JPH11185644A - Barrier for plasma display panel and its manufacture - Google Patents

Barrier for plasma display panel and its manufacture

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JPH11185644A
JPH11185644A JP9354259A JP35425997A JPH11185644A JP H11185644 A JPH11185644 A JP H11185644A JP 9354259 A JP9354259 A JP 9354259A JP 35425997 A JP35425997 A JP 35425997A JP H11185644 A JPH11185644 A JP H11185644A
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JP
Japan
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barrier
barrier material
resin
pattern
height
Prior art date
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Pending
Application number
JP9354259A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tetsuya Sudo
鉄也 須藤
Seikichi Tanno
清吉 丹野
Tadayasu Fujieda
忠恭 藤枝
Ikuo Mukai
郁夫 向
Katsutoshi Itagaki
勝俊 板垣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Showa Denko Materials Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication of JPH11185644A publication Critical patent/JPH11185644A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To easily manufacture with a good yield a highly accurate and high quality barrier for a plasma display panel which has no leaping of an end part by peeling and a big aspect ratio. SOLUTION: A photosensitive resin composition layer is formed on a base board and a barrier for a plasma display panel provided with a slant the height of which from a base board becomes smaller as it goes toward the furthest end in an end part, a resin pattern is formed by exposing and developing the photosensitive resin composition layer to a pattern shape, after embedding barrier material between the resin patterns, an end part of the resin pattern and an end part of the barrier material embedded between the resin patterns are removed so that their height from the base board becomes smaller as they go toward the furthest end of the both end parts, then the resin pattern is removed and remaining barrier material in a pattern shape is baked.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、コンピューター端
末や壁掛けテレビ、券売機において文字情報や映像情報
の表示装置として使用されるプラズマディスプレイパネ
ル(以下、PDPと略す。)の障壁(バリアーリブ)及
びその製造法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plasma display panel (hereinafter, abbreviated as PDP) used as a display device for character information or video information in a computer terminal, a wall-mounted television, a ticket vending machine, and the like. Related to manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】PDPは、例えば、透明電極が形成され
る前面板と、データ電極や絶縁膜が形成される背面板の
二枚の絶縁板(以下ガラス板と略す)の内側に障壁、蛍
光体が形成された構造よりなる。この障壁は直行する透
明電極群とデータ電極群との間に一定空間を保持したセ
ル構造を形成し、さらにNe、Xe等の稀ガスが封入さ
れ、該透明電極とデータ電極の交差部が印加電圧により
放電、蛍光体が発光する画素が形成され画像を表示す
る。
2. Description of the Related Art PDPs have, for example, a barrier and a fluorescent material inside two insulating plates (hereinafter abbreviated as a glass plate), a front plate on which a transparent electrode is formed and a rear plate on which a data electrode and an insulating film are formed. It consists of a body-formed structure. This barrier forms a cell structure that maintains a certain space between the transparent electrode group and the data electrode group that are perpendicular to each other, and is filled with a rare gas such as Ne or Xe, and the intersection of the transparent electrode and the data electrode is applied. Pixels that discharge and emit light from the phosphor by the voltage are formed to display an image.

【0003】上記の障壁は、その高さ、幅、パターンギ
ャップによってセル間での誤放電を防止し一定の放電区
間を得るための機能を有している。
The above barrier has a function of preventing erroneous discharge between cells and obtaining a constant discharge section by its height, width and pattern gap.

【0004】また、近年ではディスプレイの大型化、画
素の微細化の傾向(例えば40インチ以上の画面サイズ
で障壁の幅が100μm以下、高さが100μm以上の
傾向)があり、IC回路基板等の形成に広く利用されて
いる感光性材料を使用したフォトリソグラフ法が大型
化、微細化したパネルの障壁を高い精度で形成できるこ
とから精力的に検討されている。
In recent years, there has been a trend toward larger displays and smaller pixels (for example, with a screen size of 40 inches or more, a barrier width of 100 μm or less and a height of 100 μm or more). A photolithographic method using a photosensitive material widely used for formation has been vigorously studied because it can form a large-sized and miniaturized panel barrier with high accuracy.

【0005】例えば、特開平5−234514号公報で
は、感光性樹脂組成物フィルムを基板上に積層し所定の
パターンマスクを介して露光し、その後非露光部を現像
により除去することで樹脂パターンを形成し、該樹脂パ
ターンと樹脂パターンの間に障壁材料を埋込み、乾燥後
に該樹脂パターンをアルカリ剥離液により剥離除去する
ことで障壁を形成する方法が提案されており、この方法
をアディティブ法と呼んでいる。
For example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-234514, a photosensitive resin composition film is laminated on a substrate, exposed through a predetermined pattern mask, and then a non-exposed portion is removed by development to form a resin pattern. A method has been proposed in which a barrier material is formed by embedding a barrier material between the resin patterns, and after drying, the resin pattern is peeled off with an alkali peeling solution to form a barrier. This method is called an additive method. In.

【0006】しかし、上述のフォトリソグラフ法を用い
て、特にアスペクト比が大きな(高さと幅の比が大き
な)微細な障壁(アスペクト比≧1.2、障壁の幅≦1
00μm)を作製した場合に、以下の問題があった。障
壁の焼成時の収縮応力によって、特に障壁の端部が数百
μm程度の長さで剥がれて跳ね上がる。パネルの作製時
に端部の剥がれて跳ね上がった部分が折れて、画素を汚
染してしまう。以上の問題に対して、特開平6−150
828号公報、特開平6−150832号公報等には、
屈伏点の異なる障壁材料を多層構造としたり、端部の形
状を段差構造とすることで焼成時の収縮応力を緩和して
対策する方法も検討されている。
However, using the above-described photolithographic method, a fine barrier (aspect ratio ≧ 1.2, barrier width ≦ 1) having a particularly large aspect ratio (large ratio between height and width) is used.
(00 μm) had the following problems. Due to the shrinkage stress during the firing of the barrier, the end of the barrier is particularly peeled off at a length of about several hundred μm and jumps up. At the time of manufacturing a panel, an edge portion peels off and a jumped-up portion breaks, contaminating pixels. To solve the above problems,
828, JP-A-6-150832, etc.
A method of relaxing the shrinkage stress at the time of firing by using a barrier material having a different yield point in a multilayer structure or a stepped structure at the end has been studied.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】請求項1記載の発明
は、端部の剥がれによる跳ね上がりのない、アスペクト
比が大きく高精度で高品位なプラズマディスプレイパネ
ルの障壁を提供するものである。請求項2記載の発明
は、端部の剥がれによる跳ね上がりのない、アスペクト
比が大きく高精度で高品位なプラズマディスプレイパネ
ルの障壁を容易に歩留りよく製造することができるプラ
ズマディスプレイパネルの障壁の製造法を提供するもの
である。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a high-precision, high-definition plasma display panel having a large aspect ratio, which does not jump up due to peeling of an end portion. According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a barrier of a plasma display panel having a large aspect ratio, high accuracy, and high quality, which does not cause a jump due to peeling of an end portion, and which can easily manufacture the barrier with high yield. Is provided.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、その端部に最
端に向かって基板からの高さが小さくなっていく傾斜を
設けてなるプラズマディスプレイパネルの障壁に関す
る。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a barrier for a plasma display panel having a slope at an end of which the height from the substrate decreases toward the end.

