KR101362367B1 - Conveyor using flexible pissibi x-ray inspection method - Google Patents
Conveyor using flexible pissibi x-ray inspection method Download PDFInfo
- Publication number
- KR101362367B1 KR101362367B1 KR1020120117854A KR20120117854A KR101362367B1 KR 101362367 B1 KR101362367 B1 KR 101362367B1 KR 1020120117854 A KR1020120117854 A KR 1020120117854A KR 20120117854 A KR20120117854 A KR 20120117854A KR 101362367 B1 KR101362367 B1 KR 101362367B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pattern
- conveyor
- ray inspection
- ray
- flexible
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/611—Specific applications or type of materials patterned objects; electronic devices
- G01N2223/6113—Specific applications or type of materials patterned objects; electronic devices printed circuit board [PCB]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/643—Specific applications or type of materials object on conveyor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/60—Specific applications or type of materials
- G01N2223/646—Specific applications or type of materials flaws, defects
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 플렉시블 피씨비(flexible PCB)류의 피측정물을 정지시키지 않고 컨베이어를 이용하여 연속으로 이동시키면서 동시에 미리 등록한 패턴과 비교하여 양품과 불량품을 선별하도록 하여 엑스레이검사공정을 효율적으로 높이도록 한 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, and more particularly, by comparing a pattern to be measured in a flexible PCB (continuously using a conveyor) continuously without using a pattern compared to the pre-registered pattern The present invention relates to a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor to efficiently screen an X-ray inspection by selecting good and defective products.
일반적으로 엑스레이 검사장치에서 검사하는 피측정물은 다양한 종류가 있으며, 제품의 제조공정에서는 제품의 신뢰성을 확보하기 위하여 상태를 검사하는 공정을 수행하게 된다. 종래의 엑스레이 검사방법은 검사장치의 내부에 피측정물을 일일히 하나씩 투입하고 검사장치의 문을 닫은 후 검사하고 다시 양품 불량품 여부를 판단하여 피측정물을 꺼내는 방법으로 작업시간이 오래 걸려 매우 비효율적이었다.In general, there are various types of objects to be inspected by the X-ray inspection apparatus, and in the manufacturing process of the product to check the state in order to ensure the reliability of the product. Conventional X-ray inspection method is very inefficient because it takes a long time to work by putting one object into the inspection device one by one, closing the door of the inspection device, inspecting it, and then again determining whether the defective product is defective. It was.
또한, 플렉시블 PCB와 같은 경우에는 투입과 배출 등이 용이하지 않고, 여러 형태의 패드가 존재하기 때문에 패드를 일일히 검사하는데 어려운 문제점이 있었다.In addition, in the case of a flexible PCB, it is not easy to add and discharge, and there are various types of pads.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위해서, 본 발명은 투입구와 배출구가 형성된 케이스의 내부에 엑스레이튜브와 디텍터로 구성되고, 상기 엑스레이튜브와 상기 디텍터의 사이에 설치되며 양단부가 투입구와 배출구의 외부로 돌출되도록 설치되는 컨베이어로 구성된 엑스레이검사장치를 이용하여, 다수의 피측정물을 컨베이어를 이용하여 일련적으로 자동으로 공급하고 연속으로 이동시키면서 미리 등록한 패턴과 비교하여 양품과 불량품을 선별하도록 하여 엑스레이검사공정을 효율적으로 높이도록 한 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.In order to solve the above problems, the present invention is composed of an X-ray tube and a detector inside the case in which the inlet and outlet are formed, is installed between the X-ray tube and the detector so that both ends protrude out of the inlet and outlet Using an X-ray inspection device composed of a conveyor installed, a number of objects are automatically supplied in series using a conveyor and continuously moved. The X-ray inspection process is performed by selecting good and defective products by comparing them with a pre-registered pattern. It is an object of the present invention to provide a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor to efficiently increase.
이와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 투입구와 배출구가 형성된 케이스의 내부에 엑스레이튜브와 디텍터로 구성되고, 상기 엑스레이튜브와 상기 디텍터의 사이에 설치되며 양단부가 투입구와 배출구의 외부로 돌출되도록 설치되는 컨베이어로 구성된 엑스레이검사장치를 이용한 엑스레이 검사방법에 있어서, (a) 패턴 등록을 원하는 피측정물을 컨베이어에 올려놓고 엑스레이검사장치를 통과하도록 하여 엑스레이 영상을 획득하는 단계; (b) 획득된 피측정물의 엑스레이 영상 중 설정을 원하는 패드의 패턴을 선택하여 검사할 패턴으로 등록하여 파라미터들을 설정하는 단계; (c) 상기 컨베이어 상에 피측정물을 공급하고 등록된 패드의 패턴과 비교하여 양품과 불량품을 판정하는 단계;를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법을 제공하고자 한다.In order to achieve the above object, the present invention is composed of an X-ray tube and a detector inside the case in which the inlet and outlet are formed, is installed between the X-ray tube and the detector and installed so that both ends protrude out of the inlet and outlet An x-ray inspection method using an x-ray inspection apparatus comprising a conveyor, the method comprising: (a) placing an object to be registered on a conveyor and passing the x-ray inspection apparatus to obtain an x-ray image; (b) selecting a pattern of a desired pad from among the obtained X-ray images of the measured object and registering the pattern as a pattern to be inspected to set parameters; (c) supplying the object to be measured on the conveyor and comparing the pattern of the registered pads with each other to determine whether good or defective goods is to provide a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor comprising a.
또한, 상기 엑스레이검사장치는 투입구와 상기 배출구에 차폐커버가 설치되는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법을 제공하고자 한다.In addition, the X-ray inspection apparatus is to provide a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor characterized in that the shielding cover is installed in the inlet and the outlet.
