JPS5848340A - 陰極線管 - Google Patents
陰極線管Info
- Publication number
- JPS5848340A JPS5848340A JP14619381A JP14619381A JPS5848340A JP S5848340 A JPS5848340 A JP S5848340A JP 14619381 A JP14619381 A JP 14619381A JP 14619381 A JP14619381 A JP 14619381A JP S5848340 A JPS5848340 A JP S5848340A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grid
- ray tube
- cathode
- stem
- inductance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J29/00—Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
- H01J29/96—One or more circuit elements structurally associated with the tube
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は陰極線管１係り、特１：カラーブラウン管の耐
電圧特性の改良に関するものである。
電圧特性の改良に関するものである。
陰極線管の一例としてカラーブラウン管は通常の動作で
は陽極に印加される電圧は６〜３０ＫＶと高いものが要
求される。このため、カラーブラウン管特にネック内に
装着された電子銃を構成する各′Ｗ１Ｗ２Ｏ５ち、主電
子レンズを構成する電極間１；高い耐電圧特性が必要と
なる。
は陽極に印加される電圧は６〜３０ＫＶと高いものが要
求される。このため、カラーブラウン管特にネック内に
装着された電子銃を構成する各′Ｗ１Ｗ２Ｏ５ち、主電
子レンズを構成する電極間１；高い耐電圧特性が必要と
なる。
この耐電圧特性を満足させるため１二はカラーブラウン
管の製造工程中（二耐電圧処理や高圧エージングと呼ば
れる耐電圧処理工程が設けられている。
管の製造工程中（二耐電圧処理や高圧エージングと呼ば
れる耐電圧処理工程が設けられている。
そしてこの耐電圧処理工程ではカラーブラウン管の通常
の動作電圧の２．５〜３倍程度の高電圧パルスまたは直
流電圧などを印加し、強制的ζ二管内放電を生じさせる
ことによ）、動作中に発生する管内放電や陰極以外から
放出されるストレイエミツショｙによる画面の異常発光
の原因、即ち電極表面の微細な凹凸、管内浮動微粒子の
付着環の原因であるフィールドエミッション源を破壊さ
せてカラーブラウン管の耐電圧特性を向上させるよう覗
＝シている。
の動作電圧の２．５〜３倍程度の高電圧パルスまたは直
流電圧などを印加し、強制的ζ二管内放電を生じさせる
ことによ）、動作中に発生する管内放電や陰極以外から
放出されるストレイエミツショｙによる画面の異常発光
の原因、即ち電極表面の微細な凹凸、管内浮動微粒子の
付着環の原因であるフィールドエミッション源を破壊さ
せてカラーブラウン管の耐電圧特性を向上させるよう覗
＝シている。
次に第１図乃至第５図４二よりノくイポテンシャル形電
子銃を装着したカラーブラウン管の耐電圧処理方法を藺
単に説明する。
子銃を装着したカラーブラウン管の耐電圧処理方法を藺
単に説明する。
先ず第１図のものは内面に螢光体層（１）が横着形成さ
れたパネル（２）と、この／（ネル（２）（ニアアンネ
ル（３）を介して連接されたネック（４）と、このネッ
ク（４）の端部６二溶着される多数のステムピンが植設
されたステム（５）と、このステム（５）上（二組立て
られてネック（４）内に装着された陰極（６）、制御グ
リッド群としての第１グリツド（７）、第２グリツド（
８）、主電子レンズを構成する集束グリッド群としての
第３グリツド（９）、第４グリツド（１鳴からなる電子
銃の陰極（６）第１グリツド（７）、第２グリツド（８
）、ｇ！Ｉ３グリッド（９）はステムピンを介して接地
され高電圧電源Ｉから内部導電膜０４を介してｉＪ４グ
リッド（１Ｇに高電圧が印加され、王として第４グリツ