【0009】また本発明は、基板上に感光性樹脂組成物
層を形成し、パターン状に前記感光性樹脂組成物層を露
光し、現像して樹脂パターンを形成し、樹脂パターンと
樹脂パターンの間に障壁材料を埋込んだ後、樹脂パター
ンの端部及び樹脂パターンの間に埋め込まれた障壁材料
の端部を両端部の最端に向かって基板からの高さが小さ
くなっていくように除去し、次いで、樹脂パターンを除
去し、残ったパターン状の障壁材料を焼成することを特
徴とする端部に最端に向かって基板からの高さが小さく
なっていく傾斜を設けてなるプラズマディスプレイパネ
ルの障壁の製造法に関する。
The present invention also provides a photosensitive resin composition layer formed on a substrate, exposing the photosensitive resin composition layer in a pattern, and developing the resin pattern to form a resin pattern. After the barrier material is buried between the ends of the resin pattern and the ends of the barrier material buried between the resin patterns, the height from the substrate decreases toward the extreme ends of both ends. Removing, and then removing the resin pattern, and baking the remaining patterned barrier material. A plasma having a slope at an end portion in which the height from the substrate decreases toward the end. The present invention relates to a method for manufacturing a display panel barrier.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明のプラズマディスプレイパ
ネルの障壁は、障壁の端部が傾斜を有し、最端の高さが
最も低い。なお、高さは基板を基準としたもので基板か
らの高さである。前記の傾斜により焼成時の端部の収縮
が減少して収縮応力が低下し、障壁端部の剥がれを抑制
することができる。また、障壁の最端の高さが、傾斜を
有していない一定の高さを有する部分(後に蛍光体から
なる画素が形成される部分)の高さに比べて10μm以
上小さいことが収縮応力を小さくする点から好ましい。
障壁の最端の高さは、形成しようとする障壁の寸法に対
応して定まるが、寸法精度の点、収縮応力低減の点か
ら、5〜75μmであることが好ましく、10〜50μ
mであることがより好ましい。傾斜の形状の一例を図1
として示したがこれに制限されない。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The barrier of the plasma display panel according to the present invention has a slope at the end of the barrier and the lowest height at the end. The height is based on the substrate and is the height from the substrate. Due to the above inclination, shrinkage of the end portion at the time of firing is reduced, so that shrinkage stress is reduced, and peeling of the barrier end portion can be suppressed. The shrinkage stress is that the height of the outermost end of the barrier is smaller than the height of a portion having a certain height without inclination (a portion where a pixel made of a phosphor is formed later) by at least 10 μm. Is preferred from the viewpoint of reducing.
The height of the outermost end of the barrier is determined according to the dimension of the barrier to be formed, but is preferably 5 to 75 μm, and more preferably 10 to 50 μm from the viewpoint of dimensional accuracy and reduction of contraction stress.
m is more preferable. Figure 1 shows an example of the shape of the slope
However, the present invention is not limited to this.

【0011】また、最終的に得られる障壁がストライプ
状の障壁である場合、端部の傾斜を有する部分の長さ
は、50〜300μmであることが好ましく、50μm
未満であると、焼成時収縮による影響の排除が不充分と
なる傾向があり、一方、300μmを超えると、画素と
して使用する部分が少なくなる傾向がある。障壁の形状
は、格子状、ストライプ状等があり、ストライプ状であ
る場合障壁の高さ(厚さは)、50〜250μm程度で
ありその幅は20〜150μm程度である。この障壁
は、プラズマ放電に使用されるガスを透過せず、絶縁性
を有する材質で構成されていればよく、無機材料で構成
され、低融点ガラス、アルミナ(Al23)、通常、酸
化チタン、酸化亜鉛、酸化バリウム、酸化カリウム、酸
化ナトリウム、酸化カルシウム、酸化ジルコニウム、酸
化カドミウム、酸化銅、酸化マグネシウム、酸化マンガ
ン、酸化ビスマス等の金属酸化物、無機顔料などからな
る。本発明で使用される基板は、特に制限はなく、例え
ば、厚さ0.5〜5mm程度のセラミック板、プラスチッ
ク板、ガラス板等が挙げられる。この基板上には、絶縁
層、電極、保護層等が設けられてもよい。
When the finally obtained barrier is a stripe-shaped barrier, the length of the inclined portion at the end is preferably 50 to 300 μm, more preferably 50 μm to 300 μm.
If it is less than 3, the effect of shrinkage during firing tends to be insufficient, while if it exceeds 300 μm, the portion used as a pixel tends to be small. The shape of the barrier may be a lattice shape, a stripe shape, or the like. When the barrier shape is a stripe shape, the height (thickness) of the barrier is about 50 to 250 μm, and its width is about 20 to 150 μm. The barrier may be made of an insulating material that does not allow gas used for plasma discharge to pass therethrough, and may be made of an inorganic material, such as low-melting glass, alumina (Al 2 O 3 ), ordinarily oxidized. Metal oxides such as titanium, zinc oxide, barium oxide, potassium oxide, sodium oxide, calcium oxide, zirconium oxide, cadmium oxide, copper oxide, magnesium oxide, manganese oxide, bismuth oxide, and inorganic pigments. The substrate used in the present invention is not particularly limited, and examples thereof include a ceramic plate, a plastic plate, and a glass plate having a thickness of about 0.5 to 5 mm. On this substrate, an insulating layer, an electrode, a protective layer and the like may be provided.