또한, 상기 (b) 단계에서, 패턴 등록시 등록된 패드의 패턴과 피측정물의 패드의 패턴이 비슷한 정도인 매칭율의 값을 설정하여 설정한 값 이상의 패턴을 인식하도록 하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법을 제공하고자 한다.In addition, in the step (b), when the pattern is registered, the pattern of the registered pad and the pattern of the pad of the object to be measured are set to a similar value of the matching ratio to recognize the pattern more than the set value. To provide a flexible PC X-ray inspection method.
또한, 상기 (b) 단계에서, 패턴 등록시 특정 밝기값을 정하고 그 이하로 피측정물의 패턴을 인식하도록 패드 인식 문턱값을 설정하도록 하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법을 제공하고자 한다.In addition, in the step (b), it is to provide a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that to determine a specific brightness value at the time of registering the pattern and to set the pad recognition threshold value to recognize the pattern to be measured below. .
또한, 상기 (b) 단계에서, 피측정물의 패턴으로 인식된 패드 중 다중으로 겹쳐진 패드를 검출할 수 있도록 다중패드 검출 문턱값을 설정하도록 하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법을 제공하고자 한다.In addition, in the step (b), it provides a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that for setting a multi-pad detection threshold value to detect multiple overlapping pads among the pads recognized as the pattern of the object to be measured. I would like to.
또한, 상기 (b) 단계에서, 패턴 등록시 특정 수량의 패턴을 가지는 피측정물일 경우에만 양품으로 판정을 하도록 양품 패턴 수량값을 설정하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법을 제공하고자 한다.In addition, in the step (b), it is intended to provide a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that the quantity of good quality pattern is set so as to determine the good quality only when the measured object having a specific number of patterns when registering the pattern. .
또한, 상기 (b) 단계에서, 패턴 등록시 다중의 패턴을 동시에 등록할 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법을 제공하고자 한다.In addition, in the step (b), it is to provide a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that for registering the pattern at the time of registering the pattern.
또한, (c) 단계 이후에, 불량품으로 판정난 피측정물은 컨베이어에서 리젝터를 이용하여 제거하는 단계(d)를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법을 제공하고자 한다.In addition, after step (c), the object to be determined as defective is removed by using a rejector from the conveyor to provide a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that further comprising. .
또한, (d) 단계에서, 피측정물이 리젝터까지 이동하는 시간을 설정하여, 검사시 피측정물이 불량판정을 받은 후, 경과시간이 설정시간에 도달했을 경우에는 리젝터를 작동하여 불량품을 제거하도록 하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법을 제공하고자 한다.Also, in step (d), after setting the time to move the object under test to the rejector, if the elapsed time reaches the set time after the object under test is judged to be defective, operate the rejector to remove the defective product. It is intended to provide a flexible PC X-ray inspection method using a conveyor characterized in that.
본 발명은 투입구와 배출구가 형성된 케이스의 내부에 엑스레이튜브와 디텍터로 구성되고, 상기 엑스레이튜브와 상기 디텍터의 사이에 설치되며 양단부가 투입구와 배출구의 외부로 돌출되도록 설치되는 컨베이어로 구성된 엑스레이검사장치를 이용하여, 다수의 피측정물을 컨베이어를 이용하여 일련적으로 자동으로 공급하고 연속으로 이동시키면서 미리 등록한 패턴과 비교하여 양품과 불량품을 선별하도록 하여 엑스레이검사공정을 효율적으로 높일 수 있는 매우 유용한 효과가 있다.The present invention is composed of an X-ray tube and a detector inside the case in which the inlet and outlet are formed, the X-ray inspection apparatus is configured between the X-ray tube and the detector, the both ends of the conveyor is installed to protrude out of the inlet and outlet By using a conveyor, a large number of objects are automatically supplied and moved continuously, and the good and bad parts can be sorted in comparison with a pre-registered pattern, thereby effectively increasing the X-ray inspection process. have.
도 1은 본 발명에 따른 컨베이어를 이용한 자동물류 엑스레이검사장치의 정면도이다.
도 2는 본 발명의 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법의 기본동작의 알고리즘을 도시한 도이다.
도 3은 본 발명의 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법의 세부동작의 알고리즘을 도시한 도이다.1 is a front view of an automatic logistics X-ray inspection apparatus using a conveyor according to the present invention.
2 is a diagram showing the algorithm of the basic operation of the flexible PC X-ray inspection method using a conveyor of the present invention.
3 is a diagram illustrating an algorithm of a detailed operation of the flexible PC X-ray inspection method using the conveyor of the present invention.
본 발명을 충분히 이해하기 위해서 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 설명한다.For a better understanding of the present invention, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
본 발명의 실시예는 여러가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상세히 설명하는 실시예로 한정되는 것으로 해석되어서는 안된다. 본 실시예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 안전하게 설명하기 위하여 제공되는 것이다.The embodiments of the present invention may be modified in various forms, and the scope of the present invention should not be construed as being limited to the embodiments described in detail below. The present embodiments are provided to explain the present invention more safely to those having ordinary skill in the art.
따라서 도면에서의 요소의 형상 등은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해서 과장되어 표현될 수 있다. 각 도면에서 동일한 부재는 동일한 참조부호로 도시한 경우가 있음을 유의하여야 한다.Therefore, the shapes and the like of the elements in the drawings can be exaggeratedly expressed to emphasize a clearer description. It should be noted that in the drawings, the same members are denoted by the same reference numerals.
도 1은 본 발명에 따른 컨베이어를 이용한 자동물류 엑스레이검사장치의 정면도이다.1 is a front view of an automatic logistics X-ray inspection apparatus using a conveyor according to the present invention.
