >
Wherein the first processor includes an emphasis processing section for extracting a region of interest in the image, removing noise, and emphasizing a stain,
And the second processor includes an edge emphasis processing section that can emphasize a line defect or an outline in the image before generating the profile. 청구항 1에 있어서,
상기 제2 처리기는,
상기 이미지의 수직방향 및 수평방향 길이에 대하여 그레이 레벨 분포를 나타내는 프로파일을 각각 생성하는 프로파일 생성부; 및
상기 수직방향 프로파일과 상기 수평방향 프로파일을 미리 설정된 설정범위와 각각 비교하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 제2 판단부를; 포함하는 얼룩결함 검사장치.The method according to claim 1,
Wherein the second processor comprises:
A profile generator for generating a profile representing a gray level distribution with respect to vertical and horizontal lengths of the image, respectively; And
A second determination unit for comparing the vertical profile and the horizontal profile with a predetermined setting range to determine the type of the spot defect; Contains a stain defect inspection device. 삭제delete 표시패널의 표면에 발생하는 얼룩결함을 검사하는 방법으로서,
상기 표시패널의 이미지를 획득하는 과정;
상기 이미지에서 일부 영역을 추출하여 노이즈를 제거하고 얼룩을 강조시키는 과정;
상기 이미지로부터 얼룩결함을 검출하는 과정;
상기 이미지 내 선이나 윤곽을 강조시켜 얼룩결함을 강조시킬 수 있도록, 상기 이미지를 에지 강조 처리하는 과정;
얼룩결함이 검출되면 상기 이미지의 그레이 레벨(Gray Level) 분포를 나타내는 프로파일을 생성하는 과정; 및
상기 프로파일을 분석하여 얼룩결함의 종류를 판단하는 과정을; 포함하는 얼룩결함 검사방법.A method for inspecting a spot defect occurring on the surface of a display panel,
Acquiring an image of the display panel;
Extracting a region from the image to remove noise and emphasizing a smear;
Detecting a spot defect from the image;
Edge emphasizing the image so as to emphasize a line defect or an outline of the image;
Generating a profile indicating a gray level distribution of the image when a spot defect is detected; And
Analyzing the profile to determine the type of spot defect; Included stain defect inspection methods. 청구항 4에 있어서,
상기 프로파일을 생성하는 과정은,
상기 이미지의 수직방향 및 수평방향 길이에 대하여 그레이 레벨 분포를 나타내는 프로파일을 각각 생성하는 과정을 포함하는 얼룩결함 검사방법.The method of claim 4,
The step of generating the profile includes:
And generating a profile representing a gray level distribution for the vertical and horizontal lengths of the image, respectively. 삭제delete 청구항 5에 있어서,
상기 프로파일 분석하는 과정은,
상기 수직방향 프로파일과 상기 수평방향 프로파일을 미리 설정된 설정범위와 각각 비교하는 과정; 및
상기 수직방향 프로파일에서 상기 설정범위를 벗어나는 값이 검출되면 수직방향의 얼룩결함이 발생했다고 판단하고, 상기 수평방향 프로파일에서 상기 설정범위를 벗어나는 값이 검출되면 수평방향의 얼룩결함이 발생했다고 판단하는 과정을; 포함하는 얼룩결함 검사방법.The method of claim 5,
The profile analyzing process includes:
Comparing the vertical profile and the horizontal profile with preset ranges; And
If it is determined that a value outside the setting range is detected in the vertical direction profile, it is determined that a vertical smoothing defect occurs, and if a value out of the setting range in the horizontal direction profile is detected, it is determined that a horizontal smoothing defect has occurred of; Included stain defect inspection methods. 청구항 7에 있어서,
상기 프로파일을 분석하는 과정은,
상기 수직방향 프로파일 및 수평방향 프로파일에서 상기 설정범위를 벗어난 값들의 비율을 미리 설정된 설정비율과 비교하는 과정; 및
상기 설정범위를 벗어난 값들의 비율이 상기 설정비율 이상이면 상기 얼룩결함을 불량으로 판단하는 과정을; 포함하는 얼룩결함 검사방법.The method of claim 7,
The process of analyzing the profile may include:
Comparing a ratio of values out of the setting range in the vertical profile and the horizontal profile with a predetermined setting ratio; And
Determining that the spot defect is defective if the ratio of the values out of the setting range is equal to or greater than the preset ratio; Included stain defect inspection methods. 청구항 4 또는 청구항 5에 있어서,
상기 표시패널의 이미지를 획득하기 전에,
상기 표시패널을 레이저로 어닐링하는 과정을 포함하는 얼룩결함 검사방법.The method according to claim 4 or 5,
Before acquiring the image of the display panel,
And annealing the display panel with a laser.
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