JPH0589459A - Production of glass substrate for magnetic disk and magnetic disk as well as glass substrate for magnetic disk and magnetic disk - Google Patents

Production of glass substrate for magnetic disk and magnetic disk as well as glass substrate for magnetic disk and magnetic disk

Info

Publication number
JPH0589459A
JPH0589459A JP3251905A JP25190591A JPH0589459A JP H0589459 A JPH0589459 A JP H0589459A JP 3251905 A JP3251905 A JP 3251905A JP 25190591 A JP25190591 A JP 25190591A JP H0589459 A JPH0589459 A JP H0589459A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic disk
glass substrate
polishing
value
manufacturing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3251905A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3184261B2 (en
Inventor
Takeshi Kojima
毅 小嶋
Shinji Eda
伸二 江田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hoya Corp filed Critical Hoya Corp
Priority to JP25190591A priority Critical patent/JP3184261B2/en
Publication of JPH0589459A publication Critical patent/JPH0589459A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3184261B2 publication Critical patent/JP3184261B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To expand the smoothness at which high-density recording is possible and a recording area up to a peripheral edge by selecting polishing and working pressures and working time at the time of executing 2nd polishing by using a soft polisher. CONSTITUTION:The 2nd polishing is executed by using surface plates 3, 4 adhered with soft polishers 5 on the inside surfaces and water polishers 9a consisting of cerium oxide. The value of the product Pt of the working pressure P and the working time (t) is set in a 1000<Pt<1500 range. The scratches (flaws entailing cracks) remaining in the 1st polishing can be decreased to the extent that the disk can withstand high-density recording and simultaneously, the ski jump value and roll off value of the glass substrate 1 can be decreased to the extent that the magnetic head can fly near this part without hindrance.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、高密度記録を可能と
する磁気ディスクに用いる磁気ディスク用ガラス基板及
びそのガラス基板を用いた磁気ディスクの製造方法並び
に上記製造方法で製造した磁気ディスク用ガラス基板及
びそのガラス基板を用いた磁気ディスクに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a glass substrate for a magnetic disk used for a magnetic disk capable of high density recording, a method for manufacturing a magnetic disk using the glass substrate, and a glass for a magnetic disk manufactured by the above manufacturing method. The present invention relates to a substrate and a magnetic disk using the glass substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】ガラス基板を用いた磁気ディスクにおい
ても、記録容量の向上に対する要請は強く、高密度記録
化や記録エリアの拡大が急務となっている。
2. Description of the Related Art Even in a magnetic disk using a glass substrate, there is a strong demand for improvement in recording capacity, and there is an urgent need for high density recording and expansion of a recording area.

【0003】高密度の記録を可能にするためには、ガラ
ス基板の記録部となる表面(以下、主表面という)をで
きるだけ平滑にする必要があり一方、記録エリアを拡大
するためにはこの平滑な領域をできるだけ広く確保する
必要がある。
In order to enable high-density recording, it is necessary to make the surface of the glass substrate, which will be the recording portion (hereinafter referred to as the main surface), as smooth as possible, while in order to enlarge the recording area, this smoothing is required. It is necessary to secure as wide an area as possible.

【0004】ところで、アルミニウム合金に金属メッキ
した基板や結晶化ガラス基板については、高密度記録を
可能とするためにその表面を高精度に平滑化する試みは
行われている(例えば、特開昭60-229234 号公報、特公
昭62-40140号公報参照)が、ガラス基板についてはその
ような観点での表面平滑化は未だ行われていないのが実
情である。
By the way, with respect to a substrate obtained by metal-plating an aluminum alloy and a crystallized glass substrate, attempts have been made to smooth the surface of the substrate with high precision in order to enable high-density recording (for example, Japanese Patent Laid-Open No. Sho-sho). However, the actual situation is that the surface smoothing has not yet been performed on the glass substrate from such a point of view (see 60-229234 and Japanese Patent Publication No. 62-40140).

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明者は、
円板状ガラス基板について基板全域に高密度記録を可能
とすべく高精度に平滑化する試みを行った。なお、よく
知られているように、ガラスの表面仕上げの工程は、大
きく分けて、(1) 荒ずり(粗研削)、(2)砂掛け(精研
削)、(3) 研磨 の各工程からなる。このうち、(2)の
砂掛け工程は、いわゆるラッピングと呼ばれ、加工物の
寸法精度・形状精度の向上を目的とする。また、(3) の
研磨工程はポリシングと呼ばれ、面の平滑さの向上(表
面粗さの低減)と加工歪を小さくすることを目的とす
る。そして、この(3) の研磨工程は通常さらに2工程に
分かれ、硬質ポリシャを使用する第1研磨工程と、軟質
ポリシャを使用する第2研磨(ファイナル研磨)工程と
からなる。ここでは、第2研磨工程で考えられる最高度
に近い研磨を施した。
Therefore, the inventor of the present invention
An attempt was made to smooth the disk-shaped glass substrate with high accuracy to enable high-density recording over the entire substrate. As is well known, the glass surface finishing process is roughly divided into (1) roughing (rough grinding), (2) sanding (fine grinding), and (3) polishing. Become. Of these, the sanding step (2) is called so-called lapping and is intended to improve the dimensional accuracy and shape accuracy of the workpiece. The polishing step (3) is called polishing, and its purpose is to improve surface smoothness (reduce surface roughness) and reduce processing strain. The polishing step (3) is usually further divided into two steps, and includes a first polishing step using a hard polisher and a second polishing (final polishing) step using a soft polisher. Here, polishing was performed close to the highest degree considered in the second polishing step.

【0006】ところが、このような研磨仕上げを施した
場合、平滑度については十分な精度が得られるが、基板
の外周端部(基板周縁)に磁気ヘッドのフライングに有
害な隆起部が形成されることがわかった。
However, when such a polishing finish is applied, sufficient smoothness can be obtained, but a ridge that is harmful to the flying of the magnetic head is formed at the outer peripheral edge of the substrate (peripheral edge of the substrate). I understood it.

