JPWO2017158808A1 - 光計測装置、光スペクトルフィルタ及び光スペクトルフィルタの製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
尚、neff は有効屈折率、mはグレーティングの次数である。反射帯の反射率については、例えば加工領域の全長によって設定することが可能である。図12は加工点数と反射率の関係を計算したものである。計算は転送行列による多層膜のスペクトル計算を基本としており、材料の屈折率を導波路の有効屈折率で置き換えることで導波路内の周期構造のスペクトル計算を行う。したがって、計算においては放射モードは無視されている。尚、図12はコア径1.8 μm、NA 0.2、屈折率変化量 0.2 %、周期1.65 μmの場合である。およそ100点から2000点の間で反射率が0から1へ変化しており、加工点数をこの範囲に設定することで任意の反射率を設定することが可能である。反射帯のスペクトル幅については、例えば加工領域の周期を徐徐に変化させることで設計することができる。図13に図12と同一条件で加工開始時と終了時の周期を線形に変化させた場合のスペクトル幅をプロットしたグラフを示す。このように加工領域の周期を変調することで、反射帯のスペクトル幅を変化させることができる。この場合、単位長さあたりの変調率が反射率を決定する。尚、スペクトルフィルタの設計方法についてはここに述べた方法に限定されるものではない。例えば反射率については周期構造の屈折率変化量によって調整されても良い。またスペクトルフィルタの構造についても図11の様な各ピークに対応する周期構造の組み合わせに限定されるものではなく、設定すべきスペクトル形状に対して数値的な最適化手法によって設計されても良い。数値的な手法によって設計する場合、スペクトルフィルタは一般に単一の周期を持つ周期構造のような単純な形にはならない。
102 ラマン散乱光
103 ポンプ光
104 ストークス光
105 プローブ光
106 反ストークス光
201 短パルスレーザ光源
202 パルス光源から射出された光
203 ビームスプリッタ
204 ミラー
205 フォトニッククリスタルファイバ
206 ダイクロイックミラー
207 対物レンズ
208 サンプル
209 対物レンズ
210 フィルタ
211 分光器
401 光ファイバ
402 サーキュレータ
403 光スペクトルフィルタ
601 パルスレーザ光源
602 短パルスレーザ光
603 ビームスプリッタ
604 ミラー
605 対物レンズ
606 フォトニッククリスタルファイバ
607 光ファイバ
608 光サーキュレータ
609 コネクタ
610 光スペクトルフィルタ
611 対物レンズ
612 反射ミラー
613 対物レンズ
614 光ファイバ
615 対物レンズ
616 ダイクロイックミラー
617 対物レンズ
618 サンプル
619 対物レンズ
620 ショートパスフィルタ
621 分光器
701 光スイッチ
702、703、704 光ファイバ
705、706、707 サーキュレータ
708、709、710 光スペクトルフィルタ
711 合波装置
801 ダイクロイックミラー
802 ディテクタ
1601 スペクトルフィルタ
1602 シングルモードファイバ
1603 アイソレータ
Claims (14)
- 短パルスレーザ光源と、
前記短パルスレーザ光源から射出されるレーザ光を第一のレーザ光と第二のレーザ光に分岐する分岐部と、
前記第二のレーザ光を広帯域光に変換する波長変換素子と、
発生した前記広帯域光の所定の波長領域のスペクトルを選択的に抽出する所定の周期構造を有する導波路型光フィルタと、
前記第一のレーザ光と前記導波路型フィルタを通過した第二のレーザ光を合波する合波部と、
前記合波部で合波された光を計測対象に集光する集光光学系と、
前記計測対象で発生した反ストークス光を検出する検出器と、
を有することを特徴とする光計測装置。 - 前記導波路型光フィルタが光ファイバ中に形成された屈折率変化領域として実現されていることを特徴とする請求項1記載の光計測装置。
- 前記所定の周期構造は、複数種類の周期的な構造を有することを特徴とする請求項1記載の光計測装置。
- 前記導波路型フィルタを通過した第二のレーザ光は、前記導波路型フィルタからの戻り光であることを特徴とする請求項1記載の光計測装置。
- 前記導波路型フィルタを通過した第二のレーザ光は、前記導波路型フィルタからの透過光であることを特徴とする請求項1記載の光計測装置。
- 前記導波路型光フィルタは、それぞれの検出波長に対応して複数個並列に備え付けられており、前記複数個の導波路型光フィルタを選択する光スイッチを、さらに有することを特徴とする請求項1記載の光計測装置。
- 前記導波路型光フィルタは、それぞれの検出波長に対応して複数個直列に繋げられていることを特徴とする請求項1記載の光計測装置。
- 複数の計測対象を含む測定対象物をCARS光により計測する為に用いられる光を伝搬する光導波路に設けられる光スペクトルフィルタであって、
前記光スペクトルフィルタは、前記複数の計測対象それぞれに対応した、長手方向に対して屈折率が変化する複数種類の周期構造を有することを特徴とする光スペクトルフィルタ。 - 前記複数種類の周期構造は、周期、屈折率変化量の少なくとも何れかが互いに異なることを特徴とする請求項8記載の光スペクトルフィルタ。
- 前記複数種類の周期構造のうち少なくとも1つは、パターンの周期が徐々に変化することを特徴とする請求項8記載の光スペクトルフィルタ。
- 前記光スペクトルフィルタは、前記複数の計測対象それぞれの検出波長に対応して複数個設けられることを特徴とする請求項8記載の光スペクトルフィルタ。
- CARS光の計測スペクトルに基づいて、スペクトルフィルタを設計するステップと、
前記設計に基づいて、光導波路のパターンを加工する加工条件を決定するステップと、
前記加工条件に基づいて、短パルスレーザ光を光導波路に照射し、屈折率変化部を形成するステップと
を有することを特徴とする光スペクトルフィルタの製造方法。 - 前記スペクトルフィルタは複数種類あり、前記複数書類のスペクトルフィルタそれぞれに対応する前記屈折率変化部を形成することを特徴とする請求項12記載の光スペクトルフィルタの製造方法。
- 前記加工条件は、前記照射光と前記導波路の相対速度、前記照射光の強度、照射時間の少なくとも何れかであることを特徴とする請求項12記載の光スペクトルフィルタの製造方法。
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