ド（１Ｇと第３グリツド（（至）間に放電を発生させ両
グリッドの対設面の微細な凹凸や不所望な粒子などを破
壊させるようになっている。
れたパネル（２）と、この／（ネル（２）（ニアアンネ
ル（３）を介して連接されたネック（４）と、このネッ
ク（４）の端部６二溶着される多数のステムピンが植設
されたステム（５）と、このステム（５）上（二組立て
られてネック（４）内に装着された陰極（６）、制御グ
リッド群としての第１グリツド（７）、第２グリツド（
８）、主電子レンズを構成する集束グリッド群としての
第３グリツド（９）、第４グリツド（１鳴からなる電子
銃の陰極（６）第１グリツド（７）、第２グリツド（８
）、ｇ！Ｉ３グリッド（９）はステムピンを介して接地
され高電圧電源Ｉから内部導電膜０４を介してｉＪ４グ
リッド（１Ｇに高電圧が印加され、王として第４グリツ
ド（１Ｇと第３グリツド（（至）間に放電を発生させ両
グリッドの対設面の微細な凹凸や不所望な粒子などを破
壊させるようになっている。
次の第２図は第４グリツド顛を電源に接続することなく
陰極（６）、ｉＪ１グリッド（７）、第２グリツド（８
）はステムピンを介して接地され、第３グリツド（９）
ロステムピンを介して通常の動作電圧の２５〜３倍程度
の高電圧パルスまたは直流電圧などを印加し、主として
第３グリツド（９）と第２グリツド（８）の対設面の凹
凸や不所望な粒子などを破壊させるよう幅ニなっている
。
陰極（６）、ｉＪ１グリッド（７）、第２グリツド（８
）はステムピンを介して接地され、第３グリツド（９）
ロステムピンを介して通常の動作電圧の２５〜３倍程度
の高電圧パルスまたは直流電圧などを印加し、主として
第３グリツド（９）と第２グリツド（８）の対設面の凹
凸や不所望な粒子などを破壊させるよう幅ニなっている
。
次の１ｓ３図、第４図、第５図のものは第４グリツドａ
・に高電圧４源Ｉから高電圧パルスまたは直流電圧など
を印加し、ＩＪ４グリッドＱｌと第３グリツド（９）の
対設面に放電を発生させ、両グリッドの対設面の微細な
凹凸や不所望な粒子などを破壊させるよう（ニなってい
るのは第１図のものとほぼ同様であるが、第３図に於て
は′！ｓ３グリッド（９）と接地間（＝抵抗Ｉと並列シ
ー破線で示す電極間の静電容量及びリード線の浮遊容量
からなる容量ａ篩を設け、第４図４二於ては第３グリツ
ド（９）と接地間ζニインダクタンス（１ｔ９と並列に
破線で示す容量ａ９を設け、また、第５図に於ては第３
グリツド（９）と接地間（ニスパークギャップｑηと並
列シー破線で示す容量ｔｔＳを設けることにより、第４
グリッドＭと第３グリツド（９）間の放磁時４二発生す
る大電流による電圧降下を利用して第３グリツド（９）
に高電圧を誘起させ、王として第３グリツド（９）と第
２グリツド（８）間−二数シを起させ対設面の凹凸など
を破壊するようになっている。
・に高電圧４源Ｉから高電圧パルスまたは直流電圧など
を印加し、ＩＪ４グリッドＱｌと第３グリツド（９）の
対設面に放電を発生させ、両グリッドの対設面の微細な
凹凸や不所望な粒子などを破壊させるよう（ニなってい
るのは第１図のものとほぼ同様であるが、第３図に於て
は′！ｓ３グリッド（９）と接地間（＝抵抗Ｉと並列シ
ー破線で示す電極間の静電容量及びリード線の浮遊容量
からなる容量ａ篩を設け、第４図４二於ては第３グリツ
ド（９）と接地間ζニインダクタンス（１ｔ９と並列に
破線で示す容量ａ９を設け、また、第５図に於ては第３
グリツド（９）と接地間（ニスパークギャップｑηと並
列シー破線で示す容量ｔｔＳを設けることにより、第４
グリッドＭと第３グリツド（９）間の放磁時４二発生す
る大電流による電圧降下を利用して第３グリツド（９）
に高電圧を誘起させ、王として第３グリツド（９）と第
２グリツド（８）間−二数シを起させ対設面の凹凸など
を破壊するようになっている。
この様な耐電圧試験（二おいては通常処理時の印加電圧
と処理後の耐圧レベルとの間（＝はほぼ比例関係が成立
しているため、可能な限り高い電圧を印加することが望
ましいわけであるが、Ｗ！１２図乃至！Ｊ５図の方法に
おいては、カラーブラウン管のステム（５）やこのステ
ム（５）にかぶせるベースやステムピンを挿入するソケ
ットなどの耐圧特性により印加可能が′砿圧値が制限さ
れるし、またベースやソケットの永久的な絶縁破壊が発
生する欠点があった。
と処理後の耐圧レベルとの間（＝はほぼ比例関係が成立