【0007】すなわち、表面形状測定器(RANK TAYLOR
HOBSON 社のTalysurf)を用い、図9に示されるよう
に、ガラス基板2の外周端部から約10mm中心に向か
った位置Aから外周端部Bまで触針(stylus)を移動さ
せてガラス基板1の直径方向の真直精度を測定したとこ
ろ、図10に示されるような結果が得られた。これによ
れば、ガラス基板の外周端部近傍に隆起部(額縁)1c
が形成され、この隆起部1cから外周端面に移行する部
位に縁だれが形成されていることが確認され、この隆起
部1cの高さが高いため、磁気ヘッドのフライングに支
障をきたすおそれがあることが確認された。ここで、隆
起部1cの表面を以下スキージャンプといい、また、縁
だれの表面をロールオフということにする。また、この
場合、平坦面を基準としたスキージャンプの最大高さ
(平坦面とスキージャンプの頂点との距離)Sをスキー
ジャンプの値といい、また、スキージャンプの頂点から
研磨面と面取面との境界部までの距離Rをロールオフの
値ということにする。そうすると、スキージャンプの値
Sが0.45μmであった。スキージャンプの値がこの
ように大きいと、磁気ヘッドがこの部分をフライングす
ることができなくなるので、この部分を有効な記録部に
することはできない。それゆえ、記録エリア我その分狭
められてしまうという問題があった。
That is, the surface shape measuring instrument (RANK TAYLOR
As shown in FIG. 9, using the Talysurf of HOBSON, move the stylus from the position A toward the center of the glass substrate 2 about 10 mm from the outer peripheral edge to the outer peripheral edge B to move the glass substrate 1 When the straightness accuracy in the diametrical direction was measured, the results shown in FIG. 10 were obtained. According to this, the raised portion (frame) 1c is formed in the vicinity of the outer peripheral edge of the glass substrate.
It is confirmed that a rim is formed at the portion where the ridge 1c transitions to the outer peripheral end face, and the height of the ridge 1c is high, which may hinder the flying of the magnetic head. It was confirmed. Here, the surface of the raised portion 1c is hereinafter referred to as ski jump, and the surface of the rim is referred to as roll-off. In this case, the maximum height S of the ski jump (distance between the flat surface and the apex of the ski jump) S with reference to the flat surface is called the value of the ski jump, and the apex of the ski jump and the chamfer The distance R to the boundary with the surface is called the roll-off value. Then, the ski jump value S was 0.45 μm. If the value of the ski jump is such a large value, the magnetic head cannot fly this portion, so that this portion cannot be an effective recording portion. Therefore, there is a problem that the recording area is narrowed by that amount.

【0008】そこで、本発明者がこの原因を究明したし
たところ、第2研磨(ファイナル研磨)工程の前の工程
である第1研磨工程を終了した段階においては、図11
に示されるように、スキージャンプの値Sが十分に小さ
い値を有していることが判明した。したがって、スキー
ジャンプの値Sが大きくなるのは第2研磨工程に原因が
あるということが判明した。
Then, the present inventor has investigated the cause of this, and at the stage of finishing the first polishing step, which is a step before the second polishing (final polishing) step, as shown in FIG.
It was found that the ski jump value S had a sufficiently small value, as shown in FIG. Therefore, it was found that the increase in the value S of the ski jump is caused by the second polishing process.

【0009】この発明は、上述の背景のもとでなされた
ものであり、高密度記録が可能な程度に十分な平滑度を
有し、かつ、記録エリアを周縁にまで拡大することを可
能とする磁気ディスク用ガラス基板及びそのガラス基板
を用いた磁気ディスクの製造方法並びに上記製造方法で
製造した磁気ディスク用ガラス基板及びそのガラス基板
を用いた磁気ディスクを提供することを目的としたもの
である。
The present invention has been made under the background described above, has a smoothness sufficient for high-density recording, and can expand the recording area to the peripheral edge. It is an object of the present invention to provide a glass substrate for a magnetic disk, a method for manufacturing a magnetic disk using the glass substrate, a glass substrate for a magnetic disk manufactured by the above manufacturing method, and a magnetic disk using the glass substrate. ..

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
めに本発明は、(1) 円板状ガラス基板の主表面に、
研削、硬質ポリシャを使用する第1研磨及び軟質ポリシ
ャを使用する第2研磨を順次施して前記主表面を鏡面に
する磁気ディスク用ガラス基板の製造方法において、前
記第2研磨を施す際の研磨加工圧力P(g/cm2 )の
値がP<300であり、研磨加工時間t(min)の値
が15<t<75であるとともに、Pとtとの積Ptの
値が、3000<Pt<10000の範囲になるように
これら研磨加工圧力Pと研磨加工時間tとを選定したこ
とを特徴とする構成とした。
In order to solve the above problems, the present invention provides (1) a main surface of a disk-shaped glass substrate,
In a method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, in which grinding, first polishing using a hard polisher, and second polishing using a soft polisher are sequentially performed to make the main surface a mirror surface, a polishing process at the time of performing the second polishing The value of the pressure P (g / cm 2 ) is P <300, the value of the polishing processing time t (min) is 15 <t <75, and the value Pt of P and t is 3000 <Pt. The polishing processing pressure P and the polishing processing time t were selected so as to be in the range of <10,000.

【0011】また、この構成1の態様としてとして、
(2) 構成1の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法
において、前記第2研磨を施す際の研磨加工圧力P(g
/cm2 )と研磨加工時間t(min)との積Ptの値
が、3000<Pt<9000の範囲になるようにこれ
ら研磨加工圧力Pと研磨加工時間tとを選定したことを
特徴とする構成とした。
As a mode of the configuration 1,
(2) In the method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having the structure 1, the polishing processing pressure P (g
/ Cm 2 ) and the polishing processing time t (min), the polishing processing pressure P and the polishing processing time t are selected such that the value of Pt is in the range of 3000 <Pt <9000. It was composed.

【0012】さらに、構成1または2の磁気ディスク用
ガラス基板の製造方法によって製造した磁気ディスク用
ガラス基板として、(3) 構成1または2の磁気ディ
スク用ガラス基板の製造方法によって製造した磁気ディ
スク用ガラス基板であって、主表面の周縁部に形成され
た隆起部の最大高さが、該主表面の他の平坦部を基準に
して0.35μm未満であることを特徴とした構成とし
た。
Further, as a magnetic disk glass substrate manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having the structure 1 or 2, (3) For a magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk having the structure 1 or 2. In the glass substrate, the maximum height of the raised portion formed on the peripheral portion of the main surface is less than 0.35 μm based on the other flat portion of the main surface.