본 발명의 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법에서 사용되는 엑스레이검사장치(20)는 투입구(21)와 배출구(22)가 형성된 케이스(23)의 내부에 엑스레이튜브(25)와 디텍터(24)로 구성되고, 상기 엑스레이튜브(25)와 상기 디텍터(24)의 사이에 설치되며 양단부가 투입구(21)와 배출구(22)의 외부로 돌출되도록 설치되는 컨베이어(26)로 구성된다.The X-ray inspection apparatus 20 used in the flexible PC X-ray inspection method using the conveyor of the present invention is the X-ray tube 25 and the detector 24 in the case 23 formed with the inlet 21 and the outlet 22. It is composed of a conveyor 26 is installed between the X-ray tube 25 and the detector 24, both ends protrude out of the inlet 21 and outlet 22.
즉, 투입구(21)와 배출구(22)가 형성된 케이스(23)의 내부에 엑스레이튜브(25)와 디텍터(24)로 구성되는 일반적인 엑스레이 검사장치의 구성에서, 연속적으로 피측정물(P1)이 공급되면서 정지하지 않고 엑스레이 검사가 가능하도록 케이스(23)를 관통하여 컨베이어(26)가 구성되는 구성이다.That is, in the configuration of the general X-ray inspection apparatus including the X-ray tube 25 and the detector 24 inside the case 23 in which the inlet 21 and the outlet 22 are formed, the measured object P1 is continuously Conveyor 26 is configured to penetrate the case 23 so that X-ray inspection can be performed without being stopped while being supplied.
또한, 장치의 투입구(21) 및 배출구(22) 부분에 사이드 모니터(27)를 추가로 장착하도록 하여, 투입 또는 배출자가 검사대상을 직접 투입 또는 배출하면서 동시에 영상 및 검사결과를 육안으로 확인이 가능하도록 할 수 있다.In addition, the side monitor 27 is additionally attached to the inlet 21 and the outlet 22 of the apparatus, so that the inlet or outlet can directly check or visualize the image and the test result while simultaneously injecting or ejecting the test object. You can do that.
피측정물(P1)은 패드를 갖는 다양한 제품이 될 수 있으며, 본 발명은 특히 플렉시블 PCB에 부착되어 있는 SUS 및 골드, 카퍼 등의 패드류에 더욱 효과적이다.The object to be measured P1 may be various products having pads, and the present invention is particularly effective for pads such as SUS, gold, and copper attached to a flexible PCB.
이와 같은 구성으로 피측정물의 생산 및/또는 공급으로 부터 양/불량 검사후 다음단계로의 공급까지가 끊기지 않고 연속적으로 진행되기 때문에 타공정과의 연계가 매우 용이하다.With such a configuration, it is very easy to link with other processes because the process from the production and / or supply of the measured object to the supply to the next step after the good / bad inspection is continued without interruption.
그러나 종래에서는 연속으로 이동하는 컨베이어 상에서는 피측정물을 검사할 수 있는 방법이 거의 없었다.However, in the related art, there is almost no method for inspecting an object under test on a continuously moving conveyor.
또한, 상기 엑스레이검사장치(20)는 투입구(21)와 상기 배출구(22)에 차폐커버(21a)가 설치되도록 할 수 있다.In addition, the X-ray inspection apparatus 20 may allow the shield cover 21a to be installed in the inlet 21 and the outlet 22.
차폐커버(21a)는 엑스레이가 외부로 누출되지 않도록 차폐시켜주는 커버이며, 제품의 높이에 맞추어 커버의 높이도 조절할 수 있다.The shielding cover 21a is a cover that shields the X-rays from leaking to the outside, and the height of the cover can be adjusted according to the height of the product.
상기 투입구(21)에서 상기 차폐커버(21a)가 열리고, 상기 투입구(21)로 상기 피측정물(B1)이 상기 검사컨베이어(26)상에 공급되면, 상기 엑스레이튜브(25)에서 상기 피측정물(B1)에 엑스레이를 조사하여 검사하고 난 다음에 상기 배출구(22)의 상기 차폐커버(21a)가 열려 상기 배출구(22)를 통해 검사된 상기 피측정물(B1)이 배출되도록 구성한다. 이와 같이 차폐커버(21a)를 구성하여 엑스레이 검사장치의 엑스레이가 외부로 누출되지 않도록 차폐하는 역할을 한다.When the shielding cover 21a is opened at the inlet 21 and the object B1 is supplied to the inspection conveyor 26 through the inlet 21, the X-ray tube 25 is measured. After irradiating and inspecting the water (B1) X-rays, the shield cover (21a) of the outlet 22 is opened so that the measured object (B1) inspected through the outlet 22 is discharged. As such, the shielding cover 21a serves to shield the X-rays of the X-ray inspection apparatus from leaking to the outside.
도 2는 본 발명의 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법의 기본동작의 알고리즘을 도시한 도이다.2 is a diagram showing the algorithm of the basic operation of the flexible PC X-ray inspection method using a conveyor of the present invention.
본 발명의 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법은 미리 패턴 등록을 원하는 피측정물(P1)을 컨베이어(26)에 올려놓고 엑스레이검사장치(20)를 통과하도록 하여 엑스레이 영상을 획득하여(a), 획득된 피측정물(P1)의 엑스레이 영상 중 등록을 원하는 패드의 패턴을 선택하여 패턴으로 저장하여 등록하고(b), 이후 피측정물(P1)을 엑스레이검사장치(20)에 투입하여 영상을 획득하고 검사하여 검사결과에 따라 양품과 불량품을 선별하도록 한다.In the flexible PC X-ray inspection method using the conveyor of the present invention, the measurement target P1 to be registered in advance is placed on the conveyor 26 to obtain an X-ray image to pass through the X-ray inspection apparatus 20 (a), Select and register the pattern of the pad to be registered among the obtained X-ray image of the measured object P1 as a pattern (b), and then input the measured object P1 to the X-ray inspection apparatus 20 to register the image. Acquire and inspect the products and sort them according to the test results.