しているため、可能な限り高い電圧を印加することが望
ましいわけであるが、Ｗ！１２図乃至！Ｊ５図の方法に
おいては、カラーブラウン管のステム（５）やこのステ
ム（５）にかぶせるベースやステムピンを挿入するソケ
ットなどの耐圧特性により印加可能が′砿圧値が制限さ
れるし、またベースやソケットの永久的な絶縁破壊が発
生する欠点があった。
本発明は前述した従来の諸欠点に鑑みなされたものであ
り、耐電圧処理も充分に行なわれ、ベースやソケットの
永久的絶縁破壊も発生することがない陰ｉｉａ管を提供
することを目的としている。
り、耐電圧処理も充分に行なわれ、ベースやソケットの
永久的絶縁破壊も発生することがない陰ｉｉａ管を提供
することを目的としている。
次（＝本発明の陰極線管の一実施例を第６図及び＄７図
＆−より説明する。
＆−より説明する。
即ち陰極線管としてのカラーブラウン管は紙面に垂直方
向＆−長手方向を有するそれぞれ帯状の赤。
向＆−長手方向を有するそれぞれ帯状の赤。
緑、實各色に発光する螢光体層Ｑυが被着形成されたパ
ネル（２）と、このパネル（ハ）（ニアアンネル（ハ）
を介して連接されたネック（財）と、このネック＠の端
部覗二湊着される多数のステムピン（２５ｔ）が植設さ
れたステム（２）と、このステム（ハ）上屯二組立てら
れてネック（財）内（二装着された陰極（ホ）制御グリ
ッド群としての１８１グリツド■、第２グリツド（ハ）
、主電子レンズを構成する集束グリッド群としての第３
グリツド（２）、１１４グリツド（至）及びこの第４グ
リツド（至）（二固定されたコンバーゼンス電極（３０
ｔ）からなる電子銃と、螢光体層＠ａ （＝所定間隔を
もって配設されたＶヤドウ！スク（２ｂ）からなり電子
銃から射出された３本の電子ビームをシャドウマスク（
２１１）の一つの電子ビーム通過孔部な介して螢光体層
１２０の赤。
ネル（２）と、このパネル（ハ）（ニアアンネル（ハ）
を介して連接されたネック（財）と、このネック＠の端
部覗二湊着される多数のステムピン（２５ｔ）が植設さ
れたステム（２）と、このステム（ハ）上屯二組立てら
れてネック（財）内（二装着された陰極（ホ）制御グリ
ッド群としての１８１グリツド■、第２グリツド（ハ）
、主電子レンズを構成する集束グリッド群としての第３
グリツド（２）、１１４グリツド（至）及びこの第４グ
リツド（至）（二固定されたコンバーゼンス電極（３０
ｔ）からなる電子銃と、螢光体層＠ａ （＝所定間隔を
もって配設されたＶヤドウ！スク（２ｂ）からなり電子
銃から射出された３本の電子ビームをシャドウマスク（
２１１）の一つの電子ビーム通過孔部な介して螢光体層
１２０の赤。
緑、青３色域二発光する螢光体層に射突するようシーな
っているのは従来のカラーブラウン管とほぼ同様である
が、本実施例においては第３グリツド四とステムピン（
２５１）の間に０．１μＨ〜数ｓＨのインダクタンス（
至）を設けたことを特徴としている。このインダクタン
ス（至）はコイルを別に巻いて入れてもよいし、内部リ
ード線をコイルに巻いてもよい。
っているのは従来のカラーブラウン管とほぼ同様である
が、本実施例においては第３グリツド四とステムピン（
２５１）の間に０．１μＨ〜数ｓＨのインダクタンス（
至）を設けたことを特徴としている。このインダクタン
ス（至）はコイルを別に巻いて入れてもよいし、内部リ
ード線をコイルに巻いてもよい。
本実施例のような構造による利点は、カラーブラウン管
をテレビジョン装置に装着し実動中なんらかの原因で管
内放電が発生した場合に第３グリツド翰からステムピン
（２５＊）を介して装置に流れる電流の波高値を下げる
効果があり、外部回路特にトランジスタＩＣなどを保護
することが可能な点と、耐電圧試験を効果的蚤二行なう
ことが可能な点である。
をテレビジョン装置に装着し実動中なんらかの原因で管
内放電が発生した場合に第３グリツド翰からステムピン
（２５＊）を介して装置に流れる電流の波高値を下げる
効果があり、外部回路特にトランジスタＩＣなどを保護
することが可能な点と、耐電圧試験を効果的蚤二行なう
ことが可能な点である。
次に第８図乃至第１０図（二よシこれらの効果を説明す
る。図中第６図及びｇＪ７図と同一符号は同一部分を示
し、特に説明を行なわない。
る。図中第６図及びｇＪ７図と同一符号は同一部分を示
し、特に説明を行なわない。