【0013】また、構成1または2の磁気ディスク用ガ
ラス基板の製造方法によって製造した磁気ディスク用ガ
ラス基板を用いて磁気ディスクを製造する方法として、
(4) 構成1または2に記載の磁気ディスク用ガラス
基板の製造方法によって製造した磁気ディスク用ガラス
基板の主表面に磁性膜を形成する工程を含む工程を行う
ことにより、磁気ディスクを製造することを特徴とした
構成とした。
Further, as a method for producing a magnetic disk using the glass substrate for a magnetic disk produced by the method for producing a glass substrate for a magnetic disk having the constitution 1 or 2,
(4) A magnetic disk is manufactured by performing a step including a step of forming a magnetic film on the main surface of the glass substrate for a magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to Structure 1 or 2. Was adopted.

【0014】そして、構成3の方法によって製造した磁
気ディスクとして、(5) 構成3に記載の磁気ディス
ク用ガラス基板の主表面上に磁性膜を含む膜が形成され
てなることを特徴とした構成としたものである。
A magnetic disk manufactured by the method of Structure 3 is characterized in that (5) a film containing a magnetic film is formed on the main surface of the glass substrate for a magnetic disk according to Structure 3. It is what

【0015】[0015]

【作用】上述の構成1の方法によれば、高密度記録が可
能な程度に十分な平滑度を有し、かつ、有効な記録エリ
アを周縁にまで拡大することを可能とする磁気ディスク
用ガラス基板が得られることが確認された。この結果
は、本発明者が、上述の解明結果に基づき、従来のガラ
スの研磨工程の常識にこだわることなく広く研磨条件を
変えて種々実験した結果、はじめて得られたものであ
る。
According to the method of the above constitution 1, a glass for a magnetic disk having a smoothness sufficient for high density recording and capable of expanding an effective recording area to the peripheral edge. It was confirmed that a substrate was obtained. This result was obtained for the first time as a result of various experiments conducted by the present inventor on the basis of the above-mentioned elucidation results, by widely changing polishing conditions without sticking to the common knowledge of the conventional glass polishing process.

【0016】また、構成2によれば、構成1における有
効な記録エリアを確保しつつより高密度な記録が可能な
平滑度を有する磁気ディスク用ガラス基板が得られるこ
とが確認されている。
Further, it has been confirmed that according to the constitution 2, a glass substrate for a magnetic disk having a smoothness capable of high density recording while ensuring an effective recording area in the constitution 1 can be obtained.

【0017】さらに、構成3のガラス基板は、基板周縁
まで高密度記録が可能な磁気ディスク用ガラス基板とし
て用いることができる。
Further, the glass substrate having the structure 3 can be used as a glass substrate for a magnetic disk capable of high density recording up to the peripheral edge of the substrate.

【0018】そして、構成4,5によれば、基板周縁ま
で高密度記録が可能な磁気ディスクを得ることができ
る。
According to the constitutions 4 and 5, it is possible to obtain a magnetic disk capable of high density recording up to the peripheral edge of the substrate.

【0019】[0019]

【実施例】【Example】

(磁気ディスク用ガラス基板の製造方法の一実施例)図
1は第1及び第2研磨工程説明図、図2は砂掛け工程説
明図、図3は研磨加工後の測定値及び評価を示す図、図
4及び図5は研磨加工後の主表面のプロフィールの測定
例を示す図、図6はスキージャンプと加工圧力及び加工
時間との関係を示す図、図7はロールオフと加工圧力及
び加工時間との関係を示す図、図8は磁気ヘッドとの接
触状態測定説明図である。以下、これらの図面を参照に
しながら一実施例にかかる磁気ディスク用ガラス基板の
製造方法を説明する。
(One Example of Method for Manufacturing Glass Substrate for Magnetic Disk) FIG. 1 is an explanatory view of first and second polishing steps, FIG. 2 is an explanatory view of a sanding step, and FIG. 3 is a diagram showing measured values and evaluation after polishing. 4 and 5 are views showing an example of measuring the profile of the main surface after polishing, FIG. 6 is a view showing the relationship between ski jump and processing pressure and processing time, and FIG. 7 is roll-off, processing pressure and processing. FIG. 8 is a diagram showing the relationship with time, and FIG. 8 is an explanatory diagram for measuring the contact state with the magnetic head. Hereinafter, a method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to an embodiment will be described with reference to these drawings.

【0020】この一実施例の方法の工程は、大きく分け
て、(1) 荒ずり(粗研削)、(2)砂掛け(精研削)、
(3) 第1研磨、(4) 第2研磨(ファイナル研磨) の各
工程からなり、これらの工程の内、(4) 第2研磨(ファ
イナル研磨)が本発明の特徴点をなすものである。以
下、これら工程を詳細に説明する。
The steps of the method of this embodiment are roughly classified into (1) roughing (rough grinding), (2) sanding (fine grinding),
(3) First polishing, (4) Second polishing (final polishing), and among these steps, (4) Second polishing (final polishing) is a feature of the present invention. .. Hereinafter, these steps will be described in detail.

【0021】(1)荒ずり工程 まず、直径96mmφ、厚さ3mmの円板状にプレス成
形されたアルミノシリケートガラスからなるガラス基板
を、比較的粗いダイヤモンド砥石で研削加工して、直径
96mmφ、厚さ1.5mmに形成する。
(1) Roughing Step First, a glass substrate made of aluminosilicate glass pressed into a disk shape having a diameter of 96 mmφ and a thickness of 3 mm is ground by a relatively coarse diamond grindstone to obtain a diameter of 96 mmφ and a thickness. The thickness is 1.5 mm.

【0022】次に、上記砥石より粒度の細かいダイヤモ
ンド砥石で上記ガラス基板の両面を片面ずつ研削加工す
る。このときの荷重は100Kg程度とする。これによ
り、両面の表面粗さをRmax で10μ程度に仕上げる。
Next, both sides of the glass substrate are ground one by one with a diamond grindstone having a finer grain size than that of the grindstone. The load at this time is about 100 kg. As a result, the surface roughness of both surfaces is finished to Rmax of about 10 μ.