(c) 단계 이후에, 불량품으로 판정난 피측정물(P1)은 컨베이어(26)에서 리젝터를 이용하여 제거하는 단계(d)를 추가로 하도록 할 수 있다.After step (c), it is possible to further add step (d) of removing the measured object (P1) determined as defective by using a rejector at the conveyor (26).
검사결과가 정상이면 제품이 그대로 지나가도록 하여 다음공정으로 이어지도록 하고, 불량품으로 판정난 피측정물(P1)은 컨베이어(26)에서 리젝터를 이용하여 제거한다.If the inspection result is normal, the product passes as it is to continue to the next step, and the measured object P1 determined as a defective product is removed from the conveyor 26 using a rejector.
리젝터는 특별한 형상의 제약은 없으나 컨베이어(26)의 측면에서 실린더 등을 이용하여 불량품을 밀어내거나 그립(grip)할 수 있는 제품을 사용하여 불량품을 직접 그립하고 이동하여 제거한다.The rejector is not limited in particular shape, but by using a cylinder or the like on the side of the conveyor 26, which can push or grip the defective product, the defective product is directly gripped, moved and removed.
리젝터는 피측정물(P1)이 리젝터까지 이동하는 시간을 설정하고, 불량으로 판정된 이후로부터 경과한 시간이 설정시간에 도달하였을 경우에는 리젝터를 작동하여 불량품을 제거하도록 할 수 있다.The rejector may set a time for the measured object P1 to move to the rejector, and when the time elapsed since it is determined to be defective reaches the set time, the rejector may be operated to remove the defective product.
타이머는 불량 판정을 받은 피측정물이 리젝터까지 이동하는데 걸리는 시간을 미리 설정하는 시간측정 프로그램이다. 켄베이어(26)는 등속도이기 때문에 리젝터까지 피측정물이 이동하는데 걸리는 시간은 일정하게 정할 수 있고, 정해진 시간으로 타이머를 설정해 놓은 후, 불량으로 판정된 이후로부터 경과한 시간이 설정시간에 도달하였을 경우에는 리젝터를 동작시켜 후속공정으로 불량품이 이송되지 않도록 제거하는 것이다.The timer is a time measurement program that sets in advance the time taken for the object to be judged defective to move to the rejector. Since the conveyor 26 is a constant speed, the time taken for the object to be moved to the rejector can be determined constantly. After setting the timer to the predetermined time, the time elapsed since it is determined to be defective reaches the set time. In this case, the rejector is operated to remove the defective product from being transferred to the subsequent process.
도 3은 본 발명의 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법의 세부동작의 알고리즘을 도시한 도이다.3 is a diagram illustrating an algorithm of a detailed operation of the flexible PC X-ray inspection method using the conveyor of the present invention.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법은 먼저, 패턴 등록을 원하는 피측정물(P1)을 컨베이어(26)에 올려놀고 엑스레이검사장치(20)를 통과하도록 하여 엑스레이 영상을 획득한다(a). As shown in Figure 3, the flexible PC X-ray inspection method using the conveyor of the present invention, by first placing the object to be measured (P1) to register on the conveyor 26 to pass through the X-ray inspection apparatus 20 An x-ray image is obtained (a).
이후 엑스레이검사장치(20)에 설치된 피씨로 전송하여 이미지를 디스플레이하도록 한다.After the transmission to the PC installed in the X-ray inspection apparatus 20 to display an image.
원하는 패턴을 등록하기 위해서는 양품 피측정물(P1)을 촬영하여야 한다. 엑스레이검사장치(20)에서 동작을 시작하게 되면, 피씨 검사화면이 나타나면서 엑스레이튜브(25)가 동작하고 컨베이어(26)가 돌기 시작한다. 그 후 컨베이어(26) 위에 피측정물(P1)을 올려 놓는다. 그러면 피측정물은 컨베이어(26)를 타고 투입한 반대편 방향으로 나오며, 디텍터(24)에 의하여 설정한 제품길이만큼 영상을 촬영한 후, 촬영한 영상을 PC로 전송한다. PC는 검사화면에 피측정물의 엑스레이 영상을 출력한다. 피측정물의 엑스레이 영상을 획득하였으면, 엑스레이검사장치(20)를 정지시킨다.In order to register the desired pattern, the good to be measured P1 should be photographed. When the operation is started in the X-ray inspection apparatus 20, the X-ray tube 25 is operated while the PC inspection screen appears and the conveyor 26 starts to rotate. After that, the measurement object P1 is placed on the conveyor 26. Then, the object to be measured comes out on the opposite side of the conveyor 26 and takes an image of the product length set by the detector 24, and then transfers the captured image to the PC. The PC outputs the X-ray image of the measurement object on the inspection screen. When the X-ray image of the measurement object is acquired, the X-ray inspection apparatus 20 is stopped.
이후, 검사자가 획득된 피측정물(P1)의 엑스레이 영상에서 등록을 원하는 패드의 패턴을 선택하여 패턴으로 저장하여 등록한다(b).Thereafter, the inspector selects a pattern of a pad desired to be registered from the X-ray image of the acquired object P1 and stores the pattern as a pattern to register the pattern.