【0012】本発明のプラズマディスプレイパネルの障
壁は、例えば、基板上に感光性樹脂組成物層を形成し、
パターン状に前記感光性樹脂組成物層を露光し、現像し
て樹脂パターンを形成し、樹脂パターンと樹脂パターン
の間に障壁材料を埋込んだ後、樹脂パターンの端部及び
樹脂パターンの間に埋め込まれた障壁材料の端部を両端
部の最端に向かって基板からの高さが小さくなっていく
ように除去し、次いで、樹脂パターンを除去し、残った
パターン状の障壁材料を焼成することによって製造でき
る。以下に、前記した製造法について説明する。
[0012] The barrier of the plasma display panel of the present invention is formed, for example, by forming a photosensitive resin composition layer on a substrate,
Exposure of the photosensitive resin composition layer in a pattern form, development to form a resin pattern, after embedding a barrier material between the resin pattern and the resin pattern, between the end of the resin pattern and the resin pattern The end of the buried barrier material is removed so that the height from the substrate decreases toward the extreme end of both ends, then the resin pattern is removed, and the remaining patterned barrier material is fired. It can be manufactured by Hereinafter, the above-described manufacturing method will be described.

【0013】基板上に感光性樹脂組成物層を形成する方
法としては、感光性樹脂組成物を基板上に直接塗布し、
必要に応じて乾燥する方法、感光性フィルムを用いラミ
ネータにより感光性フィルムの感光性樹脂層を基板上に
転写することにより設ける方法等があるが、環境衛生の
点、樹脂パターンの膜厚(高さ)を大きくできる点等か
ら、後者の感光性フィルムを用いる方法が好ましい。感
光性フィルムは、支持フィルム及び感光性樹脂層を有す
るもので、例えば、ポリエチレンテレフタレートフィル
ム等の支持フィルム上に感光性樹脂組成物を塗布し、必
要に応じて乾燥して感光性樹脂組成物層を形成すること
により製造される。通常、感光性樹脂組成物層は未硬化
であり、柔軟で粘着性を有するため、この層の上にポリ
エチレンフィルム等の保護フィルムを貼りあわせて、外
部からの損傷、異物の付着を防止している。感光性樹脂
組成物層の厚さは、特に制限ないが、形成しようとする
樹脂パターンを容易に厚膜化できる観点から15μm以
上とすることが好ましく、上限は250μm程度であ
る。
As a method of forming a photosensitive resin composition layer on a substrate, a photosensitive resin composition is applied directly on the substrate,
There are a method of drying if necessary, and a method of providing a photosensitive resin layer of a photosensitive film by transferring the photosensitive resin layer onto a substrate by using a photosensitive film with a laminator. The method using the latter photosensitive film is preferred from the viewpoint that the film thickness can be increased. The photosensitive film has a support film and a photosensitive resin layer.For example, a photosensitive resin composition is applied on a support film such as a polyethylene terephthalate film, and dried if necessary to form a photosensitive resin composition layer. It is manufactured by forming. Normally, the photosensitive resin composition layer is uncured, and is flexible and sticky, so that a protective film such as a polyethylene film is stuck on this layer to prevent external damage and foreign matter adhesion. I have. The thickness of the photosensitive resin composition layer is not particularly limited, but is preferably 15 μm or more from the viewpoint of easily increasing the thickness of the resin pattern to be formed, and the upper limit is about 250 μm.

【0014】感光性樹脂組成物としては、特に制限がな
く公知のものを使用でき、例えば、ネガ型感光性樹脂組
成物、ポジ型感光性樹脂組成物等を挙げることができ
る。ポジ型感光性樹脂組成物としては、例えば、1,2
−ナフトキノンジアジド系化合物、o−ニトロベンジル
系化合物等を用いた光可溶性基生成型の組成物、オニウ
ム塩等を用いた光酸発生・酸分解型の組成物などが挙げ
られる。ネガ型感光性樹脂組成物としては、例えば、
(a)エチレン性不飽和化合物、(b)カルボキシル基
含有フィルム性付与ポリマおよび(c)光重合開始剤を
必須成分として含有し、他に必要に応じて、(d)染料
または顔料、(e)その他添加物、(f)有機溶剤を含
んだ光重合型の組成物が挙げられる。
The photosensitive resin composition is not particularly limited and known ones can be used. Examples thereof include a negative photosensitive resin composition and a positive photosensitive resin composition. As the positive photosensitive resin composition, for example, 1,2
A photo-soluble group-forming composition using a naphthoquinonediazide compound, an o-nitrobenzyl-based compound, or the like; and a photoacid generation / acid decomposition type composition using an onium salt or the like. As the negative photosensitive resin composition, for example,
It contains (a) an ethylenically unsaturated compound, (b) a carboxyl group-containing film-imparting polymer and (c) a photopolymerization initiator as essential components, and if necessary, (d) a dye or pigment; And (f) a photopolymerizable composition containing an organic solvent.

【0015】以上のような感光性樹脂組成物を用いて基
板上に形成され感光性樹脂組成物層は、所定パターンの
ネガマスクを通して活性光線を照射する等によりパター
ン状に露光され、必要に応じて加熱された後、現像によ
り感光性樹脂組成物層が選択的に除去されて基板上に複
数の樹脂パターンが形成される。現像方法としては、特
に制限されず、ウェット現像、ドライ現像等が挙げられ
る。ウェット現像の場合は、感光性樹脂組成物に対応し
た現像液を用いる。現像液としては、例えば、炭酸ナト
リウム、炭酸カリウム等の弱アルカリ性の希薄水溶液が
挙げられ、現像方式は、浸漬方式、スプレイ方式等が挙
げられる。また、現像後に基板上に形成された樹脂パタ
ーンを、強度、耐溶剤性等の向上の目的で加熱及び/又
は露光してもよい。
The photosensitive resin composition layer formed on the substrate using the photosensitive resin composition as described above is exposed in a pattern by, for example, irradiating active light through a negative mask having a predetermined pattern. After heating, the photosensitive resin composition layer is selectively removed by development to form a plurality of resin patterns on the substrate. The developing method is not particularly limited, and examples thereof include wet development and dry development. In the case of wet development, a developer corresponding to the photosensitive resin composition is used. Examples of the developer include a weak alkaline dilute aqueous solution such as sodium carbonate and potassium carbonate, and examples of the development method include an immersion method and a spray method. Further, the resin pattern formed on the substrate after the development may be heated and / or exposed for the purpose of improving strength, solvent resistance and the like.