【0023】次いで、円筒状の砥石を用いてガラス基板
の中央部分に孔を開けるとともに、外周端面も研削して
直径を95mmφした後、外周端面及び内周面に所定の
面取加工を施す。
Then, a hole is made in the central portion of the glass substrate using a cylindrical grindstone, the outer peripheral end face is also ground to have a diameter of 95 mm, and then the outer peripheral end face and the inner peripheral face are subjected to a predetermined chamfering process.

【0024】(2)砂掛け工程 次に砂掛け加工を施す。この砂掛け加工は、図2にその
概略断面で示したような研磨装置を用いて行い、砥粒の
粒度を#400、#1000と変えて2回行う。
(2) Sanding process Next, sanding is performed. This sanding process is performed using a polishing apparatus as shown in the schematic cross section of FIG. 2 and is performed twice with the grain size of the abrasive grains changed to # 400 and # 1000.

【0025】ここで、図2において、符号1はガラス基
板、符号2はガラス基板1より厚さのやや薄いキャリ
ア、符号10,11は鋳鉄からなるラップ盤、符号6は
内側ギア、符号7は外側ギア、符号9はアルミナ砥粒で
ある。
In FIG. 2, reference numeral 1 is a glass substrate, reference numeral 2 is a carrier slightly thinner than the glass substrate 1, reference numerals 10 and 11 are lapping machines made of cast iron, reference numeral 6 is an inner gear, and reference numeral 7 is. The outer gear, numeral 9 is alumina abrasive grains.

【0026】はじめに粒度#400のアルミナ砥粒を用
い、荷重Lを100Kg程度に設定して内側ギア6と外
側ギア7とを回転させることにより、キャリア2内に収
納したガラス基板1の両面を面精度0〜1μ、表面粗さ
Rmax 6μ程度にラッピングする。
First, by using alumina abrasive grains having a grain size of # 400 and setting the load L to about 100 Kg and rotating the inner gear 6 and the outer gear 7, both surfaces of the glass substrate 1 housed in the carrier 2 are coated. Lapping is performed with an accuracy of 0 to 1 μ and a surface roughness Rmax of about 6 μ.

【0027】次いで、アルミナ砥粒を#1000に変え
て面精度0〜1μ、表面粗さRmax2μ程度にラッピン
グする。
Next, the alumina abrasive grains are changed to # 1000, and lapping is performed to have a surface accuracy of 0 to 1 μ and a surface roughness Rmax of about 2 μ.

【0028】(3)第1研磨工程 次に、第1研磨加工を施す。この第1研磨加工は、図1
にその概略断面で示したような研磨装置を用いて行い、
上述の砂掛け工程で残留したキズや歪みを除去するもの
である。ここで、図1に示される研磨装置は、図2に示
した研磨装置におけるラップ盤の代わりに内表面にポリ
シャ5を接着した定盤3,4を用いる点と、アルミナ砥
粒9を用いる代わりに、粒径1μmの酸化セリウムを水
で溶いた研磨液9aを用いる点のみが上記図2に示され
る場合と異なるほかは同じである。
(3) First Polishing Step Next, a first polishing process is performed. This first polishing process is shown in FIG.
Using a polishing device as shown in its schematic cross section,
The scratches and distortions remaining in the sanding step are removed. Here, in the polishing apparatus shown in FIG. 1, instead of the lapping machine in the polishing apparatus shown in FIG. 2, surface plates 3 and 4 having a polisher 5 adhered to the inner surface are used, and instead of using alumina abrasive grains 9. 2 is the same as that shown in FIG. 2 except that a polishing liquid 9a in which cerium oxide having a particle diameter of 1 μm is dissolved in water is used.

【0029】この第1研磨工程では、ポリシャ5とし
て、硬質ポリシャ(スピードファム社製の商品名「セリ
ウムパッドMHC15)を用い、以下の研磨条件で行っ
た。 研磨液…酸化セリウム+水 荷重…300g/cm2 (L=238Kg) 研磨時間…15分 除去量…30μ 下定盤回転数…40RPM 上定盤回転数…35RPM 内ギア回転数…14RPM 外ギア回転数…29RPM この第1研磨工程によって、ガラス基板1の表面粗さは
Rmax 100オングストローム、スクラッチ(クラック
を伴うキズ)は50個程度であった。なお、このときの
ガラス基板1の直径方向の真直精度を、上述の表面形状
測定器(RANK TAYLOR HOBSON 社のTalysurf)を用い、
同様にして測定したところ、図11に示される場合と同
様の結果が得られた。
In the first polishing step, a hard polisher (trade name "Cerium Pad MHC15" manufactured by Speed Fam Co., Ltd.) was used as the polisher 5 under the following polishing conditions: Polishing liquid ... cerium oxide + water load ... 300 g / Cm 2 (L = 238 Kg) Polishing time… 15 minutes Removal amount… 30 μ Lower surface plate rotation speed… 40 RPM Upper surface plate rotation speed… 35 RPM Inner gear rotation speed… 14 RPM Outer gear rotation speed… 29 RPM Glass by this first polishing process The surface roughness of the substrate 1 was Rmax 100 angstrom and the number of scratches (scratches with cracks) was about 50. The straightness accuracy of the glass substrate 1 in the diametrical direction at this time was measured by the above-mentioned surface shape measuring device (RANK). TAYLOR HOBSON's Talysurf)
When measured in the same manner, the same result as that shown in FIG. 11 was obtained.

【0030】(4)第2研磨工程 次に、第1研磨工程で用いた研磨装置(図1)を用い、
ポリシャ5を硬質ポリシャから軟質ポリシャ(スピード
ファム社製の商品名「ポリラックス」)に代えて第2研
磨加工を行った。この第2研磨工程では、加工圧力P
(g/cm2)と加工時間t(min)との積であるP
tの値を、1000<Pt<15000の範囲になるよ
うに設定した。この点は本発明の特徴点である。Pt値
をこの範囲に設定することにより、第1研磨で残存した
スクラッチを高密度記録に十分に耐える程度に減少させ
ると同時に、ガラス基板1のスキージャンプの値(s)
とロールオフの値(r)とを、この近傍を磁気ヘッドが
支障なくフライングできる程度に小さくすることができ
た。なお、このときの他の研磨条件は第1研磨工程の場
合と同じである。
(4) Second Polishing Step Next, using the polishing apparatus (FIG. 1) used in the first polishing step,
The second polishing process was performed by changing the polisher 5 from a hard polisher to a soft polisher (trade name "Porelax" manufactured by Speed Fam Co., Ltd.). In this second polishing step, the processing pressure P
P which is the product of (g / cm 2 ) and the processing time t (min)
The value of t was set to be in the range of 1000 <Pt <15000. This is a feature of the present invention. By setting the Pt value in this range, the scratches remaining in the first polishing are reduced to the extent that they can withstand high-density recording, and at the same time, the ski jump value (s) of the glass substrate 1 is reduced.
And the roll-off value (r) could be made small enough to allow the magnetic head to fly in the vicinity thereof without any trouble. The other polishing conditions at this time are the same as those in the first polishing step.