패턴은 피측정물(P1)에 따라 1개 이상의 패턴이 존재할 수 있기 때문에 패턴 등록시 다중의 패턴을 동시에 등록할 수 있도록 할 수 있다.Since the pattern may have one or more patterns according to the measured object P1, multiple patterns may be registered at the time of pattern registration.
다중의 패턴을 등록한 경우에는 각 패턴마다 Parameter들을 설정한다. 패턴의 Parameter 셋업(Setup)시에는 획득한 엑스레이 영상을 확대하여 등록하고자 하는 패턴을 등록한다. 패턴이 충분히 클 경우에는 확대가 필요하지 않을 수도 있다.When multiple patterns are registered, parameters are set for each pattern. In the case of parameter setup of a pattern, the pattern to be registered is registered by enlarging the acquired X-ray image. If the pattern is large enough, magnification may not be necessary.
원하는 패턴을 등록시켰다면 매칭율 즉, 현재 등록되어있는 패턴과 얼마만큼 비슷한 패턴을 검색할 것인가를 설정할 수 있다.If the desired pattern is registered, it is possible to set the matching rate, that is, how much similar to the currently registered pattern is searched.
예를 들어 설정범위는 1%~100% 이며, 매칭율을 95% 로 설정하면, 패턴과 비교하여, 그 비슷한 정도가 95% 이상인 것만 양품으로 판정한다. For example, the setting range is 1% to 100%, and when the matching rate is set to 95%, only goodness of 95% or more is compared with the pattern, and it is determined as good quality.
또한, 패드 인식 문턱값은, 등록된 패턴으로 검출해낸 패드 중 어느 밝기값 이하의 패드만 검사대상으로 인식할 것인지 설정 할 수 있다. 예를 들어, Parameter값을 200으로 설정하면 등록된 패턴으로 검출해낸 패드 중 밝기값이 200이하인 것만 검사대상 패드로 인식을 하게 된다.In addition, the pad recognition threshold value may set which of the pads detected by the registered pattern is less than or equal to the brightness value as the inspection target. For example, if the parameter value is set to 200, only the pads detected with the registered pattern whose brightness value is 200 or less are recognized as the test target pad.
또한, 다중패드 검출 문턱값은 패드 인식 문턱값으로 찾아낸 검사대상 패드 중 다중으로 겹쳐진 패드를 검출할 수 있다. 패드가 박판의 패드인 경우 여러장이 겹칠 수가 있기 때문에, 밝기값을 미리 정하여 패드가 다중으로 겹쳐져 있는지를 검사하도록 하는 것이다.In addition, the multi-pad detection threshold value may detect multiple overlapping pads among the test target pads found as the pad recognition threshold. If the pad is a thin pad, several sheets may overlap, so the brightness value is determined in advance to check whether the pads are overlapped.
예를 들어 설정값을 150으로 설정하면 패턴의 밝기값이 150이하인 것만 다중 패드로 인식한다.For example, if the setting value is set to 150, only pads having a brightness value of 150 or less are recognized as multiple pads.
또한, 양품 패턴 수량값 파라미터(Parameter)에 찾아야 할 패턴의 수량을 입력하여 설정하도록 할 수 있다.In addition, the quantity of patterns to be found can be inputted and set in the good pattern quantity value parameter.
패턴을 등록하면 패드 인식 문턱값, 다중패드 검출 문턱값, 양품 패턴 수량값 등의 Parameter값들이 자동으로 설정되도록 할 수 있지만, 자동설정 기능이 제역할을 하지 못하는 경우 수동으로 설정값을 입력할 수도 있다. By registering a pattern, parameters such as a pad recognition threshold, a multi-pad detection threshold, and a good pattern quantity can be set automatically.However, if the auto setup function does not play a role, you can manually input the set value. have.
상기와 같이 모든 설정이 마무리 되면, 현재 패턴 및 설정이 제대로 되었는지 또는 원하는 패턴을 모두 찾아내는지 확인하고 현재 Parameter 값들을 저장한다.When all the settings are completed as above, check whether the current pattern and setting are correct or find the desired pattern and save the current parameter values.
피측정물(P1)의 패턴등록 시, 해당 패턴에 대한 Parameter값들이 자동으로 설정이 가능하여 손쉽게 패턴의 Parameter값들을 설정할 수 있도록 사용자 편의성을 강화할 수 있다.At the time of pattern registration of the object to be measured P1, parameter values for the corresponding pattern can be automatically set so that user convenience can be easily set to easily set parameter values of the pattern.
또한, 피측정물(P1)의 패턴등록 시, 카메라 이동 및 조정 또는 엑스레이튜브(25)의 위치변화 등 기구적인 변화없이 영상확대가 가능하여 손쉽게 패턴을 등록할 수 있다.In addition, when the pattern of the object P1 is registered, the image can be enlarged without any mechanical change such as camera movement and adjustment or position change of the X-ray tube 25, thereby easily registering the pattern.
(c) 상기 컨베이어(26) 상에 피측정물(P1)을 공급하고 등록된 패드의 패턴과 비교하여 양품과 불량품을 판정하는 단계;를 포함하여 이루어진다.(c) supplying the object to be measured (P1) on the conveyor 26 and comparing the pattern of the registered pad to determine the good or bad.
(b) 단계에서 패턴 등록이 모두 끝나고 나면, 피측정물(P1)을 투입시키게 되고, 피측정물(P1)은 컨베이어(26)를 타고 이동하게 된다. 디텍터(24)는 설정한 제품길이만큼 영상을 촬영하고, PC에게 영상을 전송한다. PC는 영상을 전송받으면 화면에 영상을 출력하며, 동시에 설정된 패턴과 비교하여 영상을 분석한다.After completing the pattern registration in step (b), the object to be measured P1 is introduced, and the object to be measured P1 is moved on the conveyor 26. The detector 24 captures an image by the set product length and transmits the image to the PC. When the PC receives the image, it outputs the image on the screen and analyzes the image by comparing it with the set pattern at the same time.