【0016】このようにして形成された基板上の複数の
樹脂パターンの間(間隙)に、スクリーン、スキージ等
を使用して障壁材料を埋込み、乾燥し(通常50〜18
0℃で10〜120分間)、樹脂パターンの端部及び樹
脂パターンの間に埋め込まれた障壁材料の端部を両端部
の最端に向かって基板からの高さが小さくなっていくよ
うに除去し、次いで樹脂パターンを除去する。障壁材料
は、無機材料、バインダ樹脂及び有機溶剤を必須成分と
し、他に必要に応じて、有機溶剤、顔料、可塑剤、分散
剤、密着性向上剤等の添加剤を含んでなる組成物であ
る。
A barrier material is buried between a plurality of resin patterns (gap) on the substrate thus formed using a screen, a squeegee or the like, and dried (typically 50 to 18).
(At 0 ° C. for 10 to 120 minutes), removing the edge of the resin pattern and the edge of the barrier material embedded between the resin patterns so that the height from the substrate decreases toward the extreme ends of both ends. Then, the resin pattern is removed. The barrier material is a composition comprising an inorganic material, a binder resin and an organic solvent as essential components, and, if necessary, an organic solvent, a pigment, a plasticizer, a dispersant, and an additive such as an adhesion improver. is there.

【0017】この障壁材料に使用される無機材料は、低
融点ガラス粉末、アルミナ(Al23)、酸化チタン、
酸化亜鉛、酸化バリウム、酸化カリウム、酸化ナトリウ
ム、酸化カルシウム、酸化ジルコニウム、酸化カドミウ
ム、酸化銅、酸化マグネシウム、酸化マンガン、酸化ビ
スマス等の金属酸化物などからなる。上記のガラスの組
成としては、PbO・B23・SiO2、PbO・B2
3、ZnO・B23・SiO2等が挙げられる。これら無
機材料の軟化点は、350〜1,000℃、粒度は、
0.1〜5μmであることが、作業性、障壁の強度等の
点から好ましい。
The inorganic material used for the barrier material is a low melting point glass powder, alumina (Al 2 O 3 ), titanium oxide,
It is made of a metal oxide such as zinc oxide, barium oxide, potassium oxide, sodium oxide, calcium oxide, zirconium oxide, cadmium oxide, copper oxide, magnesium oxide, manganese oxide, bismuth oxide, and the like. The composition of the above glass is PbO.B 2 O 3 .SiO 2 , PbO.B 2 O
3 , ZnO.B 2 O 3 .SiO 2 and the like. The softening point of these inorganic materials is 350 to 1,000 ° C., and the particle size is
The thickness is preferably 0.1 to 5 μm from the viewpoint of workability, barrier strength, and the like.

【0018】障壁材料に使用されるバインダ樹脂として
は、公知の樹脂を用いることができる。また、樹脂に硬
化剤を配合して熱や光で反応架橋する性質を付与したも
のを用いてもよい。アクリル系樹脂等は熱分解性が良好
で焼成後に焼け残りがない点で好適である。バインダ樹
脂は、そのTgが0〜50℃で、重量平均分子量が1
0,000〜180,000であることが好ましい。重
量平均分子量が10,000未満であると、障壁材料の
強度が低下する傾向があり、一方、重量平均分子量が1
80,000を超えると溶剤に難溶となる傾向がある。
また、Tgが0℃未満であると、柔軟性が大きすぎて、
障壁材料が変形する傾向があり、一方、Tgが50℃を
超えると柔軟性が低下して障壁材料の一部(特に角の部
分)が欠ける傾向がある。なお、重量平均分子量は、ゲ
ルパーミエーションクロマトグラフィー法により測定
し、標準ポリスチレン検量線を用いて換算した値であ
る。
As the binder resin used for the barrier material, a known resin can be used. Further, a resin may be used in which a curing agent is blended to impart a property of reacting and crosslinking by heat or light. Acrylic resins and the like are preferred because they have good thermal decomposability and do not have any unburnt residue after firing. The binder resin has a Tg of 0 to 50 ° C. and a weight average molecular weight of 1
It is preferably from 000 to 180,000. When the weight average molecular weight is less than 10,000, the strength of the barrier material tends to decrease, while the weight average molecular weight is less than 1
If it exceeds 80,000, it tends to be hardly soluble in a solvent.
When Tg is less than 0 ° C., the flexibility is too large,
When the Tg exceeds 50 ° C., the flexibility tends to decrease, and a part of the barrier material (especially at the corner) tends to be chipped. The weight average molecular weight is a value measured by gel permeation chromatography and converted using a standard polystyrene calibration curve.

【0019】障壁材料中のバインダ樹脂の含有量は、無
機材料100重量部に対して3〜30重量部とすること
が好ましい。この含有量が3部未満であると、バインダ
ーとして機能せず、障壁材料が崩れる傾向がある。ま
た、30重量部を超えると、障壁材料中の有機物を焼成
により熱分解、消失させる工程でその熱分解、消失前の
溶融段階で流動性が過大となり障壁材料の形状が変形す
る傾向がある。
The content of the binder resin in the barrier material is preferably 3 to 30 parts by weight based on 100 parts by weight of the inorganic material. If the content is less than 3 parts, it does not function as a binder and the barrier material tends to collapse. On the other hand, if the amount exceeds 30 parts by weight, the flowability becomes excessive in the melting stage before the thermal decomposition and disappearance in the step of thermally decomposing and eliminating the organic matter in the barrier material by firing, and the shape of the barrier material tends to be deformed.

【0020】障壁材料に必要に応じて使用される有機溶
剤としては、例えば、トルエン、アセトン、メチルエチ
ルケトン、メチルイソブチルケトン、メチルセロソル
ブ、エチルセロソルブ、γ−ブチルラクトン、N−メチ
ルピロリドン、ジメチルホルムアミド、テトラメチルス
ルホン、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエ
チレングリコールモノブチルエーテル、クロロホルム、
塩化メチレン、メチルアルコール、エチルアルコール、
テトラリン、n−ブチルベンゼン、P−シメン、メチル
ナフタレン、シクロヘキシルベンゼン、ジエチルベンゼ
ン、ペンチルベンゼン、ジペンチルベンゼン、P−メン
タン、ビシクロヘキシル、ジペンテン、デカリン、ソル
ベッソ、テレピン油等が挙げられる。これらは単独で又
は2種類以上を組み合わせて使用される。これらの有機
溶剤のうちでも、高沸点(170〜280℃)で非極性
のものが、塗膜のレベリング性が良好で樹脂パターンを
浸食せず良好である。
Examples of the organic solvent used as necessary for the barrier material include, for example, toluene, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, methyl cellosolve, ethyl cellosolve, γ-butyl lactone, N-methylpyrrolidone, dimethylformamide, tetramethyl Methyl sulfone, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol monobutyl ether, chloroform,
Methylene chloride, methyl alcohol, ethyl alcohol,
Examples include tetralin, n-butylbenzene, P-cymene, methylnaphthalene, cyclohexylbenzene, diethylbenzene, pentylbenzene, dipentylbenzene, P-menthane, bicyclohexyl, dipentene, decalin, solvesso, and turpentine oil. These are used alone or in combination of two or more. Among these organic solvents, those having a high boiling point (170 to 280 ° C.) and being nonpolar have good leveling properties of the coating film and do not corrode the resin pattern.