【0031】図3は、第2研磨加工における加工圧力P
(g/cm2 )と加工時間t(min)を種々変えて得
た各ガラス基板について、スキージャンプの値(s)と
ロールオフの値(r)とを実測し、また、各ガラス基板
について、磁気ヘッドによるフライングの可否を調べ、
さらには、各ガラス基板の表面に残存するスクラッチの
数を検査するとともに、これらの結果に基づく評価を示
したものである。また、図4及び図5はスキージャンプ
の値(s)とロールオフの値(r)との実測の際に求め
た主表面プロフィールの側定例を示したものであり、図
6及び図7はこの実測結果に基づいて、加工圧力をパラ
メータとして、加工時間とスキージャンプとの関係、並
びに、加工時間とロールオフとの関係をグラフに示した
ものである。 なお、この場合、スキージャンプの値
(s)とロールオフの値(r)との実測は、上述の表面
形状測定器(RANK TAYLOR HOBSON 社のTalysurf)を用
い、図9に示される方法で図10及び図11に示された
結果を得た場合の測定方法と同じ方法を用いた。
FIG. 3 shows the processing pressure P in the second polishing process.
(G / cm 2 ) and the processing time t (min) were variously changed, and the ski jump value (s) and the roll-off value (r) of each glass substrate were actually measured. , Checking whether flying with a magnetic head,
Furthermore, the number of scratches remaining on the surface of each glass substrate was inspected, and the evaluation based on these results was shown. Further, FIGS. 4 and 5 show a side surface example of the main surface profile obtained during the actual measurement of the ski jump value (s) and the roll-off value (r), and FIGS. 6 and 7 show Based on the measured results, the relationship between the processing time and the ski jump and the relationship between the processing time and the roll-off are shown in a graph with the processing pressure as a parameter. In this case, the ski jump value (s) and the roll-off value (r) are actually measured by the method shown in FIG. 9 using the above-mentioned surface profile measuring device (Talysurf of RANK TAYLOR HOBSON). The same measurement method was used when the results shown in FIG. 10 and FIG. 11 were obtained.

【0032】また、磁気ヘッドによるフライングの可否
については、図8に示されるように、ガラス基板1を回
転させた状態で、磁気ヘッド20の読取り面をガラス基
板1の主表面から0.1μm離して該磁気ヘッド20を
基板1の内周側から外周側に繰り返し10回移動させて
接触の有無を調べることによって行った。接触の有無
は、磁気デヘッドの読取り面に取り付けたピエゾ素子に
よって検出した。また、磁気ヘッド20は、該磁気ヘッ
ド20の外端部がガラス基板1の外周端面から1mm内
側に位置するところで静止させた。
As to whether or not the magnetic head can fly, as shown in FIG. 8, the reading surface of the magnetic head 20 is separated by 0.1 μm from the main surface of the glass substrate 1 while the glass substrate 1 is rotated. The magnetic head 20 was repeatedly moved 10 times from the inner peripheral side to the outer peripheral side of the substrate 1 to check for contact. The presence or absence of contact was detected by a piezo element attached to the reading surface of the magnetic dehead. Further, the magnetic head 20 was stopped at a position where the outer end portion of the magnetic head 20 was located 1 mm inside from the outer peripheral end surface of the glass substrate 1.

【0033】さらに、スクラッチ(クラックを伴うキズ
と、伴わないキズの両者を含む)のの検査は、ガラス基
板1に透過光をあて、顕微鏡でガラス基板1の全領域中
に残存するスクラッチの数を数えることによって行っ
た。
Further, for the inspection of scratches (including both scratches with cracks and scratches without cracks), the transmitted light is applied to the glass substrate 1 and the number of scratches remaining in the entire area of the glass substrate 1 with a microscope. Done by counting.

【0034】そして、これらの結果の評価基準として
は、まず、磁気ヘッドによるフライングが4回以上でき
なかった場合は不適とした。また、スクラッチの数が1
1個以上観測されたものについても不適とした。図3で
は、この評価結果を下記の符号で示した。
The evaluation criteria for these results were first unsuitable when the flying by the magnetic head could not be performed four times or more. The number of scratches is 1
The case where one or more was observed was also unsuitable. In FIG. 3, the evaluation results are shown by the following symbols.

【0035】「適」の評価 ◎……10回全てフライング可 スクラッチなし ○……10回全てフライング可 スクラッチ1〜5個あり △2 ……10回全てフライング可 スクラッチ5〜10個あり △1 ……10回中1〜3回フライング不可 スクラッチなし「不適」の評価 ×1 ……10回中4回以上フライング不可 スクラッチなし ×2 ……10回全てフライング可 スクラッチ11個以上あり 図3から、明らかなように、Ptの値が1000<Pt
<15000であれば、フライングに多少の不安が残
り、また、ガラス基板主表面にスクラッチが多少残存す
るが、実用的に問題ない範囲にあり、また、Ptの値が
3000<Pt<10000(◎の場合)のときは、ス
キージャンプの値が0.3μm以下で、ロールオフの値
も0.5μmとなり、スキージャンプの値が十分に低い
とともに、ロールオフの値が小さいことからそのスキー
ジャンプの頂点の位置も外周端部寄りに位置することに
なるので、フライングに支障をきたすおそれがさらに完
全になくなる。さらに、この場合には、スクラッチもほ
ぼ完全に除去されているので、高密度の記録を高品質で
行うことが可能となる。
“Appropriate” evaluation ◎ …… 10 times all flying possible No scratch ○ …… 10 times all flying possible Scratch 1 to 5 pieces △ 2 …… 10 times all flying possible 5 to 10 scratches △ 1 … … No flying 1 to 3 times out of 10 scratches No scratch rating “Inappropriate” × 1 …… No flying more than 4 times out of 10 No scratches × 2 …… All flying 10 times possible 11 or more scratches Clear from Fig. 3 Therefore, the value of Pt is 1000 <Pt
When it is <15,000, some anxiety remains in the flying, and some scratches remain on the main surface of the glass substrate, but there is no practical problem, and the Pt value is 3000 <Pt <10000 (◎ In the case of), the ski jump value is 0.3 μm or less, and the roll-off value is 0.5 μm. The ski-jump value is sufficiently low and the roll-off value is small. Since the position of the apex is also located closer to the outer peripheral end, the possibility of impeding the flying is completely eliminated. Further, in this case, since scratches are almost completely removed, high density recording can be performed with high quality.