피측정물(P1)이 비 규칙적인 자세로 투입되어도 별도로 영상을 촬영하기 전 검사대상을 정해진 위치에 이동시키는 켈리브레이션이 필요 없이 검사가 가능하여 사용자 편의성을 강화할 수 있다.Even if the measured object P1 is put in an irregular posture, the test can be performed without requiring a calibration for moving the test target to a predetermined position before taking an image separately, thereby enhancing user convenience.
엑스레이 검사장비에서 획득한 영상은 벨트위에서 제품이 놓여있는 위치, 놓여있는 방향 및 각도에 따른 엑스레이의 조사각 등의 변화로 같은 제품을 반복적으로 촬영하여도 콘트라스트(검사대상을 배경과 구별할 수 있게 만들어 주는 시각적인 특성의 차이를 말한다.)나 그레이밸류의 편차 등이 달라진다.The images obtained from the X-ray inspection equipment can be contrasted even if the same product is repeatedly photographed due to the change in the position of the product placed on the belt, the direction of the X-ray irradiation depending on the direction and angle. It's the difference in the visual characteristics that it makes), and the difference in gray values.
기존의 검사방식은 그레이밸류값을 비교하여 검사하는 방식으로, 고정된 파라메터값을 사용한다. 고정된 파라메터 값을 사용할 경우 위와 같이 획득한 영상의 상태가 상이한 경우, 간혹 검사가 곤란한 경우가 발생하기도 한다.Conventional inspection method compares gray value and inspects by using fixed parameter value. In the case of using a fixed parameter value, when the state of the acquired image is different as described above, sometimes the inspection is difficult.
이러한 문제점을 해결하기 위해서는 제품이 일정한 각도와 방향으로 장비에 투입되도록, 기구적인 장치나 사용자의 노력이 필요하다.In order to solve this problem, a mechanical device or a user's effort is required to inject the product into the equipment at a certain angle and direction.
그러나 본 발명에서는 패턴매칭 방식으로 그레이밸류 값이 아닌 기존에 등록된 패턴의 형태를 비교하여 찾아내는 방식이므로, 그레이밸류 값이 변하여도 그 패턴을 찾아내기 때문에 별도의 장치나 사용자의 수고를 필요로 하지 않는다. However, in the present invention, since the pattern matching method is used to find and compare the pattern of the registered pattern instead of the gray value value, the pattern is found even if the gray value value is changed. Do not.
또한, 컨베이어(26) 및 영상촬영 속도의 가변이 가능하여 타 장비와의 연계가 용이하다.In addition, it is possible to change the conveyor 26 and the imaging speed is easy to link with other equipment.
우선, 등록된 패턴과 설정한 매칭율에 부합하는 패턴이 있으면 다음 설정항목을 분석하고, 없으면 불량으로 판정한다.First, if there is a pattern that matches the registered pattern and the set matching rate, the next setting item is analyzed.
검출한 패턴 중 패드 인식 문턱값 보다 작은 밝기값을 가지는 패턴이 있다면 다음 설정항목을 분석하고, 없으면 불량으로 판정한다.If there is a pattern having a brightness value smaller than the pad recognition threshold value among the detected patterns, the next setting item is analyzed.
검출한 패턴 중 다중패드 검출 문턱값 보다 큰 밝기값을 가지는 패턴이 있다면 다음 설정항목을 분석하고, 없으면 불량으로 판정한다.If there is a pattern having a brightness value larger than the multiple pad detection threshold value among the detected patterns, the next setting item is analyzed.
위의 조건을 모두 만족시키는 패턴의 수량이 설정한 양품패드 수량과 같은지 여부를 확인하고 같으면 양품, 같지 않으면 불량으로 판정한다.It is checked whether or not the quantity of the pattern satisfying all the above conditions is equal to the quantity of the pads to be set.
위의 영상분석이 끝나면 그 결과(OK/NG 여부, 다중패턴 유무, 패턴개수 등)를 화면에 Display 하고, 만약 NG면 리젝터가 동작하여 해당 피측정물(P1)을 라인에서 퇴출시킨다.After the above image analysis, the result (OK / NG, multi-pattern, number of patterns, etc.) is displayed on the screen, and if NG, the rejector operates to eject the measured object P1 from the line.
이상에서 설명된 본 발명에 따른 실시예는 예시적인 것에 불과하며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 잘 알 수 있을 것이다. 그러므로 본 발명은 상기의 상세한 설명에서 언급되는 형태로만 한정되는 것은 아님을 잘 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and equivalent arrangements may be made therein without departing from the scope of the present invention. . Therefore, it is to be understood that the present invention is not limited to the above-described embodiments.
따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다. 또한, 본 발명은 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 고안의 정신과 그 범위내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims. It is also to be understood that the present invention includes all modifications, equivalents and substitutes within the spirit and scope of the present invention as defined by the appended claims.