【0021】障壁材料中の有機溶剤の含有量は、特に制
限はないが、障壁材料である組成物の粘度が20〜20
0ポイズとなるような量を含有させることが好ましく、
無機材料100重量部に対して10〜100重量部程度
である。溶剤の含有量が10重量部未満であると組成物
の粘度が大きすぎて埋め込み性が低下する傾向があり、
100重量部を超えると、乾燥後の目滅りが大きすぎる
傾向がある。
The content of the organic solvent in the barrier material is not particularly limited, but the viscosity of the composition as the barrier material is 20 to 20.
It is preferable to contain an amount such that 0 poise is obtained,
It is about 10 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the inorganic material. When the content of the solvent is less than 10 parts by weight, the viscosity of the composition tends to be too large and the embedding property tends to decrease,
If it exceeds 100 parts by weight, the blinking after drying tends to be too large.

【0022】また、障壁材料が、さらにシランカップリ
ング剤を含むことが、基板への接着性の点から好まし
い。このようなシランカップリング剤は、例えば、γ−
グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシ
ドキシプロピルトリエトキシシラン、γ−グリシドキシ
プロピルメチルジメトキシシラン、γ−グリシドキシプ
ロピルメチルジエトキシシラン、β−(3,4−エポキ
シシクロヘキシ)−エチルトリメトキシシラン、β−
(3,4−エポキシシクロヘキシ)−エチルトリエトキ
シシラン等のエポキシシランやN−β(アミノエチル)
γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β(アミ
ノエチル)γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、N
−β(アミノエチル)γ−アミノプロピルメチルジメト
キシシラン、N−β(アミノエチル)γ−アミノプロピ
ルメチルジエトキシシン、γ−アミノプロピルトリエト
キシシラン、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメ
トキシシラン等のアミノシランやγ−クロロプロピルト
リメトキシシラン、γ−クロロプロピルトリエトキシシ
ラン、γ−クロロプロピルメチルジメトキシシラン、γ
−クロロプロピルメチルジエトキシシラン等のクロロプ
ロピルシランが挙げられる。障壁材料中のシランカップ
リング剤の含有量は、無機材料100重量部に対して
0.1〜5.0重量部とすることが好ましい。0.1重
量部未満であると、接着性向上の効果が小さい傾向があ
り、5.0部を超えると焼成時に焼け残りが発生する傾
向がある。
It is preferable that the barrier material further contains a silane coupling agent from the viewpoint of adhesion to the substrate. Such a silane coupling agent is, for example, γ-
Glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltriethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldimethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, β- (3,4-epoxycyclohexyl) -Ethyltrimethoxysilane, β-
Epoxysilanes such as (3,4-epoxycyclohexyl) -ethyltriethoxysilane and N-β (aminoethyl)
γ-aminopropyltrimethoxysilane, N-β (aminoethyl) γ-aminopropyltriethoxysilane, N
-Β (aminoethyl) γ-aminopropylmethyldimethoxysilane, N-β (aminoethyl) γ-aminopropylmethyldiethoxycin, γ-aminopropyltriethoxysilane, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, etc. Aminosilane, γ-chloropropyltrimethoxysilane, γ-chloropropyltriethoxysilane, γ-chloropropylmethyldimethoxysilane, γ
Chloropropylsilane such as -chloropropylmethyldiethoxysilane. It is preferable that the content of the silane coupling agent in the barrier material is 0.1 to 5.0 parts by weight based on 100 parts by weight of the inorganic material. If the amount is less than 0.1 part by weight, the effect of improving the adhesiveness tends to be small, and if it exceeds 5.0 parts, unburnt residue tends to be generated during firing.

【0023】障壁材料を埋め込む際に、樹脂パターンと
樹脂パターンの間(間隙)の容積より多めの体積となる
量の障壁材料を使用して樹脂パターンの上部や間隙の上
部に障壁材料が存在する場合は、薬液による除去等の化
学的方法、切削、研磨等の物理的方法により、樹脂パタ
ーンの上部や間隙の上部に存在する障壁材料を除去する
ことが好ましい。量産性、精度の点から研磨法を用いる
ことが好ましく、例えば、水をかけながらサンドペーパ
ー(#600)等を使用した手研磨、バフ研磨機、ベル
トサンダー研磨機等の研磨機を使用した機械研磨などに
より、樹脂パターンが見えるまで均一に研磨することに
より樹脂パターンの上部や間隙の上部に存在する障壁材
料を除去することができる。ベルトサンダー研磨機とし
ては、シリカ、アルミナなどの砥粒をレジンに付着させ
たレジンベルト、ダイヤモンド、ジルコニアの砥粒を付
着させたダイヤベルト等の研磨材付着研磨ベルト(#4
00以上)を少なくとも2個のロールで循環走行させ前
記ベルトがロールに追随して円弧状の形態で走行してい
るその円弧の頂点で線接触的に被研磨物に接触し、その
接触部分で研磨が行われるようにした研磨機が好適であ
る。このようなベルトサンダー研磨機としては、(株)丸
源鐡工所製のベルトサンダー研磨機(型式:湿式、MN
W型)が挙げられる。
When embedding the barrier material, the barrier material is present in the upper portion of the resin pattern or the gap by using a larger amount of the barrier material than the volume between the resin patterns (gap). In this case, it is preferable to remove the barrier material existing above the resin pattern or the gap by a chemical method such as removal with a chemical solution or a physical method such as cutting or polishing. It is preferable to use a polishing method from the viewpoint of mass productivity and accuracy. For example, a machine using a sanding machine such as a hand polishing using sandpaper (# 600) while pouring water, a buff polishing machine, a belt sander polishing machine or the like. By uniformly polishing by polishing or the like until the resin pattern is visible, the barrier material existing on the upper part of the resin pattern or the gap can be removed. As a belt sander polishing machine, a polishing belt with abrasives such as a resin belt having abrasive grains such as silica or alumina adhered to the resin, a diamond belt having abrasive grains of diamond or zirconia adhered thereto (# 4)
00) is circulated and run on at least two rolls, and the belt follows the rolls and runs in an arc-shaped form. A polishing machine in which polishing is performed is preferable. As such a belt sander polisher, a belt sander polisher manufactured by Marugen Ironworks Co., Ltd. (model: wet type, MN
W type).