【0036】(磁気ディスクの製造方法の一実施例)次
に、上述の一実施例にかかる磁気ディスク用ガラス基板
の製造方法によって得られたガラス基板を用いて磁気デ
ィスクを製造する方法の一実施例を説明する。 まず、
上述の一実施例にかかる磁気ディスク用ガラス基板の製
造方法によって得られたガラス基板の表面を、イオン交
換によって表面部にあるNaイオンをKイオンに置換
し、化学強化する。
(One Embodiment of Method for Manufacturing Magnetic Disk) Next, one embodiment of a method for manufacturing a magnetic disk using the glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the above-mentioned embodiment. An example will be described. First,
The surface of the glass substrate obtained by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to the above-mentioned embodiment is chemically strengthened by replacing Na ions on the surface portion with K ions by ion exchange.

【0037】次に、上記ガラス基板の一主表面に、Cr
膜(厚さ;1800オングストローム)、CrーCoー
Ni合金膜(同1000オングストローム)、SiO2
膜(同1000オングストローム)を順次スパッタリン
グにより成膜して磁気ディスクを得る。
Next, on the one main surface of the glass substrate, Cr
Film (thickness: 1800 Å), Cr-Co-Ni alloy film (1000 Å), SiO 2
A magnetic disk is obtained by sequentially depositing films (1000 angstroms) by sputtering.

【0038】こうして得られた磁気ディスクにおいて、
CrーCoーNi合金膜が磁性膜であり、その下地層た
るCr膜は磁性膜の磁気特性を向上させる下地膜であ
り、さらに、SiO2 膜は保護膜である。
In the magnetic disk thus obtained,
The Cr-Co-Ni alloy film is a magnetic film, the underlayer Cr film is an underlayer that improves the magnetic characteristics of the magnetic film, and the SiO 2 film is a protective film.

【0039】この磁気ディスクについて、上述の実施例
の場合と同様の磁気ヘッドのフライングテストを行った
ところ、磁気ヘッドと保護膜との接触は全く認められな
かった。
When this magnetic disk was subjected to the same flying test of the magnetic head as in the above-mentioned embodiment, no contact between the magnetic head and the protective film was observed.

【0040】また、この実施例による磁気ディスクと、
図10に示されるような、従来の方法で製造した磁気デ
ィスク用ガラス基板を用いた磁気ディスクとでは、磁気
ヘッドがフライングできる距離が約1mm異なることに
なる。これによる記憶容量の違いは約4%程度に相当す
る。さらに、磁性膜の下地となるガラス基板の主表面の
スクラッチが少ないので、情報の記録または読み出しの
際に誤差が生ずるおそれを防止できる。
A magnetic disk according to this embodiment,
The flying distance of the magnetic head differs from that of the magnetic disk using the glass substrate for the magnetic disk manufactured by the conventional method as shown in FIG. 10 by about 1 mm. The difference in storage capacity due to this corresponds to about 4%. Further, since there are few scratches on the main surface of the glass substrate which is the base of the magnetic film, it is possible to prevent the possibility of causing an error in recording or reading information.

【0041】なお、上述の各実施例においては、ガラス
基板を構成するガラス素材としてアルミノシリケートガ
ラスを用いた例をかかげたが、これは、ソーライムガラ
ス、石英ガラス等の他のガラス素材を用いてもよい。
In each of the above-mentioned embodiments, an example in which aluminosilicate glass is used as the glass material forming the glass substrate is used. However, other glass materials such as saw lime glass and quartz glass are used. May be.

【0042】また、磁気ディスクを製造する際の化学強
化は必ずしも施さなくてもよい。
Further, the chemical strengthening at the time of manufacturing the magnetic disk is not necessarily required.

【0043】さらに、第1研磨工程で使用する硬質ポリ
シャの硬度は80〜95(JISK6301 A型)で
あり、第2研磨で使用する軟質ポリシャの硬度は60〜
80(JIS K6301 A型)程度が目安であり、
軟質ポリシャとしては、スウェード、ベロアを素材とす
るものが、また、硬質ポリシャとしては、硬質ベロア、
ウレタン発砲、ピッチ含浸スウェード等を使用すること
ができる。
Further, the hardness of the hard polisher used in the first polishing step is 80 to 95 (JIS K6301 A type), and the hardness of the soft polisher used in the second polishing is 60 to.
About 80 (JIS K6301 A type) is a standard,
The soft polisher is made of suede and velour, and the hard polisher is hard velor.
Urethane foam, pitch impregnated suede, etc. can be used.

【0044】また、第1及び第2研磨工程で使用できる
研磨剤としては、他に、酸化ジルコン、コロイダルシリ
カ等が使用できる。
As the polishing agent that can be used in the first and second polishing steps, zircon oxide, colloidal silica or the like can be used.

【0045】研磨方法は、両面研磨でなく、片面研磨で
もよく、ピッチポリシングあるいはフロートポリシング
等の手法を用いてもよい。
The polishing method may be one-side polishing instead of double-side polishing, and a method such as pitch polishing or float polishing may be used.