先ず第８図は従来の第４図（＝示す耐電圧試験（二対応
した回路を示したものであり、内部導電膜イａと接地間
に電源６υより陽極電圧の２．５〜３．０倍の高圧を印
加し、第４グリツド（至）と′！！ＩＩ３グリッド（至
）の対設面の微細な凹凸や不所望な粒子を放電にて除去
する場合、インダクタンス（至）の働きにより王として
第３グリツド四と第２グリツド翰の対設面の微細な凹凸
や不所望な粒子も除去することが可能であるし、また陰
極（４）、第１グリツド■、第２グリツド（至）、第３
グリツド（２）、及び第４グリツド（至）６二所定の電
圧を印加して実動する場合、管内放電が第４グリツド（
至）と第３グリツド（２）間に発生してもインダクタン
ス（至）の働き（二より、不所望な電流がｌＩ＆３グリ
ッド＠ζ：接続される外部回路じ流れるのを防止するこ
とが出来る。
した回路を示したものであり、内部導電膜イａと接地間
に電源６υより陽極電圧の２．５〜３．０倍の高圧を印
加し、第４グリツド（至）と′！！ＩＩ３グリッド（至
）の対設面の微細な凹凸や不所望な粒子を放電にて除去
する場合、インダクタンス（至）の働きにより王として
第３グリツド四と第２グリツド翰の対設面の微細な凹凸
や不所望な粒子も除去することが可能であるし、また陰
極（４）、第１グリツド■、第２グリツド（至）、第３
グリツド（２）、及び第４グリツド（至）６二所定の電
圧を印加して実動する場合、管内放電が第４グリツド（
至）と第３グリツド（２）間に発生してもインダクタン
ス（至）の働き（二より、不所望な電流がｌＩ＆３グリ
ッド＠ζ：接続される外部回路じ流れるのを防止するこ
とが出来る。
次ＯＳＳ図ははは１３３図の耐電圧試験に対応ず第４グ
リツド（至）と第３グリツド四の対設面間に放電を発生
させ、微細な凹凸や不所望な粒子を除去すると共（二第
３グリッド翰と主として第２グリツド（２）の対設面の
微細な凹凸や不所望な粒子を除去するようになっており
、インダクタンス（至）は抵抗と共４−第３グリッド翰
の発生する電圧を可変題＝シ最適状態で耐電圧試験が行
なわれるようＣニなっている。
リツド（至）と第３グリツド四の対設面間に放電を発生
させ、微細な凹凸や不所望な粒子を除去すると共（二第
３グリッド翰と主として第２グリツド（２）の対設面の
微細な凹凸や不所望な粒子を除去するようになっており
、インダクタンス（至）は抵抗と共４−第３グリッド翰
の発生する電圧を可変題＝シ最適状態で耐電圧試験が行
なわれるようＣニなっている。
次の第１０図は従来の第５図（二対応する耐電圧試験回
路であり、第３グリツド（２）はスパークギャップ０７
）を介して接地されており、第４グリッド−に内部導電
被膜（２）を介して印加される通常の陽極電圧の２．５
〜３．０倍の電圧により＄４グリッド（至）と第３グリ
ツド（至）の対設面、第３グリツド（２）と第２グリツ
ド（至）の対設面の凹凸や不所望な粒子を除去可能であ
る。
路であり、第３グリツド（２）はスパークギャップ０７
）を介して接地されており、第４グリッド−に内部導電
被膜（２）を介して印加される通常の陽極電圧の２．５
〜３．０倍の電圧により＄４グリッド（至）と第３グリ
ツド（至）の対設面、第３グリツド（２）と第２グリツ
ド（至）の対設面の凹凸や不所望な粒子を除去可能であ
る。
前述した実施例（二おいては、電子銃としてパイポテン
シャル形を使用したが、これｄ二限定されるものではな
く、ユニポテンシャル形、その他の形の電子銃において
も陽極電圧の印加されない主電子レンズを構成する集束
電極しそのまま適用できるし、３’ｍ子銃を一体化した
電子銃（二限定されるものでもないことは説明するまで
もない。
シャル形を使用したが、これｄ二限定されるものではな
く、ユニポテンシャル形、その他の形の電子銃において
も陽極電圧の印加されない主電子レンズを構成する集束
電極しそのまま適用できるし、３’ｍ子銃を一体化した
電子銃（二限定されるものでもないことは説明するまで
もない。
第１図乃至第５図は従来の陰極線管の一例のそれぞれ異
なる耐電圧処理回路を示す回路図、８６図は本発明の陰
極線管の一実施例としてのカラーブラウン管の説明用断
面図、弗７図は第６図をＡ−Ａ緑感＝沿って切断し矢印
方向（＝見た断面図、第８図乃至ＩＪ１０図は実施例の
それぞれ異なる耐電圧処理回路を示す回路図である。 １．２１・・・螢光体層 ２．２２・・・パネル３