【0024】障壁材料を埋め込み、必要に応じて前記除
去を行った後、樹脂パターンの端部及び樹脂パターンの
間に埋め込まれた障壁材料の端部を両端部の最端に向か
って基板からの高さが小さくなっていくように除去する
が、この除去は、薬液による除去等の化学的方法、切
削、研磨等の物理的方法により行いうるが、量産性、精
度の点から研磨法を用いることが好ましい。研磨法を用
いる場合、例えば、障壁材料の端部から1mm程度の場所
に、ポリエチレンテレフタレート基材の粘着テープ(厚
さ:50μm、幅:25mm)を連続的に貼りつけ、水を
かけながらサンドペーパー(#600)を用い障壁材料
の端部の1mm幅の部分を、最端の高さが小さくなるよう
に樹脂パターンと埋込まれている障壁材料を研磨するこ
とにより、所望の傾斜が得られる。ここで、粘着テープ
は部分的な研磨のためのマスクとして働く(図2参
照)。
After the barrier material is buried and, if necessary, the above-mentioned removal is performed, the end of the resin material and the end of the barrier material buried between the resin patterns are moved from the substrate toward the extreme ends of both ends. Although the removal is performed so that the height becomes smaller, this removal can be performed by a chemical method such as removal with a chemical solution, a physical method such as cutting, polishing, or the like, but a polishing method is used in terms of mass productivity and accuracy. Is preferred. When the polishing method is used, for example, an adhesive tape (thickness: 50 μm, width: 25 mm) of a polyethylene terephthalate base material is continuously adhered to a place about 1 mm from the end of the barrier material, and sandpaper is applied while water is applied. A desired inclination can be obtained by polishing the resin material and the buried barrier material so as to reduce the height of the outermost end of the 1 mm wide portion of the barrier material using (# 600). . Here, the adhesive tape functions as a mask for partial polishing (see FIG. 2).

【0025】なお、障壁材料を埋め込む際に、樹脂パタ
ーンと樹脂パターンの間(間隙)の容積より多めの体積
となる量の障壁材料を使用し、樹脂パターンの上部や間
隙の上部に障壁材料が存在する場合は、樹脂パターンの
上部や間隙の上部に障壁材料の除去と樹脂パターンの端
部及び樹脂パターンの間に埋め込まれた障壁材料の端部
を両端部の最端に向かって基板からの高さが小さくなっ
ていくようにする除去とを同時あるいはほぼ同時に行う
ことができ、例えば、樹脂パターンの上部や間隙の上部
に存在する障壁材料を研磨除去するための1以上の研磨
ベルトと、樹脂パターンの端部及び樹脂パターンの間に
埋め込まれた障壁材料の端部を両端部の最端に向かって
基板からの高さが小さくなっていくように研磨除去する
ための1以上の研磨ベルトとを備えてなるベルトサンダ
ー研磨機を使用することにより行うことができる。
When embedding the barrier material, a barrier material having a volume larger than the volume between the resin patterns (gap) is used, and the barrier material is provided above the resin pattern and the gap. If present, remove the barrier material at the top of the resin pattern or the gap and remove the edge of the resin pattern and the end of the barrier material embedded between the resin patterns from the substrate toward the extreme ends of both ends. The removal to reduce the height can be performed simultaneously or almost at the same time, for example, one or more polishing belts for polishing and removing the barrier material existing on the upper part of the resin pattern or the gap, At least one polishing step for polishing and removing the edge of the resin pattern and the edge of the barrier material embedded between the resin patterns so that the height from the substrate decreases toward the extreme ends of both ends. Can be carried out by using a composed and a belt a belt sander polishing machine.

【0026】樹脂パターンは種々の方法で除去できる
が、例えば、樹脂パターンの除去を剥離液を用いて行う
場合、使用する剥離液としては、水酸化ナトリウム又は
水酸化カリウムの1〜10重量%水溶液が挙げられる。
この濃度が1重量%未満の場合は剥離の効果が小さいた
めに剥離時間がかかりすぎる傾向があり、また、10重
量%を超える場合には、障壁材料を侵す傾向がある。剥
離液の温度については特に限定されず、樹脂パターンの
剥離を好適に行う条件を適宜設定すればよく、剥離方式
としては、浸漬方式、スプレイ方式のいずれも好適であ
り、また2方式を併用してもよい。
The resin pattern can be removed by various methods. For example, when the resin pattern is removed using a stripper, the stripper used is a 1 to 10% by weight aqueous solution of sodium hydroxide or potassium hydroxide. Is mentioned.
When the concentration is less than 1% by weight, the effect of peeling is small, so that the peeling time tends to take too long. When the concentration exceeds 10% by weight, the barrier material tends to be attacked. The temperature of the stripping solution is not particularly limited, and conditions for suitably stripping the resin pattern may be appropriately set. As the stripping method, any of the immersion method and the spray method is suitable, and the two methods are used in combination. You may.

【0027】樹脂パターンの除去後、基板上に残ったパ
ターン状の障壁材料から樹脂等の有機物を除去し、強
度、ガス不透過性等を向上する目的でパターン状の障壁
材料を焼成し障壁を得る。この焼成の温度と時間は35
0〜580℃、1〜20時間程度である。
After the removal of the resin pattern, organic substances such as resin are removed from the patterned barrier material remaining on the substrate, and the patterned barrier material is baked to improve the strength, gas impermeability, etc., thereby forming the barrier. obtain. The firing temperature and time are 35
0 to 580 ° C for about 1 to 20 hours.