【0046】[0046]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明にかかる磁
気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクの製造方法並
びに磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクは、研
磨加工工程におけるファイナル研磨たる第2研磨を施す
際の研磨加工圧力P(g/cm2 )と研磨加工時間t
(min)との積Ptの値が、1000<Pt<150
00の範囲になるようにこれら研磨加工圧力Pと研磨加
工時間tとを選定したことを特徴とするもので、これに
より、高密度記録が可能な程度に十分な平滑度を有し、
かつ、記録エリアを周縁にまで拡大することを可能とす
る磁気ディスク用ガラス基板及び磁気ディスクを得るこ
とを可能としたものである。
As described above in detail, the glass substrate for a magnetic disk, the method for manufacturing the magnetic disk, the glass substrate for a magnetic disk and the magnetic disk according to the present invention are subjected to the second polishing which is the final polishing in the polishing process. Polishing processing pressure P (g / cm 2 ) and polishing processing time t
The value of the product Pt with (min) is 1000 <Pt <150
The polishing processing pressure P and the polishing processing time t are selected so as to be in the range of 00, which has sufficient smoothness to enable high density recording,
In addition, it is possible to obtain a glass substrate for a magnetic disk and a magnetic disk capable of expanding the recording area to the peripheral edge.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1及び第2研磨工程説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of first and second polishing steps.

【図2】砂掛け加工工程説明図である。FIG. 2 is a diagram illustrating a sanding process.

【図3】研磨加工後の測定値及び評価示す図である。FIG. 3 is a diagram showing measured values and evaluation after polishing.

【図4】研磨加工後の主表面のプロフィールの側定例を
示す図である。
FIG. 4 is a view showing an example of a profile of a profile of a main surface after polishing.

【図5】研磨加工後の主表面のプロフィールの側定例を
示す図である。
FIG. 5 is a view showing an example of a profile of a main surface profile after polishing.

【図6】スキージャンプと加工圧力及び加工時間との関
係を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a relationship between a ski jump, a processing pressure, and a processing time.

【図7】ロールオフと加工圧力及び加工時間との関係を
示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing the relationship between roll-off, processing pressure, and processing time.

【図8】磁気ヘッドとの接触状態測定説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram of contact state measurement with a magnetic head.

【図9】ガラス基板の直径方向の真直精度測定説明図で
ある。
FIG. 9 is an explanatory diagram of straightness accuracy measurement in a diameter direction of a glass substrate.

【図10】従来の第2研磨工程後のガラス基板の周縁部
の測定結果を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing a measurement result of a peripheral portion of a glass substrate after a conventional second polishing step.

【図11】従来の第1研磨工程後のガラス基板の周縁部
の測定結果を示す図である。
FIG. 11 is a diagram showing a measurement result of a peripheral portion of the glass substrate after the conventional first polishing step.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ガラス基板、2…キャリア、3…下側定盤、4…上
側定盤、5…ポリシャ、6…内側ギア、7…外側ギア、
9…アルミナ砥粒、9a…研磨液、10,11…ラップ
盤。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Glass substrate, 2 ... Carrier, 3 ... Lower surface plate, 4 ... Upper surface plate, 5 ... Polisher, 6 ... Inner gear, 7 ... Outer gear,
9 ... Alumina abrasive grains, 9a ... Polishing liquid, 10, 11 ... Lapping machine.

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 円板状ガラス基板の主表面に、研削、硬
質ポリシャを使用する第1研磨及び軟質ポリシャを使用
する第2研磨を順次施して前記主表面を鏡面にする磁気
ディスク用ガラス基板の製造方法において、 前記第2研磨を施す際の研磨加工圧力P(g/cm2
と研磨加工時間t(min)との積Ptの値が、100
0<Pt<15000の範囲になるようにこれら研磨加
工圧力Pと研磨加工時間tとを選定したことを特徴とす
る磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
1. A glass substrate for a magnetic disk in which a main surface of a disk-shaped glass substrate is sequentially subjected to grinding, first polishing using a hard polisher and second polishing using a soft polisher to make the main surface a mirror surface. Manufacturing method, the polishing processing pressure P (g / cm 2 ) at the time of performing the second polishing
The value of the product Pt of the polishing time t (min) is 100
A method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, wherein the polishing processing pressure P and the polishing processing time t are selected so that 0 <Pt <15000.
【請求項2】 請求項1に記載の磁気ディスク用ガラス
基板の製造方法において、 前記第2研磨を施す際の研磨加工圧力P(g/cm2
の値がP<300であり、と研磨加工時間t(min)
の値が15<t<75であるとともに、Pとtとの積P
tの値が、3000<Pt<10000の範囲になるよ
うにこれら研磨加工圧力Pと研磨加工時間tとを選定し
たことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方
法。
2. The method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1, wherein a polishing processing pressure P (g / cm 2 ) when performing the second polishing.
Value of P <300, and polishing processing time t (min)
Is 15 <t <75, and the product P of P and t
A method of manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, wherein the polishing processing pressure P and the polishing processing time t are selected so that the value of t falls within the range of 3000 <Pt <10000.
【請求項3】 請求項1または2に記載の磁気ディスク
用ガラス基板の製造方法によって製造した磁気ディスク
用ガラス基板であって、 主表面の周縁部に形成された隆起部の最大高さが、該主
表面の他の平坦部を基準にして0.35μm未満である
ことを特徴とした磁気ディスク用ガラス基板。
3. A glass substrate for a magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1 or 2, wherein a maximum height of a raised portion formed on a peripheral portion of a main surface is: A glass substrate for a magnetic disk, which is less than 0.35 μm based on the other flat portion of the main surface.
【請求項4】 請求項1または2に記載の磁気ディスク
用ガラス基板の製造方法によって製造した磁気ディスク
用ガラス基板の主表面に磁性膜を形成する工程を含む工
程を行うことにより、磁気ディスクを製造することを特
徴とした磁気ディスクの製造方法。
4. A magnetic disk is obtained by performing a step including a step of forming a magnetic film on the main surface of the glass substrate for a magnetic disk manufactured by the method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk according to claim 1 or 2. A method of manufacturing a magnetic disk, which is characterized by manufacturing.
【請求項5】 請求項3に記載の磁気ディスク用ガラス
基板の主表面上に磁性膜を含む膜が形成されてなること
を特徴とした磁気ディスク。
5. A magnetic disk comprising the glass substrate for a magnetic disk according to claim 3 and a film including a magnetic film formed on the main surface thereof.
JP25190591A 1991-09-30 1991-09-30 Glass substrate for magnetic disk, method of manufacturing magnetic disk, glass substrate for magnetic disk and magnetic disk Expired - Lifetime JP3184261B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25190591A JP3184261B2 (en) 1991-09-30 1991-09-30 Glass substrate for magnetic disk, method of manufacturing magnetic disk, glass substrate for magnetic disk and magnetic disk