．２３・・・ファンネル ４．２４・・・ネック５．
５−・ステム ６．２６・・・陰極７．２７・・
・第１グリッド８．２８・・・第２グリツド９．２９・
・・第３グリッド１０．３０・−・第４グリツド１１．
１３．２１・・・電源 １２．３２・−・内部導電
膜１４、３４・・・抵抗 １５・−・容量１６．
３６−・・インダクタンス １７．３７・・・スパーク
ギャップ代理人 弁理士 井 上 −男 第６図 第９図 第１０図
なる耐電圧処理回路を示す回路図、８６図は本発明の陰
極線管の一実施例としてのカラーブラウン管の説明用断
面図、弗７図は第６図をＡ−Ａ緑感＝沿って切断し矢印
方向（＝見た断面図、第８図乃至ＩＪ１０図は実施例の
それぞれ異なる耐電圧処理回路を示す回路図である。 １．２１・・・螢光体層 ２．２２・・・パネル３
．２３・・・ファンネル ４．２４・・・ネック５．
５−・ステム ６．２６・・・陰極７．２７・・
・第１グリッド８．２８・・・第２グリツド９．２９・
・・第３グリッド１０．３０・−・第４グリツド１１．
１３．２１・・・電源 １２．３２・−・内部導電
膜１４、３４・・・抵抗 １５・−・容量１６．
３６−・・インダクタンス １７．３７・・・スパーク
ギャップ代理人 弁理士 井 上 −男 第６図 第９図 第１０図
Claims (3)
- （１）内面に螢光体層が被着形成されたパネルと、この
パネルにファンネルを介して連接されたネックと、この
ネックの端部に溶着された多数のステムピンが植設され
たステムと、このステム上に組立てられて前記ネック内
に装着された陰極、制御グリッド群、主電子レンズを構
成する複数の集束グリッド群からなる電子銃とを少なく
とも具ｒｉ’する陰極線管仁おいて、前記主電子レンズ
を構成する′４数の集束グリッド群の所望の集束グリッ
ドと前記ステムピンとの間にインダクタンスを挿入した
ことを特徴とする陰極線管。 - （２） インダクタンスがステムピンと所望の集束グ
リッドを導接する内部リード線（二より形成されている
ことを特徴とする特ｌｖ！ｆ請求の範囲第１項記載の陰
極線管。 - （３） インダクタンスが０．１μＨ以上であること
な特徴とする特許請求の範囲第１項または第２項記載の
陰極線管。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14619381A JPS5848340A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | 陰極線管 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14619381A JPS5848340A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | 陰極線管 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5848340A true JPS5848340A (ja) | 1983-03-22 |
Family
ID=15402230
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14619381A Pending JPS5848340A (ja) | 1981-09-18 | 1981-09-18 | 陰極線管 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5848340A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01112918U (ja) * | 1988-01-27 | 1989-07-28 |
-
1981
- 1981-09-18 JP JP14619381A patent/JPS5848340A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01112918U (ja) * | 1988-01-27 | 1989-07-28 | ||
| JPH0539855Y2 (ja) * | 1988-01-27 | 1993-10-08 |
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