【0028】このようにして製造された基板上の障壁の
高さ(厚さ)(ただし、端部は除く)は、85〜250
μm程度であり、ストライプ型または格子型の障壁であ
れば、その幅は20〜150μm程度である。
The height (thickness) (excluding edges) of the barrier on the substrate thus manufactured is 85 to 250.
In the case of a stripe-type or lattice-type barrier, the width is about 20 to 150 μm.

【0029】[0029]

【実施例】以下、実施例により本発明を説明する。The present invention will be described below with reference to examples.

【0030】実施例1 予め100℃に熱したガラス板上にアルカリ現像型の感
光性フィルム(感光性樹脂組成物層の膜厚50μm)を
ラミネータを使用し130℃にて貼り付け、ポリエチレ
ンテレフタレートフィルムを剥離し、感光性樹脂組成物
層を露出させた。この露出した感光性樹脂組成物層上に
前記感光性フィルムをもう一度同様に貼り付け、ポリエ
チレンテレフタレートフィルムを剥離し、感光性樹脂組
成物層を露出させた。さらに、もう一度同様な操作を施
して、ガラス板上に150μm厚の感光性樹脂組成物層
を形成した。その後、ポリエチレンテレフタレートフィ
ルム上に所定のネガマスクを載置し、ネガマスクの上か
ら平行光線型露光機で露光量70mJ/cm2として感光性樹
脂組成物層を露光した。さらに、感光性樹脂組成物層の
非露光部を、1重量%炭酸ナトリウム水溶液で現像し、
ガラス板上に樹脂パターンを得た。この樹脂パターンは
ライン/スペース=300μm/100μmであった。
次いで、樹脂パターンを紫外線照射機により3000mJ
/cm2の照射を行い、その後乾燥機にて160℃で60分
間加熱処理を行った。
Example 1 An alkali-developable photosensitive film (thickness of the photosensitive resin composition layer: 50 μm) was stuck on a glass plate previously heated to 100 ° C. at 130 ° C. using a laminator to form a polyethylene terephthalate film. Was removed to expose the photosensitive resin composition layer. The photosensitive film was again adhered on the exposed photosensitive resin composition layer once again, and the polyethylene terephthalate film was peeled off to expose the photosensitive resin composition layer. Further, the same operation was performed once again to form a 150 μm thick photosensitive resin composition layer on the glass plate. Thereafter, a predetermined negative mask was placed on the polyethylene terephthalate film, and the photosensitive resin composition layer was exposed from above the negative mask with a parallel light exposure machine at an exposure amount of 70 mJ / cm 2 . Further, the unexposed portion of the photosensitive resin composition layer is developed with a 1% by weight aqueous sodium carbonate solution,
A resin pattern was obtained on a glass plate. This resin pattern was line / space = 300 μm / 100 μm.
Next, the resin pattern was 3,000 mJ by an ultraviolet irradiation machine.
/ cm 2 , and then heat-treated at 160 ° C. for 60 minutes in a dryer.

【0031】次いで、加熱処理された樹脂パターンの全
面に、非硬化性のアクリル樹脂(組成比:メタクリル酸
n−ブチル/メタクリル酸=98/2、重量平均分子
量:100,000、固形分35重量%のトルエン/キ
シレン(1/1(重量比))溶液)51重量部、低融点ガ
ラス(PbO・B23・SiO2、日本電気硝子(株)
製、GA−9)50重量部、アルミナ粉末50重量部及
びγ−メタクリロキシトリメトキシシラン2重量部から
なる組成物にメチルナフタレンを加えて、粘度を70ポ
イズに調整したペースト状の障壁材料を120メッシュ
のスクリーンを有するスクリーン印刷機によりベタ塗り
状態で塗布した。ここで、塗布後のガラス板を減圧装置
の付いたアルミ製の容器中に入れ、10トールに減圧し
3分間保持後常圧に戻す操作を行った。この操作で障壁
材料中の気泡が除去され、障壁材料が確実に樹脂パター
ンと樹脂パターンの間に埋込まれた。その後、乾燥機に
て80℃で30分間乾燥し、表面の溶剤を揮発させた。
さらに、上記の障壁材料塗布、減圧、乾燥の操作をもう
一度行い、樹脂パターンの間隙を障壁材料でほぼ完全に
埋込んだ。続いて、乾燥機で160℃で60分間乾燥し
て残っている溶剤を揮発させてから、樹脂パターンの上
部及び間隙の上部に残っている障壁材料を水をかけなが
らサンドペーパー(#600)で樹脂パターンが見える
まで均一に研磨して除去した。
Next, a non-curable acrylic resin (composition ratio: n-butyl methacrylate / methacrylic acid = 98/2, weight average molecular weight: 100,000, solid content 35 weight) is coated on the entire surface of the heat-treated resin pattern. % Toluene / xylene (1/1 (weight ratio) solution) 51 parts by weight, low melting point glass (PbO.B 2 O 3 .SiO 2 , Nippon Electric Glass Co., Ltd.)
Manufactured by GA-9) 50 parts by weight, 50 parts by weight of alumina powder and 2 parts by weight of γ-methacryloxytrimethoxysilane to which methyl naphthalene was added to form a paste-like barrier material having a viscosity adjusted to 70 poise. It was applied in a solid state by a screen printing machine having a screen of 120 mesh. Here, the glass plate after the application was put into an aluminum container equipped with a decompression device, the pressure was reduced to 10 Torr, the operation was maintained for 3 minutes, and then the operation was returned to normal pressure. By this operation, bubbles in the barrier material were removed, and the barrier material was securely embedded between the resin patterns. Then, it dried at 80 degreeC for 30 minutes with the dryer, and the solvent of the surface was volatilized.
Further, the above-described operations of applying the barrier material, reducing the pressure, and drying were performed once more, and the gap between the resin patterns was almost completely filled with the barrier material. Subsequently, after drying with a dryer at 160 ° C. for 60 minutes to evaporate the remaining solvent, the barrier material remaining on the upper part of the resin pattern and the gap is sprinkled with water while sandpaper (# 600) is applied. It was polished and removed uniformly until a resin pattern was visible.