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25190591A JP3184261B2 (en) 1991-09-30 1991-09-30 Glass substrate for magnetic disk, method of manufacturing magnetic disk, glass substrate for magnetic disk and magnetic disk

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26990798A Division JP3184495B2 (en) 1991-09-30 1998-09-24 Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk, glass substrate for magnetic disk, and magnetic disk

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0589459A true JPH0589459A (en) 1993-04-09
JP3184261B2 JP3184261B2 (en) 2001-07-09

Family

ID=17229704

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25190591A Expired - Lifetime JP3184261B2 (en) 1991-09-30 1991-09-30 Glass substrate for magnetic disk, method of manufacturing magnetic disk, glass substrate for magnetic disk and magnetic disk

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3184261B2 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5926352A (en) * 1992-02-12 1999-07-20 Ag Technology Co., Ltd. Magnetic disk and a glass substrate for the magnetic disk
JP2002092867A (en) * 2000-09-21 2002-03-29 Hoya Corp Method of manufacturing glass substrate for information recording medium and method of manufacturing information recording medium
US6488729B1 (en) 1999-09-30 2002-12-03 Showa Denko K.K. Polishing composition and method
US6595028B1 (en) 1999-09-30 2003-07-22 Hoya Corporation Chemical reinforced glass substrate having desirable edge profile and method of manufacturing the same
JP2006092722A (en) * 2004-08-27 2006-04-06 Showa Denko Kk Magnetic disk substrate and production method of magnetic disk
JP2008112572A (en) * 2008-01-21 2008-05-15 Hoya Corp Manufacturing method of glass substrate for information recording medium and manufacturing method of information recording medium
JP2009277347A (en) * 2009-08-19 2009-11-26 Hoya Corp Manufacturing method of glass substrate for information recording medium
WO2010044325A1 (en) * 2008-10-17 2010-04-22 コニカミノルタオプト株式会社 Process for producing glass substrate, and process for producing magnetic recording medium

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5926352A (en) * 1992-02-12 1999-07-20 Ag Technology Co., Ltd. Magnetic disk and a glass substrate for the magnetic disk
US6488729B1 (en) 1999-09-30 2002-12-03 Showa Denko K.K. Polishing composition and method
US6595028B1 (en) 1999-09-30 2003-07-22 Hoya Corporation Chemical reinforced glass substrate having desirable edge profile and method of manufacturing the same
US6607571B2 (en) 1999-09-30 2003-08-19 Showa Denko K.K. Polishing composition and method
JP2002092867A (en) * 2000-09-21 2002-03-29 Hoya Corp Method of manufacturing glass substrate for information recording medium and method of manufacturing information recording medium
JP2006092722A (en) * 2004-08-27 2006-04-06 Showa Denko Kk Magnetic disk substrate and production method of magnetic disk
JP2008112572A (en) * 2008-01-21 2008-05-15 Hoya Corp Manufacturing method of glass substrate for information recording medium and manufacturing method of information recording medium
WO2010044325A1 (en) * 2008-10-17 2010-04-22 コニカミノルタオプト株式会社 Process for producing glass substrate, and process for producing magnetic recording medium
JP5321594B2 (en) * 2008-10-17 2013-10-23 コニカミノルタ株式会社 Manufacturing method of glass substrate and manufacturing method of magnetic recording medium
US9190096B2 (en) 2008-10-17 2015-11-17 Hoya Corporation Method for producing glass substrate and method for producing magnetic recording medium
JP2009277347A (en) * 2009-08-19 2009-11-26 Hoya Corp Manufacturing method of glass substrate for information recording medium

Also Published As

Publication number Publication date
JP3184261B2 (en) 2001-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6852003B2 (en) Method of manufacturing glass substrate for data recording medium
JP5593224B2 (en) Magnetic disk substrate, manufacturing method thereof, and magnetic disk
US10607647B2 (en) Magnetic disk substrate with specified changes in height or depth between adjacent raised or lowered portions and an offset portion on a main surface within a range of 92.0 to 97.0% in a radial direction from a center, a magnetic disk with substrate and magnetic disk device
JP3527075B2 (en) Glass substrate for magnetic recording medium, magnetic recording medium, and method for producing them
US20020142707A1 (en) Glass substrate for magnetic recording medium, production method thereof, and magnetic recording medium using the substrate
JP3184261B2 (en) Glass substrate for magnetic disk, method of manufacturing magnetic disk, glass substrate for magnetic disk and magnetic disk
JP5768554B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic recording medium and glass substrate for magnetic recording medium
WO2011033948A1 (en) Glass substrate for information recording medium, information recording medium, and method for producing glass substrate for information recording medium
JP5714085B2 (en) Magnetic disk substrate and magnetic disk
JP2001167430A (en) Substrate for magnetic disk and its manufacturing method
JP3184495B2 (en) Method of manufacturing glass substrate for magnetic disk, glass substrate for magnetic disk, and magnetic disk
JP5714086B2 (en) Magnetic disk substrate and magnetic disk
JP2003228814A (en) Glass substrate for magnetic recording medium, magnetic recording medium and their production method
JPH07134823A (en) Manufacture of glass base for magnetic recording medium and magnetic recording medium
JP4860580B2 (en) Magnetic disk substrate and magnetic disk
JP4347146B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk and manufacturing method of magnetic disk
WO2013146133A1 (en) Manufacturing method for glass substrate for information recording medium, and information recording medium
JP3534220B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for information recording medium and method for manufacturing information recording medium
JP3969717B2 (en) Glass substrate for magnetic disk and magnetic disk
JP2010073289A (en) Substrate for magnetic disk and magnetic disk
JP4698546B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for magnetic disk, method for manufacturing magnetic disk
JPH11268932A (en) Glass substrate for magnetic recording medium and its production
JP5704777B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for magnetic disk
JP6138114B2 (en) Method for manufacturing glass substrate for information recording medium, method for manufacturing magnetic disk, and carrier for polishing
JP2001344744A (en) Glass substrate for magnetic disk, magnetic disk and method for manufacturing glass substrate for magnetic disk

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090427

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090427

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100427

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110427

Year of fee payment: 10

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120427

Year of fee payment: 11