P1 : 피측정물 20 : 엑스레이검사장치
21 : 투입구 21a : 차폐커버
22 : 배출구 23 : 케이스
24 : 디턱터 25 : 엑스레이튜브
26 : 컨베이어 27 : 사이드 모니터(side monitor)P1: Object 20: X-ray inspection device
21: inlet 21a: shield cover
22: outlet 23: case
24: Deductor 25: X-ray tube
26 Conveyor 27 Side monitor
Claims (14)
(a) 패턴 등록을 원하는 피측정물(P1)을 컨베이어(26)에 올려놓고 엑스레이검사장치(20)를 통과하도록 하여 엑스레이 영상을 획득하는 단계;
(b) 획득된 피측정물(P1)의 엑스레이 영상 중 등록을 원하는 패드의 패턴을 선택하여 패턴으로 등록하여 파라미터들을 설정하는 단계;
(c) 상기 컨베이어(26) 상에 피측정물(P1)을 공급하고 등록된 패드의 패턴과 비교하여 양품과 불량품을 판정하는 단계;를 포함하여 이루어지고,
상기 엑스레이검사장치(20)는 투입구(21)와 상기 배출구(22)에 차폐커버(21a)가 설치되고,
상기 (b) 단계에서, 패턴 등록시 등록된 패드의 패턴과 피측정물의 패드의 패턴이 비슷한 정도인 매칭율의 값을 설정하여 설정한 값 이상의 패턴을 인식하도록 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법에 있어서,
상기 (b) 단계에서, 패턴 등록시 특정 밝기값을 정하고 그 이하로 피측정물(P1)의 패턴을 인식하도록 패드 인식 문턱값을 설정하도록 하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법.An X-ray tube 25 and a detector 24 are formed in the case 23 having the inlet 21 and the outlet 22 formed therebetween, and are installed between the X-ray tube 25 and the detector 24, and both ends thereof. In the x-ray inspection method using the x-ray inspection apparatus 20 composed of a conveyor 26 is installed so as to protrude to the outside of the inlet 21 and the outlet 22,
(a) acquiring an X-ray image by placing the object P1 to be registered for pattern registration on the conveyor 26 and passing through the X-ray inspection apparatus 20;
(b) selecting a pattern of a pad to be registered from among the obtained X-ray images of the measured object P1 and registering the pattern as a pattern to set parameters;
(c) supplying the object to be measured (P1) on the conveyor (26) and comparing the pattern of registered pads with each other to determine good and defective goods, and
The X-ray inspection apparatus 20 is provided with a shield cover 21a in the inlet 21 and the outlet 22,
In the step (b), in the flexible PCB X-ray inspection method using a conveyor to recognize the pattern of the set value or more by setting the value of the matching rate is similar to the pattern of the registered pad and the pattern of the object to be measured during pattern registration In
In the step (b), when the pattern is registered, a specific PCB value, the flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that to set the pad recognition threshold value to recognize the pattern of the object (P1) below.
상기 (b) 단계에서, 피측정물(P1)의 패턴으로 인식된 패드 중 다중으로 겹쳐진 패드를 검출할 수 있도록 다중패드 검출 문턱값을 설정하도록 하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법.The method of claim 1,
In the step (b), the flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that for setting a multi-pad detection threshold value to detect multiple overlapping pads among the pads recognized as the pattern of the object to be measured (P1). .
상기 (b) 단계에서, 패턴 등록시 특정 수량의 패턴일 경우에만 양품으로 판정을 하도록 양품 패턴 수량값을 설정하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법.The method of claim 1,
In the step (b), the flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that for setting the pattern of the good quality pattern to determine the good quality only when the pattern of the pattern registration.
(c) 단계 이후에, 불량품으로 판정난 피측정물(P1)은 컨베이어(26)에서 리젝터를 이용하여 제거하는 단계(d)를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법.The method of claim 1,
After the step (c), the measuring object P1 determined as defective is further removed by using a rejector in the conveyor 26 (d) Flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that .
(d) 단계에서, 피측정물(P1)이 리젝터까지 이동하는 시간을 설정하여, 검사시 피측정물(P1)이 불량판정을 받은 후, 경과시간이 설정시간에 도달했을 경우에는 리젝터를 작동하여 불량품을 제거하도록 하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법.The method of claim 8,
In step (d), set the time to move the measured object P1 to the rejector, and operate the rejector when the elapsed time reaches the set time after the measured object P1 is judged to be defective during inspection. Flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that for removing the defective product.
피측정물(P1)이 비 규칙적인 자세로 투입되어도 별도의 켈리브레이션 기능이 필요 없이 검사가 가능하도록 하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법.The method of claim 1,
The flexible PC X-ray inspection method using a conveyor, characterized in that the inspection is possible even if the measured object (P1) is put in a non-regular posture without the need for a separate calibration function.