【0032】研磨後、障壁の端部から1mmの場所に、通
常使用されるポリエチレンテレフタレート基材の粘着テ
ープ(厚さ:50μm、幅:25mm)を連続的に貼りつ
け、水を使用してサンドペーパー(#600)を用い障
壁端部1mm幅の部分を、障壁最端部の高さが45μmに
なるように樹脂パターンと埋込まれている障壁材料を研
磨し傾斜をつけた。粘着テープは部分的な研磨の際のマ
スキングとして使用した(図2参照)。その後、マスキ
ングとして使用した粘着テープを剥がし、45℃に保持
した5重量%の水酸化ナトリウム水溶液中に約10分間
浸漬し、すぐに45℃に保持した温水に浸漬して樹脂パ
ターンを剥離した。その後、水洗し、80℃で30分間
乾燥してパターン状に形成された障壁材料を得た。この
パターン状の障壁材料の寸法は、障壁最端部の高さが4
5μmで、最端部からの傾斜の長さが1mm(1000μ
m)であった。それ以外の部分は障壁上部の幅が100
μm、底面の幅が120μm、高さが150μmであっ
た。
After polishing, a commonly used adhesive tape (thickness: 50 μm, width: 25 mm) of a polyethylene terephthalate substrate is continuously adhered to a place 1 mm from the edge of the barrier, and sand is applied using water. Using a paper (# 600), the resin pattern and the embedded barrier material were polished so that the height of the barrier end was 45 μm at the barrier end portion of 1 mm width, and the wall was inclined. The adhesive tape was used as a mask during partial polishing (see FIG. 2). Thereafter, the adhesive tape used as masking was peeled off, immersed in a 5% by weight aqueous sodium hydroxide solution kept at 45 ° C. for about 10 minutes, and immediately immersed in warm water kept at 45 ° C. to peel off the resin pattern. Thereafter, the resultant was washed with water and dried at 80 ° C. for 30 minutes to obtain a patterned barrier material. The dimensions of the patterned barrier material are such that the height of the end of the barrier is 4
5 μm, the length of the slope from the end is 1 mm (1000 μm)
m). Otherwise, the width at the top of the barrier is 100
μm, the width of the bottom surface was 120 μm, and the height was 150 μm.

【0033】最後に、マッフル炉を使用し空気中で焼成
して障壁を得た。焼成条件は、室温から380℃まで昇
温速度が3℃/分で昇温し、380℃で30分間保持、
さらに550℃まで昇温速度が5℃/分で昇温し、55
0℃で30分間保持後、室温まで自然冷却するものとし
た。焼成後の障壁は上記の焼成前の形状を維持し良好
で、寸法は、樹脂の分解除去により収縮したものであっ
た。焼成後の障壁寸法は、障壁最端部の高さが36μm
で、最端部からの傾斜の長さが1mm(1000μm)で
あった。それ以外の部分は、上部の幅が80μm、底面
の幅が120μm、高さが120μmあった。この焼成
後の障壁は、障壁端部の剥がれによる跳ね上がりがなく
アスペクト比の高い高精度で高品位なものであった。
Finally, the barrier was obtained by firing in air using a muffle furnace. The firing conditions were as follows: the temperature was raised from room temperature to 380 ° C. at a rate of 3 ° C./min, and the temperature was maintained at 380 ° C. for 30 minutes.
Further, the temperature was raised to 550 ° C. at a rate of 5 ° C./min.
After holding at 0 ° C. for 30 minutes, the mixture was naturally cooled to room temperature. The barrier after firing was good, maintaining the above shape before firing, and the dimensions shrank due to decomposition and removal of the resin. The barrier dimensions after firing are such that the height of the barrier end is 36 μm.
And the length of the slope from the end was 1 mm (1000 μm). The other portions had a top width of 80 μm, a bottom width of 120 μm, and a height of 120 μm. The barrier after this firing was of high precision and high quality with a high aspect ratio without jumping due to peeling of the barrier edge.

【0034】[0034]

【発明の効果】請求項1記載の発明は、端部の剥がれに
よる跳ね上がりのない、アスペクト比が大きく高精度で
高品位なプラズマディスプレイパネルの障壁を提供する
ものである。請求項2記載の発明は、端部の剥がれによ
る跳ね上がりのない、アスペクト比が大きく高精度で高
品位なプラズマディスプレイパネルの障壁を容易に歩留
りよく製造することができるプラズマディスプレイパネ
ルの障壁の製造法を提供するものである。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a barrier for a plasma display panel having a large aspect ratio, high precision and high quality, which does not jump due to peeling of an end portion. According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for manufacturing a barrier of a plasma display panel having a large aspect ratio, high accuracy, and high quality, which does not cause a jump due to peeling of an end portion, and which can easily manufacture the barrier with high yield. Is provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明における障壁構造図。FIG. 1 is a structural view of a barrier according to the present invention.

【図2】本発明における障壁端部の傾斜をつける方法の
一例図。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a method of forming a slope of a barrier end according to the present invention.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 向 郁夫 茨城県日立市東町四丁目13番1号 日立化 成工業株式会社山崎工場内 (72)発明者 板垣 勝俊 茨城県日立市東町四丁目13番1号 日立化 成工業株式会社山崎工場内 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor Ikuo Muko 4-13-1 Higashicho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture Inside the Hitachi Chemical Co., Ltd.Yamazaki Plant No. 1 Inside the Yamazaki Plant of Hitachi Chemical Co., Ltd.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 端部に最端に向かって基板からの高さが
小さくなっていく傾斜を設けてなるプラズマディスプレ
イパネルの障壁。
1. A barrier of a plasma display panel, wherein an edge is provided with a slope such that a height from a substrate decreases toward an extreme end.
【請求項2】 基板上に感光性樹脂組成物層を形成し、
パターン状に前記感光性樹脂組成物層を露光し、現像し
て樹脂パターンを形成し、樹脂パターンと樹脂パターン
の間に障壁材料を埋込んだ後、樹脂パターンの端部及び
樹脂パターンの間に埋め込まれた障壁材料の端部を両端
部の最端に向かって基板からの高さが小さくなっていく
ように除去し、次いで、樹脂パターンを除去し、残った
パターン状の障壁材料を焼成することを特徴とする端部
に最端に向かって基板からの高さが小さくなっていく傾
斜を設けてなるプラズマディスプレイパネルの障壁の製
造法。
2. A photosensitive resin composition layer is formed on a substrate,
Exposure of the photosensitive resin composition layer in a pattern form, development to form a resin pattern, after embedding a barrier material between the resin pattern and the resin pattern, between the end of the resin pattern and the resin pattern The end of the buried barrier material is removed so that the height from the substrate decreases toward the extreme end of both ends, then the resin pattern is removed, and the remaining patterned barrier material is fired. A method for manufacturing a barrier of a plasma display panel, wherein an inclination is provided at an end portion such that a height from a substrate decreases toward an outermost end.
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