피측정물(P1)의 패턴등록 시, 카메라 이동 및 조정 또는 엑스레이 튜브의 위치변화등 기구적인 변화없이 영상확대가 가능하여 손쉽게 패턴을 등록할 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 컨베이어를 이용한 플렉시블 피씨비 엑스레이검사 방법.The method of claim 1,
Flexible PCB X-ray inspection using a conveyor, characterized in that the image can be enlarged without mechanical changes such as camera movement and adjustment or position change of the X-ray tube when registering the pattern of the object P1. Way.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020120117854A KR101362367B1 (en) | 2012-10-23 | 2012-10-23 | Conveyor using flexible pissibi x-ray inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020120117854A KR101362367B1 (en) | 2012-10-23 | 2012-10-23 | Conveyor using flexible pissibi x-ray inspection method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR101362367B1 true KR101362367B1 (en) | 2014-02-13 |
Family
ID=50270805
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020120117854A KR101362367B1 (en) | 2012-10-23 | 2012-10-23 | Conveyor using flexible pissibi x-ray inspection method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101362367B1 (en) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104394663A (en) * | 2014-12-11 | 2015-03-04 | 重庆矢崎仪表有限公司 | FPC (flexible printed circuit) extension socket press-in assembly with visual inspection function |
| KR20160105753A (en) | 2016-08-30 | 2016-09-07 | (주)자비스 | X-Ray Apparatus for Detecting a Flaw of Small Sized Article Continuously |
| KR20170001182A (en) | 2015-06-26 | 2017-01-04 | (주)자비스 | An X-ray Investigating Apparatus Having Buffer Area and a Method by the Same |
| KR20170015410A (en) | 2017-01-25 | 2017-02-08 | (주)자비스 | An X-ray Investigating Apparatus Having Buffer Area and a Method by the Same |
| KR20190009130A (en) * | 2017-07-18 | 2019-01-28 | (주)자비스 | An Apparatus for Investigating a Tube Shape Type of a Article and the Method for Investigating the Article by the Same |
| KR20190049019A (en) * | 2017-11-01 | 2019-05-09 | (주)자비스 | An X-Ray Apparatus Having a Structure of Guiding a Transfer |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20060085913A (en) * | 2004-06-24 | 2006-07-28 | 가부시끼가이샤 이시다 | X-ray inspection apparatus, and method for creating an image processing procedure of the x-ray inspection apparatus |
| KR20090123913A (en) * | 2007-03-12 | 2009-12-02 | 가부시끼가이샤 이시다 | X-ray inspection device and production system |
| KR20120066414A (en) * | 2010-12-14 | 2012-06-22 | (주)자비스 | X-ray inspection apparatus with shielding means and for cnanging x-ray radiation position |
| JP2012137387A (en) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X-ray inspection device |
-
2012
- 2012-10-23 KR KR1020120117854A patent/KR101362367B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20060085913A (en) * | 2004-06-24 | 2006-07-28 | 가부시끼가이샤 이시다 | X-ray inspection apparatus, and method for creating an image processing procedure of the x-ray inspection apparatus |
| KR20090123913A (en) * | 2007-03-12 | 2009-12-02 | 가부시끼가이샤 이시다 | X-ray inspection device and production system |
| KR20120066414A (en) * | 2010-12-14 | 2012-06-22 | (주)자비스 | X-ray inspection apparatus with shielding means and for cnanging x-ray radiation position |
| JP2012137387A (en) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Anritsu Sanki System Co Ltd | X-ray inspection device |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104394663A (en) * | 2014-12-11 | 2015-03-04 | 重庆矢崎仪表有限公司 | FPC (flexible printed circuit) extension socket press-in assembly with visual inspection function |
| KR20170001182A (en) | 2015-06-26 | 2017-01-04 | (주)자비스 | An X-ray Investigating Apparatus Having Buffer Area and a Method by the Same |
| KR20160105753A (en) | 2016-08-30 | 2016-09-07 | (주)자비스 | X-Ray Apparatus for Detecting a Flaw of Small Sized Article Continuously |
| KR20170015410A (en) | 2017-01-25 | 2017-02-08 | (주)자비스 | An X-ray Investigating Apparatus Having Buffer Area and a Method by the Same |
| KR20190009130A (en) * | 2017-07-18 | 2019-01-28 | (주)자비스 | An Apparatus for Investigating a Tube Shape Type of a Article and the Method for Investigating the Article by the Same |
| KR101962710B1 (en) | 2017-07-18 | 2019-07-31 | (주)자비스 | An Apparatus for Investigating a Tube Shape Type of a Article and the Method for Investigating the Article by the Same |
| KR20190049019A (en) * | 2017-11-01 | 2019-05-09 | (주)자비스 | An X-Ray Apparatus Having a Structure of Guiding a Transfer |
| KR102000943B1 (en) | 2017-11-01 | 2019-07-17 | (주)자비스 | An X-Ray Apparatus Having a Structure of Guiding a Transfer |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101362367B1 (en) | Conveyor using flexible pissibi x-ray inspection method | |
| US10890537B2 (en) | Appearance inspection device, lighting device, and imaging lighting device | |
| JP6425755B2 (en) | Foreign substance inspection method of substrate | |
| KR0180082B1 (en) | Inspection system and process | |
| JP4618502B2 (en) | Fluorescence flaw detector and fluorescent flaw detection method | |
| US9013688B2 (en) | Method for optical inspection, detection and analysis of double sided wafer macro defects | |
| JP2019211288A (en) | Food testing system and program | |
| EP3311144A1 (en) | Colour measurement of gemstones | |
| CN106706656A (en) | Machine vision-based zipper detection device and method | |
| TW201331549A (en) | Uneven thickness detecting device, coating apparatus with the uneven thickness detecting device and uneven thickness detecting method for detecting coating film formed on substrate | |
| CN112789499A (en) | Teacher data generation device and teacher data generation program | |
| JP4618501B2 (en) | Fluorescence flaw detector and fluorescent flaw detection method | |
| US20080240541A1 (en) | Automatic optical inspection system and method | |
| CN207081666U (en) | A kind of zipper detecting device based on machine vision | |
| KR101321378B1 (en) | Mobile devices x-ray inspection method | |
| CN114324382A (en) | Panel terminal cleanliness detection method and panel terminal cleanliness detection device | |
| CN114226262A (en) | Flaw detection method, flaw classification method and flaw detection system | |
| JP6360782B2 (en) | Inspection method of screws | |
| JP6699694B2 (en) | Inspection system, inspection method | |
| JP6792283B2 (en) | Visual inspection equipment | |
| TW201928307A (en) | Inspecting system and method for light emitting source | |
| JP7362324B2 (en) | Inspection method, manufacturing method and inspection device for image display device | |
| TWI493177B (en) | Method of detecting defect on optical film with periodic structure and device thereof | |
| JP3661466B2 (en) | Coating unevenness inspection apparatus and method | |
| TWI420097B (en) | Method for detecting surface defect of object and device thereof |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170202 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180105 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181220 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20200220 Year of fee payment: 7 |